JIS X 6149:2003 情報交換用8mm幅,磁気テープカートリッジ-ヘリカル走査記録-マンモステープ2様式

JIS X 6149:2003 規格概要

この規格 X6149は、8mm幅の磁気テープカートリッジの装置間での物理的互換性をとるために物理的特性及び磁気的特性を規定。装置間でのデータ交換ができるよう記録信号品質,マンモステープ-2のフォーマット及び記録方式について規定。

JISX6149 規格全文情報

規格番号
JIS X6149 
規格名称
情報交換用8mm幅,磁気テープカートリッジ-ヘリカル走査記録-マンモステープ2様式
規格名称英語訳
Information technology -- 8mm wide magnetic tape cartridge for information interchange -- Helical scan recording -- Mammoth Tape-2 format
制定年月日
2003年12月20日
最新改正日
2019年10月21日
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対応国際規格

ISO

ISO/IEC 18836:2001(IDT)
国際規格分類

ICS

35.220.23
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
2003-12-20 制定日, 2008-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
ページ
JIS X 6149:2003 PDF [80]
                                                                X 6149 : 2003 (ISO/IEC 18836 : 2001)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)/財
団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工
業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
JIS X 6149には,次に示す附属書がある。
附属書A(規定)テープの光透過率の測定法
附属書B(規定)テープの研磨性測定法
附属書C(規定)論理ブロックのCRCの生成
附属書D(規定)ECC3チェックバイト
附属書E(規定)データ領域のCRCの生成
附属書F(規定)ECCの生成
附属書G(規定)前置符号器
附属書H(規定)8ビットバイトから10ビットパターンへの変換
附属書J(規定)乱数化
附属書K(規定)サーチフィールドのCRCの生成条件
附属書L(規定)サーチフィールドECC
附属書M(規定)ビットシフトの測定法
附属書N(参考)輸送条件

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS X 6149 pdf 1] ―――――

X 6149 : 2003 (ISO/IEC 18836 : 2001)

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1. 適用範囲・・・・[1]
  •  2. 適合性・・・・[1]
  •  2.1 磁気テープカートリッジ・・・・[1]
  •  2.2 生成システム・・・・[1]
  •  2.3 受領システム・・・・[1]
  •  3. 引用規格・・・・[2]
  •  4. 定義・・・・[2]
  •  4.1 交流消去 (a.c. erase)・・・・[2]
  •  4.2 アルゴリズム (algorithm)・・・・[2]
  •  4.3 平均信号振幅 (average signal amplitude)・・・・[2]
  •  4.4 アジマス (azimuth)・・・・[2]
  •  4.5 裏面 (back surface)・・・・[2]
  •  4.6 ビットセル (bit cell)・・・・[2]
  •  4.7 バイト (byte)・・・・[2]
  •  4.8 カートリッジ (cartridge)・・・・[2]
  •  4.9 チャネルビット (channel bit)・・・・[2]
4.10 巡回冗長検査文字 [cyclic redundancy check (CRC)   haracter] 2
4.11 誤り訂正符号 [error correcting code (ECC) ] 2
  •  4.12 ファイルマーク (file mark)・・・・[2]
  •  4.13 LBOP (logical beginning of partition)・・・・[2]
  •  4.14 論理ブロック (logical block)・・・・[2]
  •  4.15 磁気テープ (magnetic tape)・・・・[2]
  •  4.16 主基準テープ (master standard reference tape)・・・・[2]
  •  4.17 パーティション (partition)・・・・[2]
  •  4.18 PBOP (physical beginning of partition)・・・・[2]
  •  4.19 PBOT (physical beginning of tape)・・・・[2]
  •  4.20 PEOP (physical end of partition)・・・・[2]
  •  4.21 PEOT (physical end of tape)・・・・[2]
  •  4.22 物理記録密度 (physical recording density)・・・・[2]
  •  4.23 リードバック検査 [read back check (RBC) ] 34.24 基準磁界 (reference field)・・・・[3]
  •  4.25 二次基準テープ [secondary standard reference tape (SSRT) ] 34.26 セットマーク (set mark)・・・・[3]
4.27 基準信号振幅 [standard reference amplitude (SRA)   ] 3

