JIS X 0520:2014 自動認識及びデータ取得技術―バーコードシンボル印刷品質の評価仕様―一次元シンボル | ページ 7

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                                                                X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)
    注記 PCS<0.50(上記に示した仮定に基づく算出)における走査反射率波形は,この規格のRminテ
          スト(5.4.5及び6.1.2参照)に失格するので,グレードは0になる。
I.3   アプリケーションのグレード付け及びPCSの規定に関する指標
  コントラスト条件をPCSに基づき,かつ,この規格の下で品質のグレード付け条件を規定する必要のあ
るアプリケーションでは,次のオプションを適用することができる。
a) 一般的に基材反射率が高いシンボルに対しては,そのアプリケーションで起こり得る最も低い基材反
    射率を乗じ,アプリケーションで規定されているPCSmin値から導かれたSC値を基に,全てのパラメ
    タをカバーする最低の全体シンボルグレードを規定する。
b) 基材反射率が低いシンボルを多く用いるであろうアプリケーションに対しては(Rmaxが,例えば,通
    常45 %未満),シンボルコントラスト以外の全てのパラメタに最低のグレードを規定し,また,シン
    ボルコントラストに対しては個別の低いグレードをa) と同様の基準に基づき規定する。この最低グ
    レードは,低いシンボルコントラストの影響を補うため,a) の場合のグレード付けよりも,僅かに高
    めにする必要があるかもしれない。
  この規定は,次の場合に適用される。
− この規格に従ったアプリケーションの仕様には合格のためのPCS最低レベルは規定してあるが,最低
    グレードは規定していない。
− 許容できるほど低いレベルの読取りに関する問題が,低い反射率の基材上のシンボルに起こるが,し
    かし,それが仕様の最低PCS条件に従っている。
  などの場合である。

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X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)
                                           附属書J
                                          (参考)
                               プロセス制御への要求事項
  この附属書は,シンボルの作成プロセスで重要な変量を制御するために有用なフィードバック情報源と
して応用するための走査反射率波形の解析方法を記述する。最も重要なものはエレメント幅の太り又はエ
レメント幅の細りで,2番目に重要なものは,シンボルコントラストである。シンボル作成プロセスで適
用する補正方法は,用いられるシンボル作成方法の機能であるが,ここでは明記しない。
  プロセス制御のために,グレード値の平均,又は,全ての走査反射率波形から得られた特定のパラメタ
の値が参考になることがある。最も用いられる可能性が高いパラメタは,シンボルコントラスト,復号容
易度及びモジュレーション(グレード値又は数値)並びにバー幅の太り(数値)又は細り(数値)である。
J.1   繰返し印刷のためのプロセス制御
  シンボル作成プロセスを制御する目的のために,次の項目が関連する。
− 同じ印刷原版若しくは類似の素材からの同じシンボルの繰返し印刷又はオンデマンドプロセスによる
    シンボルの大量作成
− 印刷工程,例えば,印刷包装材料の製造全体にわたって,画像領域全体の印刷品質の一貫性を確保す
    るために設計した,公式な品質保証手順(JIS Q 9000及び/又はJIS Q 9001に従う。)
    注記 対応国際規格では,ISO 9002(JIS Z 9902)も記載されていたが廃止された規格であり,内容
          はISO 9001(JIS Q 9001)に含まれるため削除した。
  次の推奨事項を適用してもよい。
− サンプリング頻度及びサンプル数は,シンボル作成者の公式な品質保証手順の一部として規定するこ
    とが望ましく,著しいシンボル品質の逸脱を十分検出できることが望ましい。
− 受入可能な最低シンボルグレードを規定しなければならない。
− それぞれのシンボルを横切る走査線の最低数は,シンボル作成プロセスの変動度合い及び箇条6に従
    って規定する最小許容グレード値を,測定したシンボルグレードが超える量に応じて,J.2に記述する
    方法で決めるのがよい。
  J.1で示した環境で,作成する速度でシンボル品質をオンラインで評価するために設計した装置は,短時
間で順番に製造される多数のシンボルの異なる位置を走査することで,規定の走査回数を実行し,あたか
も同じシンボルを複数回走査したかのように走査反射率波形の結果を解析してもよい。しかしながら,こ
のやり方は,検査帯の全ての高さをサンプリングすることにはならないため,5.2.4に従ってサンプルを抜
き取る方法の正確な代替にはならない。
J.2   走査回数
  最初の作成時(特殊な作成工程又は装置,基材及び他の材料の組合せでの)の走査回数は,5.2.5の規定

