JIS X 6277:2012 ９０ｍｍ／６４０ＭＢ光ディスクカートリッジ

                                                               X 6277 : 2012 (ISO/IEC 15041 : 1997)

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•  序文・・・・[1]
•  第1章 一般事項・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 適合性・・・・[2]
•  2.1 光ディスクカートリッジ(ODC)・・・・[2]
•  2.2 ジェネレーティングシステム・・・・[2]
•  2.3 レシービングシステム・・・・[2]
•  2.4 互換性表示・・・・[2]
•  3 引用規格・・・・[2]
•  4 用語及び定義・・・・[3]
•  5 表記法・・・・[6]
•  5.1 数値表示・・・・[6]
•  5.2 名称・・・・[6]
•  6 略語・・・・[7]
•  7 ODCの概要・・・・[7]
•  8 一般要件・・・・[8]
•  8.1 環境条件・・・・[8]
•  8.2 温度衝撃・・・・[9]
•  8.3 安全性・・・・[9]
•  8.4 耐燃性・・・・[9]
•  9 基準駆動装置・・・・[9]
•  9.1 光学系・・・・[9]
•  9.2 光ビーム・・・・[11]
•  9.3 再生チャネル・・・・[11]
•  9.4 トラッキング・・・・[11]
•  9.5 ディスクの回転・・・・[11]
•  第2章 機械的特性及び物理的特性・・・・[11]
•  10 ケースの寸法特性及び物理的特性・・・・[11]
•  10.1 ケースの概要(図2参照)・・・・[11]
•  10.2 ケースの基準面・・・・[12]
•  10.3 ケースの寸法・・・・[12]
•  10.4 機械的特性・・・・[16]
•  11 ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性・・・・[29]
•  11.1 ディスクの概要・・・・[29]
•  11.2 ディスクの基準軸及び基準面・・・・[29]

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――――― [JIS X 6277 pdf 1] ―――――

X 6277 : 2012 (ISO/IEC 15041 : 1997)

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•  11.3 ディスクの寸法(図13参照)・・・・[29]
•  11.4 機械的特性・・・・[30]
•  11.5 光学特性・・・・[31]
•  12 ODCと駆動装置とのインタフェース・・・・[32]
•  12.1 クランプ方法・・・・[32]
•  12.2 クランプ力・・・・[33]
•  12.3 キャプチャシリンダ(図14参照)・・・・[33]
•  12.4 使用環境条件におけるディスクの位置(図14参照)・・・・[33]
•  第3章 フォーマット・・・・[35]
•  13 トラックの寸法・・・・[35]
•  13.1 トラックの形状・・・・[35]
•  13.2 トラックスパイラルの方向・・・・[35]
•  13.3 トラックピッチ・・・・[35]
•  14 トラックフォーマット・・・・[35]
•  14.1 ロジカルトラック番号・・・・[35]
•  14.2 ロジカルトラックレイアウト・・・・[35]
•  14.3 クロック周波数及び周期・・・・[35]
•  14.4 半径方向のアライメント・・・・[36]
•  14.5 セクタ番号・・・・[36]
•  15 セクタフォーマット・・・・[36]
•  15.1 セクタのレイアウト・・・・[36]
•  15.2 セクタマーク(SM)・・・・[37]
•  15.3 VFOフィールド・・・・[38]
•  15.4 アドレスマーク(AM)・・・・[38]
•  15.5 IDフィールド・・・・[38]
•  15.6 ポストアンブル(PA)・・・・[39]
•  15.7 ギャップ・・・・[39]
•  15.8 同期バイト(Sync)・・・・[39]
•  15.9 データフィールド・・・・[40]
•  15.10 バッファ・・・・[40]
•  16 記録符号・・・・[41]
•  17 情報ゾーンのフォーマット・・・・[42]
•  17.1 情報ゾーンの概要・・・・[42]
•  17.2 情報ゾーンの分割・・・・[42]
•  18 データゾーンのフォーマット・・・・[45]
•  18.1 データゾーンのバッファトラック及び試験トラック・・・・[46]
•  18.2 欠陥管理領域(DMA)・・・・[46]
•  18.3 ディスク定義構造(DDS)・・・・[47]
•  18.4 ゾーンの分割・・・・[50]

