JIS X 0520:2014 自動認識及びデータ取得技術―バーコードシンボル印刷品質の評価仕様―一次元シンボル

                                                                X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 記号及び略語・・・・[4]
•  4.1 略語・・・・[4]
•  4.2 記号・・・・[4]
•  5 測定方法・・・・[4]
•  5.1 一般的な要求事項・・・・[4]
•  5.2 基準反射率・・・・[5]
•  5.3 走査反射率波形・・・・[7]
•  5.4 走査反射率波形における評価パラメタ・・・・[8]
•  6 シンボルのグレード付け・・・・[11]
•  6.1 走査反射率波形のグレード付け・・・・[12]
•  6.2 シンボルグレードの表記・・・・[13]
•  7 基材の特質・・・・[13]
•  附属書A(規定)復号容易度・・・・[14]
•  附属書B(参考)シンボル品質のグレード付けの例・・・・[15]
•  附属書C(参考)シンボル品質のグレード付けのフローチャート・・・・[17]
•  附属書D(参考)基材の特質・・・・[18]
•  附属書E(参考)走査反射率波形及び波形グレードの解釈・・・・[21]
•  附属書F(参考)光源波長選択の指針・・・・[24]
•  附属書G(参考)シンボルの走査回数の指針・・・・[26]
•  附属書H(参考)検証報告書の例・・・・[27]
•  附属書I(参考)従来の測定方法との比較・・・・[28]
•  附属書J(参考)プロセス制御への要求事項・・・・[30]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS X 0520 pdf 1] ―――――

X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子
情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
  これによって,JIS X 0520:2001は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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――――― [JIS X 0520 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              X 0520 : 2014
                                                                       (ISO/IEC 15416 : 2000)

自動認識及びデータ取得技術−バーコードシンボル印刷品質の評価仕様−一次元シンボル

Automatic identification and data capture techniques- Bar code print quality test specification-Linear symbols

序文

  この規格は,2000年に第1版として発行されたISO/IEC 15416を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,印刷又は印字された一次元シンボルの特性を詳細に測定する方法を規定し,それぞれの測
定値を評価する方法及びシンボル品質を総合的に評価する方法を規定する。また,一次元シンボルの特性
が最適なグレードから外れる原因を示し,利用業者が適切に機器の調節を行うことができるようにする。
  この規格は,参照復号手順を規定し,直線的な走査方法を用いて読み取る一次元シンボルに適用するが,
この方法は部分的又は全体的に,それ以外のバーコードシンボルにも適用できる。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO/IEC 15416:2000,Information technology−Automatic identification and data capture techniques
              −Bar code print quality test specification−Linear symbols(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS K 5600-4-5:1999 塗料一般試験方法−第4部 : 塗膜の視覚特性−第5節 : 測色(測定)
      注記 対応国際規格 : ISO 7724-2:1984,Paints and varnishes−Colorimetry−Part 2: Colour measurement
             (IDT)
    JIS X 0500-1 自動認識及びデータ取得技術−用語−第1部 : 一般
    JIS X 0500-2 自動認識及びデータ取得技術−用語−第2部 : 光学的読取媒体
      注記 対応国際規格では,EN 1556を引用規格として掲げているが,用語集として,ISO/IEC

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2
X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)
             19762-1:2005及びISO/IEC 19762-2:2005が制定されたため,対応するJIS X 0500-1及びJIS X
             0500-2を追加した。

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS X 0500-1及びJIS X 0500-2によるほか,次による。
3.1
バー(bar)
  走査反射率波形の全域的しきい値より低い領域に対応する,反射率の低いエレメント。
3.2
バー反射率(bar reflectance)
  走査反射率波形における,個々のバー反射率の最小値。
3.3
復号容易度(decodability)
  エレメント又はエレメントの組合せの理論的寸法とそれに対する参照しきい値との差として定義される
利用可能余裕度を分母とし,実際に印刷されたパターンの中で理論的寸法から最も離れた寸法のエレメン
ト又はエレメントの組合せが消費してしまった後の残りの余裕度を分子とした比の値。
3.4
復号(decode)
  バーコードシンボルに符号化された情報の判読。
3.5
エッジコントラスト(edge contrast)
  二つの隣り合うバー反射率とスペース反射率との差。
3.6
エレメント反射率の非均一性(element reflectance non-uniformity)
  個々のエレメント又はクワイエットゾーンの走査反射率波形における最大反射率と最小反射率との差。
3.7
全域的しきい値(global threshold)
  最初にエレメントの識別をするために用いる,走査反射波形における最大反射率と最小反射率との中間
の反射率。
3.8
光沢(gloss)
  入射光を鏡のように反射させる表面の性質。
3.9
測定領域(inspection band)
  測定が行われる領域(通常,一次元シンボルの高さの10 %90 %)。
3.10
測定開口(measuring aperture)
  バーコードシンボルの有効な標本を得るための円形の開口。1 : 1の倍率となる場合,その直径は測定領
域の直径と等しい。

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                                                                X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)
3.11
モジュレーション(modulation)
  最小エッジコントラストとシンボルコントラストとの比。
3.12
(n, k) シンボル体系[(n, k)   ymbology]
  一次元シンボルの分類の一つ。それぞれのシンボルキャラクタはnモジュールの幅で,k本のバーとk
本のスペースとの組で構成する。
    注記 例えば,EAN/UPC及びコード128が該当する。
3.13
山(peak)
  走査反射率波形における高い反射率の点。両側に低い反射率の点がある。
3.14
標本化領域(sample area)
  測定装置の視野内に入る,シンボルの有効な領域。
3.15
走査反射率波形(scan reflectance profile)
  シンボルを走査する線に沿って,反射率の変化をプロットしたもの。
3.16
走査線(scan path)
  クワイエットゾーンを含むシンボルを横切る,標本化領域の中心線。
3.17
スペース(space)
  走査反射率波形の全域的しきい値より高い領域に対応する,反射率の高いエレメント。
3.18
スペース反射率(space reflectance)
  走査反射率波形における,個々のスペース,クワイエットゾーン又はキャラクタ間ギャップの反射率の
最大値。
3.19
2値幅シンボル体系(two-width symbology)
  一次元シンボルの分類の一つ。それぞれのシンボルキャラクタは,互いに一定の比率の幅をもつ細エレ
メント及び太エレメントだけで構成する。
    注記 例えば,インタリーブド2オブ5及びコード39が該当する。
3.20
谷(valley)
  走査反射率波形における低い反射率の点。両側に高い反射率の点がある。
3.21
高さ方向の余裕度(vertical redundancy)
  複数の走査線での走査を可能とするシンボルの特性。単一の走査線の幅(測定開口径)と比較して,高
さが著しく大きいシンボルは,余裕度が大きい。

――――― [JIS X 0520 pdf 5] ―――――

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