JIS X 0521-1:2005 バーコード検証器の適合仕様―第１部：1次元シンボル | ページ 2

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X 0521-1 : 2005 (ISO/IEC 15426-1 : 2000)

8. 試験要件

8.1 試験方法

 製造業者による試験手順は,必要に応じて,JIS Q 9001の要件に従っていることが望ま
しい。
8.1.1  試験用装置の選択 試験は,一括生産したものの中から,製造業者自身の品質管理サンプリング抽
出方法に従って選択した,一つ以上の検証器で行わなければならない。
    備考 選択した装置がその型を代表しているかどうかは,製造業者自身の判断に従う。サンプリング
          抽出方法については,JIS Z 9015-1による。
8.1.2  走査パラメタ 試験中の走査速度(すなわち,開口部が試験シンボルを横切る速度),その他の装
置仕様にかかわるパラメタは,装置製造業者によって指定する範囲内になければならない。走査速度は一
定であることが望ましいが,変化する場合は,装置で補正できるようになっていることが望ましい。
8.1.3  試験測定 使用する試験シンボルは,一つのシンボルにつき10回連続して走査しなければならな
い。検証器が報告した総合シンボルグレード及び個々の測定パラメタ値は,試験シンボルに与えられてい
る実測値と比較しなければならない。
  シンボル体系について,附属書Aに規定していない性能を試験しなければならない場合は,該当するシ
ンボル体系仕様に適合し,この規格に適合した校正済み検証器で測定したテストシンボルを用いることが
望ましい。この場合,試験をする必要があるパラメタは,復号化及び復号容易度である(検証器が,シン
ボル体系仕様で定義されている復号化アルゴリズムを適用していることを確認するため。)。そのほかのパ
ラメタについては,附属書Aで定義する参照テストシンボルに,すべて含まれている。

8.2 試験環境

 検証器での試験は,製造業者が指定する環境条件で実施しなければならない。その条件
には,最低でも,電源,温度,相対湿度及び周辺光を含めることが望ましい。

8.3 1次参照テストシンボル

 この規格に適合するための試験は,1次参照テストシンボルを用いて実施
しなければならない。1次参照テストシンボルを用いるのは,その走査反射率波形が,検証器の製造業者
及び使用者に,既知である特定のパラメタを示すことになるからである。その値は,測定方法が市販され
ている検証器に似ているが,反射率及び寸法測定についての性能が,市販装置よりも10倍以上優れた,国
家計量標準の性能をもつ測定装置で決定される。附属書Aは1次参照テストシンボルの適合範囲を示す。
附属書Bは1次参照テストシンボルの検証要件について,詳しく規定する。
  シンボルを走査する環境において,光のピーク波長又は測定開口径が複数あるような場合には,複数の
波長又は開口径校正点をもつ1次参照テストシンボルが必要となる場合がある。どのような場合にも,1
次参照テストシンボルは,該当するシンボル体系仕様書(あるならば,当該のシンボル体系に関する国家
規格,地域規格若しくは国際規格,又は業界仕様書)に適合していなければならず,次の項目を明記しな
ければならない。
− 用いられているシンボル体系
− 符号化しているデータ
− 測定に用いる測定開口径及び光のピーク波長
− JIS X 0520による総合シンボルグレード又はJIS X 0520によるパラメタごとのグレード及び値(走査
    反射率波形の特定のパラメタを強調するように,1次参照テストシンボルが設計されている場合)
  1次参照テストシンボルは,適合試験機関が検証器の種別試験を行うため及び検証器製造業者がこの規
格(JIS X 0521-1)に適合していることを自己証明するために用いなければならない。検証器使用者のために,
1次参照テストシンボルのサブセットを編集することもできる。使用者はこのような1次参照テストシン
ボルのサブセットを,検証器の定期点検及び検証器を正しく使うための訓練に使用することができる。

――――― [JIS X 0521-1 pdf 6] ―――――

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                                                            X 0521-1 : 2005 (ISO/IEC 15426-1 : 2000)
  1次参照テストシンボルは,周囲温度が1030 ℃及び湿度が3070 % RHに変化しても,寸法に無視
できる程度の変化しか生じない材料で作成しなければならない。
  この範囲から外れる条件下で輸送されても元の寸法が保たれる材料又はその寸法へ戻る材料の使用を検
討することが望ましい。
  検証器の製造業者及び使用者は,定期的な生産品質保証手続きの一環として,2次テストシンボルの使
用を選択してもよい。2次テストシンボルのパラメタ値は,1次参照テストシンボルを測定することによっ
て確認した検証器を使って決定されていなければならない。2次テストシンボルは,定期的な生産品質保
証手続きに用いてもよいが,これによって,この規格に適合していることを明示できるわけではない。

