JIS T 1501:2022 パルス反射法超音波診断装置の性能試験方法通則 | ページ 2

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T 1501 : 2022
    ムアナライザ。
c) パルス発生器及び超音波振動子 バースト波(例えば,200 ms間隔の1 msバースト)を発生できる
    パルス発生器及び試験をする超音波プローブに類似した音響作動周波数をもつ超音波振動子。これに
    よって,被測定超音波プローブに外部から超音波の規則的なバースト信号を注入する。
d) ファントム 次の機器性能を測定することができるように構造を考慮したファントム
  1) ペネトレーション深度
  2) 距離分解能
  3) 方位分解能
  4) スライス厚さ
  5) 表示精度,距離精度及び面積精度
  6) 速度精度
e) 水槽 各種測定が可能な水槽

5 試験方法

5.1 測定の条件

  超音波診断装置及び付帯する計測機器は,各試験項目について最適な条件を設定する。例えば,超音波
診断装置は出力,ゲイン,STC,表示設定などを調整する。
  超音波診断装置に接続した超音波プローブの公称周波数及び各測定項目の測定条件を記録する。

5.2 測定方法

  測定方法は,次による[1]。
a) ペネトレーション深度 超音波が生体組織近似材料から成るファントムを通るように走査する。画像
    上確認できる最も深い位置のスペックルパターンの深度をペネトレーション深度とする。画像上に電
    気的なノイズが現れた場合は,電気ノイズと区別できる最も深い位置のスペックルパターンの深度を
    ペネトレーション深度とする。
b) 分解能
  1) 距離分解能 距離分解能は,3.7において定義しているが,実際の試験においては,Bモードで異な
      る深度にある二つのターゲット[例えば,図1 a)及び図1 b)で示す距離分解能測定用ファントムの
      ような脱気水又は生体組織近似材料中の2本の線材]を分離表示できる最小のターゲット間距離,
      又はターゲット[例えば,図2 a)及び図2 b)のような線材]のエコーとして表示された点の深度方
      向の長さ[図2 c)]とする。

――――― [JIS T 1501 pdf 6] ―――――

                                                                                             5
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                                           a) 立体図
                                           b) 断面図
              図1−距離分解能測定用ファントムの概念図及び超音波プローブの配置の例

――――― [JIS T 1501 pdf 7] ―――――

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                                           a) 立体図
                                           b) 断面図
                           c) 画像表示の例(線材断面の表示部分の拡大図)
                  図2−距離分解能及び方位分解能測定用ファントムの概念図並びに
                             超音波プローブの配置及び画像表示の例
  2) 方位分解能 方位分解能は3.25において定義しているが,実際の試験においては,Bモード(断層

――――― [JIS T 1501 pdf 8] ―――――

                                                                                             7
                                                                                   T 1501 : 2022
      面上)で深度方向に直交する方向にある二つのターゲット[例えば,図3 a)及び図3 b)で示す方位
      分解能測定用ファントムのような脱気水又は生体組織近似材料中の2本の線材]を,分離表示でき
      る最小のターゲット間距離,又はターゲット[例えば,図2 a)及び図2 b)のような線材]のエコー
      として表示された点の深度方向に直交する方向の長さ[図2 c)]とする。
                                           a) 立体図
                                           b) 断面図
              図3−方位分解能測定用ファントムの概念図及び超音波プローブの配置の例
c) スライス厚さ スライス厚さは,超音波断層像に垂直な方向の超音波ビームの幅を測定して求める。
    例えば,図4 a)及び図4 b)に示す薄い散乱体のシートを内蔵したファントムを,超音波ビームで走査
    して,図5に示す散乱エコー幅x(mm)を測定する。測定に際しては,超音波ビームがファントム走
    査表面に垂直となり,測定する深さが散乱エコーの中心となるように超音波プローブの位置を調整し
    て行う。エコー幅の測定は,エコー中心の最大感度点から−6 dBの位置にある両端を,垂直に結ぶ距
    離を測定してその平均値とする。
      スライス厚さt(mm)は,式(1)によって求める。

――――― [JIS T 1501 pdf 9] ―――――

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                        t=x
                           tanθ    (1)
      散乱体のシート(例えば,表面が粗く,薄い樹脂シート)は,走査面とθ(例えば,60°)の角度を
    なすように配置する。
                                           a) 立体図
                                           b) 断面図
             図4−スライス厚さ測定用ファントムの概念図及び超音波プローブの配置の例

――――― [JIS T 1501 pdf 10] ―――――

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