この規格ページの目次
4
K 7034 : 2003
試験片の平均直径dmを,管の平均厚さと内径又は外径を用い,計算(3.1参照)によって求める。
9. 状態調節
個別規格で規定されていない限り,試験片の状態調節を行わない。
10. たわみ測定による試験手順
警告 試験中に起こり得る破壊又は漏えいに対し,事前に注意を払っておくことが望ましい。
10.1 次の手順の間,個別規格に規定する温度を維持する。
10.2 少なくとも18個の試験片の破壊までの時間が0.1時間と10 000時間以上との間に分布し,かつ,少
なくとも10個の破壊時間の分布が表1の制限を満たすよう想定して,たわみ範囲を選ぶ。
表 1 破壊時間の分布
破壊時間 破壊数の最小値
h
≧ 10 かつ ≦ 1 000 4
>1 000 かつ ≦ 6 000 3
>6 000 3*
注* このうち,少なくとも1個は10 000時間を超えなければならない。
備考 直径の28 %以上のたわみは,管の部分的な偏平化をもたらし,異常なひずみ分布を生じる可
能性がある。たわみが28 %に達する場合には,ひずみゲージを用いるか,又は同一仕様の試
験片を用い,たわみの測定ひずみに対する校正を確立しておくことによって,正確さが向上す
る。この校正方法は,すべてのたわみレベルにおいて,中立軸が試験管の管壁の中心にあると
みなす計算のチェックとしても有効である。
10.3 試験片を,上下の形鋼に付け,試験片の2本の線を結ぶ面が垂直であり,形鋼の軸に平行で,かつ,
その中央線上にあるように配列して,装置の中に置く。
試験片と形鋼との接触ができるだけ均一であり,形鋼が傾いていないことを,目視によって確認する。
10.4 できるだけ装置の上下の形鋼を平行に保ちながら,荷重を加えて試験片をたわませる。
たわみは試験片の両端部と中央部との位置において測定し,3点の測定値を平均する。
たわみが規定量に達したとき(10.2参照),時間を記録し,試験片をたわんだ状態に保つために装置を固
定する。
10.5 試験片の内面だけが試験液に触れるように,柔軟なシール剤を用いて,化学的に不活性なせき板を
装着する。せき板が,試験片の支えとなってはならない。
10.6 たわみに応じて増加する水平方向の直径についての補正を含む次の式を用いて,初期ひずみを計算
する。
eYav
4.28××
100×
t 2
dm 0.5×Yav
ここに, εt : 初期ひずみ(%)
e : 試験片の平均厚さ (mm)
Yav : 平均垂直たわみ (mm)
dm : 試験片の平均直径(3.1参照)(mm)
備考 この計算は,中立軸が試験片の管壁の中心にあるとみなしている。変化した中立軸を生じる試
験片の壁構造に対しては,eの代わりに2×zを代入した結果を評価する必要があるかもしれな
い。ここで,zは管の内面から中立軸までの距離である。中立軸の位置は,内外面を対にした
ひずみゲージを用いることによって求めることができる。
――――― [JIS K 7034 pdf 6] ―――――
5
K 7034 : 2003
10.7 規定のたわみ(10.4参照)に達してから2時間以内に,2枚のせき板の間に,試験液が25 mm50 mm
の深さとなるように入れ,その時間を0時間として記録する。
10.7.1 試験片への負荷と0時間との間の許容される時間は,応力緩和で生じる差異が最小となるように選
ぶ。この時間は,試験片取付け準備の点からも選ばれる。
10.8 漏れ破壊を生じるか,試験を停止するまで,試験液の深さを25 mm以上に保つ。試験片を液にさら
している間,試験液の濃度が規定の±5 %におさまっていることを適切な分析方法を用いて定期的に検査
し,必要があれば,試験液を調整する。
備考 ある種の液は,水分の蒸発によって濃縮される。何らかの試薬を用い,定期的にたわませた試
験片を清掃し,試験液を新鮮なものに更新することが必要となることがある。
10.9 他に規定がない限り,試験片の漏れ破壊の兆候について,拡大鏡を用いず目視によって,表2に示
す間隔で検査する。検査の間隔の許容範囲を表2に示す。
備考 試験液を更新している間に,ぬれている表面の詳細な検査を行うことができる。
表 2 検査の間隔
0時間からの時間 検査の間隔 検査の間隔の許容範囲
h
0 10 1時間ごと ± 0.25時間
