50
K 0141 : 2000 (ISO 14976 : 1998)
の値は注釈行かどこかに記述されなければならない。
「1掃引当たり積算時間補正」は秒単位で。*),
試料法線極角
(*度単位の,試料ステージで定義された座標系の上方向z軸からの角度。*),
試料法線方位角
(*度単位の,試料ステージで定義された座標系のy軸から時計周りの角度。*),
試料回転角
(*度単位の,試料法線の周りに時計周りの回転角。もしこれが,試料上の特別な
方向に関係している場合は,その方向についてブロック内の注釈行に記述するとよ
い。*),
追加数値パラメータ数,
{追加数値パラメータラベル,
追加数値パラメータ単位,
追加数値パラメータ値}
(*「追加数値パラメータ数」の数値によって,上の三つの入力項目グループの数
が規定される。*),
データ点数
(*「データ点数」は,「対応変数の数」の数値と一組の対応変数を構成するデー
タ点数との積に等しい。*),
データ最小値,
データ最大値,
{データ値}−
(*「データ点数」の数値によって,「データ値」の数を規定する。*);
追加数値パラメータラベル=テキスト行;
追加数値パラメータ単位=単位;
追加数値パラメータ値=実数;
分光器軸方位角=実数;
分光器軸極角=実数;
分光器モード= ('FAT' | 'FRR' | 'constant delta m' | 'constant m/delta m'),改行;
分光器通過エネルギー,減速比又は質量分解能=実数;
分光器仕事関数,原子又はイオン取り込みエネルギー=実数;
分析線源方位角=実数;
分析線源ビーム幅x=実数;
分析線源ビーム幅y=実数;
分析線源特性エネルギー=実数;
分析線源ラベル=テキスト行;
分析線源入射極角=実数;
分析線源強度=実数;
分析領域幅x=実数;
分析領域幅y=実数;
――――― [JIS K 0141 pdf 51] ―――――
51
K 0141 : 2000 (ISO 14976 : 1998)
ブロック識別子=テキスト行;
改行=・ 7ビットアスキー文字のCARRIAGE RETURNで,7ビットアスキー文字の行送り (LINE FEED)
が続く・;
文字= ' ' | '!' | '"' | '#' | '$' | '%' | '&' | "'" | '(' | ')' | '*' | '+' | ' ,' | '−' | '.' | '/' | '0' | '1' | '2' | '3' | '4' | '5' | '6' | '7' |
'8' | '9' | ' : ' | ';' | '<' | '=' | '>' | '?' | '@' | 'A' | 'B' | 'C' | 'D' | 'E' | 'F' | 'G' | 'H' | 'I' | 'J' | 'K' | 'L' | 'M' | 'N' | 'O'
| 'P' | 'Q' | 'R' | 'S' | 'T' | 'U' | 'V' | 'W' | 'X' | 'Y' | 'Z' | '[' | '\' | ']' | '^' | '' | '' | 'a' | 'b' | 'c' | 'd' | 'e' | 'f' | 'g' |
'h' | 'i' | 'j' | 'k' | 'l' | 'm' | 'n' | 'o' | 'p' | 'q' | 'r' | 's' | 't' | 'u' | 'v' | 'w' | 'x' | 'y' | 'z' | '[{' | ' | ' | '}]' | '~'
(*ここで用いる文字とは,スペース若しくは94あるASCII (American National Standard
Code for Information Interchange) コード文字である。7ビットASCII, ANSIX3.4-1986は,情報
標準−情報処理−情報交換ISO 7ビットコード文字セット,ISO 646 : 1983の米国版である。
ISO 646の他の版では '#', '$', '@', '[', '\', '] ', '^', '', '[{', '|,'}] ', '~' を他
の文字で置き換えてもよい。*);
検出粒子電荷=整数;
注釈行=テキスト行;
対応変数ラベル=テキスト行;
対応変数単位=単位;
カレンダー日=整数;
十進数=[符号],[{数字}, '.'],{数字}−
(*後ろに続くものがない負号は「十進数」の数字が少なくとも一つ要ることを示す。*);
微分幅=実数;
数字= '0' | '1' | '2' | '3' | '4' | '5' | '6' | '7' | '8' | '9';
実験識別子=テキスト行;
実験終了符= 'end of experiment',改行;
実験変数ラベル=テキスト行;
実験変数単位=単位;
視野幅x=実数;
視野幅y=実数;
初走査線の終了x座標=整数;
フォーマット識別子= 'VAMAS Surface Chemical Analysis Standard Data Transfer Format 1988 May 4',
改行;
時=整数;
機関識別子=テキスト行;
装置型式識別子=テキスト行;
整数=[符号],[数字]−,改行
(*「整数」の値の範囲は,−1E37から1E37までの範囲でなければならない。
