JIS K 0147-2:2017 表面化学分析―用語―第２部：走査型プローブ顕微鏡に関する用語

                                                                K 0147-2 : 2017 (ISO 18115-2 : 2013)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  0 適用範囲・・・・[1]
•  1 略語・・・・[1]
•  2 形式・・・・[4]
•  2.1 定義中に太字で規定されている用語の使用法・・・・[4]
•  2.2 推奨用語・・・・[4]
•  2.3 対象分野・・・・[4]
•  3 走査型プローブ顕微鏡の定義・・・・[4]
•  4 接触力学モデルに関する略語及び用語・・・・[11]
•  5 走査型プローブ法に関する用語・・・・[12]
•  6 走査型プローブ顕微鏡に関する補助的な用語・・・・[33]
•  7 走査型プローブ法に関する補助的な用語・・・・[36]

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――――― [JIS K 0147-2 pdf 1] ―――――

K 0147-2 : 2017 (ISO 18115-2 : 2013)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,表面化学分析技術国際標準化委員会(JSCA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS K 0147の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS K 0147-1 第1部 : 一般用語及び分光法に関する用語
    JIS K 0147-2 第2部 : 走査型プローブ顕微鏡に関する用語

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――――― [JIS K 0147-2 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           K 0147-2 : 2017
                                                                          (ISO 18115-2 : 2013)

表面化学分析−用語−第2部 : 走査型プローブ顕微鏡に関する用語

Surface chemical analysis-Vocabulary- Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy

序文

  この規格は,2013年に第2版として発行されたISO 18115-2を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

0 適用範囲

  この規格は,表面化学分析に用いる走査型プローブ顕微鏡に関する主な用語について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 18115-2:2013,Surface chemical analysis−Vocabulary−Part 2: Terms used in scanning-probe
              microscopy(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

1 略語

  走査型プローブ顕微鏡に関する主な略語を,次に記載する。次のリストで,最後の“M”は“microscopy”
となっているが,文脈によって“microscope”という意味でも同じように用いられる。
  3D-PFM : ベクトル圧電応答力顕微鏡,三次元圧電応答力顕微鏡 vector PEM
  AFM : 原子間力顕微鏡 atomic-force microscopy
  AM-AFM : 振幅変調原子間力顕微鏡 amplitude modulation atomic-force microscopy
  AM-KPFM : 振幅変調ケルビンプローブ力顕微鏡 amplitude modulation Kelvin-probe force microscopy
  ANSOM : 無開口型NSOM(非推奨) apertureless near-field scanning optical microscopy
  ASNOM : 無開口型SNOM(非推奨) apertureless scanning near-field optical microscopy
  BEEM : 弾道電子放射顕微鏡 ballistic-electron emission microscopy
  BEES : 弾道電子放射分光法 ballistic-electron emission spectroscopy
  CFM : 化学力顕微鏡 chemical-force microscopy
  CITS : 電流イメージングトンネル分光法 current-imaging tunnelling spectroscopy
  CPAFM : 導電性探針原子間力顕微鏡 conductive-probe atomic-force microscopy
  CRAFM : 接触共振原子間力顕微鏡 contact resonance atomic-force microscopy
  CRFM : 接触共振力顕微鏡 contact resonance force microscopy

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K 0147-2 : 2017 (ISO 18115-2 : 2013)
  DFM : ダイナミックフォース顕微鏡 dynamic-force microscopy
  DMM : 変位変調顕微鏡 displacement modulation microscopy
  DTM : 微分トンネル顕微鏡 differential-tunnelling microscopy
  EC-AFM : 電気化学原子間力顕微鏡 electrochemical atomic-force microscopy
  ECFM : 電気化学力顕微鏡 electrochemical-force microscopy
  EC-SPM : 電気化学走査型プローブ顕微鏡 electrochemical scanning-probe microscopy
  EC-STM : 電気化学走査型トンネル顕微鏡 electrochemical scanning tunnelling microscopy
  EFM : 静電気力顕微鏡 electrostatic-force microscopy
  FFM : 摩擦力顕微鏡 frictional-force microscopy
  FM-AFM : 周波数変調原子間力顕微鏡 frequency modulation atomic-force microscopy
  FM-KPFM : 周波数変調ケルビンプローブ力顕微鏡 frequency modulation Kelvin-probe force microscopy
  FMM : 力変調顕微鏡 force modulation microscopy
  FRET : 蛍光共鳴エネルギー移動 fluorescence resonant energy transfer
  FS : 力分光法 force spectroscopy
  HFM : ヘテロダイン力顕微鏡 heterodyne force microscopy
  HPICM : ホッピング探針イオンコンダクタンス顕微鏡 hopping probe ion conductance microscopy
  IC : 間欠接触 intermittent contact
  IETS : 非弾性電子トンネル分光法 inelastic electron tunnelling spectroscopy
  IFM : 界面力顕微鏡 interfacial-force microscopy
  KFM : ケルビンフォース顕微鏡(非推奨) Kelvin force microscopy
  KPM : ケルビンプローブ顕微鏡 Kelvin probe microscopy
  KPFM : ケルビンプローブ力顕微鏡,ケルビンプローブフォース顕微鏡 Kelvin-probe force microscopy
  LFM : 水平力顕微鏡 lateral-force microscopy
  LFMM : 水平力変調顕微鏡 lateral-force modulation microscopy
  MDFM : 磁気ダイナミックフォース顕微鏡 magnetic dynamic-force microscopy
  MDM : マイクロ波誘電率顕微鏡 microwave dielectric microscopy
  MFM : 磁気力顕微鏡 magnetic-force microscopy
  MOKE : 磁気光学カー効果 magneto-optic Kerr effect
  MRFM : 磁気共鳴力顕微鏡 magnetic-resonance force microscopy
  MTA : ミクロ熱分析 micro-thermal analysis
  NC-AFM : 非接触原子間力顕微鏡 non-contact atomic-force microscopy
  NIS : ナノインピーダンス分光法 nano-impedance spectroscopy
  NSOM : 近接場走査(型)光学顕微鏡 near-field scanning optical microscopy
  PF-AFM : パルスフォース原子間力顕微鏡 pulsed-force atomic-force microscopy
  PFM : 圧電応答力顕微鏡 piezoresponse force microscopy
  PSTM : フォトン走査型トンネル顕微鏡 photon scanning tunnelling microscopy
  PTMS : 光熱顕微分光法 photothermal micro-spectroscopy
  RNSOM : 反射近接場走査型光学顕微鏡 reflection near-field scanning optical microscopy
  RSNOM : 反射走査型近接場光学顕微鏡 reflection scanning near-field optical microscopy
  SCFM : 走査型容量力顕微鏡 scanning capacitance force microscopy