10 600 24時間ごと ± 6時間
600 6 000 72時間ごと ± 10時間
6 000以上 1週間ごと ± 1日
漏れ破壊を見やすくするため,必要であれば,試験片の外面に石灰水などを塗布しておく。
10.10 各試験片の破壊までの時間を記録する。
10.11 破壊が生じない場合には,個別規格の規定に従う。
11. ひずみ測定による試験手順
警告 試験中に起こり得る破壊又は漏えいに対し,事前に注意を払っておくことが望ましい。
11.1 次の手順の間,個別規格に規定する温度を維持する。
11.2 少なくとも18個の試験片の破壊までの時間が0.1時間と10 000時間以上との間に分布し,かつ,少
なくとも10個の破壊時間の分布が表1の制限を満たすよう想定して,ひずみ範囲を選ぶ。
11.3 初期の円周ひずみを測定するために,試験片の内側に注意深く3個のひずみゲージを1列に配置し
円周方向に向けてはり付ける。試験片の線の一つに沿って,等間隔でゲージを置く。
ゲージのはり付けに用いる接着剤は,全体で,内側に沿って試験片の長さの37 %以上を覆っていては
ならない。試験片が円形の間は,ゲージを0とする。
備考 ブリッジのバランスを0にするとき,円形を保つため,軸を鉛直にして置くとよい。
11.4 ひずみゲージを付けた後,ゲージを底にして,試験片を試験装置(図1参照)の中へ入れる。
ゲージが最大ひずみ部(時計の6時の位置)に確実にくるよう,また,試験片の線が形鋼の軸と平行で
あり,その中央にあるよう,細心の注意を払う。
備考 試験片の負荷枠の中への置き方は重要な意味をもつ。
11.5 できるだけ装置の上下の形鋼を平行に保ちながら,荷重を加えて試験片をたわませる。
所定のひずみに達したならば,試験片をたわみ状態に保つために,装置を固定する。装置を固定したな
らば,速やかにゲージを読み取る。
初期ひずみは,装置の固定後2分以内に記録する。試験の有効性を確認するために,少なくとも2個の
――――― [JIS K 7034 pdf 7] ―――――
6
K 7034 : 2003
ゲージが,その平均値の±2.5 %の読みを示していることを点検する。いずれかのゲージの読みが,他の2
個のゲージの平均値より7.5 %以上多い場合には,厚さ測定上の証拠からひずみゲージの読みが正確であ
ったことが示されない限り,そのゲージの指示を無視する。
有効なゲージの指示を平均し,初期ひずみとして記録する。
11.6 試験片の内面だけが試験液に触れるよう,柔軟なシール剤を用いて,化学的に不活性なせき板を装
着する。このとき,せき板は,試験片の支えとなってはならない。
11.7 規定のひずみ(11.2参照)に達してから2時間以内に,2枚のせき板の間に,試験液が25 mm50 mm
の深さとなるように入れ,その時間を0時間として記録する。
備考 試験片への負荷と0時間との間の許容される時間は,応力緩和で生じる差異が最小となるよう
に選ぶ。この時間は,試験片取付け準備の点からも選ばれる。
11.8 破壊を生じるか,又は試験を停止するまで,試験液の深さを25 mm以上に保つ。試験片を液にさら
している間,試験液の濃度が規定の±5 %におさまっていることを定期的に検査し,必要があれば,試験
液を調整する。
備考 ある種の液は,水分の蒸発によって濃縮される。何らかの試薬を用い,定期的にたわませた試
験片を清掃し,試験液を新鮮なものに更新することが必要となることがある。
11.9 他に規定がない限り,試験片の漏れ破壊の兆候について,拡大鏡を用いず目視によって,表2に示
す間隔で検査する。検査の間隔の許容範囲を表2に示す。
備考 試験液を新鮮なものに更新しているときに,ぬれている表面の詳細な検査を行うことができる。
漏れ破壊を見やすくするため,必要であれば,試験片の外面に石灰水などを塗布しておく。
11.10 各試験片の破壊までの時間を記録する。
11.11 破壊が生じない場合には,個別規格の規定に従う。
12. 外挿値の計算
10.又は11.で得られたデータを用い,JIS K 7020のA法に従って,個別規格に規定さ
れた適切な時間における,外挿したたわみ又はひずみの数値を求める。
13. 試験報告
試験結果の報告には,次の情報を含む。
a) この規格及び引用した個別規格名
b) 試験した管又は継手を特定できるための記録
