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ているものであってもよい。
また,試験片支持装置を用いて測定した反発弾性率の値と,剛性のある裏金(例えば,装置のフレーム
部)に接着した試験片で測定したときの反発弾性率の値との差が2 %以内であれば,その支持装置を用い
てもよい。この反発弾性率の差を確認する試験は,高い反発弾性率(約90 %)をもつ加硫ゴム及び高い硬
さ(約85 IRHD)をもつ加硫ゴムの2種類について行う。
試験片支持装置の例としては,真空吸着,機械的固定及びこの両者の組合せがある。推奨できる試験片
支持装置の例を図2に示す。機械的固定方法として内径20 mm,外径35 mmの金属製保持リングを用いる。
例えば,ばねによって試験片の前面を(200±20)Nの保持力で押し付ける。
なお,試験片によっては,受渡当事者間の協定によって保持力を変更してもよい。
別の推奨できる方法は,試験片背面を真空吸着する方法である。これは,直径25 mm,幅2 mmの溝に
絶対圧力10 kPaで真空吸着するもので,この場合は,保持リングに加える保持力を(150±15)Nまで小
さくできる。打撃時に試験片が自由に膨らむように試験片の外周面に少なくとも2 mm以上の間隙を設け
る。試験片支持装置の位置は,振子が拘束のない自由な状態(平衡状態)にあるとき,振子の打撃端が試
験片の試験面中心に接する位置になければならない。
また,この状態で指針は,目盛板の0を示していなければならない。
単位 mm
1 支持力 : (150±15)N(吸着あり),又は(200±20)N(吸着なし)
2 試験片
3 保持リング
4 吸着溝
図2−試験片支持装置の例
6.1.5 温度制御装置
試験室の標準状態以外の試験温度で試験する場合は,振子式試験装置全体を恒温槽に入れて試験するこ
とができる。この場合,振子式試験装置は,その試験温度で,6.1.6に従って調整及び検査を行わなければ
ならない。
他の方法として,図3に示すような加熱又は冷却のための循環流体を用いた恒温装置を試験片支持装置
――――― [JIS K 6255 pdf 6] ―――――
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に取り付けてもよい。この場合,試験片を完全に温度制御した環境に置くため,試験片支持装置の前面の
開口部に,加熱又は冷却気体によるエアーカーテンを設けることが望ましい。
試験片支持装置の温度は,熱電対又は他の方法によって,試験片に近い位置で測定する。
1 循環流体の出入口
2 断熱材
3 温度計
4 試験片
5 ばね荷重レバー
図3−温度調節付き試験片支持装置の例
6.1.6 試験装置の調整
試験装置は,振子と試験片支持装置とを結合した状態で,硬さの極端に異なる試験片に繰り返し打撃を
加えたとき,装置全体の動作が滑らかでなければならない。剛体部分の剛性不足,懸垂機構の欠陥などに
よって,有害な振動,むち打ち現象などを生じてはならない。
調整及び検査は,次のとおり行う。
a) 振子の幾何学的形状,質量,懸垂高さ,落下高さなどの測定によって,打撃質量及び打撃速度が6.1.1
に規定しているとおりであることを確認する。
b) 打撃端球表面の直径が規定どおりであることを確認する。また,球表面が打撃によって生じる試験片
表面のくぼみ面よりも大きいことを確認する。このために打撃端の球表面は,完全な半球状であるこ
とが望ましい。
c) 振子は,拘束のない自由な状態で,静止位置に止まることを確認する。この静止位置が打撃の生じる
位置であり,かつ,目盛の0位置であることを確認する。
d) 振子の摩擦損失を補正するため,支持装置を試験装置から取り外して,次の手順で,周期及び対数減
衰率を測定する。
1) 振子を動かし,振動周期と振幅の減少とを同一の側で測定し,記録する。
対数減衰率は,次の式(3)によって算出する。
1 lx 1 Rx
Λ loge loge (3)
n lx n 2n Rx n
ここに, 対数減衰率
n : 振動の回数
lx,lx+n : 等間隔目盛で読んだ振幅(mm)
Rx,Rx+n : 直読目盛で読んだ反発弾性率(%)
――――― [JIS K 6255 pdf 7] ―――――
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振子の振動の両側で減衰条件が異なる場合は,両側で振幅を測定し,平均値を求め,これを用い
