JIS X 6144:2000 ８ｍｍ幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ，ＤＡ－２様式 | ページ 2

                                                                                              5
                                                            X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

pdf 目次

•  14.1 概要・・・・[49]
•  14.2 テープ履歴ログ (THL)・・・・[49]
•  14.3 PBOP・・・・[49]
•  14.4 LBOP・・・・[50]
•  14.5 データ領域・・・・[50]
•  14.5.1 概要・・・・[50]
•  14.5.2 ショートファイルマーク・・・・[50]
•  14.5.3 ロングファイルマーク・・・・[50]
•  14.5.4 セットマーク・・・・[50]
•  14.6 EOD・・・・[50]
•  14.7 PEOP・・・・[50]
•  附属書A(規定) テープの光透過率の測定法・・・・[51]
•  附属書B(規定) ビットシフトの測定法・・・・[53]
•  附属書C(規定) 8ビットバイトから10ビットパターンへの変換・・・・[55]
•  附属書D(規定) データ領域のCRCの生成・・・・[63]
•  附属書E(規定) ECCの生成・・・・[64]
•  附属書F(規定) 論理ブロックのCRCの生成・・・・[66]
•  附属書G(規定) ハミングコードECCの生成・・・・[67]
•  附属書H(規定) サーチフィールドのCRCの生成・・・・[68]
•  附属書J(規定) 乱数化・・・・[69]
•  附属書K(参考) 輸送条件・・・・[70]

――――― [JIS X 6144 pdf 6] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                            X 6144 : 2000
                                                                       (ISO/IEC 15757 : 1998)
                      8mm幅,ヘリカル走査記録,
                                      情報交換用
                磁気テープカートリッジ,DA-2様式
           8mm widemagnetic tape cartridge for information interchange−
                           Helical scan recording−DA-2 format

序文

 この規格は,1998年に第1版として発行されたISO/IEC 15757, Information technology−Data
interchange on 8mm widemagnetic tape cartridge−Helical scan recording−DA-2 formatを翻訳し,技術的内容及
び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格に記載のIEC規格番号は,1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものである。
これより前に発行された規格については,規格票に記載された規格番号に60000を加えた番号に切り替え
る。これは,番号だけの切替えであり,内容は同一である。

1. 適用範囲

 この規格は,電子計算機,関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用い
る8mm幅,ヘリカル走査記録,DA-2 (Dual Azimuth-2) 様式,磁気テープカートリッジ(以下,カートリ
ッジという。)の構造,寸法,物理的特性,機械的特性,磁気的特性及び情報の規格様式について規定する。
  この規格は,情報交換当事者間で合意した情報交換符号並びにラベル及びファイル構成の規格を用いる
ことでシステム相互の情報交換に適用する。
    備考 この規格の対応国際規格を次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          ISO/IEC 15757 : 1998 Information technology−Data interchange on 8mm wide magnetic tape
              cartridge−Helical scan recording−DA-2 format (IDT)

2. 適合性

2.1 カートリッジ

 カートリッジは,この規格のすべてを満足するとき,この規格に適合する。

2.2 書込み装置

 情報交換用カートリッジに用いる書込み装置は,テープに書き込むすべての記録がこ
の規格に適合するとき,この規格に適合する。
  適合性を表示する場合,次の機能の有無を明示する。
  − 登録した圧縮アルゴリズムの有無及びデータ圧縮の可否。

2.3 読取り装置

 情報交換用カートリッジに用いる読取り装置は,この規格に適合するテープ上の記録
を処理でき,次の機能をもつとき,この規格に適合する。

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X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)
  − 定義したアルゴリズムを用いて圧縮データを識別し,ホストが利用できる登録番号を取り出す。

3. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって,その後の改正版・
追補には,適用しない。
    JIS K 7161 : 1994 プラスチック−引張特性の試験方法 第1部 : 通則
      備考 ISO 527-1 : 1993 Plastics−Determination of tensile properties−Part 1 : General principlesが,こ
                の規格と一致している。
    ISO 1302 : 1992 Technical drawings−Method of indicating surface texture on drawings
    ISO/IEC 11576 : 1994 Information technology−Procedure for the registration of algorithms for the lossless
        compression of data
    IEC 60950 : 1996 Safety of information technology equipment

4. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

4.1 交流消去

 (a.c.erase)減衰する交流磁界を用いた消去。
4.2                          論理的に表現したデータに変換する規則。
      アルゴリズム (algorithm)

4.3 追記録点

 (append point)   ロングファイルマーク,セットマーク又はデータの終端,EODに先行し,
論理ブロックを含む最後のトラック対と2個のギャップストライプに続く最初のトラックにある最初の物
理ブロック。

4.4 平均信号振幅

 (average signal amplitude) 規定の記録密度で記録した磁気テープ上のミッシングパ
ルスのない部分を3 000回以上の磁束反転にわたって測定した読取りヘッドの平均ピーク (P-P) 出力電圧。

4.5 アジマス

 (azimuth)磁束反転とトラックの中心線に垂直な直線との角度。

4.6 裏面

 (back surface) データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。

4.7 ビットセル

 (bit cell)トラックに記録するデータの1ビットの領域。

4.8 バイト

 (byte) 一単位として取り扱われるビット列。
4.9                          一組のリールに巻いた磁気テープを収納したケース。
      カートリッジ (cartridge)

4.10

 チャネルビット (channel bit) 8ビットから10ビットに変換後のビット。

4.11 クラスタ

 (cluster)同種のブロックで連続するブロック群。

4.12 巡回冗長検査文字

 [cyclic redundancy check (CRC)   haracter]誤り検出のために巡回符号として用
いる16ビットの文字。

4.13 ディジタルサムバリエーション

 [digital sum variation (DSV)   ]各トラックの最初からチャネルビッ
ト “1” を+1として “0” を−1とした総和。

4.14 誤り訂正符号

 [error correcting code (ECC)   ]誤りを自動訂正できるように設計した符号。

4.15 ファイルマーク

 (filemark) ファイルを分離するため,又はスプライスポイントを示すためテープ
上に記録するマーク。ロングファイルマーク及びショートファイルマークがある。
                                          一つのトラックに沿って連続する磁束反転位置の長さ。

4.16 磁束反転間隔

 (flux transition spacing)
                                         パーティション内でのデータの記録開始位置。

4.17 LBOP

 (logical beginning of partition)

4.18 論理ブロック

 (logical block) 情報の単位として扱うデータ,ファイルマーク又はセットマーク。

4.19 磁気テープ

 (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

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                                                                X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)
                                                基準磁界,信号振幅,分解能及び重ね書きの標準と

4.20 主基準テー

4.21 パーティション

 (partition)
に分割するために使う。

4.22 PBOP

 (physical beginning of partition)パーティションのテープの長さ方向の始端。

4.23 PBOT

 (physical beginning of tape) テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。

4.24 PEOP

 (physical end of partition)パーティションのテープの長さ方向の終端。

4.25 PEOT

 (physical end of tape) テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。
                                         トラックの長さ1mm当たりに記録する磁束反転数 (ftpmm) 。

4.26 記録密度

 (physical recording density)
                                                書込み中にデータの読取り誤りの有無の検査。

4.27 リードバックチェック

 [read back check (RBC)   ]

4.28 基準磁界

 (reference field)主基準テープのティピカル磁界。
                                                           テープの基準磁界,信号振幅,分解能及

4.29 二次基準テープ

 [secondary standard reference tape (SSRT)   ]
び重ね書きを主基準テープのそれと比較するために用い,その特性値と主基準テープの特性との偏差を明
示して,実測値の偏差を補正することによって,間接的に供試テープと主基準テープとの特性の比較を行
うことを可能にするテープ。
    参考 二次基準テープは,Pericomp社 (14 Huron Drive, Natick, MA 01760 USA) が部品番号
          SSRT/M.AME/PC 97で1998年から10年間供給する。

