この規格ページの目次
22
C 8473 : 2009
− 箇条18
適用しない。
この要求事項は,この規格の箇条19で取り扱う。
12.7 はんだ付け接続以外の接続は,はんだ付け部分が永久固定端子又は締付装置の外側にある場合を除
き,導体の端部にあらかじめはんだ付けを行ってはならない。
合否は,目視検査によって確認する。
12.8 平形速結端子は,JIS C 2809による寸法をもち,また,次を除いて,IEC 61210の試験要求事項を
満たさなければならない。
− 箇条5
表1に規定する供試体は,個別に提供しなければならない。
− 9.6
圧着接続上の引張力を電源用ライティングダクトの施工中又は通常使用中に除外してよい場合だけ,適
用される。
13 ねじ,導電部及び接続
13.1 電気的接続か機械的接続であるかを問わず,接続は,通常使用において発生する機械的応力に耐え
なければならない。
電気的目的のために接触圧を伝え,また,施工中に電源用ライティングダクトの接続・固定に使用され,
及び/又はシステムの寿命期間を通じて使用されるおそれのあるねじ込み接続は,金属製ねじ山と係合し
なければならない。
外部導体を接続するためのねじは,タッピングねじであってはならない。
施工中に電源用ライティングダクトの固定に使用され,及び/又は電源用ライティングダクトの寿命期
間を通じて使用されるおそれのあるねじは,切削タッピングねじであってはならない。ただし,図0Aに
示す寸法をもつダクトについては,この限りでない。
注記 電源用ライティングダクトの固定に使用するねじは,カバー又はカバープレートを固定するね
じを含めるが,ねじ込み電線管の接続手段及びシステムのベース固定用のねじは含まない。
合否は,目視検査及び次の試験で確認する。
ねじ及びナットは,次のように着脱する。
− 絶縁材料のねじ山に係合する金属製ねじ及び絶縁材料のねじの場合,10回。
− 他のすべての場合,5回。
絶縁材料のねじ山と係合するねじ又はナット及び絶縁材料のねじは,毎回完全に外して,挿入する。
試験は,適切な試験ねじ回し又はスパナで,製造業者が宣言するトルクを加えて行う。この情報がない
場合,表5に規定する値を適用しなければならない。
試験ねじ回しの刃の形状は,試験対象のねじ頭に適さなければならない。ねじ及びナットは,1回の滑
らかな連続運動で締め付けなければならない。
試験中,その後のねじ込み接続の使用を損なうような損傷が発生してはならない。
――――― [JIS C 8473 pdf 26] ―――――
23
C 8473 : 2009
表5−ねじのトルク値
ねじ山の呼び径 トルク
mm Nm
I a) II b) III c) IV d) V e)
1.6以下 0.05 − 0.10 0.10 −
1.6を超え2.0以下 0.10 − 0.20 0.20 −
2.0を超え2.8以下 0.20 − 0.40 0.40 −
2.8を超え3.0以下 0.25 − 0.50 0.50 −
3.0を超え3.2以下 0.30 − 0.60 0.60 −
3.2を超え3.6以下 0.40 − 0.80 0.80 −
3.6を超え4.1以下 0.70 1.20 1.20 1.20 1.20
4.1を超え4.7以下 0.80 1.20 1.80 1.80 1.80
4.7を超え5.3以下 0.80 1.40 2.00 2.00 2.00
5.3を超え6.0以下 1.20 1.80 2.50 3.00 3.00
6.0を超え8.0以下 2.50 2.50 3.50 6.00 4.00
8.0を超え 10.0以下 − 3.50 4.00 10.0 6.00
10.0を超え 12.0以下 − 4.00 − − 8.00
12.0を超え 15.0以下 − 5.00 − − 10.0
注a) 締めたとき,ねじが穴から突き出ない場合は,頭のないねじ及びねじの径よりも広い刃をもつねじ
回しによって締め付けることができない他のねじに適用する。
