JIS G 0555:2003 鋼の非金属介在物の顕微鏡試験方法

                                                                                   G 0555 : 2003

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本鉄鋼
連盟 (JISF)/財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申
出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS G 0555 : 1998は改正され,この規格に置き換えられる。
  改正に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO 4967 : 1998,Steel-Determination of
content of nonmetallic inclusions-Micrographic method using standard diagramsを基礎として用いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS G 0555には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定)グループA,B,C,D及びDS介在物の標準図
    附属書B(参考)視野の評価及びサイズオーバー介在物の評価
    附属書C(参考)典型的な結果の表示例
    附属書D(参考)標準図の指数と介在物計測値との関係
    附属書1(規定)点算法による非金属介在物の顕微鏡試験方法
    附属書2(参考)JISと対応する国際規格との対比表

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G 0555 : 2003

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 原理・・・・[1]
•  3. サンプリング・・・・[3]
•  4. 試験片の準備・・・・[5]
•  5. 介在物の測定・・・・[6]
•  5.1 観察法・・・・[6]
•  5.2 実際の試験・・・・[6]
•  6. 結果の表示・・・・[8]
•  6.1 全般・・・・[8]
•  6.2 試験方法A・・・・[8]
•  6.3 試験方法B・・・・[8]
•  7. 試験報告書・・・・[8]
•  附属書A(規定) グループA,B,C,D及びDS介在物の標準図・・・・[9]
•  附属書B(参考) 視野の評価及びサイズオーバー介在物の評価・・・・[24]
•  附属書C(参考) 典型的な結果の表示例・・・・[26]
•  附属書D(参考) 標準図の指数と介在物計測値との関係・・・・[29]
•  附属書1(規定) 点算法による非金属介在物の顕微鏡試験方法・・・・[35]
•  附属書2(参考) JISと対応する国際規格との対比表・・・・[38]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              G 0555 : 2003

鋼の非金属介在物の顕微鏡試験方法

Microscopic testing method for the non-metallic inclusions in steel

序文

 この規格は,1998年に第2版として発行されたISO 4967 : 1998,Steel─Determination of content of
nonmetallic inclusions―Micrographic method using standard diagrams を元に,対応する部分については対応
国際規格を翻訳し,技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)であるが,対応国際規格には規
定されていない規定項目を日本工業規格(日本産業規格)として追加している。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

1. 適用範囲

 この規格は,圧延比が3以上の圧延,又は鍛造された鋼製品中の非金属介在物を,標準図
を用いて測定する顕微鏡試験方法について規定する。
 参考 この方法は,鋼の使用目的に対する適性を評価するのに広く使われている。ただし,測定者の影
 響によって,非常に多数の試験片を用いてさえも,再現性のある試験結果を得るのは困難であるため,
 この方法を使用するときは注意が必要である。
  この規格は,画像処理技術による非金属介在物の測定についても附属書Dに参考として示した。
  なお,顕微鏡で鋼の非金属介在物(以下,介在物という。)の種類及び数量を測定し,その清浄度を判定
する顕微鏡試験方法は附属書1による。
    参考 ある種の鋼(例えば,快削鋼)においては,この規格の標準図は適用できない場合がある。
  備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
    なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD(修
     正している),NEQ(同等でない)とする。
            ISO 4967 : 1998,Steel―Determination of content of nonmetallic inclusions―Micrographic method
              using standard diagrams (MOD)

2. 原理

 この方法は,観察視野とこの規格で定義される標準図とを比較すること,及び介在物のそれぞ
れの系を個々に考察することから構成する。画像処理の場合には,各視野は附属書Dに示す関係に従い格
付けする。
  標準図は,縦断面の0.50 mm2を100倍の倍率で観察した正方形視野に相当する。介在物の形状及び分布
によって標準図は主に5種類のメイングループA,B,C,D及びDSに分ける。これら5種類のグループ
は,最も一般的に観察される介在物の種類と形態を表す。
− グループA(硫化物系) : 一般的に端が丸く,高延伸性で,アスペクト比(長さ/厚さ)が広い範囲を
    とる灰色の個別の粒子。
− グループB(アルミナ系) :  多数の変形しないで,角があり,低アスペクト比(一般的に3未満)を