空項が続く負号は,この後に少なくとも一つの整数が必要なことを示す。*);
最終走査線の終了x座標=整数;
最終走査線の終了y座標=整数;
分光器投射レンズ倍率=実数;
データ最大値=実数;
――――― [JIS K 0141 pdf 52] ―――――
52
K 0141 : 2000 (ISO 14976 : 1998)
データ最小値=実数;
分時刻=整数;
月時刻=整数;
追加数値パラメータ数=0以上の整数;
スパッタイオン又はスパッタ原子の原子数=1以上の整数;
ブロック数=1以上の整数;
対応変数の数=1以上の整数;
グリニジ標準時差=実数;
ブロック注釈行数=0以上の整数;
注釈行数=0以上の整数;
データ点数=1以上の整数;
ブロックデータ測定繰り返し回数=1以上の整数;
1以上の整数=整数
(*「1以上の整数」の値は,0より大きくなければならない*);
測定者識別子=テキスト行;
データ値=実数;
実数=十進数値,['E',[符号],[十進数値]-],改行
(*「実数」の値は-1E37以上-1E-37以下,又は0,又は1E-37以上1E37以下である。
空項が続く負号は,それが存在するならば,その後の指数部に少なくとも一つの整数が必要なこ
とを示す。*);
測定試料識別子=テキスト行;
測定試料法線極角=実数;
測定試料法線方位角=実数;
測定試料回転角=実数;
秒時刻=整数;
符号= '+' | '−';
1掃引当たり積算時間=実数;
信号モード= ('analogue' | 'pulse counting'),改行
(*ディジタルで記録されているかどうかは別に,アナログ信号は符号とブロックコメント
に記録されるであろうゲインの値をもつ。パルスカウントによる信号は,0又はそれ以上の整
数である。*);
1掃引当たり積算時間補正=実数;
化学種ラベル=テキスト行;
スパッタイオン又はスパッタ原子の原子番号=1以上の整数;
スパッタイオン又はスパッタ原子の符号付き電荷=整数;
測定試料バイアス電圧=実数;
測定手法= ('AES diff' | 'AES dir' | 'EDX' | 'ELS' | 'FABMS' | 'FABMS energy spec' | 'ISS' | 'SIMS' | 'SIMS
energy spec' | 'SNMS' | 'SNMS energy spec' | 'UPS' | 'XPS' | 'XRF'),改行;
テキスト行=80*[文字],改行;
遷移記号又は準位記号=テキスト行;
――――― [JIS K 0141 pdf 53] ―――――
53
K 0141 : 2000 (ISO 14976 : 1998)
単位= ('c/s' | 'd' | 'degree' | 'eV' | 'K' | 'micro C' | 'micro m' | 'm/s' | 'n' | 'nA' | 'ps' | 's' | 'u' | 'V'),改行
(*これらの記号は,次の単位の略号である。
'c/s' カウント毎秒
'd' 無次元−数値のみ,例,チャンネル当たりカウント数
'degree' 角度
'eV' 電子ボルト
'K' ケルビン
'micro C' マイクロクーロン
'micro m' マイクロメートル
'm/s' メートル毎秒
'n' ここでは無定義−ラベルに記入してもよい
'nA' ナノアンペア
'ps' ピコ秒
's' 秒
'u' 原子質量単位
'V' ボルト
*);
実験変数値=実数;
西暦年=整数;
ゼロ以上の整数=整数
(*「ゼロ以上の整数」の値は0以上でなければならない。*);
――――― [JIS K 0141 pdf 54] ―――――
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K 0141 : 2000 (ISO 14976 : 1998)
附属書D(参考) 参考文献
(1) S 6154 : 1981 British Standard−Method of defining syntactic metalanguage, British Standards
(2) ench, A. W. , Hazell L. B. and Seah, M. P. : VAMAS surface chemical analysis standard data transfer format
with skeleton decoding programs, Surface and Interface Analysis, November 1988, vol. 13, nos 2 and 3, p.
63-122.
――――― [JIS K 0141 pdf 55] ―――――
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JIS K 0141:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 14976:1998(IDT)
JIS K 0141:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.240 : 情報技術(IT)の応用 > 35.240.70 : 自然科学へのITの応用