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JIS X 6145:2000 ８ｍｍ幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ，ＡＩＴ－１様式

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JIS X 6145:2000 規格概要

この規格 X6145は、電子計算機,関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用いる8mm幅,ヘリカル走査記録,AIT-1(Advanced Intelligent Tape-1)様式,磁気テープカートリッジの構造,寸法,物理的特性,機械的特性,磁気的特性及び情報の規格様式について規定。

JISX6145 規格全文情報

規格番号
JIS X6145 
規格名称
8mm幅,ヘリカル走査記録,情報交換用磁気テープカートリッジ,AIT-1様式
規格名称英語訳
8 mm wide magnetic tape cartridge for information interchange -- Helical scan recording -- AIT-1 format
制定年月日
2000年7月20日
最新改正日
2019年10月21日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

ISO/IEC 15780:1998(IDT)
国際規格分類

ICS

35.220.23
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
2000-07-20 制定日, 2004-11-20 確認日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
ページ
JIS X 6145:2000 PDF [95]
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本電子工業振興協会 (JEIDA) /
財団法人日本規格協会 (JSA) から日本工業標準原案を具して,日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,
日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,
このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS X 6145には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定) テープ及びリーダの光透過率の測定法
    附属書B(規定) 信号対雑音比の測定法
    附属書C(規定) 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法(記録条件)
    附属書D(規定) 8ビットバイトから10チャネルビットパターンへの変換
    附属書E(規定) ビットシフトの測定法
    附属書F(規定) トラックエッジの直線性の測定法
    附属書G(規定) ECCの計算
    附属書H(参考) 輸送条件
    附属書J(参考) 記録時再生 (RAW)
    附属書K(参考) 基本グループ0の内容の例

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS X 6145 pdf 1] ―――――

                                                                X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

pdf 目次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1. 適用範囲・・・・[1]
  •  2. 適合性・・・・[1]
  •  2.1 カートリッジ・・・・[1]
  •  2.2 書込み装置・・・・[1]
  •  2.3 読取り装置・・・・[2]
  •  3. 引用規格・・・・[2]
  •  4. 定義・・・・[2]
  •  4.1 絶対フレーム番・・・・[2]
  •  4.2 交流消・・・・[2]
  •  4.3 アクセ・・・・[2]
  •  4.4 アルゴリズ・・・・[2]
  •  4.5 エリアI・・・・[2]
  •  4.6 自動トラックファインディン・・・・[2]
  •  4.7 平均信号振・・・・[2]
  •  4.8 アジマ・・・・[2]
  •  4.9 裏・・・・[2]
  •  4.10 バイ・・・・[2]
  •  4.11 カートリッ・・・・[3]
  •  4.12 チャネルビッ・・・・[3]
  •  4.13 コードワー・・・・[3]
  •  4.14 EW・・・・[3]
  •  4.15 EO・・・・[3]
  •  4.16 エンティテ・・・・[3]
  •  4.17 誤り訂正符・・・・[3]
  •  4.18 磁束反転位・・・・[3]
  •  4.19 磁束反転間・・・・[3]
  •  4.20 フレー・・・・[3]
  •  4.21 ハウスキーピングフレー・・・・[3]
  •  4.22 LBO・・・・[3]
  •  4.23 磁気テー・・・・[3]
  •  4.24 信号振幅基準テー・・・・[3]
  •  4.25 主基準テー・・・・[3]
  •  4.26 MI・・・・[3]
  •  4.27 パーティション境・・・・[3]

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――――― [JIS X 6145 pdf 2] ―――――

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)目次
  •  4.28 PBO・・・・[3]
  •  4.29 PEO・・・・[3]
  •  4.30 記録密・・・・[3]
  •  4.31 記録条・・・・[3]
  •  4.32 圧縮処・・・・[3]
  •  4.33 圧縮デー・・・・[3]
  •  4.34 圧縮レコー・・・・[3]
  •  4.35 レコー・・・・[3]
  •  4.36 基準磁・・・・[3]
  •  4.37 復元処・・・・[3]
  •  4.38 信号振幅二次基準テー・・・・[4]
  •  4.39 二次基準テー・・・・[4]
  •  4.40 セパレータマー・・・・[4]
  •  4.41 基準信号振幅・・・・[4]
  •  4.42 基準電・・・・[4]
  •  4.43 テープ基準・・・・[4]
  •  4.44 試験記録電・・・・[4]
  •  4.45 トラッ・・・・[4]
  •  4.46 ティピカル磁・・・・[4]
  •  4.47 未圧縮デー・・・・[4]
  •  4.48 未圧縮レコー・・・・[4]
  •  5. 表記法・・・・[4]
  •  5.1 数字の表現・・・・[4]
  •  5.2 エンティティの名称・・・・[4]
  •  6. 略号・・・・[4]
  •  7. 環境条件及び安全性・・・・[5]
  •  7.1 試験環境条件・・・・[5]
  •  7.2 使用環境条件・・・・[5]
  •  7.3 保存環境条件・・・・[5]
  •  7.4 輸送・・・・[6]
  •  7.5 安全性・・・・[6]
  •  7.6 難燃性・・・・[6]
  •  8. ケースの寸法及び機械的特性・・・・[6]
  •  8.1 概要・・・・[6]
  •  8.2 全体の寸法(図5及び図6)・・・・[7]
  •  8.3 保持領域・・・・[7]
  •  8.4 カートリッジ挿入部・・・・[7]
  •  8.5 窓(図1)・・・・[8]
  •  8.6 ローディンググリップ(図5及び図7)・・・・[8]
  •  8.7 ラベル領域(図6及び図8)・・・・[8]

