JIS C 8147-2-2:2011 ランプ制御装置―第２－２部：直流又は交流電源用低電圧電球用電子トランスの個別要求事項 | ページ 5

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  適合性は,目視検査及び定格入力電圧の1.06倍,又は非本質耐短絡電子トランスの場合は,定格入力電
圧の0.941.06倍の間の任意の入力電圧値において,電子トランスの位置を変更することなく,I.6.2によ
る試験の直後に次の試験を行い,判定する。
− 本質耐短絡電子トランスの場合,I.7.2の試験による。
− 非本質耐短絡電子トランスの場合,I.7.3の試験による。
− 再設定及び交換できない非自己復帰温度過昇防止装置を備えた電子トランスの場合,フェールセーフ
    タイプとして扱い,I.7.5の試験による。
− 非耐短絡電子トランスの場合,I.7.4の試験による。
− フェールセーフ電子トランスの場合,I.7.5の試験による。
− 整流器と組み合わせた電子トランスの場合,I.7.2又はI.7.3の試験を2回行う。最初は整流器の片方
    の側を短絡して行い,2回目は整流器の他方の側を短絡して行う。
− 二つ以上の出力巻線又はタップ付き出力巻線のある高周波トランスの場合,最大温度上昇を示した数
    値を結果として用いる。同時に負荷を加える巻線全てに,定格出力で負荷をかけ,次の規定に従って,
    選択した出力巻線を短絡させるか,又は過負荷を加える。
  I.7.2,I.7.3及びI.7.4の試験では,温度上昇は,表I.3に規定する値を超えてはならない。
                      表I.3−短絡又は過負荷状態下における温度上昇の最大値
                        絶縁分類                    A       E       B       F       H
                                                              最大温度上昇 K
        保護のタイプ : 
        本質的に保護した巻線                       125     140     150     165     185
        保護装置によって保護した巻線 : 
        − 最初の1時間の間,又は63 Aを超える定格電
           流をもつヒューズでは,最初の2時間の間a) 175     190     200     215     235
        − 最初の1時間後,ピーク値b)               150     165     175     190     210
        − 最初の1時間後,算術平均値b)             125     140     150     165     185
        外部きょう(筐)体(テストフィンガによって触                80
        れることのできるもの)
        巻線のゴム絶縁                                              60
        巻線のPVC絶縁                                               60
        支持部(すなわち,電子トランスによって被った                80
        松合板上の任意の箇所)
        注a)   .7.3.3の試験後に,電子トランスの熱慣性によって,これらの値を超える場合がある。
          b)   .7.3.3の試験には適用しない。
I.7.2  本質耐短絡電子トランスは,定常状態になるまで出力巻線を短絡して試験する。
I.7.3  非本質耐短絡電子トランスは,I.7.3.1I.7.3.5の規定に従って試験する。
I.7.3.1  出力端子を短絡する。定格入力電圧の0.94倍1.06倍の間の入力電圧を印加した場合,温度上昇
が表I.3に規定する値を超える前に,組み込んだ過負荷保護装置が動作しなければならない。
I.7.3.2  JIS C 8269-2若しくはIEC 60269-3に規定するヒューズ,又は技術的に同等なヒューズによって
保護した場合,電子トランスには,時間Tの間,保護ヒューズリンクの定格電流として電子トランス上に
表示した電流のk倍の電流を流して負荷を加える。ここで,k及びTは表I.4による。

