JIS E 5004-5:2007 鉄道車両―電気品―第5部:高圧ヒューズ | ページ 3

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E 5004-5 : 2007
a) ヒューズリンクは,表7に規定した適正な試験電圧において,最低遮断容量からその定格遮断容量ま
での電流範囲にある,いかなる電流も確実に遮断できなければならない。
b) ピークアーク電圧は,試験電圧の3倍を超えてはならない。ただし,小電流定格(6.3 A以下)のもの
については,ピークアーク電圧は試験電圧の4.5倍に達してもよい。
8.2.8 時間−電流特性
製造業者は,ヒューズリンクに関する技術文書の中に,(20±5)℃における時間−電流特性を含めるも
のとする。

9 試験

  試験は,次のいずれかによる。
種別1
9.19.4による。
種別2
JA.6JA.7による。

9.1 試験の種類

9.1.1  概要
試験項目は,次による。
JIS E 5004-1:2006の9.1.1(一般)を適用する。ただし,受渡試験に対して抜取試験は適用しない。
a) 形式試験(9.1.2参照)
b) 受渡試験(9.1.3参照)
c) 調査試験(9.1.4参照)
9.1.2 形式試験
形式試験は,次の目的で行う。
a) 構造上の要求に対する検証(9.2.2参照)
b) 性能上の要求に対する検証(9.3参照)
形式試験を行う場合のヒューズ又はヒューズリンクの個数は,表3,表4及び表5による。これらの必
要個数は,製造ラインから無作為に選択する。すべての試験に対して,同一のヒューズベースを使用する
のが望ましい。
試験結果が表3,表4及び表5に規定するすべての形式試験に関する要求事項に合致している場合,ヒ
ューズは,規格を満足しているものとする。
形式試験は,試験を行った各ヒューズリンク又は各ヒューズに対して試験成績書を作成し,当該ヒュー
ズの技術資料に準拠していることを証明する。
9.1.3 受渡試験
受渡試験は,各ヒューズリンク及び各ヒューズベースに対して行う。
受渡試験は,次の目的で行う。
a) 構造上の要求に対する検証(9.2.3参照)
b) 性能上の要求に対する検証(9.4参照)
試験結果が9.2.3及び9.4に規定するすべての受渡試験に関する要求事項に合致している場合,ヒューズ
は,規格を満足しているものとする。
9.1.4 調査試験

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調査試験は,特別な目的のための形式試験に対する補足試験である。これらは,受渡当事者間で協定し
たプログラムの内容であり,次のような技術的問題に関係する可能性がある。ただし,調査試験の結果は,
当該電気品の受渡条件とはしない。
a) 動作特性上,電流が頻繁に変化する場合の影響
b) 動作特性上,起動電流のサージが頻繁に起きる場合の影響
c) ヒューズの遮断容量試験中の,ヒューズ動作に対する回路時定数の影響

9.2 構造上の要求に対する検証試験

9.2.1  一般
9.3及び9.4に詳述されている性能上の要求の検証を行う前に,ヒューズリンク及びヒューズベースが箇
条8に規定する構造上の要求を満足していることを,JIS E 5004-1:2006の9.2(構造上の要求に対する検証)
によって検証する。
9.2.2 形式試験
ヒューズリンク及びヒューズベースの両方が,形式試験としての構造上の要求を満足していることの検
証は,次の項目による。
a) 物理的特性。ヒューズが該当する図面類に適合していることの確認(例えば,寸法,材料,電気的危
険性など)。
b) 空間距離及び沿面距離[JIS E 5004-1:2006の9.3.3.2.1(空間距離及び関連する固体絶縁の検証)及び
9.3.3.2.4(沿面距離の検証)参照]。
9.2.3 受渡試験
ヒューズリンク及びヒューズベースが,受渡試験として構造上の要求を満足していることの検証は,目
視検査による(図面に準拠して製造されたことの確認)。

