JIS X 6144:2000 ８ｍｍ幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ，ＤＡ

この規格ページの目次

JISX6144 規格全文情報
まえがき
pdf 目次
JIS X 6144:2000の引用国際規格 ISO 一覧
JIS X 6144:2000の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6144:2000の関連規格と引用規格一覧

JIS X 6144:2000 規格概要

この規格 X6144は、電子計算機,関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用いる8mm幅,ヘリカル走査記録,DA-2(Dual Azimuth-2)様式,磁気テープカートリッジの構造,寸法,物理的特性,機械的特性,磁気的特性及び情報の規格様式について規定。

JISX6144 規格全文情報

規格番号: JIS X6144
規格名称: 8mm幅,ヘリカル走査記録,情報交換用磁気テープカートリッジ,DA-2様式
規格名称英語訳: 8 mm wide magnetic tape cartridge for information interchange -- Helical scan recording -- DA-2 format
制定年月日: 2000年7月20日
最新改正日: 2019年10月21日
JIS 閲覧: ‐
対応国際規格 ISO: ISO/IEC 15757:1998(IDT)
国際規格分類 ICS: 35.220.23
主務大臣: 経済産業
JISハンドブック: ‐
改訂:履歴: 2000-07-20 制定日, 2004-11-20 確認日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
ページ: JIS X 6144:2000 PDF [77]

                                                                X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人 日本電子工業振興協会 (JEIDA) /
財団法人 日本規格協会 (JSA) から,日本工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があ
り,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,
このような技術的性質をもつ特許権出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登録
出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS X 6144には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定) テープの光透過率の測定法
    附属書B(規定) ビットシフトの測定法
    附属書C(規定) 8ビットバイトから10ビットパターンへの変換
    附属書D(規定) データ領域のCRCの生成
    附属書E(規定) ECCの生成
    附属書F(規定) 論理ブロックのCRCの生成
    附属書G(規定) ハミングコードECCの生成
    附属書H(規定) サーチフィールドのCRCの生成
    附属書J(規定) 乱数化
    附属書K(参考) 輸送条件

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS X 6144 pdf 1] ―――――

                                                                X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

pdf 目次

ページ

序文・・・・[1]
1. 適用範囲・・・・[1]
2. 適合性・・・・[1]
2.1 カートリッジ・・・・[1]
2.2 書込み装置・・・・[1]
2.3 読取り装置・・・・[1]
3. 引用規格・・・・[2]
4. 定義・・・・[2]
4.1 交流消去・・・・[2]
4.2 アルゴリズム・・・・[2]
4.3 追記録点・・・・[2]
4.4 平均信号振幅・・・・[2]
4.5 アジマス・・・・[2]
4.6 裏面・・・・[2]
4.7 ビットセル・・・・[2]
4.8 バイト・・・・[2]
4.9 カートリッジ・・・・[2]
4.10・・・・[2]
4.11 クラスタ・・・・[2]
4.12 巡回冗長検査文字・・・・[2]
4.13 ディジタルサムバリエーション・・・・[2]
4.14 誤り訂正符号・・・・[2]
4.15 ファイルマーク・・・・[2]
4.16 磁束反転間隔・・・・[2]
4.17 LBOP・・・・[2]
4.18 論理ブロック・・・・[2]
4.19 磁気テープ・・・・[2]
4.20 主基準テー・・・・[3]
4.21 パーティション・・・・[3]
4.22 PBOP・・・・[3]
4.23 PBOT・・・・[3]
4.24 PEOP・・・・[3]
4.25 PEOT・・・・[3]
4.26 記録密度・・・・[3]
4.27 リードバックチェック・・・・[3]

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS X 6144 pdf 2] ―――――

2
X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

pdf 目次

4.28 基準磁界・・・・[3]
4.29 二次基準テープ・・・・[3]
4.30 セットマーク・・・・[3]
4.31 標準信号振幅・・・・[3]
4.32 基準電流・・・・[3]
4.33 テープ基準縁・・・・[3]
4.34 試験記録電流・・・・[3]
4.35 トラック・・・・[3]
4.36 ティピカル磁界・・・・[3]
5. 表記法・・・・[3]
5.1 数字の表現・・・・[3]
5.2 エンティティの名称・・・・[4]
5.3 予備フィールド・・・・[4]
6. 略号・・・・[4]
7. 環境条件及び安全性・・・・[4]
7.1 試験環境条件・・・・[4]
7.2 使用環境条件・・・・[4]
7.3 保存環境条件・・・・[5]
7.4 輸送・・・・[5]
7.5 安全性・・・・[5]
7.6 難燃性・・・・[5]
8. ケースの寸法及び機械的特性・・・・[5]
8.1 概要・・・・[5]
8.2 全体の寸法(図5及び図6)・・・・[6]
8.3 保持領域・・・・[6]
8.4 カートリッジ挿入部・・・・[6]
8.5 窓(図1)・・・・[7]
8.6 ローディンググリップ(図5及び図7)・・・・[7]
8.7 ラベル領域(図6及び図8)・・・・[7]
8.8 基準領域及び基準孔(図9,図10及び図11)・・・・[8]
8.9 支持領域(図9)・・・・[8]
8.10 識別孔(図10,図11及び図12)・・・・[9]
8.11 書込み禁止孔(図11及び図12)・・・・[10]
8.12 位置決め面(図4及び図10)・・・・[10]
8.13 リッド(図6及び図13)・・・・[10]
8.14 リールロック(図16)・・・・[11]
8.15 リール受け孔(図10)・・・・[12]
8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域・・・・[12]
8.17 光通過経路(図10,図12,図20及び図21)・・・・[13]
8.18 ケース内のテープの位置(図21)・・・・[14]

