JIS X 0520:2014 自動認識及びデータ取得技術―バーコードシンボル印刷品質の評価仕様―一次元シンボル | ページ 2

4
X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)

4 記号及び略語

  この規格では,次の記号及び略語を用いる。

4.1 略語

EC      エッジコントラスト
ECmin   ECの最小値
ERN     エレメント反射率の非均一性
ERNmax ERNの最大値
GT      全域的しきい値
MOD     モジュレーション
PCS     PCS値(Print Contrast Signal)
RT      参照しきい値
SC      シンボルコントラスト
SRD     静的反射率差

4.2 記号

A       平均実測エレメント(特定のタイプの場合はエレメントの組合せ)幅
e       細エレメントの最大幅
E       太エレメントの最小幅
ei      シンボルキャラクタの最初のエッジから数えてi番目のエッジまでの幅
K       測定値と参照しきい値との差の絶対値の最小値
k       (n, k) シンボル体系の一つのシンボルキャラクタにおけるエレメントの組の数
M       Aから最も離れたエレメント幅(細エレメントの最大幅又は太エレメントの最小幅)
m       シンボルキャラクタのモジュール数
N       実測した太細比の平均値
n       (n, k) シンボル体系の一つのシンボルキャラクタにおけるモジュール数
Rb      バー反射率
RD      暗反射率
RL      明反射率
Rs      スペース反射率
Rmax    最大反射率
Rmin    最小反射率
RTj     j個のモジュールの実測幅と (j+1) 個のモジュールの実測幅との間の参照しきい値
S       一つのキャラクタの幅
V       復号容易度の値
Vc      一つのシンボルキャラクタに対する復号容易度の値
X       公称細エレメント幅
Z       実測細エレメント幅の平均値

5 測定方法

5.1 一般的な要求事項

  この規格で規定する測定方法論は,様々な基材に印刷された一次元シンボルの,反射率及びエレメント

――――― [JIS X 0520 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
                                                                X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)
寸法の測定結果の一貫性を最大化するように企図している。この方法論は,バーコード走査機器(バーコ
ードリーダ)が採用する読取り条件と関連付けることも意図している。
  測定は,単一の照明波長と,アプリケーション仕様で定めるか又は5.2.1及び5.2.2に従って定めた測定
開口径とを用いて行わなければならない。
  可能な場合には,一次元シンボルの最終形態,すなわち,その一次元シンボルが走査されることを意図
した形態で測定しなければならない。不可能な場合には,附属書Dの透明な基材の反射率測定に用いる方
法を参照する。
  サンプリング方法は,試験するロット又はバッチ内で統計的に有効なサンプルサイズに基づいているこ
とが望ましい。最低合格基準は,品質管理検査に先だって定めなければならない。公式な品質保証手順で
規定したサンプリング計画も,又は双方(評価依頼者,評価受託者)で合意したサンプリング計画もない
場合は,JIS Z 9015-1又はISO 3951-1で推奨する条件に基づく適切な計画を立ててもよい。

5.2 基準反射率

  この規格に従って一次元シンボルの品質を評価する装置は,両側のクワイエットゾーンを含んでシンボ
ルの全幅を横切る多数の走査線に沿って,一次元シンボルの拡散反射の変化を測定し,解析する方法を含
んでいなければならない。この方法は,シンボルからの拡散反射の測定を基礎としている。
  全ての一次元シンボルは,5.2.4に従って規定される測定領域内で測定しなければならない。
  測定された反射率値は,45°から照明された試料からの拡散反射光を試料表面に垂直な方向で集光・測
定し,次に示す二つの方法のいずれかを用いてパーセント値で表現したものでなければならない。
− JIS K 5600-4-5の条件に従って,硫酸バリウム又は酸化マグネシウムの反射率を100 %とする方法。
− 認定国家標準研究機関が校正し基準とする方法。
5.2.1  測定波長
  測定に用いる光源のピーク波長は,アプリケーション別仕様書が意図する読取環境に合致するように規
定しているものであることが望ましい。波長がアプリケーション仕様で規定されていないときは,読取プ
ロセスで用いることが予測される波長に最も近い光源波長を用いて測定する。光源の波長の選択指針は,
附属書Fを参照する。
5.2.2  測定開口
  測定開口部の直径は,意図する読取環境に合致するように,利用業者のアプリケーション仕様書に明記
するのがよい。表1を指針として用いる。X寸法がある幅をもつ用途では,全ての測定は,X寸法の最小
値に対応する測定開口を用いなければならない。
  X寸法が規定されていない場合は,Z寸法を用いる。
  実際の測定開口径が,製造誤差及び光学的な影響によって基準寸法から外れることがあるため,一部の
細エレメントの測定幅は,測定開口径より小さくなることがある点に注意しなければならない。
                                表1−測定開口部の直径選択の指針
                            Xの寸法         測定開口部の直径   参照番号
                              mm                  mm
                          0.100≦X<0.180        0.075            03
                          0.180≦X<0.330        0.125            05
                          0.330≦X<0.635        0.250            10
                          0.635≦X               0.500            20