――――― [JIS K 0147-2 pdf 4] ―――――

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                                                                K 0147-2 : 2017 (ISO 18115-2 : 2013)
  SCM : 走査型容量顕微鏡 scanning capacitance microscopy
  SCPM : 走査型化学ポテンシャル顕微鏡 scanning chemical-potential microscopy
  SECM : 走査(型)電気化学顕微鏡 scanning electrochemical microscopy
  SECM-SICM : 走査型電気化学顕微鏡−走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 scanning electrochemical
      microscopy-scanning ion conductance microscopy
  SERRS : 表面増強共鳴ラマン分光法 surface-enhanced resonant Raman spectroscopy
  SERS : 表面増強ラマン散乱 surface-enhanced Raman scattering
  SFM : 走査型力顕微鏡(非推奨) scanning force microscopy
  SGM : 走査型ゲート顕微鏡 scanning gate microscopy
  ShFM : せん断力顕微鏡 shear force microscopy
  SHG : 第二次高調波発生 second harmonic generation
  SHPFM : 第二次高調波ピエゾフォース顕微鏡 second harmonic piezo force microscopy
  SHPM : 走査型ホール素子顕微鏡 scanning Hall probe microscopy
  SICM : 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 scanning ion conductance microscopy
  SIM : 走査型インピーダンス顕微鏡 scanning impedance microscopy
  SKPM : 走査型ケルビンプローブ顕微鏡 scanning Kelvin probe microscopy
  SMCM : 走査型マイクロピペット接触法 scanning micropipette contact method
  SMRM : 走査型磁気抵抗顕微鏡 scanning magneto-resistance microscopy
  SMSM : 走査型マクスウェル応力顕微鏡 scanning Maxwell stress microscopy
        SMSMは場合によってSMMとも称されるが,後者の略語は走査型マイクロ波顕微鏡(scanning
      microwave microscopy)及び走査型磁気顕微鏡(scanning magnetic microscopy)にも用いられるため,
      走査型マクスウェル応力顕微鏡には用いないほうがよい。
  SNDM : 走査型非線形誘電率顕微鏡 scanning non-linear dielectric microscopy
  SNFUH : 走査型近接場超音波ホログラフィ scanning near-field ultrasound holography
  SNOM : 走査(型)近接場光学顕微鏡 scanning near-field optical microscopy
  s-NSOM : 散乱型近接場走査型光学顕微鏡,散乱型NSOM scattering near-field scanning optical microscopy
  SNTM : 走査型近接場熱顕微鏡 scanning near-field thermal microscopy
  SPM : 走査(型)プローブ顕微鏡 scanning-probe microscopy
  SP-STM : スピン偏極走査型トンネル顕微鏡 spin-polarized scanning tunnelling microscopy
  SP-STS : スピン偏極走査型トンネル分光法 spin-polarized scanning tunnelling spectroscopy
  SRTM : スピン分解トンネル顕微鏡(非推奨) spin-resolved tunnelling microscopy
  SSCM : 走査型表面共焦点顕微鏡 scannning surface confocal microscopy
  SSM : 走査型SQUID顕微鏡 scanning superconducting interference device (SQUID)   icroscopy
  s-SNOM : 散乱型走査型近接場光学顕微鏡,散乱型SNOM scattering scanning near-field optical microscopy
  SS-PFM : スイッチング分光圧電応答力顕微鏡 switching spectroscopy piezoresponse force microscopy
  SSPM : 走査型表面電位顕微鏡 scanning surface potential microscopy
  SSRM : 走査型拡がり抵抗顕微鏡 scanning spreading-resistance microscopy
  STM : 走査(型)トンネル顕微鏡 scanning tunnelling microscopy
  SThM : 走査型熱顕微鏡 scanning thermal microscopy
  STHM : 走査型トンネル水素顕微鏡 scanning tunnelling hydrogen microscopy

――――― [JIS K 0147-2 pdf 5] ―――――

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