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JIS X 6146:2001 規格概要
この規格 X6146は、電子計算機,関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用いる8mm幅,ヘリカル走査記録,AIT-1・MIC(Advanced Intelligent Tape No.1 Memory In Cartridge)様式,磁気テープカートリッジ,メモリチップ内蔵の構造,寸法,物理的特性,機械的特性,磁気的特性及び情報の規格様式について規定。
JISX6146 規格全文情報
- 規格番号
- JIS X6146
- 規格名称
- 8mm幅,ヘリカル走査記録,情報交換用磁気テープカートリッジ,AIT-1・MIC様式
- 規格名称英語訳
- Information technology -- 8 mm wide magnetic tape cartridge for information interchange -- Helical scan recording AIT-1 with MIC format
- 制定年月日
- 2001年8月20日
- 最新改正日
- 2016年10月20日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- ISO/IEC 18809:2000(IDT)
- 国際規格分類
ICS
- 35.220.23
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- ‐
- 改訂:履歴
- 2001-08-20 制定日, 2007-02-20 確認日, 2011-10-20 確認日, 2016-10-20 確認
- ページ
- JIS X 6146:2001 PDF [105]
X 6146 : 2001 (ISO/IEC 18809 : 2000)
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項に基づき,社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) /財団法
人日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標
準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,
このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
JIS X 6146には,次に示す附属書がある。
附属書A(規定) 光透過率の測定法
附属書B(規定) 信号対雑音比の測定法
附属書C(規定) 記録レベルの公称値及び最大値の決定法(記録条件)
附属書D(規定) 8ビットバイトから10チャネルビットパターンへの変換
附属書E(規定) ビットシフトの測定法
附属書F(規定) トラックエッジの直線性の測定法
附属書G(規定) ECCの計算
附属書H(参考) 輸送条件
附属書J(参考) 記録時再生 (RAW)
附属書K(参考) 記録グループ0の内容の例
附属書L(参考) チップの例
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――――― [JIS X 6146 pdf 1] ―――――
X 6146 : 2001 (ISO/IEC 18809 : 2000)
pdf 目次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1. 適用範囲・・・・[1]
- 2. 適合性・・・・[1]
- 2.1 カートリッジ・・・・[1]
- 2.2 書込み装置・・・・[1]
- 2.3 読取り装置・・・・[2]
- 3. 引用規格・・・・[2]
- 4. 定義・・・・[2]
- 4.1 絶対フレーム番号 [absolute frame number (AFN) ] 24.2 交流消去 (a. c. erase)・・・・[2]
- 4.3 アクセス (access)・・・・[2]
- 4.4 アルゴリズム (algorithm)・・・・[2]
- 4.5 エリアID (area ID)・・・・[2]
4.6 自動トラックファインディング [automatic track finding (ATF) ] 2
4.7 平均信号振幅 (average signal amplitude) 2
- 4.8 アジマス (azimuth)・・・・[2]
- 4.9 裏面 (back surface)・・・・[3]
- 4.10 バイト (byte)・・・・[3]
- 4.11 カートリッジ (cartridge)・・・・[3]
- 4.12 チャネルビット (channel bit)・・・・[3]
- 4.13 コードワード (codeword)・・・・[3]
- 4.14 EWP (early warning point)・・・・[3]
- 4.15 EOD (end of data)・・・・[3]
- 4.16 エンティティ (entity)・・・・[3]
- 4.17 誤り訂正符号 [error correcting code (ECC) ] 34.18 磁束反転位置 (flux transition position)・・・・[3]
- 4.19 磁束反転間隔 (flux transition spacing)・・・・[3]
- 4.20 フレーム (frame)・・・・[3]
- 4.21 ハウスキーピングフレーム (housekeeping frame)・・・・[3]
- 4.22 LBOT (logical beginning of tape)・・・・[3]
- 4.23 磁気テープ (magnetic tape)・・・・[3]
- 4.24 信号振幅主基準テープ (master standard amplitude calibration tape)・・・・[3]
- 4.25 主基準テープ (master standard reference tape)・・・・[3]
- 4.26 MIC (memory in cartridge)・・・・[3]
- 4.27 パーティション境界 (partition boundary)・・・・[3]
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――――― [JIS X 6146 pdf 2] ―――――
X 6146 : 2001 (ISO/IEC 18809 : 2000)目次
ページ
- 4.28 PBOT (physical beginning of tape)・・・・[3]
- 4.29 PEOT (physical end of tape)・・・・[3]
- 4.30 物理記録密度 (physical recording density)・・・・[3]
- 4.31 記録条件 (pre-recording condition)・・・・[3]
- 4.32 圧縮処理 (processing)・・・・[3]
- 4.33 圧縮データ (processed data)・・・・[3]
- 4.34 圧縮レコード (processed record)・・・・[3]
- 4.35 レコード (record)・・・・[3]
- 4.36 基準磁界 (reference field)・・・・[3]
- 4.37 信号振幅二次基準テープ (secondary standard amplitude calibration tape)・・・・[4]
- 4.38 二次基準テープ (secondary standard reference tape)・・・・[4]