c) 試験片の数
d) 試験片の寸法
e) 管又は継手から試験片を採取した位置
f) たわませる前の試験片の平均直径 dm
g) 試験片の平均厚さ e
h) 試験手順(たわみ法又はひずみ法),及び各試験片のたわみ又はひずみのパーセント
i) 試験温度及び適用した場合は状態調節の温度
j) 試験液に関する完全な記述及びその濃度
k) 試験片を完全にたわませて(10.4又は11.5参照)から試験液を入れるまでの時間
l) 破壊のモード(10.9又は11.9参照)及び各試験片の破壊までの時間
m) 外挿したたわみ又はひずみの数値,及び対応する外挿時間(12.参照)
n) この規格に規定しなかった何らかの偶発事項,操作上の詳細など,結果に影響した可能性があるすべ
――――― [JIS K 7034 pdf 8] ―――――
7
K 7034 : 2003
ての因子
o) 試験を継続した期間の日付
――――― [JIS K 7034 pdf 9] ―――――
8
K 7034 : 2003
K7
8
0
附属書(参考)JISと対応する国際規格との対比表
34 : 200
ISO 10952 : 1999 プラスチック配管系−ガラス強化熱硬化性プラスチック
JIS K 7034 : 2002 プラスチック配管系−ガラス強化熱硬化性プラスチック (GRP) 管
3
及び継手−偏平下における管内面の耐薬品性の求め方 (GRP) 管及び継手−偏平下における管内面の耐薬品性の求め方
(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格との技術的差異の理由
(IV) ISと国際規格との技術的差異の項
規格番号 目ごとの評価及びその内容 及び今後の対策
表示箇所 : 本体
表示方法 : 点線の下線又は実線の側
線
項目 内容 項目 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
番号 番号 評価
1.適用 ガラス強化熱硬化性プラ ISO 10952 1. JISに同じ IDT ― 日本においては,“fittings”を“継手”
範囲 スチック管及び継手につ 以外に“異形管”と翻訳する場合もあ
いて,たわませた状態での るため,これを備考2. として明記し
耐薬品性の測定方法。 た(技術的な差異なし)。
2. 引用 JIS K 7020 2. ISO 10928 IDT ―
規格
3. 定義 3
3.1平均直径 3.1 JISに同じ IDT
3.2漏れ破壊 3.2 JISに同じ IDT
3.3異形管 MOD/追加 定義に3.3異形管を追 “異形管”の定義を明確にするため,
加。 追加した(1.の備考2.参照)。
4. 原理 たわませた試験片の内面 4. JISに同じ。 IDT ISOの備考2.e)の記述が次回改正時にISOへ修正提案を行う
に試験液を入れ,漏れ破壊 ただし,備考2.e) の記 誤りであるため。 予定である。
を起こすまでの時間を測 述は異なる。
定する。
5. 試験 試験液は個別規格に規定 5. JISに同じ IDT ―
液 されたとおりとする。
――――― [JIS K 7034 pdf 10] ―――――
次のページ PDF 11
JIS K 7034:2003の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 10952:1999(MOD)
JIS K 7034:2003の国際規格 ICS 分類一覧
- 83 : ゴム及びプラスチック工業 > 83.140 : ゴム及びプラスチック製品 > 83.140.30 : 非流体用プラスチックパイプ及び継手
- 23 : 一般的に利用される流体システム及びその構成要素 > 23.040 : パイプライン部品及びパイプライン > 23.040.45 : プラスチック継手
- 23 : 一般的に利用される流体システム及びその構成要素 > 23.040 : パイプライン部品及びパイプライン > 23.040.20 : プラスチック管
JIS K 7034:2003の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISK7020:1998
- ガラス強化熱硬化性プラスチック(GRP)管及び継手―回帰分析法及びその使用