る。
2) 周期(T)及び対数減衰率( を,次の異なる振幅で,各々5回測定し,その平均値から求める。
フルスケール T1
1/2スケール T2
1/4スケール T4
なお,1/2及び1/4スケールは,反発弾性率直読目盛の読みで各々フルスケールの1/2及び1/4と
する。すなわち,振子の振動開始時の落下高さをフルスケールの1/2及び1/4とする。
3) 周期T1,T2及びT4のいずれの値も,その平均値から10 %以上異なってはならない。1 %未満の差は,
無視できる。1 %以上10 %未満の差の場合は,適切な非線形の補正を目盛に施す。この補正は,目
盛の各点に対応する振子のエネルギーを基準に行う。
打撃速度の値は,幾何学的寸法と周期T1,T2及びT4の平均値とから求めるか又はフルスケールか
らの落下における打撃衝突質量と位置エネルギーとの値から算出することができ,6.1.1に規定した
範囲にあることを確認する。
4) 対数減衰率 び その平均値から0.01以上異なってはならない。また
及び 満の値は,無
0.03以下の場合は,補正が必要である。
なお,リュプケ式では,この値が0.01未満であることが確認されているので,試験片支持装置を
試験装置から取り外すことができない装置では,周期及び対数減衰率の測定を省略してもよい。取
り外すことができる装置では,測定し確認することが望ましい。
なお,落下高さ及び反発高さに対する補正値は,それぞれの高さ近傍における振幅の対数減衰率
を測定し,次の式(4)及び式(5)によって算出する。
H H1 1 1 (4)
e2Λi 4
ここに, ΔH : 落下高さに対する補正値(mm)
H : 落下高さ(mm)
槿 落下高さ近傍における振幅の対数減衰率
h h1 1 41 (5)
e2Λi
ここに, Δh : 反発高さに対する補正値(mm)
h : 反発高さ(mm)
槿 反発高さ近傍における振幅の対数減衰率
6.2 試験片
6.2.1 試験片の採取・作製
試験片は,平たん・平滑・表裏平行な表面をもたなければならない。試験片は,型加硫又は切断及びバ
フによって作製する。試験片を切断及びバフによって作製する場合は,JIS K 6250の8.(試験片の採取・
作製)に従って行う。また,繊維及びその他の補強補助物を用いてはならない。
6.2.2 寸法及び寸法測定
試験片は,(12.5±0.5)mmの厚さと(29±0.5)mmの直径とをもつ円柱を標準とする。その他の寸法の
試験片は,標準外試験片とし,受渡当事者間の協定によって,比較試験のために用いることができる(附
――――― [JIS K 6255 pdf 8] ―――――
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属書A参照)。
試験片の寸法測定は,JIS K 6250の10.(寸法測定方法)に従い,試験片が上記の要件を満たすことを確
認する。
6.2.3 試験片の数
試験片の数は,2個とする。
6.2.4 成形から試験までの時間
a) 試験目的にかかわらず,成形から試験までの間隔は,最低16時間とする。
b) 製品から採取しない試験については,成形から試験までの間隔は,最大4週間までとし,比較試験の
場合は,できるだけ同じ間隔のもので実施する。
c) 製品から採取する試験については,成形から試験までの間隔は,3か月を超えてはならない。購入し
た製品は,受け取った日から2か月以内に試験をしなければならない。
6.2.5 状態調節
a) 試験片の状態調節は,JIS K 6250の9.(試験片の状態調節)による。研磨した試験片は,研磨後試験
までの時間を16時間以上72時間以内とする。
b) 試験室の標準温度は,JIS K 6250の6.1(試験室の標準温度)による。状態調節された試料から採取し
た試験片は,直ちに試験を行う。後加工を施した試験片は,試験室の標準温度で最低3時間状態調節
を行う。
6.3 試験温度
標準試験温度は,JIS K 6250の11.2.1(標準試験温度及び標準試験湿度)による。標準試験温度以外の
温度で試験を行う場合は,JIS K 6250の11.2.2(その他の試験温度)から選択し,反発弾性率が温度によ
って急激に変化する場合は,より狭い温度間隔で試験を行ってもよい。
6.4 操作方法
6.4.1 標準試験温度以外の試験温度における状態調節及び試験片の取付け
試験温度が試験室の標準状態と異なる場合は,試験装置全体及び試験片をその温度にするか又は恒温装