b) ねじ回しで締め付ける,マントル締付装置のナットに適用する。
c) ねじ回しで締め付ける,締付装置の他のねじに適用する。
d) ねじ回し以外の手段で締め付ける,マントル締付装置のナット以外のねじ及びナットに適用する。
e) ねじ回し以外の手段で締め付ける,マントル締付装置のナットに適用する。
13.2 電気的接続は,次の設計をしなければならない。
− 接合は,通常使用状態において緩んではならない。
− 絶縁材料の想定される収縮又はへこみを補う十分な弾性が金属製部品にない場合,光沢セラミック,
純マイカ又はその他の十分な特性のある材料以外の絶縁材料を通して接触圧が伝達してはならない。
合否は,目視検査で,また,弾性が不十分な場合には,JIS C 2814-2-3の15.102の試験で確認する。
13.3 溝なしタッピングねじ(thread-forming screw)は,導電部の接続のために用いてはならない。
溝なしタッピングねじは,電源用ライティングダクトの通常使用中に操作する必要がない場合,接地導
通を提供するために用いてよい。
合否は,目視検査によって確認する。
13.4 電気的及び機械的接続として機能するねじ込み並びにリベット接続は,緩み又は回転を防止するた
めにロックしなければならない。
合否は,目視検査及び手動試験で確認する。
注記 ばね座金は,十分なロックを得られることがある。リベットの場合,非円形シャンク又は適切
なノッチで十分なことがある。加熱時に柔らかくなるシーリングコンパウンドは,通常使用中
にねじりを受けないねじ接続に対してだけ十分なロックが得られる。
13.5 接地端子も含む端子の導電部は,電源用ライティングダクトの中で発生する状態下で,適切な機械
的強度及び耐食性をもつ材料のものでなければならない。
合否は,目視検査及び必要なら,化学的解析で確認する。
許容温度範囲内及び化学的汚染の通常状態下で用いられるときの適切な金属の例は,次のとおりである。
――――― [JIS C 8473 pdf 27] ―――――
24
C 8473 : 2009
−銅
− 冷間加工された部品の場合は少なくとも58 %の銅を,又は他の部品の場合は少なくとも50 %の銅を
含む合金
− 少なくとも13 %のクロム及び0.09 %以下の炭素を含むステンレス鋼
− JIS H 8610による亜鉛の電気めっきの被覆をもつ鋼で,被覆の厚さが少なくとも次のとおりのもの。
・IPX0の場合,5 μm(ISO使用条件No.1)
・IPX1IPX4の場合,12 μm(ISO使用条件No.2)
・IPX5IPX7の場合,25 μm(ISO使用条件No.3)
− JIS H 8617によるニッケル及びクロムの電気めっきの被覆をもつ鋼で,被覆の厚さが少なくとも次の
とおりのもの。
・IPX0の場合,20 μm(ISO使用条件No.2)
・IPX1IPX4の場合,30 μm(ISO使用条件No.3)
・IPX5IPX7の場合,30 μm(ISO使用条件No.4)
− JIS H 8619によるすずの電気めっきの被覆をもつ鋼で,被覆の厚さが少なくとも次のとおりのもの。
・IPX0に分類される通常機器の場合,12 μm(ISO使用条件No.2)
・IPX1IPX4の場合,20 μm(ISO使用条件No.3)
・IPX5IPX7の場合,30 μm(ISO使用条件No.4)
13.6 機械的磨耗を受けることがある充電部は,電気めっきを施した鋼から作ってはならない。
接続部において,電気亜鉛めっきは,接触圧を伝達する特定のタイプの端子に用いられるねじ又は座金
など,電流伝達に直接に関与しない部品に許容される。
この要求事項は,接点,磁気回路,加熱素子,バイメタル構成部品,分流器,電子装置の部品などには
適用されない。
合否は,目視検査によって確認する。
14 機械的強度
製造業者の説明書によって施工するとき,電源用ライティングダクトは適切な機械的強度をもたなけれ
ばならない。