- 4.39 セパレータマーク (separator mark)・・・・[4]
- 4.40 基準信号振幅 [standard reference amplitude (SRA) ] 44.41 基準電流 (standard reference current)・・・・[4]
- 4.42 テープ基準縁 (tape reference edge)・・・・[4]
- 4.43 試験記録電流 (test recording current)・・・・[4]
- 4.44 トラック (track)・・・・[4]
- 4.45 ティピカル磁界 (typical field)・・・・[4]
- 4.46 未圧縮データ (unprocessed data)・・・・[4]
- 4.47 未圧縮レコード (unprocessed record)・・・・[4]
- 5. 表記法・・・・[4]
- 5.1 数字の表現・・・・[4]
- 5.2 名称・・・・[4]
- 6. 略号・・・・[4]
- 7. 環境条件及び安全性・・・・[5]
- 7.1 試験環境条件・・・・[5]
- 7.2 使用環境条件・・・・[5]
- 7.3 保存環境条件・・・・[5]
- 7.4 輸送・・・・[6]
- 7.5 安全性・・・・[6]
- 7.6 難燃性・・・・[6]
- 8. ケースの寸法及び機械的特性・・・・[6]
- 8.1 概要・・・・[6]
- 8.2 全体の寸法・・・・[7]
- 8.3 保持領域・・・・[7]
- 8.4 カートリッジ挿入部・・・・[7]
- 8.5 窓・・・・[8]
- 8.6 ローディンググリップ・・・・[8]
- 8.7 ラベル領域・・・・[8]
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――――― [JIS X 6146 pdf 3] ―――――
X 6146 : 2001 (ISO/IEC 18809 : 2000)目次
ページ
- 8.8 基準領域及び基準孔・・・・[8]
- 8.9 支持領域・・・・[9]
- 8.10 識別孔・・・・[10]
- 8.11 書込み禁止孔・・・・[10]
- 8.12 位置決め面・・・・[11]
- 8.13 リッド・・・・[11]
- 8.14 リールロック・・・・[12]
- 8.15 リール受け孔・・・・[13]
- 8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域・・・・[13]
- 8.17 光通過経路・・・・[14]
- 8.18 ケース内のテープの位置・・・・[14]
- 8.19 テープ走行領域・・・・[15]
- 8.20 テープ引出し開口部・・・・[15]
- 8.21 テープの引出し開口部への要求事項・・・・[15]
- 8.22 MICへの要求事項・・・・[15]
- 8.23 識別用切込み・・・・[16]
- 9. テープの機械的特性,物理的特性及び寸法・・・・[34]
- 9.1 材料・・・・[34]
- 9.2 テープの長さ・・・・[35]
- 9.2.1 磁気テープの長さ・・・・[35]
- 9.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ・・・・[35]
- 9.2.3 スプライシングテープの長さ・・・・[35]
- 9.3 テープの幅・・・・[35]
- 9.3.1 磁気テープ,リーダテープ及びトレーラテープの幅・・・・[35]
- 9.3.2 スプライシングテープの幅及び位置・・・・[35]
- 9.4 連続性・・・・[35]
- 9.5 テープの厚さ・・・・[35]
- 9.5.1 磁気テープの厚さ・・・・[35]
- 9.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ・・・・[35]
- 9.5.3 スプライシングテープの厚さ・・・・[35]
- 9.6 長手方向の湾曲・・・・[35]
- 9.7 カッピング・・・・[35]
- 9.8 塗布面の接着強度・・・・[36]
- 9.9 層間の粘着・・・・[36]
- 9.10 引張強度・・・・[36]
- 9.10.1 破断強度・・・・[36]
- 9.10.2 降伏強度・・・・[37]
- 9.11 残留伸び・・・・[37]
- 9.12 記録面の電気抵抗・・・・[37]
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――――― [JIS X 6146 pdf 4] ―――――
X 6146 : 2001 (ISO/IEC 18809 : 2000)目次
ページ
- 9.13 テープの巻き方・・・・[37]
- 9.14 テープの光透過率・・・・[37]
- 10. 磁気的特性・・・・[37]
- 10.1 ティピカル磁界・・・・[38]
- 10.2 平均信号振幅・・・・[38]
- 10.3 分解能・・・・[38]
- 10.4 重ね書き・・・・[38]
- 10.5 消去特性・・・・[38]
- 10.6 テープの品質・・・・[38]
- 10.6.1 ミッシングパルス・・・・[39]
- 10.6.2 ミッシングパルスゾーン・・・・[39]
- 10.7 信号対雑音比 (SNR) 特性・・・・[39]
- 11. フォーマット・・・・[39]
- 11.1 一般事項・・・・[39]
- 11.2 基本グループ・・・・[40]
- 11.2.1 エンティティ・・・・[40]
- 11.2.2 グループ情報テーブル・・・・[41]
- 11.2.3 ブロックアクセステーブル (BAT) 4311.3 サブグループ・・・・[45]
- 11.3.1 G1サブグループ・・・・[45]
- 11.3.2 G2サブグループ-ランダム化・・・・[45]
- 11.3.3 G3サブグループ・・・・[46]
- 11.4 データブロック・・・・[47]
- 11.4.1 ID情報・・・・[48]
- 11.4.2 データブロックヘッダへのID情報の記録・・・・[50]
- 12. 記録方式・・・・[57]
- 12.1 記録密度・・・・[57]
- 12.2 長周期平均ビットセル長・・・・[57]
- 12.3 短周期平均ビットセル長・・・・[57]
- 12.4 短周期平均ビットセル長の変動率・・・・[57]
- 12.5 ビットシフト・・・・[57]
- 12.6 情報交換時の再生信号振幅・・・・[57]
- 12.7 最大の記録レベル・・・・[57]
- 13. トラック・・・・[57]
- 13.1 トラックの構成・・・・[57]
- 13.2 平均トラック間隔・・・・[58]
- 13.3 トラック間隔の変化・・・・[58]
- 13.4 トラック幅・・・・[58]
- 13.5 トラック角・・・・[58]
(pdf 一覧ページ番号 )
――――― [JIS X 6146 pdf 5] ―――――
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JIS X 6146:2001の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 18809:2000(IDT)
JIS X 6146:2001の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.220 : データ蓄積装備 > 35.220.23 : 磁気テープ用カセット及びカートリッジ
JIS X 6146:2001の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称