――――― [JIS X 0520 pdf 7] ―――――

6
X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)
                            表1−測定開口部の直径選択の指針(続き)
                       注記1 開口の参照番号は,測定開口径をインチ表示した場
                              合の数値を約1 000倍した値である。この参照番号
                              は,ANSI X3.182との整合を図るために用いる。
                       注記2 対応国際規格では“0.635                              らかに誤りのため,“0.635≦X”とした。
5.2.3  光学的配置
  反射率測定のための光学的配置は,次の項目からなる。
a) 表面に対する垂線から45°の角度で,測定領域を均一に照明する光源,かつ,その光源を含む平面は
    測定表面に対し垂直で,エレメントと平行となるようにする。
b) 表面に対して垂直に配置された集光装置
  円形の測定領域からの反射光は,表面に対して垂直方向に,円形の測定開口を通して頂角15°の円すい
(錐)内に集められる。倍率1 : 1の位置にある開口径は,測定領域の寸法と等しい。
    注記 図1は光学的配置の原理を図示したものであり,実際の装置を示すことは意図していない。
  この参考となる配置は,シンボルからの鏡面反射の影響を最小にし,拡散反射の影響を最大にすること
を意図している。また,測定に一貫性をもたせるための基礎を与えることを意図している。しかし,個々
の走査システムの光学的な配置とは,対応しないことがある。この細分箇条で規定された光学的配置と特
性とが数値的に関連付けることができれば,別の光学的配置と部品とを使ってもよい。
                                                       1 : 光感応素子
                                                       2 : 倍率1 : 1の位置にある測定開口
                                                        (寸法A=寸法B)
                                                       3 : 制限板
                                                       4 : 試料
                                                       5 : 光源
                                   図1−参照すべき光学的配置

――――― [JIS X 0520 pdf 8] ―――――

                                                                                              7
                                                                X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)
5.2.4  測定領域
  全ての測定走査線は,図2に示すとおり,シンボルの高さ方向に垂直な2本の線の間になければならな
い。下側の線はシンボルの平均下端からある間隔離れて上に位置し,上側の線はシンボルの平均上端から
同じ間隔離れて位置しなければならない。この間隔は,平均バー高さの10 %か,又は測定開口径のうち,
いずれか大きい値とする。測定領域はクワイエットゾーンを含む,シンボルの全幅まで伸ばさなければな
らない。
                                                      1 :  測定領域(通常平均バー高さの80 %)
                                                      2 :  平均バー高さの10 %,又はそれより測定開口径
                                                         の方が大きければその幅,測定領域の上側
                                                      3 :  平均バー高さの10 %,又はそれより測定開口径
                                                         の方が大きければその幅,平均バー下端の上側
                                                      4 :  クワイエットゾーン
                                                      5 :  走査線
                                                      6 :  平均バー下端
                                         図2−測定領域
5.2.5  走査本数
  シンボルの高さ方向の,異なる位置でのシンボルの特性変動の影響に備えるため,適切な測定開口径と
規定された波長とをもつ光源で,両側のクワイエットゾーンを含めたシンボルの全幅を横切って何本か走
査しなければならない。これらの走査は,測定領域内でほぼ等間隔あけて行わなければならない。シンボ
ルごとの最低走査本数は10,又は測定領域の高さを測定開口径で除した値のいずれか小さい方とする。
  シンボルの全体品質グレードは箇条6に従って,個々の走査の品質グレードを平均して決定する。
  シンボルの走査回数の指針については,附属書G参照。

5.3 走査反射率波形

  一次元シンボルの品質評価は,走査反射率波形の解析に基づいて行われなければならない。走査反射率
波形は,シンボルを横切る位置に対して反射率をプロットする。もし走査速度が一定でなかったら,反射
率をプロットする測定装置は加速又は減速の影響を補う手段を用意することが望ましい。もしプロットが
連続的なアナログ波形でなかったら,全ての重要な詳細情報が失われず,寸法精度も十分得られることを
保証できるまで,測定間隔を小さくするのがよい。
  図3は走査反射率波形を図示したものである。縦軸は反射率を,横軸は位置を示す。反射率が高い領域
はスペース,反射率が低い領域はバーである。左右両端の反射率の高い領域は,クワイエットゾーンであ
る。走査反射率波形の重要な特徴はグラフを目視で解析するか,自動的な数値解析で判定することができ
る。例えば,図3の走査反射率波形の最大反射率は約82 %で,最小反射率は約10 %である。

――――― [JIS X 0520 pdf 9] ―――――

8
X 0520 : 2014 (ISO/IEC 15416 : 2000)
                                      図3−走査反射率波形

5.4 走査反射率波形における評価パラメタ

  5.4.15.4.9に規定されている走査反射率波形パラメタが,この規格に従って評価されなければならない。
  図4は,図3と同じ走査反射率波形に注目すべき幾つかの特徴を追記したものである。
  走査反射率波形に対するグレードの決定については,附属書B参照。
                                   図4−走査反射率波形の詳細

――――― [JIS X 0520 pdf 10] ―――――

次のページ PDF 11