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ことができない,固定取付けを意図する,一対の蛍光灯ソケット。
2.5
直管両口金可動取付形蛍光灯ソケット(flexible mounted lampholders for linear double-capped fluorescent
lamps)
蛍光灯ソケット自体には,軸方向の可動機能は備えていないが,照明器具の構造によって軸方向に可動
できるよう,指定する方法で照明器具に取り付けることを意図する一対の蛍光灯ソケット。
注記 このタイプの蛍光灯ソケットは,固定取付けに適している場合もあり,いない場合もある。
2.6
ランプコネクタ(lamp connectors)
ランプを支持することはできないが,電気的接触はできる,可とう性導体に取り付けた接触子のセット。
2.7
器具内用ソケット(holder for building-in)
照明器具又は追加の外郭類に組み込むように設計したソケット。
2.7.1
外郭のないソケット(unenclosed holder)
感電保護に関して,この規格の要求事項を満足するために,例えば,外郭のような追加手段を必要とす
るように設計した器具内用ソケット。
2.7.2
外郭付ソケット(enclosed holder)
感電保護及び該当する場合には,IP保護等級に関して,ソケット自体がこの規格の要求事項を満たすよ
うに設計した器具内用ソケット。
2.8
独立形ソケット(independent holder)
照明器具から独立して取付けができるように設計し,同時にその等級及び表示によって必要な保護を全
て備えるように設計したソケット。
2.9
定格動作温度(rated operating temperature)
ソケットの最高動作許容温度。
2.10
定格蛍光灯ソケット背面温度(rated lampholder rearside temperature)
17.1 b)の試験で確かめたTマーク付き蛍光灯ソケットに対する背面温度,又は製造業者が宣言する更に
高い温度。
2.11
形式試験(type test)
製品の設計が関連規格の要求事項に適合するか否かを判定する目的で,形式試験試料で行う試験又は一
連の試験。
2.12
形式試験試料(type test sample)
形式試験用として製造業者又は責任をもつ販売業者が提出した,1個以上の同種のものからなる供試品。
――――― [JIS C 8324 pdf 6] ―――――
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2.13
充電部(live part)
感電を引き起こす可能性がある導電部。
2.14
定格パルス電圧(rated pulse voltage)
ソケットが耐える最大パルスピーク電圧。
2.14A
つき合わせ形蛍光灯ソケット
主にランプ口金のピンの先端を,ソケットの導電部分に押し付けることによって接触する構造のソケッ
ト。
2.14B
挟み込み形蛍光灯ソケット
主にランプ口金のピンの側面を,ソケットの導電部分に押し付けることによって接触する構造のソケッ
ト。
2.14C
差込み形蛍光灯ソケット
主にランプ口金ピンに対し,ソケットを軸方向に差し込むことによって,ランプピンとソケットとの導
電金具が接触する構造のソケット。
2.14D
保持力
ランプを保持する力。つき合わせ形では,ランプ口金のピンの先端に加わっている力をいい,挟み込み
形及び差込み形では,ランプ口金ピンをその軸方向に抜き取るために要する力をいう。
2.14E
インターロック構造
蛍光ランプを取り外したとき,安定器の一次側を開路し,ランプを取り付けたとき閉路するようなソケ
ットの構造。
2.15
マルチランプ安定器(multilamp ballast)
各種の誤使用防止キーをもつランプと組み合わせて使用できるように設計し,その旨を宣言した電子安
定器。
2.16
耐インパルスカテゴリ(impulse withstand categorie)
過渡的な過電圧状態を定義する数字。
注記 耐インパルスカテゴリには,I,II,III及びIVを使用する。
耐インパルスカテゴリの分類の目的などは,次のとおりである。
a) 耐インパルスカテゴリによる分類の目的 耐インパルスカテゴリは,利用の継続性及び故
障の許容可能な危険性に関して,機器の有用性の程度を区別するために規定する。
機器の絶縁について,耐インパルスレベルを選択することによって,過電圧制御に基づ
いて,故障の危険性を許容レベルにまで低減させ,設備全体の絶縁協調が達成できる。
高い耐インパルスカテゴリ数は,機器の耐電圧特性が高いことを示しており,過電圧制
――――― [JIS C 8324 pdf 7] ―――――
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御に対する選択方法が広がる。
耐インパルスカテゴリの考え方は,幹線から直接,電力を供給する機器に使用する。