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G 0555 : 2003
    とる黒か青みがかった変形方向に整列した(3以上の)粒子群。
− グループC(シリケート系) : 一般的に端が鋭く,高延伸性で,アスペクト比は広い範囲(一般的に3
    以上)をとり,黒か濃い灰色の個別の粒子。
− グループD(粒状酸化物系) : 変形しないで,角張っているか又は円形の低アスペクト比(一般的に3
    未満)をとる黒又は青みがかったランダムに分布する粒子。
− グループDS(個別粒状介在物系) : 円形又は円形に近く,直径が13m以上の単独の粒子。
  一般的ではない介在物の系についても,前述の五つの系と比較し,それらの形態,及び化学組成に関す
る報告書に基づき分類してもよい。例えば,粒状硫化物はグループDとして分類し,説明の添字(例えば
Dsulf)を試験報告書に定義する。Dcasは硫化カルシウムを,DRESは希土類の硫化物を,DDupは硫化カルシウ
ムの周囲をアルミナで覆われているような2相の粒状介在物を示す。
  ほう素化物又は炭化物,窒化炭素,窒化物のように析出する系の場合,前述の五つの系と比較したそれ
らの形態及び前項の化学組成に関する記述に基づき分類してもよい。
  主なメイングループの図は二つのサブグループからなり,その各サブグループは介在物の量の増加程度
を表す6段階の図からなる。このサブグループへの分類は,単に非金属介在物の厚さの違いによって類別
する。
  介在物グループごとの標準図は,附属書Aに示す。これらの図は,0.5から3までの指数番号iで表し,
表1に定義する指数番号と,表2に定義する厚さによって決まり,その指数番号は,グループA,B,C
では介在物の長さによって,グループDでは介在物の数によって,グループDSでは介在物の直径によっ
て決める。例えば,A2とは顕微鏡で観察された介在物の形状はグループAに一致し,介在物の分布と量
とが番号2に一致していることを示す。
                                         表 1 格付け
                                            介在物グループ
    図表         A                B                C               D               DS
    指数      合計長さ         合計長さ         合計長さ         総計             直径
     i          m                 m               m              個数              m
     0.5   37以上127未満     17以上77未満    18以上76未満     1以上4未満      13以上19未満
     1     127以上261未満   77以上184未満    76以上176未満     4以上9未満     19以上27未満
     1.5   261以上436未満   184以上342未満   176以上320未満   9以上16未満     27以上38未満
     2     436以上649未満   342以上555未満   320以上510未満   16以上25未満    38以上53未満
     2.5   649以上898未満   555以上822未満   510以上746未満   25以上36未満    53以上76未満
     3    898以上1 181未満 822以上1 147未満 746以上1 029未満  36以上49未満   76以上107未満
        備考1. 上のグループA,B,Cの長さは,附属書Dの式で計算された値を最も近い整数値に丸めたもの
               とする。
            2. 表の範囲を超える介在物は,附属書Dによって格付けする。
                                   表 22 介在物厚さパラメータ
                              薄いシリーズ                          厚いシリーズ
       グループ        最小厚さ           最大厚さ          最小厚さ           最大厚さ
                         m                  m                  m                 m
          A             2以上              4以下             4超え              12未満
          B             2以上              9以下             9超え              15未満
          C             2以上              5以下             5超え              12未満
          D             3以上              8以下             8超え              13未満
        備考1. グループDにおいては,最大寸法は直径として定義する。
            2. 厚いシリーズの最大厚さ以上の介在物は個別に記載する。

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                                                                                              3
                                                                                   G 0555 : 2003
    備考 試験に先立ち,一般的ではない介在物の特徴を識別するため,100倍よりも高い倍率で観察し
          てもよい。

3. サンプリング

 介在物の形状は,鋼の圧延比の程度に大きく左右されるため,比較試験を行うときは
同程度の変形量を受けたサンプルから採取された試験片の断面で行う。
  介在物量の測定に用いられる試験片の研磨面は,約200 mm2 (20 mm×10 mm) とし,研磨面は製品の圧
延方向又は鍛練軸に平行で,外面と中心との中間に位置していなければならない。
  サンプリング方法は製品規格で定義するか,又は当事者間の協定による。ただし,板材の場合の被検面
は,おおよそ幅方向の1/4とする。
  そのような仕様が取り交わされていない場合,サンプリング方法は,次による。
− 直径が40 mmを超える棒鋼又は角の場合 : 被検面は中心を通る断面で,外面と中心の中間とする(図
    1参照)。
− 直径が25 mmを超え40 mm以下の棒鋼又は角 : 被検面は中心を通る断面で,中心から試験片の端ま
    でとする(図2参照)。
− 直径が25 mm以下の棒鋼 : 被検面は中心を通る断面全部から構成され,約200 mm2の面を得るのに十
    分な長さとする(図3参照)。
− 厚さが25 mm以下の板 : 幅方向1/4の板厚方向断面で,全板厚を含む面とする(図4参照)。
− 厚さが25 mmを超え50 mm以下の板 : 幅方向1/4の板厚方向断面で,表面から板厚中心までとする
    (図5参照)。
− 厚さが50 mmを超える板 : 幅方向1/4の板厚方向断面で,表面と板厚中心の中央の位置で,かつ,
    板厚の1/4の幅とする(図6参照)。
      採取される試験片の数は,製品規格又は特別協定によって規定する。
      これら以外の製品に対してのサンプリング方法は,受渡当事者間の協定による。
                                                                    単位 mm
                   図 1 直径又は断面の辺が40 mmを超える棒鋼又は角の試験片

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