9.3 性能上の要求に対する検証のための形式試験

9.3.1  試験の実施項目
形式試験は,表3,表4及び表5に示すように,複数の試験の実施項目にグループ化されている。
同形ヒューズリンクに対しては,次の試験を行う。
a) 最大の定格電流をもつヒューズリンクは,表3による。
b) 最小の定格電流をもつヒューズリンクは,表4による。
c) 最大電流と最小電流との間に定格電流があるヒューズリンクは,表5による。
同形ヒューズリンクの分類にないヒューズリンクについては,ヒューズは表3によって試験する。さら
に,9.3.4.5による耐振動及び耐衝撃能力の検証試験を行う。
試験の実施項目表ごとに,表に記載してある試験項目の順番に従って,試験することが望ましい。
形式試験を行う前に,各ヒューズリンクに対して受渡試験(9.1.3参照)を行う。

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表3−同形ヒューズリンクの最大定格に対する試験の実施項目
該当箇条 試験 “g”形ヒューズリンク “a”形ヒューズリンク
番号 サンプル数 3 3 2 2 1 1 1 1 1 3 3 2 2 1 1 1 1
9.2.2 形式検査 ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○
9.4.2 抵抗測定 ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○
9.3.4.1 温度上昇測定 ○ ○
9.3.4.3 遮断容量I1の検証 ○ ○
9.3.4.3 遮断容量I2の検証 ○ ○
9.3.4.3 遮断容量I3の検証 ○ ○
9.3.4.3 遮断容量I4の検証 ○ ○
9.3.4.4 時間−電流特性の検証I5 ○ ○
9.3.4.4 時間−電流特性の検証I6 ○ ○
9.3.4.4 時間−電流特性の検証I7 ○ ○
9.3.4.2 協約不溶断電流の検証 ○
9.3.4.2 協約溶断電流の検証 ○
9.3.4.6 挿入及び抜取性能a) ○ ○
9.3.4.1 再度の温度上昇測定 ○ ○
9.3.4.7 耐電圧の検証a) ○ ○
注a) この試験は,ヒューズリンクをヒューズベースに取り付けた完備品のヒューズで行う。
表4−同形ヒューズリンクの最小定格に対する試験の実施項目
該当箇条 試験 “g”形ヒューズリンク “a”形ヒューズリンク
番号 サンプル数 1 3 2 2 1 1 1 1 1 1 3 2 2 1 1 1 1
9.2.2 形式検査 ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○
9.4.2 抵抗測定 ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○
9.3.4.1 温度上昇測定 ○ ○
9.3.4.3 遮断容量I2の検証 ○ ○
9.3.4.3 遮断容量I3の検証 ○ ○
9.3.4.3 遮断容量I4の検証 ○ ○
9.3.4.4 時間−電流特性の検証I5 ○ ○
9.3.4.4 時間−電流特性の検証I6 ○ ○
9.3.4.4 時間−電流特性の検証I7 ○ ○
9.3.4.2 協約不溶断電流の検証 ○
9.3.4.2 協約溶断電流の検証 ○
9.3.4.5 耐振動及び耐衝撃能力の検 ○ ○

9.3.4.1 再度の温度上昇測定 ○ ○
9.3.4.7 耐電圧の検証a) ○ ○
注a) この試験は,ヒューズリンクをヒューズベースに取り付けた完備品のヒューズで行う。