b) 耐インパルスカテゴリの説明 耐インパルスカテゴリIの機器は,建築物の固定電気設備
に接続することを意図する機器である。過渡過電圧を特定のレベルに抑制するために,機
器の外部に保護手段を設ける。保護手段は,固定設備の中,又は固定設備と機器との間の
いずれでもよい。
耐インパルスカテゴリIIの機器は,建築物の固定電気設備に接続する機器である。
耐インパルスカテゴリIIIの機器は,固定電気設備の一部となる機器である。また,固定
電気設備の一部となる機器以外であっても,更に高い有用性を期待する機器である。
耐インパルスカテゴリIVの機器は,建築物の電気設備の主分電盤より上位の,受電側に
近い位置又はその近傍で用いる機器である。
2.17
一次回路(primary circuit)
交流電源に直接接続する回路。
例えば,交流電源への接続手段,変圧器の一次巻線,電動機及びその他の負荷デバイス。
2.18
二次回路(secondary circuit)
一次回路に直接に接続しておらず,変圧器,コンバータ(電子トランスを含む。)若しくは同等のデバイ
ス,又は電池から電力を供給する回路。
例外として,単巻変圧器では一次回路への直接接続部分があるが,変圧器のタップ部分は,上記でいう
二次回路とみなす。
注記 このような回路では,商用電源の過渡電圧は,一次巻線によって減衰する。さらに,誘導性安
定器も商用電源の過渡電圧を減衰する。したがって,一次回路の後又は誘導性安定器の後に設
置する機器は,一段階下の耐インパルスカテゴリ,すなわち,耐インパルスカテゴリIIを適用
できる。
2.19
基礎絶縁(basic insulation)
感電に対する基礎的な保護を行うために,充電部に施した絶縁。
注記 基礎絶縁は,専ら機能目的だけに用いる絶縁物を必ずしも含む必要はない。
2.20
付加絶縁(supplementary insulation)
基礎絶縁が破壊したときに,感電に対する保護を行うために,基礎絶縁に追加した独立の絶縁。
2.21
二重絶縁(double insulation)
基礎絶縁及び付加絶縁の二つで構成する絶縁。
2.22
強化絶縁(reinforced insulation)
二重絶縁と同程度の感電に対する保護をもつ,充電部に施した単一の絶縁方式。
注記 “絶縁方式”は,絶縁が単一の均質のものであることを意味しない。付加絶縁又は基礎絶縁と
して単独に試験できない数層の絶縁で構成してもよい。
――――― [JIS C 8324 pdf 8] ―――――
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2.23
外郭付強化絶縁蛍光灯ソケット(enclosed reinforced insulated lampholder)
蛍光灯ソケット自体がクラスIIの二重絶縁又は強化絶縁部分に対する要求事項を満足するように設計し
た器具内用蛍光灯ソケット。
2.24
部分的強化絶縁蛍光灯ソケット(partly reinforced insulated lampholder)
追加の手段によって二重絶縁又は強化絶縁に対する要求事項を満足するように設計した器具内用蛍光灯
ソケット。
注記 絶縁の性能は,場合によって照明器具に取り付けた後に達成してもよい。
3 一般要求事項
ソケットは,通常使用でそれらが確実に機能し,かつ,人及び周囲に危険を生じない設計及び構造でな
ければならない。
合否は,規定する全ての試験を行って判定する。
さらに,独立形ソケットの外郭は,JIS C 8105-1の分類及び表示の要求事項を含む該当の要求事項に適
合しなければならない。
4 一般試験条件
4.1 この規格による試験は,形式試験である。
注記 この規格の要求事項及び認められる許容差は,その目的で提出される形式試験試料の試験に関
連する。
形式試験試料の適合は,製造業者の全製品がこの安全規格に適合することを保証するもので
はない。
形式試験に加え,製品のこの規格への適合は,製造業者の責任である。定期検査及び品質保
証も製造業者の責任に含めてもよい。
詳細はJIS C 7709-0を参照。
4.2 他に規定がない場合,試験は,20 ℃±5 ℃の周囲温度で,かつ,通常使用の最も不利な位置にソケ
ットを置いて行う。
4.3 他に連続した試験を規定していない場合,試験はこの規格の箇条の順で行う。
IP20を超えるIP保護等級のためのソケットは,17.1の試験後に,11.1及び11.2の試験を行う。
4.4 試験及び目視検査は,次の合計数に対して行う。
− 直管蛍光ランプ用の蛍光灯ソケットでは,八対。
注記1 同じソケットが一対の蛍光灯ソケットを構成している場合は,一対を必要とする10.5 d)の
試験を除いて,全ての試験に対して,一対の代わりに1個のソケットで十分である。
− 片口金蛍光灯用の,蛍光灯ソケット及びスタータソケットでは,8個の試料。
試験は,次の試料数を指定する試験ごとに指定する箇条の順で行う。
− 二対又は2個の試料 : 箇条5から箇条16まで(9.2及び9.5を除く。)。