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                                 表I.4−保護ヒューズの定格電流
           速断形の半導体保護用gGの保護ヒュ         T                     k
           ーズの定格電流Inとして表示した値
                         A                          h
                        In≦ 4                      1                    2.1
                      4                     16≦In≦ 63                    1                    1.6
                     63                    160           未熟練者が使用する円筒形ヒューズgGタイプB(IEC 60269-3-1)及び認定技術者が使用す
           るボルト接続用ヒューズ(JIS C 8269-2-1)では,In<16 Aにおいてkの値は1.6である。
           定格電流16 Aにおいて未熟練者が使用するDタイプのヒューズ(IEC 60269-3-1)では,k
           の値は1.9である。
I.7.3.3  JIS C 6575の規格群に規定する小形ヒューズ又は技術的に同等なヒューズによって保護する場合
には,電子トランスは,ヒューズ定格電流値の2.1倍の電流を30分間流して,負荷を加える。
I.7.3.4  ヒューズ以外の過負荷保護装置によって保護する場合には,装置を動作させる最小電流値の0.95
倍の電流を流して,定常状態に達するまで負荷を加える。
I.7.3.5  I.7.3.2及びI.7.3.3の試験では,ヒューズリンクをインピーダンスの無視できるリンクで置き換え
る。
  I.7.3.4の試験の場合,周囲温度で,試験電流は,定格引外し電流の1.1倍で開始し,過負荷保護装置が
動作しない電流値を得るまで,2 %ずつ徐々に減少させる。
  温度ヒューズを用いる場合には,一つの試料の試験電流を5 %ずつ増加させる。増加させた後に,電子
トランスは定常状態に達しなければならない。これを,温度ヒューズリンクが切れるまで継続する。切れ
たときの電流値を記録する。試験は,記録した値の0.95倍の電流を用いて,その他の試料で繰り返す。
I.7.4  非耐短絡電子トランスは,I.7.3に規定するように負荷を加える。製造業者によって指定された保
護装置を,関連する入力回路又は出力回路に取り付ける。
  製造業者によって指定された正しい保護装置を入力回路又は出力回路に取り付けて,最も望ましくない
通常使用状態の下で,電子トランスの設計上の機器又は回路形式に対して最も望ましくない負荷状態で試
験する。望ましくない負荷状態の例には,連続的,断続的又は一時的使用がある。
I.7.5  フェールセーフ電子トランス
I.7.5.1  三つの追加試料を次の試験だけに用いる。その他の試験に用いた電子トランスは,この試験に用
いない。
  三つの各試料を,厚さ20 mmのつや消し黒色塗装した合板の表面上で通常の使用状態で取り付ける。各
電子トランスは,定格一次電圧の1.06倍の電圧で動作させ,I.6.2の試験で最大の温度上昇を示した出力巻
線に,最初に定格出力電流の1.5倍(これができない場合は,得た最大出力電流)の負荷をかけ,定常状
態となるか,又は故障するまで(いずれか先に生じるまで)動作させる。
  電子トランスが故障した場合には,試験中及び試験後に,I.7.5.2の基準に適合しなければならない。
  電子トランスが故障しない場合には,定常状態に達する時間を記録し,次に選択した出力巻線を短絡す
る。この試験は,電子トランスが故障するまで継続する。この部分の試験では,各試料の動作時間は,定
常状態に達するために必要な時間以内とし,かつ,5時間を超えてはならない。
  電子トランスは,危険もなく安全に故障して,試験中及び試験後に,I.7.5.2の基準に適合しなければな

――――― [JIS C 8147-2-2 pdf 22] ―――――

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らない。
I.7.5.2  I.7.5.1の試験中はいつでも,次の事項を満足しなければならない。
− テストフィンガと接触することのある電子トランスきょう(筐)体の任意部分の温度上昇は,150 K
    を超えてはならない。
− 合板支持部の温度上昇は,いかなる部分でも100 Kを超えてはならない。
− 電子トランスは,炎,溶融物質,絶縁材料の白熱粒子又は燃焼落下物を放出してはならない。
  I.7.5.1の試験後,及び周囲温度まで冷却した後では,次の事項を満足しなければならない。
− 電子トランスは絶縁耐力試験に耐えなければならない。試験電圧は,一次と二次との間及び一次と本
    体との間だけに対して,表I.6に規定する値の35 %とする。
− きょう(筐)体は(ある場合),テストフィンガ(JIS C 0920参照)で露出した充電部に接触できる孔
    があってはならない。疑わしい場合には,充電部に40 V以上の電圧の電気的接触指示装置を接触させ
    て明らかにする。
  一つの試料が試験に不合格になった場合には,当該試験全体が不合格とみなす。
I.8   絶縁抵抗及び耐電圧
I.8.1  電子トランスの絶縁抵抗及び耐電圧は,十分でなければならない。
  適合性は,箇条11,箇条12,I.8.2及びI.8.3の試験によって判定する。試験は,取り外した部品を再度
取り付けた後に,加湿状態,又は試料を規定温度にした部屋の中で,箇条11の試験の直後に行う。
I.8.2  絶縁抵抗は,約500 Vの直流電圧を印加して測定し,測定は電圧印加の1分間後に行う。
  絶縁抵抗は,表I.5に規定する値を下回ってはならない。
                                       表I.5−絶縁抵抗値
                                    試験対象の絶縁                  絶縁抵抗
                                                                      MΩ
                    充電部と本体との間
                    − 基礎絶縁                                        2
                    − 強化絶縁                                        4
                    入力回路と出力回路との間                           5
                    基礎絶縁だけによって充電部から分離されたクラスII電 5
                    子トランスの金属部と本体との間
                                                                       2
                    絶縁材のきょう(筐)体の内面及び外面に接触する金属は
                    く(箔)と,外面に接触する金属はく(箔)との間
I.8.3  I.8.2の試験の直後に,絶縁物には,定格周波数において実質的に正弦波の電圧を1分間,印加す
る。試験電圧の値及び印加箇所は,表I.6による。

