JIS X 6132:1995 12.7mm幅,18トラック,情報交換用磁気テープカートリッジ―拡張フォーマット | ページ 10

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X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)
附属書A(参考) 輸送条件
A1 環境条件 カートリッジの輸送時においては,次の環境条件とすることが望ましい。
A1.1 未記録のカートリッジ
温度 : −23℃48℃
相対湿度 : 5%100%
湿球温度 : 26℃以下
期間 : 連続10日以下
カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。
A.1.2 記録済みカートリッジ
温度 : 5℃32℃
相対湿度 : 5%80%
湿球温度 : 26℃以下
カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。
A.2 危険 データを記録したカートリッジを輸送する際,次の3種類の危険性がある。
A.2.1 衝撃及び振動 輸送中のカートリッジの損傷を少なくするために,次の対策をとることが望ましい。
a) カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えてはならない。
b) カートリッジは,1mを超える高さから落下させてはならない。
c) カートリッジは,十分な衝撃材を用いた固い箱の中に収納する。
d) カートリッジ収納箱は,内部が清浄で,かつ,じんあい(塵挨)や水の浸入防止が十分可能な構造と
する。
e) カートリッジ収納箱内でのカートリッジ収納方向は,テープ中心軸が水平になるようにする。
f) カートリッジ収納箱は,正しい位置方向(天地)に置くように明確な表示をする。
A.2.2 極端な高温・高湿度環境
a) 温度及び湿度の急激な変化は,いかなる場合でも,可能な限り回避する。
b) 輸送されたカートリッジを使用する前には,必ず使用環境に24時間以上放置する。
A.2.3 誘導磁界の影響 カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は,80mm以上確保する。
これによって,外部磁界の影響による信号品質劣化の危険性は,無視できる程度に減少する。

――――― [JIS X 6132 pdf 46] ―――――

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X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)
附属書B(参考) 不良テープ
テープ装置又は他のテープの性能を低下させるテープを,不良テープと呼ぶ。テープの特性には,テー
プ装置の性能を低下させるものとして,高い研磨性,テープ走行部に対する高い静摩擦力,テープの縁の
不良な状態,テープの摩耗によって発生する多量のごみ,テープの層間の滑り,ベース面に付着するテー
プのごみ,テープの吸着,他のテープの性能を低下させるようなテープ組成のしみ出しなどがある。この
ような不良テープを使用すると,テープ装置の性能が低下し,かつ,データの誤りが多く発生する。
不良テープは,使用しない方がよい。

――――― [JIS X 6132 pdf 47] ―――――

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X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)
附属書C(規定) テープ研磨性試験方法
C.1 概要 テープの研磨性は,テープのテ−プ走行系に対する研磨度とする。
C.2 取付け 図C.1に示す清浄なフェライトの試験用バーを図C.2に示す取付け用機構に取り付ける。試
験用の刃は,上向きに取り付け,摩耗してなく,かつ,1 上のチップや欠けがないものとする。
試験用の刃の半径は,13 下とする。
フェライトのバーは,単結晶フェライトからなり,その成分及び質量比は,次による。
ZnO 22%
NiO 11%
FeO 67%
粒子の平均の大きさは,7.2 2.0 密度は,5.32g/cm3以上とする。
バーの4面の表面粗さは,N2(ISO 1302参照)以上とする。
参考 例えば,“住友H4R2又はH4R3”などが適合し,Sumitomo Special Metals Div. Torrance CA. USA.
から入手可能である。
C.3 試験方法 試験用機器を,バーに対するテープの巻付け角度が両側でそれぞれ8°,合計で16°とな
るようにテープ装置に取り付ける。
バーにおけるテープの張力は,1.4Nに設定する。
テープをバーに掛けて,バーを通過するテープの長さを520.0m±2.5mとし,速度1m/sで1回走行させ
る。この長さは,カートリッジを適切な数に分割した合計としてもよい。
試験用機器をテープ装置から取り外し,試験用バーの摩耗した部分の長さを測定する。この測定には,
倍率が300倍以上の顕微鏡を使用する。
幅12.65mmの摩耗パターンの41,21及び43の部分で測定し,これらの3か所の平均の長さを算出する。図
C.3に摩耗パターンの例を示す。
図C.1 研摩性試験用バー

――――― [JIS X 6132 pdf 48] ―――――

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X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)
図C.2 研摩性試験用バーの取付け
図C.3 摩耗パターンの例

――――― [JIS X 6132 pdf 49] ―――――

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X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)
附属書D(参考) テープの耐久性
供給者からカートリッジを購入するとき,カートリッジテープは,次の要求事項を満たさなければなら
ない。
適切な装置を用いたカートリッジの試験及び測定法を次に示す。試験は,使用環境(6.2参照)で実施し
なければならない。
D.1 短区間耐久性試験
D.1.1 短区間耐久性試験は,短いデータのファイルを繰り返し走行させる場合の,テープの耐摩耗性を試
験するために行う。短区間耐久性試験で連続して10回読み取っても回復しないミッシングパルスは,永久
的なミッシングパルスとみなす。
D.1.2 正方向の読取り時の永久的な同時発生ミッシングパルス領域は,正方向の読取り回数が40 000回に
達する前に発生してはならない。さらに,正方向の読取り回数が80 000回に達するまでに平均1個を超え
て発生してはならない。
D.1.3 試験方法 試験に先立ち,テープ装置を清掃する。
試料は,4巻以上用意して,同時発生ミッシングパルス領域がないテープの領域に信号を書き込む。試
験する領域は,テープの先端から約10m以降,又は25 000バイトからなるレコードの500レコード以降
とすることが望ましい。
その長さは,1m又は50レコードとすることが望ましい。
試験の各サイクルでは,試験する領域の始めから終わりまでのすべてのレコードを記録してから,始め
の領域に戻る。試験を完全に行うためには,各カートリッジについて試験サイクルを80 000回続けること
が望ましい。同時発生ミッシングパルス領域を検出した場合は,永久的な同時発生ミッシングパルス領域
とする前に,正方向の読取りを10回まで行うことが望ましい。
試験中は,テープの走行部分を清掃してはならない。
D.2 長区間耐久性試験
D.2.1 長区間耐久性試験は,テープ装置でテープ全長を繰り返し走行させる場合のテープの耐摩耗性を試
験するために行う。これは,テープの寿命試験ではない。
D.2.2 カートリッジは,次の要求事項を満たさなければならない。
a) 同時発生ミッシングパルス領域は,テープ全長の走行回数を200回とし,テープの長さ165m当たり
平均6個を超えないことが望ましい。
b) 同時発生ミッシングパルス領域は,1回の走行では,テープの長さ165m当たり12個を超えないこと
が望ましい。
D.2.3 試験方法
試験に先立ち,テープ装置を清掃する。試験中は,テープの走行部分を清掃してはならない。試験用の
信号は,テープ全長に連続のデータを書き込むか,又は16 000バイト以上のレコードを書き込むことが望
ましい。

――――― [JIS X 6132 pdf 50] ―――――

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  • ISO/IEC 11559:1993(IDT)

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