JIS X 6147:2001 8mm幅,ヘリカル走査記録,情報交換用磁気テープカートリッジ,AIT-2・MIC様式

JIS X 6147:2001 規格概要

この規格 X6147は、電子計算機,関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用いる8mm幅,ヘリカル走査記録,AIT-2・MIC(Advanced Intelligent Tape No.2 Memory In Cartride)様式,磁気テープカートリッジ,メモリチップ内蔵の構造,寸法,物理的特性,機械的特性,磁気的特性及び情報の規格様式について規定。

JISX6147 規格全文情報

規格番号
JIS X6147 
規格名称
8mm幅,ヘリカル走査記録,情報交換用磁気テープカートリッジ,AIT-2・MIC様式
規格名称英語訳
Information technology -- 8 mm wide magnetic tape cartridge for information interchange -- Helical scan recording AIT-2 with MIC format
制定年月日
2001年8月20日
最新改正日
2016年10月20日
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‐ 
対応国際規格

ISO

ISO/IEC 18810:2001(IDT)
国際規格分類

ICS

35.220.23
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
2001-08-20 制定日, 2007-02-20 確認日, 2011-10-20 確認日, 2016-10-20 確認
ページ
JIS X 6147:2001 PDF [96]
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項に基づき,社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) /財団法
人日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標
準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,
このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
JIS X 6147には,次に示す附属書がある。
附属書A(規定) 光透過率の測定法
附属書B(規定) 信号対雑音比の測定法
附属書C(規定) 記録レベルの公称値及び最大値の決定法(記録条件)
附属書D(規定) 16ビットワードから20チャネルビットパターンへの変換
附属書E(規定) ビットシフトの測定法
附属書F(規定) トラックエッジの直線性の測定法
附属書G(規定) ECCの計算
附属書H(参考) 輸送条件
附属書J(参考) 記録時再生 (RAW)
附属書K(参考) 記録グループ0の内容の例
附属書L(参考) チップの例

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――――― [JIS X 6147 pdf 1] ―――――

                                                                X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

pdf 目次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1. 適用範囲・・・・[1]
  •  2. 適合性・・・・[1]
  •  2.1 カートリッジ・・・・[1]
  •  2.2 書込み装置・・・・[1]
  •  2.3 読取り装置・・・・[2]
  •  3. 引用規格・・・・[2]
  •  4. 定義・・・・[2]
4.1 絶対フレーム番号 [absolute frame number (AFN)   ]      2
4.2 交流消 (a. c. erase) 2
4.3 アクセス (access) 2
4.4 アルゴリズム (algorithm) 2
4.5 エリアID (area ID) 2
4.6 自動トラックファインディング [automatic track finding (ATF) ] 2
4.7 平均信号振幅 (average signal amplitude) 2
4.8 アジマス (azimuth) 2
4.9 裏面 (back surface) 2
4.10 バイト (byte) 2
  •  4.11 カートリッジ (cartridge)・・・・[3]
4.12 チャネルビット (channel bit)    3
4.13 コードワード (code word) 3
4.14 EWP (early warning point) 3
4.15 EOD (end of data) 3
4.16 エンティティ (entity) 3
4.17 誤り訂正符号 [error correcting code (ECC) ] 3
4.18 磁束反転位置 (flux transition position) 3
4.19 磁束反転間隔 (flux transition spacing) 3
4.20 フレーム (frame) 3
4.21 ハウスキーピングフレーム (housekeeping frame) 3
4.22 LBOT (logical beginning of tape) 3
4.23 磁気テープ (magnetic tape) 3
  •  4.24 信号振幅主基準テープ (master standard amplitude calibration tape)・・・・[3]
4.25 主基準テープ (master standard reference tape)     3
4.26 MIC (memory in cartridge) 3
4.27 パーティション境界 (partition boundary) 3

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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

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ページ

  •  4.28 PBOT (physical beginning of tape)・・・・[3]
  •  4.29 PEOT (physical end of tape) 34.30 物理記録密度 (physical recording density)・・・・[3]
4.31 記録条件 (pre-recording condition)      3
4.32 圧縮処理 (processing) 3
  •  4.33 圧縮データ (processed data)・・・・[3]
4.34 圧縮レコード (processed record)      3
4.35 レコード (record) 3
4.36 基準磁界 (reference field) 3
  •  4.37 信号振幅二次基準テープ (secondary standard amplitude calibration tape)・・・・[4]
4.38 二次基準テープ (secondary standard reference tape)    4
4.39 セパレータマーク (separator mark) 4
4.40 基準信号振幅 [standard reference amplitude (SRA) ] 4
4.41 基準電流 (standard reference current) 4
4.42 テープ基準縁 (tape reference edge) 4
  •  4.43 試験記録電流 (test recording current)・・・・[4]
4.44 トラック (track)   4
4.45 ティピカル磁界 (typical field) 4
  •  4.46 未圧縮データ (unprocessed data)・・・・[4]
  •  4.47 未圧縮レコード (unprocessed record) 45. 表記法・・・・[4]
  •  5.1 数字の表現・・・・[4]
  •  5.2 名称・・・・[4]
  •  6. 略号・・・・[4]
  •  7. 環境条件及び安全性・・・・[5]
  •  7.1 試験環境条件・・・・[5]
  •  7.2 使用環境条件・・・・[5]
  •  7.3 保存環境条件・・・・[5]
  •  7.4 輸送・・・・[6]
  •  7.5 安全性・・・・[6]
  •  7.6 難燃性・・・・[6]
  •  8. ケースの寸法及び機械的特性・・・・[6]
  •  8.1 概要・・・・[6]
  •  8.2 全体の寸法・・・・[7]
  •  8.3 保持領域・・・・[7]
  •  8.4 カートリッジ挿入部・・・・[7]
  •  8.5 窓・・・・[8]
  •  8.6 ローディンググリップ・・・・[8]
  •  8.7 ラベル領域・・・・[8]