合否は,14.1及び14.2の試験で確認する。
14.1 衝撃試験
試験は,JIS C 60068-2-75によって,振り子ハンマ試験Ehaを用いて電源用ライティングダクトの供試
体に実施する。
カバー固定具及び類似のねじは,製造業者が宣言する値に等しいトルク,又はこの情報がない場合は,
表5の値で締める。
ハンマを,7.1によって,製造業者が宣言する衝撃エネルギーで落とす。
ノックアウトを除き,エンクロージャの接触可能な表面に均等に分布させた点に,合計で10回の打撃を
加えなければならない。各点には,打撃を1回だけ加えなければならない。
次に,新しい供試体を(−5±1) ℃の温度の冷蔵庫の中に2時間入れる。供試体を冷蔵庫から取り出して
から(10±1) 秒後に,ハンマを,7.1によって,製造業者が宣言する衝撃エネルギーで落とす。
ノックアウトを除く,エンクロージャの接近可能な表面の最も弱い地点に打撃を1回加える。
試験後に,供試体に安全な使用の継続を損なうような破損及び/又は変形のあとが認められてはならな
――――― [JIS C 8473 pdf 28] ―――――
25
C 8473 : 2009
い。特に,
− 充電部が接触可能になっていてはならない。
− 絶縁内張り及び障壁の有効性が損なわれていてはならない。
− 外部カバー又はその絶縁内張りを破壊することなく,外部カバーを取り外すか,又は交換することが
できなければならない。
仕上がりへの損傷,沿面距離又は空間距離を箇条10に規定する値未満に短縮しない小さなくぼみ,及び
感電に対する保護に悪影響を及ぼさない小さな欠けは,考慮しない。
追加的な拡大を行わないで,通常の又は矯正した視力で見えない,き裂及び繊維強化成形における表面
き裂及び類似のものは考慮しない。
14.2 静荷重試験
14.2.1 長さに関する静荷重試験は,距離Dを置いた二つの位置で通常使用どおりに支える電源用ライテ
ィングダクトの一つのストレートスパンで実施しなければならない。この距離Dは,図5に示すように,
製造業者が宣言する支持物同士の間の最大距離でなければならない。支持部材の設置場所及び形状も,製
造業者が宣言しなければならない。
質量Mを動荷重なしに,エンクロージャの上に載せた支持体同士の間の中間点にある,システムの幅に
等しい辺をもつ正方形の剛体の上にかけなければならない。質量Mは,支持部材間にあるシステムの,そ
の部品の質量mに長さDに接続する附属品によってもたらされる最大荷重に等しい,附属品の質量mLを
加えたものに等しくなければならない。
でなければならない。
試験時間は,5分150
14.2.2 接合部に関する静荷重試験は,最大距離D及びD1における最小支持点で通常使用状態で支持す
る電源用ライティングダクトの一つに合わせた,二つのストレートスパンで実施しなければならない。距
離Dは,14.2.1で規定したもので,距離D1は,製造業者が宣言する接合部に隣接する支持物同士の間の最
大距離である。接合部は,図6に示すように,支持部材間の中間点でなければならない。
質量Mを動荷重なしに,システムの幅に等しい辺をもつ正方形の剛体上の接合部におけるエンクロージ
ャの上に加えなければならない。質量Mは,距離D1に置いた支持部材間の接合部を含め,システムのそ
れらの附属品の質量m1に長さD1に接続する附属品によってもたらされる最大荷重に等しい,附属品の質
量mL1を加えたものに等しくなければならない。
でなければならない。
試験時間は,5分150
14.2.3 14.2.1及び14.2.2の試験中,供試体が壊れてはならない。
試験後,
− 供試体は,箇条10及び11.1に適合しなければならない。
− プラグ及びアダプタの正確な挿入又は引き出しを妨げるような,永久変形があってはならない。
− 供試体は,15.1の前処理なしに,15.2による試験及び11.3の試験に耐えなければならない。
15 絶縁抵抗試験及び絶縁耐力試験