置付き支持装置を用いる。
恒温装置付き支持装置を用いる場合は,試験片を支持装置に取り付け,試験片の温度が許容差内に入る
まで,JIS K 6250の附属書A(加硫ゴム及び熱可塑性ゴム試験片に対する状態調節時間)に規定する時間
保持する。また,試験片を別の恒温槽に入れておき(この場合の予冷時間又は予熱時間は,JIS K 6250の
附属書Aによる),試験片を取り出し,素早く恒温装置付き支持装置に取り付けてもよい。この場合,試
験片は,十分に予冷又は予熱されているので,支持装置に試験片を取り付けてから測定までの時間を3分
間以内とする。
なお,低温での試験の場合は,試験片に霜が付かないよう対策をとらなければならない。
試験片の被打撃面が粘着性であれば,例えば,タルクなどの粉を軽く振り掛けて,粘着の影響を除外し
なければならない。
6.4.2 試験片への予備打撃
予冷又は予熱が終了後, 3回以上7回以下の連続した打撃を試験片に与えて,反発高さが安定するまで,
予備打撃を行う。
6.4.3 反発弾性率の測定
予備打撃後,3回の打撃を試験片に与える。それぞれの反発高さの測定を行うか,又はそれぞれの反発
弾性率を読み取る。
――――― [JIS K 6255 pdf 9] ―――――
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6.4.4 計算及び結果の表し方
対数減衰率 び 満の場合,補正の必要がないため,反発弾性率を直
み取るか又は式(6)の反発高さに対する減衰補正値Δh及び落下高さに対する減衰補正値ΔHを0として,
反発弾性率を算出する。
なお,リュプケ式試験装置における振子の対数減衰率は,0.01未満にあることが確認できているため,
周期及び対数減衰率の測定を省略してもよい。
一方,対数減衰率 び 上,0.03以下の範囲にある場合は,落下高さの補正及び反
高さの補正が必要であり,次の式(6)によって算出する。
h h
RL 100 (6)
H H
ここに, RL : 反発弾性率(補正後)(%)
h : 反発高さ(mm)
H : 落下高さ(mm)
Δh : 反発高さに対する減衰補正値(mm)
ΔH : 落下高さに対する減衰補正値(mm)
3回の打撃によって得た値の中央値をその試験片の反発弾性率とし,2個の試験片によって得た値の平均
値をJIS Z 8401によって丸め,整数位で表す。
6.5 精度
この方法の精度は,附属書Dに記載している。
6.6 試験報告書
試験報告書には,次の事項を記録する。
a) 試料 :
1) 試料の詳細
2) 試験片の作製方法の詳細(加硫,裁断など)
b) 試験方法 :
1) 用いた試験方法(この規格の番号,試験の種類など)
2) 用いた装置の型式,打撃端直径,振子の(打撃端)質量及び打撃速度
3) 標準試験片を用いない場合,試験片の詳細
4) 用いた試験片支持方法
c) 試験の詳細 :
1) 試験室温度
2) 試験前の試験片の状態調節の時間及び温度
3) 試験温度,(必要な場合)相対湿度
4) 規格に規定されていない操作方法の詳細
d) 試験結果 :
1) 試験した試験片の個数
2) 個々の試験結果
3) 平均した結果
e) 試験年月日
――――― [JIS K 6255 pdf 10] ―――――
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JIS K 6255:2013の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 4662:2009(MOD)
- ISO 4662:2009/Technical Corrigendum 1:2010(MOD)
JIS K 6255:2013の国際規格 ICS 分類一覧
- 83 : ゴム及びプラスチック工業 > 83.060 : ゴム
JIS K 6255:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISK6200:2019
- ゴム―用語
- JISK6250:2019
- ゴム―物理試験方法通則
- JISK6253-2:2012
- 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム―硬さの求め方―第2部:国際ゴム硬さ(10 IRHD～100 IRHD)
- JISZ8401:2019
- 数値の丸め方