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G 1351 : 2006
の蛍光X線強度を測定する。測定は,パルス計数方式の装置では定時法(若しくは定計数法)又は対比法
(5),積分電圧測定方式の装置ではモニター法又は定時法による。
試料及び検量用試料は同一条件で測定し,蛍光X線強度を求める。
注(3) クロムターゲットのX線管を用いてクロムを定量する場合は,バックグラウンド,試料の粒度
及び平面度並びにマトリックスの影響によって誤差を生じることがあるため,注意する必要が
ある。
(4) 装置の型式,定量元素及びその含有量範囲,所要定量精度などを考慮して,実験的に最も適切
な測定条件を設定する。測定条件には,表2に示したスペクトル線及び分光結晶のほかに,X
線発生部の設定条件(管電圧,管電流など),分光部の設定条件(スリット幅など),計数記録
部の設定条件などがある。
(5) 自動対比機構をもたない装置で対比法を用いる場合は,分析試料及び対照試料の測定は,通常,
続けて行う。
7.4 検量線の作成
6.3の検量用試料を7.3に従って測定し,得た蛍光X線強度又は対照試料との強度比
などと,分析元素含有率との関係から検量線を作成する。
備考1. フェロマンガンのマンガン,フェロシリコンのけい素,フェロクロムのクロム,シリコマン
ガンのマンガン及びけい素,シリコクロムのけい素及びクロム,並びにフェロボロンのほう
素は,含有率範囲が広いので,検量線は種類別に作成する。
2. フェロマンガンの検量線は,高炭素フェロマンガンと中炭素フェロマンガンとは別に作成す
る。
3. フェロクロムの場合は,一般に高及び中炭素フェロクロムは粉状試料を用い,低炭素フェロ
クロムは塊状試料を用いる。高及び中炭素フェロクロムは,粉状試料の場合,けい素と炭素
との含有率によって試料粒度及び蛍光X線強度の変動があるので注意する。
4. フェロボロンの検量線は,高炭素フェロボロンと低炭素フェロボロンとは別に作成する。
7.5 含有率の算出
7.4で作成した検量線から分析元素の含有率を求める。