JIS X 6148:2004 情報交換用８ｍｍ幅，磁気テープカートリッジヘリカル走査記録－ＡＩＴ-３様式

                                                                                   X 6148 : 2004

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)/財
団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工
業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS X 6148には,次に示す附属書がある。
    附属書A (規定)光透過率の測定法
    附属書B (規定)信号対雑音比の測定法
    附属書C (規定)記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法(記録前条件)
    附属書D (規定)16 ビットワードから18 チャネルビットパターンへの変換
    附属書E (規定)ビットシフトの測定法
    附属書F (規定)トラックエッジの直線性の測定法
    附属書G(規定)ECC の計算
    附属書H (参考)輸送条件
    附属書I (参考)記録時再生(RAW)
    附属書J (参考)基本グループ0の内容
    附属書K (参考)AIT3様式のチップ
    附属書L (参考)G2サブグループの誤り検出符号のEDC の生成

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS X 6148 pdf 1] ―――――

X 6148 : 2004

pdf 目 次

ページ

•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 適合性・・・・[1]
•  2.1 磁気テープカートリッジ・・・・[1]
•  2.2 書込み装置・・・・[1]
•  2.3 読取り装置・・・・[1]
•  3. 引用規格・・・・[2]
•  4. 定義・・・・[2]
•  4.1 絶対フレーム番号[absolute frame number(AFN)]・・・・[2]
•  4.2 交流消去(a.c. erase)・・・・[2]
•  4.3 アクセス(access)・・・・[2]
•  4.4 アルゴリズム(algorithm)・・・・[2]
•  4.5 エリアID(area ID)・・・・[2]
•  4.6 自動トラックファインディング[automatic track finding(ATF)]・・・・[2]
•  4.7 平均信号振幅(average signal amplitude)・・・・[2]
•  4.8 アジマス(azimuth)・・・・[2]
•  4.9 裏面(back surface)・・・・[2]
•  4.10 バイト(byte)・・・・[2]
•  4.11 カートリッジ(cartridge)・・・・[2]
•  4.12 チャネルビット(channel bit)・・・・[2]
•  4.13 コードワード(codeword)・・・・[2]
•  4.14 EWP(early warning point)・・・・[3]
•  4.15 EOD(end of data)・・・・[3]
•  4.16 エンティティ(entity)・・・・[3]
•  4.17 誤り訂正符号[error correcting code(ECC)]・・・・[3]
•  4.18 磁束反転位置(flux transition position)・・・・[3]
•  4.19 磁束反転間隔(flux transition spacing)・・・・[3]
•  4.20 フレーム(frame)・・・・[3]
•  4.21 ハウスキーピングフレーム(housekeeping frame)・・・・[3]
•  4.22 LBOT(logical beginning of tape)・・・・[3]
•  4.23 磁気テープ(magnetic tape)・・・・[3]
•  4.24 信号振幅主基準テープ(master standard amplitude calibration tape)・・・・[3]
•  4.25 主基準テープ(master standard reference tape)・・・・[3]
•  4.26 パーティション境界(partition boundary)・・・・[3]
•  4.27 PBOT(physical beginning of tape)・・・・[3]
•  4.28 PEOT(physical end of tape)・・・・[3]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS X 6148 pdf 2] ―――――

                                                                                   X 6148 : 2004

•  4.29 物理記録密度(physical recording density)・・・・[3]
•  4.30 記録条件(pre-recording condition)・・・・[3]
•  4.31 圧縮処理(processing)・・・・[3]
•  4.32 圧縮データ(processed data)・・・・[3]
•  4.33 圧縮レコード(processed record)・・・・[3]
•  4.34 レコード(record)・・・・[3]
•  4.35 基準磁界(reference field)・・・・[3]
•  4.36 RMIC(advanced intelligent tape remote memory in cartridge)・・・・[3]
•  4.37 信号振幅二次基準テープ(secondary standard amplitude calibration tape)・・・・[3]
•  4.38 二次基準テープ(secondary standard reference tape)・・・・[4]
•  4.39 セパレータマーク(separator mark)・・・・[4]
•  4.40 基準信号振幅[standard reference amplitude(SRA)]・・・・[4]
•  4.41 基準電流(standard reference current)・・・・[4]
•  4.42 テープ基準縁(tape reference edge)・・・・[4]
•  4.43 試験記録電流(test recording current)・・・・[4]
•  4.44 トラック(track)・・・・[4]
•  4.45 ティピカル磁界(typical field)・・・・[4]
•  4.46 未圧縮データ(unprocessed data)・・・・[4]
•  4.47 未圧縮レコード(unprocessed record)・・・・[4]
•  5. 表記法・・・・[4]
•  5.1 数字の表現・・・・[4]
•  5.2 名称・・・・[4]
•  6. 略号・・・・[4]
•  7. 環境条件及び安全性・・・・[5]
•  7.1 試験環境条件・・・・[5]
•  7.2 使用環境条件・・・・[5]
•  7.3 保存環境条件・・・・[5]
•  7.4 輸送・・・・[5]
•  7.5 安全性・・・・[6]
•  7.6 難燃性・・・・[6]
•  8. ケースの寸法及び機械的特性・・・・[6]
•  8.1 概要・・・・[6]
•  8.2 全体の寸法(図5及び図6)・・・・[6]
•  8.3 保持領域・・・・[7]
•  8.4 カートリッジ挿入部・・・・[7]
•  8.5 窓(図1)・・・・[8]
•  8.6 ローディンググリップ(図5及び図7)・・・・[8]
•  8.7 ラベル領域(図6及び図8)・・・・[8]
•  8.8 基準領域及び基準孔(図9,図10及び図11)・・・・[8]
•  8.9 支持領域(図9)・・・・[9]

