JIS C 8152-3:2013 照明用白色発光ダイオード(LED)の測光方法―第3部:光束維持率の測定方法

JIS C 8152-3:2013 規格概要

この規格 C8152-3は、照明用途の白色の発光ダイオード(LED)の光束維持率及び色度変化を測定する方法について規定。

JISC8152-3 規格全文情報

規格番号
JIS C8152-3 
規格名称
照明用白色発光ダイオード(LED)の測光方法―第3部 : 光束維持率の測定方法
規格名称英語訳
Photometry of white light emitting diode for general lighting -- Part 3:measurement methods for lumen maintenance
制定年月日
2013年7月22日
最新改正日
2018年10月22日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

国際規格分類

ICS

31.260
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
電気設備 III 2021
改訂:履歴
2013-07-22 制定日, 2018-10-22 確認
ページ
JIS C 8152-3:2013 PDF [12]
                                                                                 C 8152-3 : 2013

pdf 目 次

ページ

  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[1]
  •  4 試料・・・・[3]
  •  4.1 一般・・・・[3]
  •  4.2 識別表示・・・・[3]
  •  4.3 サンプリング・・・・[3]
  •  5 寿命点灯試験・・・・[3]
  •  5.1 一般・・・・[3]
  •  5.2 環境条件・・・・[3]
  •  5.3 電気条件・・・・[3]
  •  5.4 故障の確認・・・・[4]
  •  6 光束維持率試験・・・・[4]
  •  6.1 一般・・・・[4]
  •  6.2 全光束又は色度測定・・・・[4]
  •  7 測定の不確かさ・・・・[5]
  •  8 試験結果の報告・・・・[5]
  •  附属書A(規定)LEDの温度測定方法・・・・[6]
  •  附属書B(参考)光束維持率の推定(外挿)方法・・・・[8]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 8152-3 pdf 1] ―――――

C 8152-3 : 2013

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本照明工業会(JLMA)及び
一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があ
り,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
JIS C 8152の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS C 8152-1 第1部 : LEDパッケージ
JIS C 8152-2 第2部 : LEDモジュール及びLEDライトエンジン
JIS C 8152-3 第3部 : 光束維持率の測定方法

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 8152-3 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
C 8152-3 : 2013

照明用白色発光ダイオード(LED)の測光方法−第3部 : 光束維持率の測定方法

Photometry of white light emitting diode for general lighting- Part 3: measurement methods for lumen maintenance

1 適用範囲

  この規格は,照明用途の白色の発光ダイオード(LED)の光束維持率及び色度変化を測定する方法につ
いて規定する。この方法は,LED照明器具にも適用することができる。
注記1 被測定光源には,LEDパッケージ,LEDモジュール,LEDライトエンジン,電球形LEDラ
ンプなどがある。
注記2 LEDモジュールにおける光束維持率の個別の測定条件はJIS C 8155に,電球形LEDランプ
における光束維持率の個別の測定条件はJIS C 8157に,それぞれ規定されている。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 8152-1 照明用白色発光ダイオード(LED)の測光方法−第1部 : LEDパッケージ
JIS Z 8103 計測用語
JIS Z 8113 照明用語

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 8152-1,JIS Z 8103及びJIS Z 8113によるほか,次による。
3.1
照明用白色LED
光束又はCIE平均化LED光度に対する光色が,次の条件を満たすLED。この規格では,特に記載がな
い場合,LEDは照明用白色LEDを表す。
a) スペクトルは,可視域のほぼ全域に広がっていて,その間に欠落部分がない。
b) 相関色温度の範囲は,2 500 K10 000 Kとする。
c) )に示す相関色温度での色度は,CIE 1960 UCS色度座標上[JIS Z 8113の番号03077(uv色度図)参
照]の黒体放射軌跡からの偏差(duv)が0.02以内の範囲とする。
3.2
LEDチップ
LEDの発光に寄与する半導体の部分。
注記 LEDダイと呼ばれる場合がある。

