JIS K 6387-2:2011 ゴムラテックス―第２部：全固形分の求め方

                                                                                  K 6387-2 : 2011

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 原理・・・・[1]
•  4 装置及び器具・・・・[1]
•  5 サンプリング・・・・[2]
•  6 手順・・・・[2]
•  6.1 一般・・・・[2]
•  6.2 大気圧下での加熱(70 ℃又は105 ℃)-濃縮天然又は合成ゴムラテックス・・・・[2]
•  6.3 大気圧下での加熱(160 ℃以下)-合成ゴムラテックス・・・・[2]
•  6.4 減圧下での加熱-合成ゴムラテックス・・・・[3]
•  7 結果の表し方・・・・[3]
•  8 試験精度・・・・[3]
•  9 試験報告書・・・・[3]
•  附属書A(参考)大気圧下における合成ゴムラテックスの乾燥条件・・・・[5]
•  附属書B(参考)試験精度・・・・[6]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[8]

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K 6387-2 : 2011

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,日本ゴム工業会
(JRMA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの
申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS K 6387-2:1998は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS K 6387の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS K 6387-1 第1部 : サンプリング
    JIS K 6387-2 第2部 : 全固形分の求め方

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           K 6387-2 : 2011

ゴムラテックス−第2部 : 全固形分の求め方

Latex, rubber-Determination of total solids content

序文

  この規格は,2008年に第5版として発行されたISO 124を基に,技術的内容を変更して作成した日本工
業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。
    警告 この規格の利用者は,通常の実験室での作業に精通しているものとする。この規格は,その使
          用に関連して起こる全ての安全性の問題を取り扱おうとするものではない。この規格の利用者
          は,各自の責任において安全及び健康に対する適切な措置をとらなければならない。

1 適用範囲

  この規格は,濃縮天然ゴムラテックス及び合成ゴムラテックスの全固形分の求め方について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 124:2008,Latex, rubber−Determination of total solids content(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS K 6387-1 ゴムラテックス−第1部 : サンプリング
      注記 対応国際規格 : ISO 123,Rubber latex−Sampling(IDT)

3 原理

  大気圧下又は減圧下において規定された条件の乾燥器内で,試料を恒量になるまで加熱する。加熱前後
の質量を測定することによって,全固形分を求める。
    注記 規定時間加熱した後の残留分の求め方は,ISO 3251に規定されている。

4 装置及び器具

  装置及び器具は,次による。
4.1   平底皿 平底皿は,注ぎ口がなく,直径が約60 mmのもの。

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K 6387-2 : 2011
4.2   乾燥器 乾燥器は,70 ℃±2 ℃の温度又は100 ℃160 ℃の選択した温度で,±5 ℃を保持できる
もの。
4.3   減圧乾燥器 減圧乾燥器は,125 ℃±2 ℃の温度,20 kPa1)以下の圧力に保持できるもの。
4.4   はかり はかりは,0.1 mgの読み取りができるもの。
    注1) 1 kPa=1 kN/m2

5 サンプリング

  JIS K 6387-1で規定する方法のいずれかに従って,サンプリングを行う。

6 手順

6.1 一般

  操作の手順は,濃縮天然ゴムラテックスは,6.2に,合成ゴムラテックスは,6.2,6.3又は6.4による。
この操作は,2回繰り返す。
    注記 濃縮天然ゴムラテックス,合成ゴムラテックス共に,試験条件の選択に当たっては,6.2(加熱
          条件70 ℃)を基本とするが,材料の特性に応じて,6.2(加熱条件105 ℃),6.4も選択できる。
          6.3は,受渡当事者間の合意がある場合に実施する。