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に従うことが望ましい。品質の傾向が安定した場合,確定した走査回数は,箇条6に従って規定する最小
許容グレード値を,シンボルグレードが超える量に応じて,表J.1に示す回数まで減らしてもよい。表J.1
で“超過グレード値”は,最小許容グレード値を,得られたグレード値の超過分を示す。どの製造単位に
おいても,最初の三つのシンボルに対する走査回数は,過去の経験で決定した予想グレード差に基づくの
がよい。その後は,最新の三つのシンボルに対して測定したグレード差の移動平均に基づくのがよい。
                                        表J.1−走査回数
                                       最小許容グレード値
            ≧3.5                                  ≧2.5          ≧1.5           ≧0.5
   超過グレード値  走査回数   超過グレード値                      走査回数
       ≧0.2          2           ≧0.4              2             3                3
       ≧0.1          3           ≧0.3              3             4                4
       <0.1          5           ≧0.15             4             6                6
                                  <0.15             5             8               10
J.3   バー幅偏差
  印刷品質を測定するため,平均バー幅太り又は平均バー幅細りを,プロセス制御手順の一部として伝統
的に用いてきた。平均バー幅太り又は平均バー幅細りは,復号容易度及び他のグレードの改善に直接つな
がる印刷工程の調整に反映させるために,X寸法(又はX寸法の規定がない場合には,Z寸法)の直接的
な寸法表現又は比率として計算し,表現するのがよい。個々のエレメントの偏差は復号容易度の評価に用
いるため,この要素は,グレード付けしない。
J.3.1  2値幅シンボル体系
  2値幅シンボル体系の場合には,シンボルの実測Z寸法及び実測太細比Nは,A.1に規定する方法で計
算する。キャラクタ間ギャップは,これらの計算に含めてはならない。
J.3.2  (n, k) シンボル体系
  (n, k) シンボル体系の場合には,実測Z寸法は,A.1に規定する方法で計算する。
J.3.3  平均バー幅太り又は平均バー幅細り
  いずれのシンボルのタイプでも,平均バー幅太り又は平均バー幅細りは,X又はZに対する比率として
次の式で与えられる。
                        G   100    b  i /X
                      ここに, X[及びZ(必要であれば)]は,4.2に規定するとおり(注記参照)。
                                  G :  バー幅太り(Gが負の場合,バー幅細りを表す。)
                                 Σb :  実測バー幅の和
                                  Σi :  公称バー幅の和(注記参照)
                                  b :  バーの本数
    注記 上記の式でXが指定されていない場合,Xは,Zで置き換える。公称バー幅は,X(又はZ)寸
          法を基準として,2値幅シンボル体系では,細バーには1を,太バーにはNをそれぞれ乗じて,
          (n, k) シンボル体系では,バーのモジュール数を乗じて計算する。

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X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)
参考文献 JIS Q 9000 品質マネジメントシステム−基本及び用語
          JIS Q 9001 品質マネジメントシステム−要求事項
          JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指
              標型抜取検査方式
          ISO 3951-1,Sampling procedures for inspection by variables−Part 1: Specification for single sampling
              plans indexed by acceptance quality limit (AQL)   or lot-by-lot inspection for a single quality
              characteristic and a single AQL