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS X 6148 pdf 3] ―――――

X 6148 : 2004

•  8.10 識別孔(図10,図11及び図12)・・・・[10]
•  8.11 書込み禁止孔(図11及び図12)・・・・[10]
•  8.12 位置決め面(図4及び図10)・・・・[11]
•  8.13 リッド(図6,図13及び図15)・・・・[11]
•  8.14 リールロック(図10及び図16)・・・・[12]
•  8.15 リール受け孔(図10)・・・・[13]
•  8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域・・・・[13]
•  8.17 光通過経路(図10,図12,図20及び図21)・・・・[14]
•  8.18 ケース内のテープの位置(図21)・・・・[14]
•  8.19 テープ走行領域(図21)・・・・[15]
•  8.20 テープ引出し開口部(図10)・・・・[15]
•  8.21 テープの引出し開口部の隙(すき)間(図24)・・・・[15]
•  8.22 MMICへの要求事項(図25及び図26)・・・・[15]
•  8.23 識別用切込み(図8及び図10)・・・・[16]
•  9. テープの機械的特性,物理的特性及び寸法・・・・[33]
•  9.1 材料・・・・[33]
•  9.2 テープの長さ・・・・[34]
•  9.3 テープの幅・・・・[34]
•  9.4 連続性・・・・[34]
•  9.5 テープの厚さ・・・・[34]
•  9.6 長手方向の湾曲・・・・[34]
•  9.7 カッピング・・・・[35]
•  9.8 塗布面の接着強度・・・・[35]
•  9.9 層間の粘着・・・・[35]
•  9.10 引張強度・・・・[36]
•  9.11 残留伸び・・・・[36]
•  9.12 記録面の電気抵抗・・・・[36]
•  9.13 テープの巻き方・・・・[36]
•  9.14 テープの光透過率・・・・[36]
•  9.15 識別ストライプ・・・・[37]
•  10. 磁気的特性・・・・[37]
•  10.1 ティピカル磁界・・・・[37]
•  10.2 平均信号振幅・・・・[37]
•  10.3 分解能・・・・[38]
•  10.4 重ね書き・・・・[38]
•  10.5 消去特性・・・・[38]
•  10.6 テープの品質・・・・[38]
•  10.7 信号対雑音比(SNR)特性・・・・[38]
•  11. フォーマット・・・・[39]
•  11.1 一般事項・・・・[39]

(pdf 一覧ページ番号 4)

――――― [JIS X 6148 pdf 4] ―――――

                                                                                   X 6148 : 2004

•  11.2 基本グループ・・・・[39]
•  11.3 サブグループ・・・・[45]
•  11.4 データブロック・・・・[46]
•  12. 記録方式・・・・[54]
•  12.1 記録密度・・・・[54]
•  12.2 長周期平均ビットセル長・・・・[54]
•  12.3 短周期平均ビットセル長・・・・[54]
•  12.4 短周期平均ビットセル長の変動率・・・・[54]
•  12.5 ビットシフト・・・・[54]
•  12.6 情報交換時の再生信号振幅・・・・[54]
•  12.7 最大の記録レベル・・・・[54]
•  13. トラック・・・・[54]
•  13.1 トラックの構成・・・・[54]
•  13.2 平均トラック間隔・・・・[55]
•  13.3 トラック間隔の変化・・・・[55]
•  13.4 トラック幅・・・・[55]
•  13.5 トラック角・・・・[55]
•  13.6 トラックエッジの直線性・・・・[55]
•  13.7 トラック長・・・・[55]
•  13.8 アジマス角・・・・[55]
•  14. 記録パターン・・・・[55]
•  14.1 記録データブロック・・・・[56]
•  15. トラックのフォーマット・・・・[56]
•  15.1 トラックの内容・・・・[56]
•  15.2 トラック位置精度・・・・[56]
•  15.3 トラッキング法・・・・[56]
•  15.4 マージンブロックの生成・・・・[57]
•  16. テープのレイアウト・・・・[57]
•  16.1 デバイス領域・・・・[58]
•  16.2 リファレンス領域・・・・[58]
•  16.3 ガードバンド1・・・・[59]
•  16.4 システム領域・・・・[59]
•  16.5 データ領域・・・・[63]
•  16.6 EOD領域・・・・[67]
•  16.7 オプションデバイス領域・・・・[67]
•  16.8 LEOT・・・・[67]
•  16.9 LBOT・・・・[67]
•  16.10 終端予告点(EWP)・・・・[67]
•  16.11 空のパーティション・・・・[68]
•  16.12 初期化・・・・[68]

(pdf 一覧ページ番号 5)

――――― [JIS X 6148 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6