8.4 試験報告

 試験環境,装置設定,走査パラメタ及び使用している1次参照テストシンボルは,次の
項目と合わせて記録しなければならない。
− 試験対象となっているシンボル体系
− 検証器によって測定され,報告された総合シンボルグレード及び当該1次参照テストシンボルで定義
    されている総合シンボルグレード
− 測定した値が,2.で定義している許容範囲内にあることの確認
  試験している検証器から報告書が出力される場合は,試験報告書に添付しておかなければならない。こ
れらは,印刷された報告書であってもよいし,検証器が接続されているコンピュータの画面を印刷したも
のであってもよい。

9. 証明及びラベルちょう(貼)付

 製造業者は,検証器関係の文書に,装置がこの規格に従って試験さ
れたものであることを宣言した内容を含めなければならない。
  製造業者は,検証器がこの規格に従っていることを指示するラベルを,装置にはり付けてもよい。この
ラベルちょう(貼)付については,何の要件も定義されていない。

10. 装置仕様

 製造業者は,装置使用者が入手できる文書に,次の内容を規定しておかなければならない。
− 検証器で検証することのできるシンボル体系(使用可能なシンボル体系がもつ任意選択機能の仕様も
    含む。)
− 有効な測定開口径
− 光のピーク波長を含む光源の仕様
− 反射率の測定方法
− 検証結果の報告方法及び(可能な場合)その記録方法
− 報告することのできる検証パラメタ
− 走査を繰り返して得た結果を平均化する能力
− PC又はプリンタといった他の装置に接続できる機能
− プログラミング及び設定に関する仕様

――――― [JIS X 0521-1 pdf 7] ―――――

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X 0521-1 : 2005 (ISO/IEC 15426-1 : 2000)
                     附属書A(規定)1次参照テストシンボル
  1次参照テストシンボルには,JIS X 0520の走査反射率波形で分析される個々のパラメタごとに,異な
るグレードをもつ一連のシンボルを含めなければならない。いずれの場合にも,表A.1で様々なパラメタ
について例示されているとおり,不確実な要素をなくすため,パラメタ値をグレードの境界線から十分に
離しておかなければならない。次の選択パラメタを推奨する。
a)   IS X 0507(バーコードシンボル−EAN/UPC−基本仕様)によるEAN又はUPCシンボルで,異なる
    パラメタグレードをもつもの(X寸法: 0.330 mm)
    − シンボルコントラスト グレード4及び1
    − 変位幅 グレード4及び1
    − 欠陥(スポット及びボイド) グレード4及び1
    − 復号容易度(エッジ対類似エッジ) グレード4及び1
    − 復号容易度(バー) グレード4及び1
b)   IS X 0503(バーコードシンボル−コード39−基本仕様)によるコード39シンボルで,異なるパラメ
    タグレードをもつもの(X寸法: 0.191 mm及び0.600 mmの2セット)
    − 変位幅 グレード4及び1
    − 復号容易度 グレード4及び1
    − 欠陥 (ボイド) グレード4及び1
c)   IS X 0504(バーコードシンボル−コード128−基本仕様)によるコード128シンボルで,異なるパラ
    メタグレードをもつもの(X寸法: 0.191 mm及び0.600 mmの2セット)
    − 復号容易度 グレード4及び1
    − 欠陥(スポット) グレード4及び1
  これらの選択例は,代表的なテストシンボルセットであり,これによって測定された個々のパラメタ値
と,テストシンボルの供給者によって証明されている実際のパラメタ値との比較によって,この規格に適
合していることを確認できる。
  表A.1は,これらの要件を満たすために必要な個々のパラメタ値の範囲を示す。
                              表A.1 1次参照シンボルのパラメタ値
                   パラメタ                グレード4                グレード1
             シンボルコントラスト          73.75 %以上              25 %35 %
                    変位幅                  0.725以上               0.4250.475
                     欠陥                  0.137 5以下            0.262 50.287 5
                  復号容易度                0.65以上                0.280.34

――――― [JIS X 0521-1 pdf 8] ―――――

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              附属書B(規定)1次参照テストシンボルの検証要件
  1次検証とは,測定方法は市販されている一般的な検証器と似ているが,反射率及び寸法測定について
の性能が,市販検証器よりも10倍優れている国家計量標準の性能をもつ検証器で行う測定のことをいう。
さらに,1次検証器は,繰返し精度が一般的な検証器よりも10倍優れていなければならない。1次検証で
は,高分解能の走査形マイクロデンシトメータを検証器として用いるのが一般的である。
  寸法の測定は,ガラスに描かれたクロムパターンを用いるリニアエンコーダ,レーザ干渉計又は国家計
量標準の石英に描かれたクロム目盛線に対して,トレーサビリティを保つのがよい。
  反射率の測定は,高分解能(10ビット以上)AD変換器で反射光を測定し,その結果は,国家計量標準
で測定済みの反射率表に従うのがよい。
  同じ箇所を繰り返し走査したときの寸法測定精度は,エレメント幅で39個以上のエレメントに広がった
ものを5回走査したときに,±0.5 μmでなければならない。また,測定した反射率は,エレメント幅で19
個のスペースと2個のクワイエットゾーンとに広がったものを,同じ走査線で5回走査したとき,±0.5 %
で再現しなければならない。