――――― [JIS C 8152-3 pdf 3] ―――――

2
C 8152-3 : 2013
3.3
LEDパッケージ
LEDチップを,ほかの回路,部品などと接続するために,プリント配線板などに取り付けられるよう外
部接続用端子と一体化すること及び一体化したもの。
3.4
LEDモジュール
一つの光源として扱えるように,1個以上のLEDチップをプリント配線板などに平面的又は立体的に配
列して,機械的,電気・電子的,及び光学的な構造部品を含む多数の要素で構成したユニット又はその集
合体。
注記1 LEDモジュールは,LEDパッケージをアレイ状又はクラスタ状に配列したものも含む。
注記2 LEDモジュールは,点灯装置を含むものと含まないものとがある。
3.5
LEDライトエンジン
LEDパッケージ又はLEDモジュールを点灯装置とともに平面的又は立体的に配列させ,かつ,多くの
機械的,電気・電子的,及び光学的構造部品からなる,LED照明器具の光源部ユニット。
なお,このユニットには,点灯装置がないものもある。
3.6
電球形LEDランプ
1個以上のLED,制御装置及びE形,B形又はGX53形の口金を一体化した構造のLED装置。
注記 レトロフィットLEDランプという場合がある。
3.7
LED照明器具
光源に,LEDパッケージ,LEDモジュール若しくはLEDライトエンジンを用いた照明器具,又は電球
形LEDランプを用いた照明器具。
3.8
標準光源
全光束などが目盛付けしてあり,測光において,比較の基準として用いるランプ。
3.9
ジャンクション温度,Tj
LEDチップのpn接合部の温度。
注記 全光束などの光特性,及び順方向電圧などの電気特性は,ジャンクション温度の影響を受ける。
3.10
きょう(筐)体温度,Ts
ジャンクション温度と相関がある,LEDにおける特定部位の温度。きょう(筐)体温度を測定する部位
は,製造業者などが指定する。
注記 この温度は,はんだ接合部温度,ケース温度又は基板温度という場合がある。
3.11
周囲温度,Ta,Tamb
ジャンクション温度と相関がある,LED近傍における空気又は媒体の温度。周囲温度を測定する場所は,
製造業者などが指定する。

――――― [JIS C 8152-3 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
C 8152-3 : 2013
3.12
光束維持率
規定の条件でランプを点灯したときの,寿命までの間の所定の時間におけるランプの光束のその初期光
束に対する割合。
注記 この割合は,一般にパーセント(%)で表す。
3.13
寿命点灯試験
寿命までの間の所定の時間に,規定の条件でランプを点灯して,点灯時間及び故障の状態を記録する試
験。

4 試料

4.1 一般

  測定に用いる照明用白色LED(以下,被測定光源という。)の取扱いは,適切に行わなければならない。
静電気放電などの取扱いは,製造業者の指定による。

4.2 識別表示

  被測定光源には識別するための番号,記号などを表示し,試験期間中その状態を維持しなければならな
い。
注記 識別の表示方法には,被測定光源又はその付帯物へのマーキング又は貼付ラベルがある。

4.3 サンプリング

  被測定光源は,試料全体を十分に代表できるものでなければならない。サンプリングの方法及び試料数
は,試験結果で報告する。

5 寿命点灯試験

5.1 一般

  寿命点灯試験は,5.2及び5.3に規定する条件下で,被測定光源を点灯して,個別規格で規定する点灯の
累積時間及び被測定光源の状態(故障の有無)を記録する。

5.2 環境条件

  環境条件を個別規格で規定している場合を除き,環境条件は,次による。
なお,LEDの温度条件は,個別規格で規定する周囲温度,きょう体温度又はジャンクション温度のいず
れかとする。LEDの温度測定方法は,附属書Aによる。
a) EDの温度条件は,周囲温度2030 ℃とする。
b) 過度の振動及び衝撃の影響を受けないようにする。
c) 点灯中は,被測定光源に直接風が当たらないようにする。
d) 複数の被測定光源を配列して点灯する場合には,相互に熱の影響を受けないようにする。
注記 熱の影響は気流が原因となる場合が多いため,被測定光源間の間隔を離したり,気流を妨げ
るような構造を設けることで,熱の影響を低減できる。

5.3 電気条件

  電気条件を個別規格で規定している場合を除き,電気条件(電圧,電流など)は,次による。
a) 電気条件は,被測定光源の定格入力値とする。寿命点灯試験の間,電気条件を記録し,状態を維持す
る。

――――― [JIS C 8152-3 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6

JIS C 8152-3:2013の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 8152-3:2013の関連規格と引用規格一覧