この規格ページの目次
JIS T 7319:2011 規格概要
この規格 T7319は、JIS T 7332と共に,他覚的測定原理を用いたレフラクトメータの要求事項及び試験方法について規定。
JIST7319 規格全文情報
- 規格番号
- JIS T7319
- 規格名称
- 眼光学機器―レフラクトメータ
- 規格名称英語訳
- Ophthalmic instruments -- Eye refractometers
- 制定年月日
- 1988年11月4日
- 最新改正日
- 2016年10月25日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- ISO 10342:2003(IDT)
- 国際規格分類
ICS
- 11.040.70
- 主務大臣
- 厚生労働
- JISハンドブック
- ‐
- 改訂:履歴
- 1988-11-04 制定日, 1995-02-07 確認日, 2009-10-01 確認日, 2011-07-29 改正日, 2016-10-25 確認
- ページ
- JIS T 7319:2011 PDF [8]
T 7319 : 2011 (ISO 10342 : 2003)
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1 適用範囲・・・・[1]
- 2 引用規格・・・・[1]
- 3 用語及び定義・・・・[2]
- 4 要求事項・・・・[2]
- 4.1 一般・・・・[2]
- 4.2 光学的要求事項・・・・[2]
- 4.3 測定範囲・・・・[3]
- 4.4 アイピース・・・・[3]
- 5 試験方法・・・・[3]
- 5.1 一般・・・・[3]
- 5.2 頂点屈折力の確認・・・・[3]
- 5.3 乱視軸の確認・・・・[3]
- 6 附属文書・・・・[3]
- 7 表示・・・・[4]
- 附属書A(規定)レフラクトメータ用試験器具・・・・[5]
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS T 7319 pdf 1] ―――――
T 7319 : 2011 (ISO 10342 : 2003)
まえがき
この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,日本医用光学機器
工業会(JMOIA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,厚生労働大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS T 7319:1988は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。厚生労働大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS T 7319 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
T 7319 : 2011
(ISO 10342 : 2003)
眼光学機器−レフラクトメータ
Ophthalmic instruments-Eye refractometers
序文
この規格は,2003年に第2版として発行されたISO 10342を基に,技術的内容及び構成を変更すること
なく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
1 適用範囲
この規格は,JIS T 7332と共に,他覚的測定原理を用いたレフラクトメータの要求事項及び試験方法に
ついて規定する。
この規格とJIS T 7332との間に相違点が存在する場合には,この規格を優先する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
ISO 10342:2003,Ophthalmic instruments−Eye refractometers(IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
とを示す。
2 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS B 7090:1999 光学及び光学機器−基準波長
注記 対応国際規格 : ISO 7944:1998,Optics and optical instruments−Reference wavelengths(MOD)
JIS T 0601-1:1999 医用電気機器−第1部 : 安全に関する一般的要求事項
注記 対応国際規格 : IEC 60601-1:1988,Medical electrical equipment−Part 1: General requirements for
safety(MOD)
JIS T 7330 眼鏡レンズの用語
注記 対応国際規格 : ISO 13666:1998,Ophthalmic optics−Spectacle lenses−Vocabulary(MOD)
JIS T 7332 眼光学機器−基本的要求事項及びその試験方法
注記 対応国際規格 : ISO 15004:1997,Ophthalmic instruments−Fundamental requirements and test
methods(MOD)
ISO 8429:1986,Optics and optical instruments−Ophthalmology−Graduated dial scale
