JIS K 7124-1:1999 プラスチックフィルム及びシート―自由落下のダート法による衝撃試験方法―第１部：ステアケース法

K 7124-1 : 1999 (ISO 7765-1 : 1988)

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。これによってJIS K 7124は廃止され,この規格に置き換えられる。
  今回の制定では,国際一致規格との対応を図るため,ISO 7765-1 : 1988を基礎として用いた。
  JIS K 7124は,一般名称を“プラスチックフィルム及びシート−自由落下のダート法による衝撃試験方
法”として,次の各部によって構成する。
  第1部 : ステアケース法
  第2部 : 計装貫通法

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS K 7124-1 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                         K 7124-1 : 1999
                                                                           (ISO 7765-1 : 1988)

プラスチックフイルム及びシート−自由落下のダート法による衝撃試験方法−第1部 : ステアケース法

Plastics film and sheeting−Determination of impactresistance by the free-falling dart method−Part 1 : Staircase methods

序文 この規格は,1988年第1版として発行されたISO 7765-1, Plastics film and sheeting−Determination of
impact resistance by the free-falling dart method−Part 1 : Staircase methodsを翻訳し,技術的内容及び規格票の
様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲
1.1   この規格は,厚さ1mm以下のプラスチックフィルム及びシートの一定条件下における50%破壊の高
さからエネルギーを求める,自由落下のダート衝撃試験方法について規定する。
1.2   2種類の試験方法を,規定する。
1.2.1  A法は,直径38mm±1mmの半球状の頭部をもつダートを用い,高さ0.66m±0.01mから落下させ
る。この方法は,衝撃の破壊質量が約0.05kg約2kgの材料に適用する。
1.2.2  B法は,直径50mm±1mmの半球状の頭部をもつダートを用い,高さ1.50m±0.01mから落下させ
る。この方法は,衝撃の破壊質量が約0.3kg約2kgの材料に適用する。
1.3   測定手法はステアケース法による。試験には質量が一定の弾頭質量を用い,各試験片の試験結果(破
壊又は非破壊)によって,一定の分銅を階段的に増加又は減少させる。
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構成す
るものであって,その後の改正版・追補には適用しない。
             ISO 291 : 1977 Plastics−Standard atmospheres for conditioning and testing
             ISO 4591 : 1979 Plastics−Film and sheeting−Determination of average thickness of a sample and
                  average thickness and yield of roll, by gravimetric techniques (gravimetric thickness)
             ISO 4593 : 1979 Plastics−Film and sheeting−Determination of thickness by mechanical scanning

――――― [JIS K 7124-1 pdf 2] ―――――

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K 7124-1 : 1999 (ISO 7765-1 : 1988)
3. 意義
3.1   方法A及び方法Bは規定条件下で,試験片(数)の50%が破壊されるダートの質量を求めるために
用いられる。一方の方法で求められたデータは,他の方法で求められたデータと直接比較することはでき
ないし,また,弾頭(ミサイル)の速度,衝突表面の直径,試験片の有効直径,試験片の厚さなどの条件
が異なっている試験から得られたデータについても,直接比較することはできない。試験条件がそれぞれ
独特の試験によって得られたこれらの結果は,フィルム又はシートの製造方法に大きく依存する。
3.2   方法A及び方法Bで得られたデータは,試験に用いた材料の品質に大きく影響を受ける。したがっ
て,この方法によって得られたデータの信頼区間は,試料の品質,寸法の均等性,ダイマーク,汚染など
に,高度に依存することがあり得る。
3.3   方法A及び方法Bは,仕様の作成のために有用である。試験結果と実性能間には,通常,相関関係
が成立し得る。
3.4   フィルム及びシートの耐衝撃性は,一部厚さに依存するものの,試料の厚さと単純な相関関係があ
るわけではない。したがって,ある範囲の厚さ全体について衝撃性の値を一般化(規定)すると,材料の
実際の耐衝撃性について,誤ったデータを与えることになる。これらの方法から得られたデータは,試験
片の呼び厚さ又は平均厚さの±10%以下の差異しかない数組の試料の比較だけに用いることができる。
    参考 フィルム及びシート耐衝撃性を2点計り,相関関係を求めても,フィルム及びシート全体の耐
          衝撃性は求められない。
4. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は,次による。
4.1   衝撃破壊質量 (impact failure mass)統計的に試験片の50%が破壊するときの弾頭質量。
4.2   弾頭質量 (missile mass) ダートとこれに付加した増加分銅,及び分銅止めの総質量。
5. 装置 試験装置は,図1に示す。基本的には,次の各部から構成する。