6.2 大気圧下での加熱(70 ℃又は105 ℃)-濃縮天然又は合成ゴムラテックス

− 平底皿(4.1)の質量を0.1 mgまではかる。
− ラテックス2.0 g±0.5 gを平底皿に入れ,0.1 mgまで質量をはかり,ラテックス質量(m0)を0.1 mg
    まで求める。
− 平底皿を軽く回して,ラテックスが平底皿を覆うようにする。必要であれば,約1 cm3の蒸留水又は
    同等の純度の水を加え,平底皿を軽く回して,混合してもよい。
− 乾燥器(4.2)内に水平になるように平底皿を置き,70 ℃±2 ℃で16時間,又は105 ℃±5 ℃で2
    時間加熱する。
− 乾燥器から平底皿を取り出し,デシケータ中で室温まで放冷する。
− 平底皿を取り出し,質量を0.1 mgまではかる。
− 平底皿を乾燥器に戻し,70 ℃±2 ℃で30分間,又は105 ℃±5 ℃で15分間加熱する。
− 乾燥器から平底皿を取り出し,平底皿をデシケータに入れて室温まで放冷し,再びはかる。
− 連続する2回の測定値間での質量減少が0.5 mgより少なくなるまで,30分,又は15分間隔で乾燥操
    作を繰り返す。
− 乾燥操作後のラテックス質量(m1)を0.1 mgまで記録する。
− 105 ℃±5 ℃で加熱後,乾燥物が極端に粘りつく場合は,加熱温度を70 ℃±2 ℃として測定を行う,
    又は6.4の手順によって,再び測定を行う。
      注記 粘りつくのは,あまりにも高温で空気に暴露されたときに見られる,ゴムの酸化の兆候であ
            る。

6.3 大気圧下での加熱(160 ℃以下)-合成ゴムラテックス

− 受渡当事者間で合意がある場合は,乾燥時間を短縮するために160 ℃以下の温度で加熱を実施するこ
    とができる。ただし,加熱温度は,クロロプレン(以下,CRという。)ラテックスは130 ℃まで,そ
    の他のCR以外のラテックスは160 ℃までの温度で加熱することができる(表A.1参照)。
− ラテックスの加熱時間は,例えば,130 ℃±5 ℃の場合には,40分間加熱し,160 ℃±5 ℃の場合に

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    は,20分間加熱するとよい(附属書A参照)。それ以外の操作は,6.2による。
− 平底皿をデシケータ中で放冷し,はかった後,平底皿を乾燥器に戻し,10分間乾燥する。
− 連続する2回の測定値間での質量減少が0.5 mgより少なくなるまで,10分間隔で乾燥操作を繰り返
    す。
− 結果に疑義があれば,6.2又は6.4の操作を繰り返す。

6.4 減圧下での加熱-合成ゴムラテックス

− 酸化劣化しやすいラテックスの場合は,減圧下で加熱を実施することができる。
− 平底皿(4.1)の質量を0.1 mgまではかる。
− ラテックス1.0 g±0.2 gを平底皿に入れ,0.1 mgまで質量をはかる。
− 約1 cm3の蒸留水又は同等の純度の水を加え,平底皿を軽く回すことによって,ラテックスが平底皿
    を覆うようにする。
− 平底皿を減圧乾燥器(4.3)に水平に置く。
− 泡立又は飛散を防ぐため徐々に圧力を下げ,20 kPaより低い圧力下で,125 ℃±2 ℃で45分60分
    間加熱する。それ以外の操作は,6.2の操作による。
− ゆっくりと圧力を戻して減圧乾燥器から容器を取り出し,デシケータに入れ,放冷する。
− 平底皿を取り出し,はかる。
− 連続する2回の測定値間での質量減少が0.5 mgより少なくなるまで,15分間隔で乾燥操作を繰り返
    す。

7 結果の表し方

  全固形分(TSC)は,次の式(1)によって算出する。
                              m1
                        TSC=     100  (1)
                              m0
                      ここに,       TSC :  全固形分(質量分率%)
                                      m0 :  ラテックスの乾燥前の質量(g)
                                      m1 :  ラテックスの乾燥後の質量(g)
  測定は,2回繰り返して行い,その測定値の差は,質量分率0.2 %以上であってはならない。その測定値
の差が,質量分率0.2 %以上の場合,箇条6の手順を繰り返す。
    注記 測定を数多く行った場合は,6.4の測定法による値が6.2又は6.3の測定法による値に比べわず
          かに低い値となる場合があるが,その差は,質量分率0.1 %以内である。

8 試験精度

  試験精度は,附属書Bによる。

9 試験報告書

  試験報告書には,次の項目を含まなければならない。
a) この規格の番号
b) 乾燥方法及び温度
c) 試料を特定するのに必要な全ての詳細
d) 結果の平均値及び単位

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