――――― [JIS X 6144 pdf 3] ―――――

                                                                                              3
                                                            X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

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8.19 テープ走行領域(図21)・・・・[14]
8.20 テープ引出し開口部(図10)・・・・[14]
8.21 テープの引出し開口部への要求事項(図24)・・・・[14]
9. テープの機械的特性,物理的特性及び寸法・・・・[28]
9.1 材料・・・・[28]
9.2 テープの長さ・・・・[29]
9.2.1 磁気テープの長さ・・・・[29]
9.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ・・・・[29]
9.2.3 スプライシングテープの長さ・・・・[29]
9.3 テープの幅・・・・[29]
9.3.1 磁気テープ,リーダテープ及びトレーラテープの幅・・・・[29]
9.3.2 スプライシングテープの幅及び位置・・・・[29]
9.4 連続性・・・・[29]
9.5 テープの厚さ・・・・[29]
9.5.1 磁気テープの厚さ・・・・[29]
9.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ・・・・[29]
9.5.3 スプライシングテープの厚さ・・・・[29]
9.6 長手方向の湾曲・・・・[29]
9.7 カッピング・・・・[29]
9.8 磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度・・・・[30]
9.9 層間の粘着・・・・[30]
9.10 引張強度・・・・[30]
9.10.1 破断強度・・・・[30]
9.10.2 降伏強度・・・・[30]
9.11 残留伸び・・・・[30]
9.12 磁性面の電気抵抗・・・・[30]
9.13 テープの巻き方・・・・[31]
9.14 テープの光透過率・・・・[31]
9.15 媒体識別システム (MRS)・・・・[31]
10 磁気的特性・・・・[32]
10.1 試験条件・・・・[32]
10.2 ティピカル磁界・・・・[32]
10.3 平均信号振幅・・・・[32]
10.4 分解能・・・・[32]
10.5 狭帯域の信号対雑音比 (NB-SNR)・・・・[32]
10.6 消去特性・・・・[33]
10.7 テープの品質・・・・[33]
10.7.1 ミッシングパルス・・・・[33]
10.7.2 ミッシングパルスゾーン・・・・[33]
10.7.3 重ね書き・・・・[33]

――――― [JIS X 6144 pdf 4] ―――――

4
X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

pdf 目次

11. フォーマット・・・・[33]
11.1 概要・・・・[33]
11.2 物理ブロックのフォーマット・・・・[35]
11.2.1 概要・・・・[35]
11.2.2 共通ヘッダフィールド・・・・[36]
11.2.3 データブロック・・・・[37]
11.2.4 消去ブロック・・・・[38]
11.2.5 診断ブロック・・・・[38]
11.2.6 PBOPブロック・・・・[38]
11.2.7 ロングファイルマークブロック・・・・[39]
11.2.8 ショートファイルマークブロック・・・・[39]
11.2.9 LBOPブロック・・・・[39]
11.2.10 セットマークブロック・・・・[41]
11.2.11 ギャップブロック・・・・[41]
11.2.12 EODブロック・・・・[41]
11.2.13 記録パターン・・・・[42]
11.3 サーチフィールドフォーマット・・・・[43]
11.3.1 サーチフィールドデータ・・・・[43]
11.3.2 サーチフィールドECC・・・・[44]
11.3.3 サーチフィールド記録パターン・・・・[44]
11.4 サーボ領域・・・・[45]
11.5 トラックの配置・・・・[45]
12. 記録方式・・・・[47]
12.1 記録密度・・・・[47]
12.1.1 長周期平均ビットセル長・・・・[47]
12.1.2 短周期平均ビットセル長・・・・[47]
12.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率・・・・[47]
12.2 ビットシフト・・・・[47]
12.3 情報交換時の再生信号振幅・・・・[47]
13. トラックの構成・・・・[47]
13.1 概要・・・・[47]
13.2 平均トラック間隔・・・・[48]
13.3 トラック間隔の変化・・・・[48]
13.4 トラック幅・・・・[48]
13.5 トラック角・・・・[48]
13.6 トラック長・・・・[48]
13.7 ガードバンド・・・・[48]
13.8 アジマス角・・・・[48]
13.9 トラックエッジの直線性・・・・[48]
14. テープの構成・・・・[48]

――――― [JIS X 6144 pdf 5] ―――――

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JIS X 6144:2000の引用国際規格 ISO 一覧

ISO/IEC 15757:1998(IDT)

JIS X 6144:2000の国際規格 ICS 分類一覧

35 : 情報技術.事務機械　>　35.220 : データ蓄積装備　>　35.220.23 : 磁気テープ用カセット及びカートリッジ

JIS X 6144:2000の関連規格と引用規格一覧

規格番号: 規格名称