――――― [JIS K 7124-1 pdf 3] ―――――

                                                                                              3
                                                                 K 7124-1 : 1999 (ISO 7765-1 : 1988)
                   図1 自由落下ダート衝撃試験装置             (ASTMから)

――――― [JIS K 7124-1 pdf 4] ―――――

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K 7124-1 : 1999 (ISO 7765-1 : 1988)
5.1   試験片クランプは,内径125mm±2mmの二つの輪状のクランプからなる。下部試験片のクランプは
固定され,試験片を水平に固定できるように堅ろうに取り付ける。上部試験片のクランプは可動とし,下
部試験片のクランプに水平に接触できるように取り付ける。クランプは,試験片を試験中に強固に保持で
きるように十分に試験片と接触を保てる構造とする。
    備考 空気圧制御のクランプは,作動が良好なため用いられている。
5.1.1  厚さ変化の影響を最小にするクッションとして,試験片が上下のクランプと接している試験片部分
にゴム状ガスケットを固定してもよい。このゴム状ガスケットは,デュロメータA硬さが5060のもの
で,厚さ3mm±0.1mm,内径125mm±2mm,外径150mm±3mmのものが適切である。
5.1.2  厚さ0.10mm以上の試料で滑りを最小にするか又は除去するためには,クランプ又はゴム状ガスケ
ットにクロッカス布又は50Dのガーネット研磨紙を固定する。これらを,クランプ又はガスケットに両面
粘着テープでちょう(貼)付し,研磨表面とサンプルを直接固定する。固定は十分に行い,滑りが検出さ
れることがないようにする。滑りを減らす他の方法としては,新たにクランプ具を追加するか,又は試験
片がクランプの内壁に接触してきずつかず,試験片の有効直径125mm±2mmがスリップしないで保つこ
とができれば,クランプを直接当ててもよい。
5.2   電磁石は,2kgの質量を支えるもので,弾頭の保持又は離脱に用いる。これには落下の再現性を高め
るためのセンタリングデバイスをつけ,また電磁石のオンオフの電力源を装備する。ダートの離脱を再現
性よく行うことができれば,空気圧又は他の機械的な離脱装置を用いてもよい。
5.3   位置調節装置は,ダートの先端から試験片の表面まで,ダートを0.66m±0.01m(A法)及び1.50m
±0.01m(B法)の落下高さで保持するものを用いる。ダートは,試験片の中心に対して垂直に位置する。
5.4   マイクロメータは,試験片の厚さを測定するもので,0.002 5mm1mmの範囲で,±0.002 5mmの精
度が必要である。
5.5   クッション及びシールドは,試験員の保護,及びダート先端面を保護するものとする。
5.6   分銅止めは内径約7mmで,ねじでダートシャフトに固定するものとする。
5.7   ダートは,A法及びB法用ともに,それぞれ増加分銅を取り外すことができる直径6.5mm±0.1mm,
長さ115mm以上のシャフトをつけた先端の形状が半球体のものとする。各ダートの質量は,精度が±0.5%
のものとする。ダートの先端表面に刻みきず,引っかききず又はその他の凹凸があってはならない。シャ
フトは,ダートの平たん面の中心に,シャフト高さ方向が平たん部表面に対して垂直になるように取り付
ける。シャフトは,非磁性体で作る。シャフトの端には,電磁石によって保持できるように,長さ12.5mm
±0.2mmの鉄製のチップを付ける。
5.7.1  A法では,ダートの先端部は直径38mm±1mmで,滑らかな研磨アルミニウム,フェノール樹脂又
はこれと同等な硬さの低密度材料とする。
5.7.2  B法では,ダートの先端部は直径50mm±1mmで,滑らかな研磨ステンレス鋼又はこれと同等な耐
久性をもつ材料とする。
5.8   増加分銅は,ステンレス鋼又は銅及び銅合金製で円筒形状のもので,6.5mm±0.1mmのシャフトに
取り付けられるように,中心に孔をあける。
  分銅の厚さは,±0.5%以内に調節する。分銅の組合せを,次に示す。
5.8.1  A法,直径30mmの分銅。

――――― [JIS K 7124-1 pdf 5] ―――――

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