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                                                                                C 8147-2-2 : 2011
                                        表I.6−試験電圧
                試験電圧の印加                                   動作電圧a)
                                                                     V
                                               50以下   100以上   200以上     700       1 000
                                                        200未満   450以下
  入力回路の充電部と出力回路の充電部との間b)    500       2 000    3 750     5 000      5 500
  次の間の基礎又は付加絶縁。                    250       1 000    1 875     2 500      2 750
  a) 異なる極性又は異なる極性になる可能性がある
     充電部間(例えば,ヒューズの動作によるもの)
  b) 保護接地に接続することを意図した充電部と本
     体との間
  c) 接触可能な金属部とはめ込みブッシング,コー
     ド保護,固定物又は類似物の内側に挿入したフ
     レキシケーブル又はコードと同じ直径の金属棒
     [若しくはケーブル,コードに巻いた金属はく
     (箔)]との間
  d) 充電部と中間金属部との間
  e) 中間金属部と本体との間
  本体と充電部との間の強化絶縁                   500      2 000     3 750     5 000     5 500
  注a) 動作電圧の中間値に対する試験電圧の値は,表の値の間での補間によって得られる。100 V以上200 V未満及
       び200 V以上450 V以下の列は補間は適用しない。
    b) 上記要求事項は,I.5.2.4に規定する接地金属遮蔽板によって分離した回路には適用しない。
  最初は,規定電圧の半分以下の電圧を印加し,その後,規定電圧まで急激に上昇させる。
  試験中にフラッシオーバ又は絶縁破壊が起きてはならない。コロナ現象及び同様な現象は,無視する。
  試験に用いる高電圧トランスは,出力端子を短絡したときに200 mA以上の電流を供給することができ
るものでなければならない。回路の過負荷引外しは,100 mA未満の電流で動作してはならない。試験電圧
の実効値を測定するために用いる電圧計は,JIS C 1102の規格群に規定する階級指数2.5でなければなら
ない。
  入力回路及び出力回路の間での試験に印加する電圧が,ほかの絶縁に過電圧とならないように注意しな
ければならない。二重絶縁システムが,一次巻線と二次巻線との間(例えば,一次巻線から磁気鉄心まで
の間,磁気鉄心から二次巻線までの間など)に存在することを製造業者が明示している場合には,各絶縁
を別々に試験する。同じことが,一次巻線と本体との間の二重絶縁にも当てはまる。
  強化絶縁及び二重絶縁を組み込むクラスII構造では,強化絶縁に印加する電圧が,基礎絶縁又は付加絶
縁に過電圧とならないように注意しなければならない。
I.9   構造
I.9.1  電子トランスの構造は,指定アプリケーションの全ての要求事項に適合し,熱,湿気,水及び衝撃
(機械的及び磁気的)に耐えなければならない。
  適合性は,関連試験によって判定する。
I.9.2  外部配線の接続用の入力端子及び出力端子は,これらの端子の係止部の距離が25 mm以上離れて
いなければならない。距離をバリヤによって確保する場合には,バリヤは絶縁材料から成り,電子トラン
スに恒久的に固定しなければならない。
  適合性は,検査及び介在する金属部品を無視した測定によって,判定する。

――――― [JIS C 8147-2-2 pdf 24] ―――――

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I.10 部品
I.10.1 出力回路のコンセントは,IEC/TR 60083,IEC 60906-1,IEC 60320の規格群,JIS C 8303及びJIS
C 8358に適合するプラグを差し込むことができてはならない。また,出力回路のコンセントに差し込むこ
とのできるプラグは,IEC/TR 60083,IEC 60906-1,IEC 60320の規格群,JIS C 8303及びJIS C 8358に適
合するコンセントに差し込むことができてはならない。
  適合性は,検査及び手動試験によって判定する。
I.10.2 安全が明らかでない場合,自動復帰形保護装置を用いてはならない。
  適合性は,検査及び電子トランスの出力端子を短絡し,定格入力電圧の1.06倍の電圧で,48時間(2日
間)通電して判定する。
  当該試験中には,継続的なアーク放電が起こらず,その他の原因による損傷があってはならない。当該
保護装置は,正常に動作しなければならない。
I.11 沿面距離及び空間距離
  沿面距離及び空間距離は,JIS C 8147-1の表3[正弦波交流電圧(50/60 Hz)の場合の最小距離],及び
表I.7に規定する値を下回ってはならない。
  表I.7に規定する沿面距離及び空間距離は,JIS C 8105-1の図24(電源端子の空間距離及び沿面距離の
測定方法)に規定するような入力端子における沿面距離及び空間距離測定の実例を含み,JIS C 8105-1の
関連要求事項と置き換える。
  表I.7に規定する距離は,導体を挿入していない端子に適用する。

――――― [JIS C 8147-2-2 pdf 25] ―――――

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