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――――― [JIS X 6145 pdf 3] ―――――

                                                            X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)目次
  •  8.8 基準領域及び基準孔(図9,図10及び図11)・・・・[8]
  •  8.9 支持領域(図9)・・・・[9]
  •  8.10 識別孔(図10,図11及び図12)・・・・[10]
  •  8.11 書込み禁止孔(図11及び図12)・・・・[10]
  •  8.12 位置決め面(図4及び図10)・・・・[11]
  •  8.13 リッド(図6,図13及び図15)・・・・[11]
  •  8.14 リールロック(図10及び図16)・・・・[12]
  •  8.15 リール受け孔(図10)・・・・[13]
  •  8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域・・・・[13]
  •  8.17 光通過経路(図10,図12,図20及び図21)・・・・[14]
  •  8.18 ケース内のテープの位置(図21)・・・・[14]
  •  8.19 テープ走行領域(図21)・・・・[15]
  •  8.20 テープ引出し開口部(図10)・・・・[15]
  •  8.21 テープの引出し開口部への要求事項(図24)・・・・[15]
  •  8.22 MICへの要求事項・・・・[15]
  •  8.22.1 MICアクセス・・・・[15]
  •  8.22.2 識別用切込み(図8及び図10)・・・・[16]
  •  9. テープの機械的特性,物理的特性及び寸法・・・・[32]
  •  9.1 材料・・・・[32]
  •  9.2 テープの長さ・・・・[32]
  •  9.2.1 磁気テープの長さ・・・・[32]
  •  9.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ・・・・[33]
  •  9.2.3 スプライシングテープの長さ・・・・[33]
  •  9.3 テープの幅・・・・[33]
  •  9.3.1 磁気テープ,リーダテープ及びトレーラテープの幅・・・・[33]
  •  9.3.2 スプライシングテープの幅及び位置・・・・[33]
  •  9.4 連続性・・・・[33]
  •  9.5 テープの厚さ・・・・[33]
  •  9.5.1 磁気テープの厚さ・・・・[33]
  •  9.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ・・・・[33]
  •  9.5.3 スプライシングテープの厚さ・・・・[33]
  •  9.6 長手方向の湾曲・・・・[33]
  •  9.7 カッピング・・・・[33]
  •  9.8 磁性面及び磁気テープ裏面の接着強度・・・・[33]
  •  9.9 層間の粘着・・・・[34]
  •  9.10 引張強度・・・・[34]
  •  9.10.1 破断強度・・・・[34]
  •  9.10.2 降伏強度・・・・[34]
  •  9.11 残留伸び・・・・[34]
  •  9.12 磁性面の電気抵抗・・・・[34]

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS X 6145 pdf 4] ―――――

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)目次
  •  9.13 テープの巻き方・・・・[35]
  •  9.14 テープの光透過率・・・・[35]
  •  10. 磁気的特性・・・・[35]
  •  10.1 ティピカル磁界・・・・[35]
  •  10.2 平均信号振幅・・・・[35]
  •  10.3 分解能・・・・[36]
  •  10.4 重ね書き・・・・[36]
  •  10.5 消去特性・・・・[36]
  •  10.6 テープの品質・・・・[36]
  •  10.6.1 ミッシングパルス・・・・[36]
  •  10.6.2 ミッシングパルスゾーン・・・・[36]
  •  10.7 信号対雑音比 (SNR) 特性・・・・[36]
  •  11. フォーマット・・・・[37]
  •  11.1 一般事項・・・・[37]
  •  11.2 基本グループ・・・・[37]
  •  11.2.1 エンティティ・・・・[38]
  •  11.2.2 グループ情報テーブル・・・・[39]
  •  11.2.3 ブロックアクセステーブル (BAT)・・・・[40]
  •  11.3 サブグループ・・・・[43]
  •  11.3.1 G1サブグループ・・・・[43]
  •  11.3.2 G2サブグループ(ランダム化)・・・・[43]
  •  11.3.3 G3サブグループ・・・・[45]
  •  11.4 データブロック・・・・[46]
  •  11.4.1 ID情報・・・・[47]
  •  11.4.2 データブロックヘッダへのID情報の記録・・・・[49]
  •  12. 記録方式・・・・[51]
  •  12.1 記録密度・・・・[51]
  •  12.2 長周期平均ビットセル長・・・・[51]
  •  12.3 短周期平均ビットセル長・・・・[51]
  •  12.4 短周期平均ビットセル長の変動率・・・・[52]
  •  12.5 ビットシフト・・・・[52]
  •  12.6 情報交換時の再生信号振幅・・・・[52]
  •  12.7 最大の記録レベル・・・・[52]
  •  13. トラック・・・・[52]
  •  13.1 トラックの構成・・・・[52]
  •  13.2 平均トラック間隔・・・・[53]
  •  13.3 トラック間隔の変化・・・・[53]
  •  13.4 トラック幅・・・・[53]
  •  13.5 トラック角・・・・[53]
  •  13.6 トラックエッジの直線性・・・・[53]

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS X 6145 pdf 5] ―――――

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JIS X 6145:2000の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 15780:1998(IDT)

JIS X 6145:2000の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 6145:2000の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称

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