6
R 1630-1997
付図1 推奨する負荷装置
――――― [JIS R 1630 pdf 6] ―――――
7
R 1630-1997
付図2 A号試験片
試験片断面
試験片側面
長方形断面 円形断面
単位 mm
試験片の種類 試験片断面 幅w 高さ t 直径 d 長さ La 長さ Lb 長さ Lt
推奨試験片 長方形断面 6.0±0.1 6.0±0.1 30以上 30以上 60以上
円形断面 0.130以上 30以上 60以上
その他の試験片 長方形断面 w±0.1 t±0.1 5w以上 5w以上 10w以上
円形断面 d±0.1 5d以上 5d以上 10d以上
備考 試験片の上下面の平行度は,JIS B 0621に規定する0.02mm以下とする。
付図3 B号試験片
試験片断面
試験片側面
長方形断面 円形断面
単位 mm
試験片の種類 試験片断面 幅w 高さ t 直径 d 長さ La 長さ Lb 長さ Lc 長さ Lt
推奨試験片 長方形断面 6.0±0.1 6.0±0.1 30以上 30以上 注(1) 66以上
円形断面 0.130以上 30以上 注(1) 66以上
その他の試験片 長方形断面 w±0.1 t±0.1 5w以上 5w以上 注(2) 11w以上
円形断面 d±0.1 5d以上 5d以上 注(2) 11d以上
注(1) 接合方法及び接合形状による制約がない場合,Lcは6mmとする。
(2) 接合方法及び接合形状による制約がない場合,長方形断面はLc=w,円形断面はLc=dとする。
備考 試験片の上下面の平行度は,JIS B 0621に規定する0.02mm以下とする。
――――― [JIS R 1630 pdf 7] ―――――
8
R 1630-1997
付図4 長方形断面試験片のりょうの丸め又は面取り
単位 mm
試験片の種類 r及びc
推奨試験片 0.20.4
その他の試験片 (0.030.07)
付図5 タブ付試験片の例
――――― [JIS R 1630 pdf 8] ―――――
9
R 1630-1997
ファインセラミックス接合の引張強さ試験方法原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) ○ 小 林 英 男 東京工業大学
(委員) ○ 岡 部 永 年 愛媛大学
○ 牧 野 琢 磨 日本ガイシ株式会社
○ 小坂井 守 住友大阪セメント株式会社
○ 高 坂 祥 一 京セラ株式会社
○ 河 野 顕 臣 株式会社日立製作所
三 橋 武 文 科学技術庁無機材質研究所
小 川 光 恵 財団法人ファインセラミックスセンター
安 藤 元 英 日産自動車株式会社
小 梶 彰 京セラ株式会社
安 積 忠 彦 真空理工株式会社
岸 證 理学電機株式会社
○ 平 野 正 樹 通商産業省生活産業局
○ 岡 林 哲 夫 工業技術院標準部
○ 因 幸二郎 財団法人日本規格協会
○ 菅 野 隆 志 ファインセラミックス国際標準化推進協議会
○ 山 田 貞 夫 社団法人日本ファインセラミックス協会
(事務局) ○ 杉 本 克 晶 社団法人日本ファインセラミックス協会
備考 ○印は小委員会委員を兼ねる。
JIS R 1630:1997の国際規格 ICS 分類一覧
- 81 : ガラス及びセラミック工業 > 81.060 : セラミックス > 81.060.30 : ニューセラミックス
JIS R 1630:1997の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0601:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状:輪郭曲線方式―用語,定義及び表面性状パラメータ
- JISB0621:1984
- 幾何偏差の定義及び表示
- JISB7502:2016
- マイクロメータ
- JISB7503:2017
- ダイヤルゲージ
- JISB7507:2016
- ノギス
- JISR1606:1995
- ファインセラミックスの室温及び高温引張強さ試験方法
- JISZ8401:2019
- 数値の丸め方