――――― [JIS T 7319 pdf 3] ―――――
2
T 7319 : 2011 (ISO 10342 : 2003)
3 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS T 7330によるほか,次による。
3.1
レフラクトメータ(eye refractometer)
眼の屈折状態を測定するために使用するアナログ又はデジタル式読取り部を備えた計測機器。
注記 眼の屈折状態を測定するとは,正視と同じ状態にするのに必要な補正レンズの屈折力を求める
ことである。
3.2
許容誤差(tolerance)
平均実測値と公称値との差で許される範囲。
4 要求事項
4.1 一般
レフラクトメータは,JIS T 7332の該当する要求事項に従わなければならない。
4.2 光学的要求事項
レフラクトメータは,表1又は表2に従わなければならない。
要求事項中にディオプトリー(D)で表示される屈折度数は,使用する特定の波長(すなわちJIS B 7090
で要求されるλ=546.07 nm又はλ=587.56 nm)を基準にしたものでなければならない。
乱視屈折力の読みは,プラス乱視屈折力法又はマイナス乱視屈折力法において表示が可能でなければな
らない。
表1−アナログ表示式レフラクトメータについての要求事項
基準 測定範囲 最大スケール間隔 試験器具a) 許容誤差
球面頂点屈折力c) −15 D+15 D 0.25 D 0 D,±5 D,±10 D ±0.25 D
(最大メリジオナル ±15 D ±0.50 D
頂点屈折力)
乱視頂点屈折力c) 0 D6 D 0.25 D 球面 : 約0 D ±0.25 D
乱視屈折力のため 0°180° 5° 乱視 : −3 D ±5°
の乱視軸b) 軸 : 0°,90°
注a) 試験器具の公称値は,上記の公称値から1.0 Dを超えて異なってはならない。
b) 乱視軸は,ISO 8429の規定に従って表示しなければならない。
c) 球面頂点屈折力及び乱視頂点屈折力は,眼鏡レンズの後面頂点屈折力である。頂点間距離は12 mmとする。
――――― [JIS T 7319 pdf 4] ―――――
3
T 7319 : 2011 (ISO 10342 : 2003)
表2−デジタル表示式レフラクトメータについての要求事項
基準 測定範囲 最大スケール間隔 試験器具a) 許容誤差
球面頂点屈折力c) −15 D+15 D 0.25 D 0 D,±5 D,±10 D ±0.25 D
(最大メリジオナル ±15 D ±0.50 D
頂点屈折力)
乱視頂点屈折力c) 0 D6 D 0.25 D 球面 : 約0 D ±0.25 D
乱視屈折力のため 0°180° 1° 乱視 : −3 D ±5°
の乱視軸b) 軸 : 0°,90°
注a) 試験器具の公称値は,上記の公称値から1.0 Dを超えて異なってはならない。
b) 乱視軸は,ISO 8429の規定に従って表示しなければならない。
c) 球面頂点屈折力及び乱視頂点屈折力は,眼鏡レンズの後面頂点屈折力である。頂点間距離は12 mmとする。
4.3 測定範囲
レフラクトメータは,最低限の測定範囲として−15 D+15 Dの範囲の頂点屈折力を測定できなければ
ならない。
乱視屈折力を表示するレフラクトメータは,最低限の測定範囲として0 D6 Dの乱視屈折力を測定でき
なければならない。
レフラクトメータは,0°180°の軸方向範囲をもたなければならない。
4.4 アイピース
アイピースをもつ場合は,操作者のアイピースのディオプトリー調節範囲は,最低限−4 D+4 Dでな
ければならない。
5 試験方法
5.1 一般
この規格で規定する全ての試験は,形式試験である。
試験結果は,統計学の一般原則に従って評価しなければならない。
5.2 頂点屈折力の確認
表1又は表2に規定する頂点屈折力の精度に関わる要求事項は,附属書Aに規定する試験器具を用いて
確認する。球面頂点屈折力用の試験測定は,機器に要求される測定範囲全体について,少なくとも0 Dを
含む5 Dごとに実施しなければならない(すなわち,−15 D,−10 D,−5 D,0 D,+5 D,+10 D,+15
D)。乱視頂点屈折力についての試験測定は,3 Dで実施しなければならない。
5.3 乱視軸の確認
表1又は表2に規定する乱視頂点屈折力の精度に関わる要求事項は,附属書Aに規定する試験器具を用
いて確認する。試験器具の乱視軸の許容誤差は±1°以内でなければならない。測定は,二つの主経線にお
いて実施しなければならない。これら二つの測定は,表1又は表2に規定する許容誤差の範囲で,軸及び
度数の測定結果を与えるものでなければならない。
6 附属文書
レフラクトメータには,使用方法及び必要な注意事項について記載した文書を添付しなければならない。
特に,次の情報は記載しなければならない。
a) 製造業者の名称及び所在地
――――― [JIS T 7319 pdf 5] ―――――
次のページ PDF 6
JIS T 7319:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 10342:2003(IDT)
JIS T 7319:2011の国際規格 ICS 分類一覧
JIS T 7319:2011の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JIST7330:2000
- 眼鏡レンズの用語
- JIST7332:2005
- 眼光学機器―基本的要求事項及びその試験方法