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                                                            X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

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ページ

  •  8.8 基準領域及び基準孔・・・・[8]
  •  8.9 支持領域・・・・[9]
  •  8.10 識別孔・・・・[10]
  •  8.11 書込み禁止孔・・・・[10]
  •  8.12 位置決め面・・・・[11]
  •  8.13 リッド・・・・[11]
  •  8.14 リールロック・・・・[12]
  •  8.15 リール受け孔・・・・[13]
  •  8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域・・・・[13]
  •  8.17 光通過経路・・・・[14]
  •  8.18 ケース内のテープの位置・・・・[14]
  •  8.19 テープ走行領域・・・・[15]
  •  8.20 テープ引出し開口部・・・・[15]
  •  8.21 テープの引出し開口部のすきま・・・・[15]
  •  8.22 MICへの要求事項・・・・[15]
  •  8.23 識別用切込み・・・・[16]
  •  9. テープの機械的特性,物理的特性及び寸法・・・・[34]
  •  9.1 材料・・・・[34]
  •  9.2 テープの長さ・・・・[35]
  •  9.2.1 磁気テープの長さ・・・・[35]
  •  9.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ・・・・[35]
  •  9.2.3 スプライシングテープの長さ・・・・[35]
  •  9.3 テープの幅・・・・[35]
  •  9.3.1 磁気テープ,リーダテープ及びトレーラテープの幅・・・・[35]
  •  9.3.2 スプライシングテープの幅及び位置・・・・[35]
  •  9.4 連続性・・・・[35]
  •  9.5 テープの厚さ・・・・[35]
  •  9.5.1 磁気テープの厚さ・・・・[35]
  •  9.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ・・・・[35]
  •  9.5.3 スプライシングテープの厚さ・・・・[35]
  •  9.6 長手方向の湾曲・・・・[35]
  •  9.7 カッピング・・・・[35]
  •  9.8 塗布面の接着強度・・・・[36]
  •  9.9 層間の粘着・・・・[36]
  •  9.10 引張強度・・・・[36]
  •  9.10.1 破断強度・・・・[36]
  •  9.10.2 降伏強度・・・・[36]
  •  9.11 残留伸び・・・・[37]
  •  9.12 記録面の電気抵抗・・・・[37]

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――――― [JIS X 6147 pdf 4] ―――――

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

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ページ

  •  9.13 テープの巻き方・・・・[37]
  •  9.14 テープの光透過率・・・・[37]
  •  9.15 識別ストライプ・・・・[37]
  •  10. 磁気的特性・・・・[38]
  •  10.1 ティピカル磁界・・・・[38]
  •  10.2 平均信号振幅・・・・[38]
  •  10.3 分解能・・・・[38]
  •  10.4 重ね書き・・・・[38]
  •  10.5 消去特性・・・・[39]
  •  10.6 テープの品質・・・・[39]
  •  10.6.1 ミッシングパルス・・・・[39]
  •  10.6.2 ミッシングパルスゾーン・・・・[39]
  •  10.7 信号対雑音比 (SNR) 特性・・・・[39]
  •  11. フォーマット・・・・[40]
  •  11.1 一般事項・・・・[40]
  •  11.2 基本グループ・・・・[40]
  •  11.2.1 エンティティ・・・・[41]
  •  11.2.2 グループ情報テーブル・・・・[42]
  •  11.2.3 ブロックアクセステーブル・・・・[43]
  •  11.3 サブグループ・・・・[45]
  •  11.3.1 G1サブグループ・・・・[45]
  •  11.3.2 G2サブグループ-ランダム化・・・・[46]
  •  11.3.3 G3サブグループ・・・・[47]
  •  11.4 データブロック・・・・[47]
  •  11.4.1 ID情報・・・・[48]
  •  11.4.2 データブロックヘッダへのID情報の記録・・・・[50]
  •  12. 記録方式・・・・[57]
  •  12.1 記録密度・・・・[57]
  •  12.2 長周期平均ビットセル長・・・・[57]
  •  12.3 短周期平均ビットセル長・・・・[57]
  •  12.4 短周期平均ビットセル長の変動率・・・・[57]
  •  12.5 ビットシフト・・・・[57]
  •  12.6 情報交換時の再生信号振幅・・・・[57]
  •  12.7 最大の記録レベル・・・・[57]
  •  13. トラック・・・・[57]
  •  13.1 トラックの構成・・・・[57]
  •  13.2 平均トラック間隔・・・・[58]
  •  13.3 トラック間隔の変化・・・・[58]
  •  13.4 トラック幅・・・・[58]

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JIS X 6147:2001の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 18810:2001(IDT)

JIS X 6147:2001の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 6147:2001の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称