JIS X 6141:1993 ８ｍｍ幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ | ページ 10

                                                                                             41
                                                                 X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

14.1.3 ブロック形式-フォーマットID

 ブロック形式がフォーマットIDブロックのとき,このバイトの
内容は,(00) とする。

14.1.4 ブロック形式-パッドブロック

 ブロック形式がパッドブロックのとき,このバイトの内容は,規
定せず,情報交換時には無視する。

14.2 00列01行

 このバイトは,すべてのブロック形式について (00) とする。

14.3 00列02行

 このバイトは,すべてのブロック形式について (00) とする。

14.4 00列03行

 このバイトは,ブロック形式を規定する。そのブロック形式IDは,次による。
        (00)      (F7)  : データブロック
                    (F8)  : 将来使用のため確保         (FC)  : フォーマットID
                    (F9)  : 将来使用のため確保         (FD)  : 将来使用のため確保
                   (FA)  : ロングテープマーク          (FE)  : パッドブロック
                   (FB)  : ショートテープマーク        (FF)  : 将来使用のため確保
  LBOT又はテープマーク後の第1データブロックのブロック形式1Dは,(00) とする。
  ブロック形式IDは,(00) から順次 (F7) まで増加し,その後これを繰り返す。ブロック形式IDは,テ
ープマークの後でリセットしなければならない。

14.5 00列04行

 このバイトは,すべてのブロック形式について (00) とする。

14.6 00列05,06行

 これらのバイトは,00列03行で規定するブロック形式による。ブロック形式がデ
ータブロックでないとき,これらのバイトの内容は,規定せず,情報交換時には無視する。

14.6.1 05行

 ブロック形式がデータブロックのとき,このバイトは,物理ブロックに含まれるユーザデ
ータバイト数を2バイト計数表示している上位バイトを表す。このバイトの内容は,(00)  (03) とする。

14.6.2 06行

 ブロック形式がデータブロックのとき,このバイトは,物理ブロックに含まれるユーザデ
ータバイト数を2バイト計数表示している下位バイトを表す。このバイトの内容は,(00)  (FF) とする。
上位バイト及び下位バイトの内容がいずれも (00) の場合は,1バイトの論理バイト数を表す。

14.7 00列07行

 このバイトは,すべてのブロック形式について (00) とする。

14.8 00列08,09,10行

 これらのバイトは,00列03行で規定するブロック形式による。

14.8.1 ブロック形式-データブロック

 ブロック形式がデータブロックのとき,これらのバイトは,この
論理ブロックの論理ブロックID番号を表し,それぞれ上位バイト,中位バイト及び下位バイトの3バイ
トとし,それぞれを(00)(FF)とする。論理ブロッヌID番号は,LBOT又はテープマーク後の第1論理ブ
ロックを00とし,引き続く論理ブロックについて順次1を加算する。
  1個の論理ブロックを1個以上のデータブロックに拡張する場合,それらのデータブロックは,同一の
論理プロッタID番号をもってもよい。

14.8.2 ブロック形式-非データブロック

 ブロック形式がデータブロックでないとき,これらのバイトの
内容は,規定せず,情報交換時には無視する。

14.9 00列11,12,13行

 これらのバイトは,すべてのブロック形式について,物理ブロックID番号を
示す上位バイト,中位バイト及び下位バイトの3バイトを表し,各バイトの内容は,(00)  (FF) とする。
第1フォーマットIDトラックの第1ブロックは,物理ブロックID番号を0とする。この番号は,情報ブ
ロックについては,順次1を加算し,消去したトラック及びアナログテープマークトラックについて,そ
れぞれ8を加算する。

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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

15. 再書込み情報ブロック

 情報ブロックの再書込み時,再書込みしたブロックのID情報は,再書込み
数と再書込みした実際の場所を示す物理ブロックID番号を除いて,本来のものと同じとする(14.1.1及び
14.9参照)。
  再書込みした情報ブロックのずれは,最初の位置から121情報ブロックを超えてはならない。記録済み
のデータの信頼性を保証するため,ミッシングパルスゾーンを含む情報セグメントは,1ブロック当たり2
個未満とする。

16. テープのフォーマット

 テープのフォーマットは,図31による。
                         図31 テープのフォーマット(記録面側を示す)

16.1 初期消去領

16.2 LBOT領域

 LBOT領域は,11アナログテープマークトラック及びそれに続く160フォーマットID
トラックからなる。

――――― [JIS X 6141 pdf 47] ―――――

                                                                                             43
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16.3 テープの使用可能領域

 テープの使用可能領域は,LBOT領域の終わりからPBOTの検出までとす
る。

16.4 ポストデータ消去領域

 ポストデータの消去領域は,最終トラックの後に消去領域を設け,その長
さPは,119mm以上とする。

――――― [JIS X 6141 pdf 48] ―――――

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                      附属書A(規定) 光透過率の測定方法
A.1 概要 この附属書は,テープの光透過率の測定装置及び測定方法についての概略を示す。
  光透過率は,光学系にテープ試験片を入れないときの読取り値と入れたときの読取り値との比を百分比
で表す。
A.2 測定装置 装置構成は,次による。
    光源
    光検出部
    測定用マスク
    光学系
    測定回路
A.2.1 光源 光源は,次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。
      波長      :     850nm±50nm
      半値幅    :     ±50nm
A.2.2 光検出部 光検出部は,平らなシリコンフォトダイオードを用い,回路を閉じた状態で動作する。
A.2.3 測定用マスク 測定用マスクの厚さは,2mmとし,円形の孔の直径 (d) は,シリコンフォトダイオ
ードの受光領域の80%100%とする。マスクの表面は,黒のつや消し仕上げとする。
  試験片は,マスクの孔を覆い,かつ,周りの光が漏れないように,マスクに固定する。
A.2.4 光学系(附属書A図1参照) 光学系は,マスクに垂直に入射し,光源からマスクまでの距離 (L)
は,次の式による。
                              d
                         L=
                            2 tan
  角度          光軸上の最大強度の95%以上の光の強度がある角度とする。
A.2.5 追捕 装置全体は,つや消しの黒いケースで覆う。
A.2.6 測定回路(附属書A図2参照) 測定回路は,次によって構成する。
      E          :     出力電圧を変える定電圧電源
      R          :     電流を制限する抵抗器
      LED        :     赤外線発光ダイオード
      Di         :     シリコンフォトダイオード
      A          :     演算増幅器
      Rf0,Rf1   :     帰還用の抵抗器
      S          :     増幅率切代用スイッチ
      V          :     電圧計
  LEDに流す電流(照射力)は,供給電圧 (E) によって変化させる。
  Diは,回路を閉じて動作させる。
  演算増幅器の出力は,V0=Ik×Rfで与えられる。ここで,Ikは,回路を閉じているときの電流値とする。
  出力電圧は,光の強度の一次関数である。
  Rf0及びRf1は,許容差1%の温度変化特性がよい抵抗器とする。
  これらの抵抗値の比は,次の式による。

――――― [JIS X 6141 pdf 49] ―――――

                                                                                             45
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                         Rf 0= 1
                         Rf1   20
A.3 測定方法 スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。試験片を取り付けないで,電圧計 (V) がフルスケ
ール (100%) になるように供給電圧 (E) を変化させる。リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り
付ける。電圧計は,60%100%を示す。
  スイッチ (S) を位置 (1) に設定し,テープの試験片をマスクに取り付ける。電圧計のフルスケールは,
光透過率5%を示す。
                                   附属書A図1 光学系の配置
                                     附属書A図2 測定回路

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