4.30 セットマーク

 (set mark) データセットを分離するため,又はスプライスポイントを示すためテー
プ上に記録するマーク。
                                                   記録密度3 819ftpmmの信号を試験記録電流で記

4.31 標準信号振幅

 [standard reference amplitude (SRA)   ]
録したときの主基準テープの平均信号振幅。
                                           基準磁界を発生させる記録電流。

4.32 基準電流

 [standard reference current (Ir)   ]

4.33 テープ基準縁

 (tape reference edge)  リールが左側になるようにテープの記録面から見たときのテ
ープの下端。
                                              基準電流の1.5倍の電流。

4.34 試験記録電流

 [test recording current (TRC)   ]
                    磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。

4.35 トラック

 (track)
                                 記録密度3 819ftpmmで記録して,再生したとき,その平均信号振

4.36 ティピカル磁界

 (typical field)
幅が最大値の90%を示す最小の印加磁界。

5. 表記法

5.1 数字の表現

 測定した値は,対応する規定値に対して有効数字に丸める。すなわち,規定値が1.26,
正の許容誤差が0.01,負の許容誤差が0.02である場合,測定した値は,1.235以上1.275未満を許容する。
  16進数は,丸括弧に数字及び英文字で表す。
  ビットの設定は, “0” 又は “1” で表す。
  ビットパターン及び2進数表現の数字は, “0” 又は “1” の列で表す。
  ビットパターン及び2進数表現の数字は,最上位ビットを左とし,最下位ビットを右とする。
  2進数の負の表現は,2の補数で表す。
  各フィールド内では,データバイト0を最上位バイトとし,最初に記録する。各バイト内では,最上位
ビット(8ビットバイトのビット7)を最初に記録する。この順序は,特に規定がない限り,誤り検出符号

――――― [JIS X 6144 pdf 9] ―――――

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X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)
及び誤り訂正符号の入出力にも適用する。

5.2 エンティティの名称

 エンティティの名称は,この規格では規定しない。

5.3 予備フィールド

 resvで示すフィールドは将来の拡張の際に使用し,フィールド内の全ビットは “0”
とする。

6. 略号

 略号を次に示す。
  BID             ブロックID (block identifier)
  CRC             巡回冗長検査 (cyclic redundancy check)
  ECC             誤り訂正符号 (error correcting code)
  EOD             EOD (end of data)
  FID             フィールドID (field identifier)
  LBOP            LBOP (logical beginning of partition)
  lsb             最下位ビット (least significant bit)
  LSB             最下位バイト (least significant byte)
  LID             論理ブロックID (logical block identifier)
  msb             最上位ビット (most significant bit)
  MSB             最上位バイト (most significant byte)
  PBOP            PBOP (physical beginning of partition)
  PEOP            PEOP (physical end of partition)
  PBOT            PBOT (physical beginning of tape)
  PEOT            PEOT (physical end of tape)
  PID             物理ID (physical identifier)
  RBC             リードバックチェック (read back check)
  SID             ストリームID (stream identifier)
  SMID            セットマークID (setmark identifier)
  SRA             標準信号振幅 (standard reference amplitude)
  SSRT            二次基準テープ (secondary standard reference tape)
  TRC             試験記録電流 (test recording current)

7. 環境条件及び安全性

 次に規定する条件は,カートリッジ近傍の環境条件とする。カートリッジをこ
れらの規定を超えた環境に放置した場合,永久的な損傷を与えることがある。

7.1 試験環境条件

 試験環境条件は,規定がない限り次による。
         温度             23℃±2℃
         相対湿度         40%60%
         試験前放置時間   24時間

7.2 使用環境条件

 使用環境条件は,次による。
         温度             5℃45℃
         相対湿度         20%80%
         湿球温度         26℃以下
  カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

――――― [JIS X 6144 pdf 10] ―――――

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