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表5−同形ヒューズリンクの中間定格に対する試験の実施項目
該当箇条 試験 “g”形ヒューズリンク “a”形ヒューズリンク
番号 サンプル数 3 2 2 1 1 1 1 1 3 2 2 1 1 1 1
9.2.2 形式検査 ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○
9.4.2 抵抗測定 ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○
9.3.4.1 温度上昇測定 ○ ○
9.3.4.3 遮断容量I2の検証 ○ ○
9.3.4.3 遮断容量I3の検証 ○ ○
9.3.4.3 遮断容量I4の検証 ○ ○
9.3.4.4 時間−電流特性の検証I5 ○ ○
9.3.4.4 時間−電流特性の検証I6 ○ ○
9.3.4.4 時間−電流特性の検証I7 ○ ○
9.3.4.2 協約不溶断電流の検証 ○
9.3.4.2 協約溶断電流の検証 ○
9.3.4.7 耐電圧の検証a) ○ ○
注a) この試験は,ヒューズリンクをヒューズベースに取り付けた完備品のヒューズで行う。
9.3.2 試験条件一般
供試のヒューズは,詳細にわたって図面どおりとする。
特別の指定がない限り,試験は定格値(電流,電圧及び周波数)で行う。定格動作値の許容範囲は,試
験仕様書に規定されていない場合は表6による。また,特別の指定がない限り,ヒューズは,ぎ装状態を
考慮して取り付ける。
表6−試験に用いる定格動作値の許容範囲
すべての試験 温度上昇試験及び時間−
回路短絡の条件のもとでの試験
電流特性の検証試験
電流 : +10 % 0 %
電圧 : +5 %0 %
電流 : +3 %0 % 力率 : 0−0.05
周波数 : ±10 %
時定数 : +15 %0 %
注記 これらの数値は,試験仕様書に規定されていない場合に適用する。
9.3.3 一般的な性能特性を検証するときの試験の実施項目
この試験の実施項目表には,表3,表4及び表5に規定されている試験及び検証を含む。
9.3.4 ヒューズリンクの試験に関する説明
9.3.4.1 温度上昇測定
JIS E 5004-2:2006の9.3.3.2(温度上昇)で要求されている試験は定格電流で行う。
ヒューズの温度上昇測定用の試験回路の接続を図A.1に示す。
試験は,空気が自由に流れる大気中に取り付けたヒューズで行う。ただし,周囲の空気温度は1535 ℃
の範囲内にあるものとする。
この試験に対しては,供給電源は必要な試験電流を十分に維持できるものでなければならない。
ヒューズには,ヒューズリンクの定格電流(必要に応じて交流又は直流のどちらでもよい)を連続的に
通電する。ヒューズに直接接続される試験回路の導体の詳細については,JIS C 8269-1:2000の表10を参
照する。

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温度上昇は,JIS E 5004-2:2006の表2に規定されている数値を超えてはならない。
9.3.4.2 “g”形ヒューズリンクに関する協約不溶断電流及び協約溶断電流の検証
次の試験は,電圧を下げて行ってもよい。
a) ヒューズは,表1に示す規定時間と同じ時間,製造業者が指定した協約不溶断電流を通電する。この
電流では規定時間内で作動してはならない。
b) 周囲温度まで冷却した後のヒューズに,製造業者が指定する協約溶断電流を通電する。この電流では,
表1に規定した協約時間内で作動するものとする。
注記 遮断電流試験I4(9.3.4.3.2参照)中に,協約溶断電流を検証することを,受渡当事者間で協定
すれば,上記の試験b)は省略できる。
9.3.4.3 遮断容量の検証
9.3.4.3.1 一般
遮断容量の検証は,同形ヒューズリンクから選択した一つのヒューズリンクに対して,次の条件で行う
(9.3.4.3.2参照)。
a) 最大定格電流のヒューズリンクに対しては,試験電流I1,I2,I3及びI4で試験する。
b) 最小及び中間の定格電流のヒューズリンクに対しては,試験電流I2,I3及びI4で試験する。
同形ヒューズリンクの特性に関する内容は,製造業者が文書化し,試験報告書で確認するものとする。
注記 同形ヒューズリンクの試験については,JIS C 8269-1:2000の8.1.5.2を参照。
同形ではないヒューズリンクは,試験電流I1,I2,I3及びI4で試験する。
9.3.4.3.2 試験責務
遮断容量の検証として,次の試験責務を行う。
a) 試験責務I 定格遮断電流に等しい試験電流I1を通電しての遮断容量の検証。
b) 試験責務II ヒューズのアークエネルギーが最大である推定電流I2を通電してのヒューズリンク動作
の検証。直流試験では,ピーク通過電流が推定電流の0.60.8倍の間となる推定電流を選択する。
c) 試験責務III 過電流I3及びI4との領域における,ヒューズリンク動作の検証。
これらの試験中,低電圧を用いてヒューズリンクを予熱してもよい。ヒューズエレメントが溶断す
る前に,ヒューズリンクは0.2秒未満のデッドタイム内に,低電圧回路から遮断試験の試験電圧に切
り替える。ヒューズリンクが遮断試験の試験電圧に接続され,かつ,推定電流に達したときに,アー
クが発生する。
試験のパラメータを,表7に示す。
Inは,ヒューズリンクの定格電流。
I1は,製造業者が指定するヒューズの定格遮断容量。
I2は,上記の規定で選択した数値。
I3は,ヒューズリンクの遮断容量の中間数値。
I4は,“a”形ヒューズリンクの最低遮断容量又は“g”形ヒューズリンクの協約溶断電流。

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  • IEC 60077-5:2003(MOD)

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