15.1による湿度処理の直後に,絶縁抵抗試験を15.2によって,また絶縁耐力試験を15.3で実施する。
15.1,15.2及び15.3について,電源用ライティングダクトを全体として代表するシステム附属品の代表
的組立品を,通常使用どおりに組み立てなければならない。その製品規格が適用されるか,又は試験で損
傷することがある電子装置及び附属品は,試験前に取り外すか又は分離しなければならない。
次の場合,15.2及び15.3によって試験電圧を印加する。
――――― [JIS C 8473 pdf 29] ―――――
26
C 8473 : 2009
− 機能絶縁 : 電源用ライティングダクトの充電部同士の間
− 基礎絶縁 : 一つに接続したすべての充電部と基礎絶縁の外面とを覆う金属はく(箔),及び/又は基
礎絶縁に接触する接近可能な金属製部品の間
− 付加絶縁 : 通常は接触不能な付加絶縁の内側及びその接近可能な表面を個々に覆う,二つの金属は
く(箔)同士の間
− 強化絶縁 : 一つに接続したすべての充電部と強化絶縁の接触可能な表面を覆う金属はく(箔)との
間
はく(箔)は,開口の中に押し込まずに,JIS C 0922の検査プローブ11によって隅及びそれに類似する
ものに押し込む。
空間距離及び沿面距離を維持するように,注意しなければならない。
基礎絶縁及び付加絶縁が個別に試験できない場合は,提供される絶縁に対して,強化絶縁で規定されて
いる試験電圧を印加する。
15.1 湿度処理
湿度処理は,20 ℃30 ℃の間で都合のよい値の±1 ℃に維持した温度Tで,91 %95 %の間の相対
湿度をもつ湿度キャビネット内で実施する。
湿度キャビネットの中に置く前に,供試体をTT+4 ℃の間の温度にする。
入口がある場合は,開放したままにする。ノックアウトが備えられている場合は,その一つを開放する。
供試体は,4日間(96時間),キャビネット内に入れておかなければならない。
注記1 大半の場合,供試体は,湿度処理の前に最低4時間選択したTT+4 ℃の間の温度に維持す
ることによって,その温度にすることができる。
注記2 91 %95 %の間の相対湿度は,空気との十分に大きな接触面積をもつ硝酸カリウム(KNO3)
又は硫酸ナトリウム(Na2SO4) 飽和水溶液を,湿度キャビネットに入れることによって得るこ
とができる。キャビネット内で規定の状態を達成するためには,キャビネット内に一定の空
気の循環を確保し,また一般に,断熱したキャビネットを使用することが必要である。
15.2 絶縁抵抗試験
250 後
供試体の絶縁抵抗は,(500 0
) Vのd.c.電圧を印加して測定するが,測定は,電圧の印加から(60100
に実施する。
15.2.1 機能絶縁の試験
絶縁抵抗値は,記録値にメートル単位の供試体の長さを乗じて得る。
絶縁抵抗は,2 MΩ/mを下回ってはならない。
15.2.2 基礎絶縁,付加絶縁及び強化絶縁の試験
絶縁抵抗は,表6に示す値を下回ってはならない。
表6−最小絶縁抵抗
試験する絶縁 絶縁抵抗
MΩ
基礎 2
付加 5
強化 7
――――― [JIS C 8473 pdf 30] ―――――
次のページ PDF 31
JIS C 8473:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61534-1:2003(MOD)
JIS C 8473:2009の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 8473:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60364-4-44:2011
- 低圧電気設備―第4-44部:安全保護―妨害電圧及び電磁妨害に対する保護
- JISC8366:2006
- ライティングダクト
- JISC8472:2005
- ライティングダクト―照明器具用ダクトの安全性要求事項