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a) 試料数が20個以上では,光束維持率の実測試験時間の6倍までの推定をすることができる。試料数が
1019個では,5.5倍までとなる。これらを維持時間計算値とする。
b) 寿命推定に使用するデータは,実測試験を6 000時間から10 000時間まで行った場合は,最後から5 000
時間分のデータを用い,1 000時間までのデータは用いない。10 000時間以上の場合は,実測試験時間
の最新50 %のデータを用いる。
c) 推定値が実測試験時間の6倍(試料数1019個の場合は,5.5倍)を超える場合には,寿命は実測試
験時間の6倍(試料数1019個の場合は,5.5倍)までとする。これらを維持時間報告値とする。
d) 報告書には,表B.1の内容を含める。
表B.1−寿命推定結果報告書の内容
LED光源の試験条件 単位 内容
試料数 − 一つの条件の試験に用いる試料数
故障数 − LEDの故障数量
試験駆動電流 mA LED光源の駆動電流
実測試験期間 h 総試験時間
推定のための試験時間 h 推定に用いた試験時間
LEDのきょう体温度 ℃ 製造業者が指定するLEDの温度測定点
α(減衰率定数) − 最小二乗法で求めた減衰率定数
B(推定初期定数) − 最小二乗法で求めた推定初期定数
70 %維持時間計算値[L70 (Dk)] h 計算で求めた初期出力の70 %を維持できる時間(寿命)
70 %維持時間報告値[L70 (Dk)] h 初期出力の70 %を維持できる時間(寿命)の最終報告値
B.3 推定方法の例(IECの例)
B.3.1 一般
IECでは,加速試験による係数を用いて寿命の推定を行う方法[LED-Testing and prediction of lumen
maintenance(案)]について,議論をしている。
B.3.2 光束維持率の測定
光束維持率の測定は,次による。
a) 試験は,20個以上の試料について,2種類以上のきょう体温度Tsで行う。例えば,製品データシート
に記載する最大許容温度,製造業者が指定する温度などを用いる。試験時間は,6 000時間以上とする。
b) 加速試験のため,製造業者が指定する,より高温のきょう体温度で行う試験を追加する(B.3.3参照)。
c) 試験電流は,製品データシートの仕様から製造業者が指定する電流を用いる。試験温度によらず,駆
動電流は同じとする。
d) 全光束は,少なくとも0時間,500時間,1 000時間,及び1 000 時間以後は1 000 時間ごとに測定し
て,その時間における試料の光束維持率の平均値を求める。
e) 各測定時間での光束維持率のばらつきが大きい場合(標準偏差が平均値の20 %より大きい場合),試
料数を追加することが望ましい。
B.3.3 温度上昇加速試験による光束維持率の推定
温度上昇加速試験は,次による。
a) .3.2の方法で,光束維持率を測定する。
b) 光束維持率の経時変化を,各温度条件で求める(図B.1参照)。
c) 温度条件の異なる二つの曲線について,光束維持率が同じ値になる時間をそれぞれ求める(図B.1 参
――――― [JIS C 8152-3 pdf 11] ―――――
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照)。
d) )で求めた時間について,温度が高い方の時間と,温度が低い方の時間との比を求める。
e) )の方法で,五つ以上の光束維持率の値について比を求め,全体の平均値を加速係数とする。光束維
持率の値は,c)で求めた二つの曲線上で500 時間以上離れている時点のものとする。
f) e)で求めた比の標準偏差が平均値の20 %を超える場合には,最後の2 000 時間のデータに限定して,
c) e)の方法で加速係数を求める。ばらつきが改善されない場合には,加速係数は,e)で求めた比の最
小値を用いる。
g) 加速係数は,2種類の温度条件における光束維持率特性の時間軸上の比を示す。すなわち,高い温度
条件の光束維持率特性の時間に加速係数を乗じることで,低い温度の光束維持率特性を推定できる。
h) 2種類の温度条件の光束維持率特性から補間することによって,中間の温度条件の特性を推定できる。
図B.1−光束維持率を予測する方法の例
参考文献 JIS C 7801 一般照明用光源の測光方法
JIS C 8105-5 照明器具−第5部 : 配光測定方法
JIS C 8152-2 照明用白色発光ダイオード(LED)の測光方法−第2部 : LEDモジュール及び
LEDライトエンジン
JIS C 8155 一般照明用LEDモジュール−性能要求事項
JIS C 8157 一般照明用電球形LEDランプ(電源電圧50 V超)−性能要求事項
JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
JIS Z 8720 測色用の標準イルミナント(標準の光)及び標準光源
ISO/IEC Guide 98-3,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
measurement (GUM:1995)
注記 対応標準仕様書 : TS Z 0033:2012 測定における不確かさの表現のガイド(IDT)
CIE 127,Measurement of LEDs
JIS C 8152-3:2013の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
JIS C 8152-3:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC8152-1:2019
- 照明用白色発光ダイオード(LED)の測光方法―第1部:LEDパッケージ
- JISZ8103:2019
- 計測用語
- JISZ8113:1998
- 照明用語