注記2 9.2の試験は,関連規格で規定された幾つかの別の試料を用いて行う。
− 三対又は3個の試料 : 9.5及び17.1
− 二対又は2個の試料 : 17.2から17.5まで(17.2の試験に対して1個の試料,並びに17.4及び17.5の
――――― [JIS C 8324 pdf 9] ―――――
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試験に対して片方の試料。)。
− 一対又は1個の試料 : 17.6及び箇条18
可動形及び固定形蛍光灯ソケットG5,GX5又はG13(2.3及び2.4参照)の場合,試料は図2に規定す
る二対の取付板に取り付ける。
一対の蛍光灯ソケットは,製造業者の取扱説明書に従い,この対のソケットに対する最小取付間隔にな
るように取り付ける。その他の対は,最大取付間隔に取り付ける。そろいの取付板には,印を付ける。
特別な場合には,上記に規定した数以上の試料で試験を行ってもよい。
製造業者は,これらの試料とともに取扱説明書(7.3参照)を提供しなければならない。
17.1で規定する値と異なった最高動作温度をもつ取外し可能な防水パッキンによって,IP20を超えるIP
保護等級にするためのソケットについては,製造業者は,防水パッキンの追加試料をそれらの最高動作温
度の情報(これは製造業者の取扱説明書の一部である。)とともに提供しなければならない。
注記3 これは,ソケットの取付表面上の取外し可能な防水パッキンには適用しない(17.1参照。)。
4.5 全てのソケットが4.4に規定する全ての試験に合格する場合,この規格に適合するとみなす。
1個の試料が一つの試験に不合格の場合,4.4で必要とする数に含まれない試料を用いて,その試験及び
その試験の結果に影響する可能性のある先行する試験を繰り返し,全試料がその再試験及びそれに続く試
験に合格しなければならない。それらの試験の一つで,2個以上の不合格がある場合,ソケットはこの規
格に不適合とみなす。
注記 一般的に,その試料が箇条13又は箇条14による試験で不合格でない場合,再試験は関連試験
を繰り返すだけでよい。箇条13又は箇条14による試験で不合格の場合,先行して行う箇条12
による試験から繰り返す。
一つ目の形式試験試料が不合格の場合に要求される二つ目の形式試験試料を,最初の試料と
ともに提出してもよい。
追加の形式試験試料が直ちに提出されない場合,一つ目の試料の不合格をもって不適合とな
る。
5 定格
電気的定格は,次による。
− 125 V以上1 000 V以下
− 0.5 A以上
− GX5,2G8及び2G13蛍光灯ソケットは,2 A以上。
− G13,FaX6,R17d及びRX17d蛍光灯ソケットは,1 A以上。
6 分類
ソケットの分類は,次による。
6.1 感電に対する保護による分類は,次による。
− 外郭のない蛍光灯ソケット
− 外郭付蛍光灯ソケット
− 独立形蛍光灯ソケット
− 部分的強化絶縁蛍光灯ソケット
− 外郭付強化絶縁蛍光灯ソケット
――――― [JIS C 8324 pdf 10] ―――――
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JIS C 8324:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60400:2008(MOD)
- IEC 60400:2008/AMENDMENT 1:2011(MOD)
- IEC 60400:2008/AMENDMENT 2:2014(MOD)
JIS C 8324:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 8324:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC7617-2:2009
- 直管蛍光ランプ―第2部:性能仕様
- JISC7618-1:2017
- 片口金蛍光ランプ―第1部:安全仕様
- JISC7619:1999
- 蛍光ランプ用グロースタータ―一般及び安全性要求事項
- JISC7709-1:1997
- 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第1部 口金
- JISC7709-2:1997
- 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第2部 受金
- JISC7709-3:1997
- 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第3部 ゲージ
- JISC8105-1:2017
- 照明器具―第1部:安全性要求事項通則
- JISC8280:2011
- ねじ込みランプソケット
- JISC8280:2021
- ねじ込みランプソケット
- JISZ8113:1998
- 照明用語