――――― [JIS X 6149 pdf 2] ―――――

                                                                X 6149 : 2003 (ISO/IEC 18836 : 2001)
4.28 基準電流 [standard reference current (Ir) ] 3
  •  4.29 テープ基準縁 (tape reference edge)・・・・[3]
  •  4.30 試験記録電流 [test recording current (TRC) ] 34.31 トラック (track)・・・・[3]
  •  4.32 ティピカル磁界 (typical field)・・・・[3]
  •  5. 表記法・・・・[3]
  •  5.1 数字の表現・・・・[3]
  •  5.2 エンティティの名称・・・・[3]
  •  6. 略号・・・・[3]
  •  7. 環境条件及び安全性・・・・[4]
  •  7.1 試験環境条件・・・・[4]
  •  7.2 使用環境条件・・・・[4]
  •  7.3 保存環境条件・・・・[4]
  •  7.4 輸送・・・・[5]
  •  7.5 安全性・・・・[5]
  •  7.6 難燃性・・・・[5]
  •  8. ケースの寸法及び機械的特性・・・・[5]
  •  8.1 概要・・・・[5]
  •  8.2 全体の寸法(図5及び図6)・・・・[6]
  •  8.3 保持領域・・・・[6]
  •  8.4 カートリッジ挿入部・・・・[6]
  •  8.5 窓(図1)・・・・[7]
  •  8.6 ローディンググリップ(図5及び図7)・・・・[7]
  •  8.7 ラベル領域(図6及び図8)・・・・[7]
  •  8.8 基準領域及び基準孔(図9,図10及び図11)・・・・[8]
  •  8.9 支持領域(図9)・・・・[8]
  •  8.10 識別孔(図10,図11及び図12)・・・・[9]
  •  8.11 書込み禁止孔(図11及び図12)・・・・[10]
  •  8.12 位置決め面(図4及び図10)・・・・[10]
  •  8.13 リッド(図6及び図13)・・・・[10]
  •  8.14 リールロック(図16)・・・・[11]
  •  8.15 リール受け孔(図10)・・・・[12]
  •  8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域・・・・[12]
  •  8.17 光通過経路(図10,図12,図20及び図21)・・・・[13]
  •  8.18 ケース内のテープの位置(図21)・・・・[14]
  •  8.19 テープ走行領域(図21)・・・・[14]
  •  8.20 テープ引出し開口部(図10)・・・・[14]
  •  8.21 テープの引出し開口部への要求事項(図24)・・・・[14]
  •  9. テープの機械的特性,物理的特性及び寸法・・・・[29]
  •  9.1 材料・・・・[29]

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS X 6149 pdf 3] ―――――

X 6149 : 2003 (ISO/IEC 18836 : 2001)
  •  9.2 テープの長さ・・・・[30]
  •  9.3 テープの幅・・・・[30]
  •  9.4 連続性・・・・[31]
  •  9.5 テープの厚さ・・・・[31]
  •  9.6 長手方向の湾曲・・・・[32]
  •  9.7 カッピング・・・・[32]
  •  9.8 磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度・・・・[32]
  •  9.9 層間の粘着・・・・[32]
  •  9.10 引張強度・・・・[33]
  •  9.11 残留伸び・・・・[33]
  •  9.12 磁性面の電気抵抗・・・・[33]
  •  9.13 テープの巻き方・・・・[34]
  •  9.14 テープの光透過率・・・・[34]
  •  9.15 研磨性・・・・[34]
  •  10. 磁気的特性・・・・[34]
  •  10.1 試験条件・・・・[34]
  •  10.2 ティピカル磁界・・・・[34]
  •  10.3 平均信号振幅・・・・[34]
  •  10.4 分解能・・・・[34]
  •  10.5 信号対雑音比・・・・[34]
  •  10.6 消去特性・・・・[35]
  •  10.7 テープの品質・・・・[35]
  •  11. フォーマット・・・・[36]
  •  11.1 概要・・・・[36]
  •  11.2 物理ブロックのフォーマット・・・・[37]
  •  11.3 サーチフィールドフォーマット・・・・[45]
  •  11.4 サーボエリア・・・・[47]
  •  11.5 トラックの配置・・・・[47]
  •  12. 記録方式・・・・[50]
  •  12.1 記録密度・・・・[50]
  •  12.2 ビットシフト・・・・[50]
  •  12.3 情報交換時の再生信号振幅・・・・[51]
  •  13. トラックの構成・・・・[51]
  •  13.1 概要・・・・[51]
  •  13.2 トラック間隔・・・・[51]
  •  13.3 平均トラック間隔・・・・[51]
  •  13.4 トラック幅・・・・[51]
  •  13.5 トラック角・・・・[51]
  •  13.6 トラック長・・・・[51]
  •  13.7 ガードバンド・・・・[52]

――――― [JIS X 6149 pdf 4] ―――――

                                                                X 6149 : 2003 (ISO/IEC 18836 : 2001)
  •  13.8 アジマス角・・・・[52]
  •  13.9 トラックエッジの直線性・・・・[52]
  •  14. テープの配置・・・・[52]
  •  14.1 概要・・・・[52]
  •  14.2 テープ履歴ログ (THL)・・・・[52]
  •  14.3 PBOP・・・・[53]
  •  14.4 LBOP・・・・[53]
  •  14.5 データ領域・・・・[53]
  •  14.6 EOD・・・・[53]
  •  14.7 PEOP・・・・[53]
  •  附属書A(規定)テープの光透過率の測定法・・・・[54]
  •  附属書B(規定)テープの研磨性測定法・・・・[57]
  •  附属書C(規定)論理ブロックのCRCの生成・・・・[59]
  •  附属書D(規定)ECC3チェックバイト・・・・[60]
  •  附属書E(規定)データ領域のCRCの生成・・・・[61]
  •  附属書F(規定)ECCの生成・・・・[62]
  •  附属書G(規定)前置符号器・・・・[63]
  •  附属書H(規定)8ビットバイトから10ビットパターンへの変換・・・・[64]
  •  附属書J(規定)乱数化・・・・[70]
  •  附属書K(規定)サーチフィールドのCRCの生成条件・・・・[71]
  •  附属書L(規定)サーチフィールドECC・・・・[72]
  •  附属書M(規定)ビットシフトの測定法・・・・[73]
  •  附属書N(参考)輸送条件・・・・[75]

(pdf 一覧ページ番号 5)

――――― [JIS X 6149 pdf 5] ―――――

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JIS X 6149:2003の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 18836:2001(IDT)

JIS X 6149:2003の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 6149:2003の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称