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――――― [JIS X 6277 pdf 2] ―――――

                                                           X 6277 : 2012 (ISO/IEC 15041 : 1997)

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•  19 欠陥管理・・・・[52]
•  19.1 書換形グループ : スペアセクタ・・・・[52]
•  19.2 エンボスグループ : パリティセクタ・・・・[54]
•  第4章 エンボス特性・・・・[55]
•  20 試験方法・・・・[55]
•  20.1 使用環境・・・・[55]
•  20.2 基準駆動装置・・・・[55]
•  20.3 信号の定義・・・・[56]
•  21 グルーブからの信号・・・・[57]
•  21.1 クロストラック信号・・・・[57]
•  21.2 最小クロストラック信号・・・・[57]
•  21.3 プッシュプル信号・・・・[58]
•  21.4 デバイデドプッシュプル信号・・・・[58]
•  21.5 位相深さ・・・・[59]
•  21.6 トラックの位置・・・・[59]
•  22 ヘッダ信号・・・・[59]
•  22.1 セクタマーク・・・・[59]
•  22.2 VFO信号・・・・[59]
•  22.3 アドレスマーク,IDフィールド及びポストアンブル・・・・[59]
•  22.4 ジッタ・・・・[59]
•  23 エンボス記録フィールド信号・・・・[60]
•  23.1 信号振幅・・・・[60]
•  23.2 変調オフセット(Modulation Method Offset)・・・・[60]
•  23.3 ジッタ・・・・[60]
•  第5章 記録層の特性・・・・[61]
•  24 試験方法・・・・[61]
•  24.1 試験環境・・・・[61]
•  24.2 基準駆動装置・・・・[61]
•  24.3 記録条件・・・・[62]
•  24.4 消去条件・・・・[64]
•  24.5 信号の定義・・・・[64]
•  25 光磁気特性・・・・[64]
•  25.1 性能指数・・・・[64]
•  25.2 光磁気信号の非対称性・・・・[65]
•  26 記録特性・・・・[65]
•  26.1 分解能・・・・[65]
•  26.2 狭帯域信号対雑音比(NBSNR)・・・・[66]
•  26.3 クロストーク比・・・・[67]
•  26.4 ジッタ・・・・[67]

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X 6277 : 2012 (ISO/IEC 15041 : 1997)

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•  26.5 メディア熱相互作用・・・・[67]
•  27 消去パワーの決定・・・・[67]
•  第6章 ユーザデータの特性・・・・[68]
•  28 試験方法・・・・[68]
•  28.1 試験環境・・・・[68]
•  28.2 基準駆動装置・・・・[68]
•  29 セクタの最低保証品質・・・・[70]
•  29.1 ヘッダ・・・・[70]
•  29.2 ユーザ記録データ・・・・[70]
•  29.3 エンボスデータ・・・・[70]
•  30 データ交換の必要条件・・・・[70]
•  30.1 トラッキング・・・・[70]
•  30.2 ユーザ記録データ・・・・[71]
•  30.3 エンボスデータ・・・・[71]
•  30.4 ディスクの品質・・・・[71]
•  附属書A(規定)ケースのひずみ(歪)量確認方法・・・・[72]
•  附属書B(規定)ODCの可とう(撓)性確認方法・・・・[73]
•  附属書C(規定)IDフィールドのCRC・・・・[75]
•  附属書D(規定)インタリーブ,CRC,ECC及びデータフィールドの再同期化・・・・[76]
•  附属書E(規定)制御ゾーンの内容・・・・[81]
•  附属書F(規定)再同期パターンの決定・・・・[86]
•  附属書G(規定)性能指数の測定・・・・[90]
•  附属書H(規定)NBSNR(狭帯域信号対雑音比)及び ジッタを測定するための再生チャネル・・・・[91]
•  附属書J(規定)記録メディアの互換のための実装独立マーク品質検査(IIMOD)・・・・[94]
•  附属書K(規定)空気清浄度クラス 100 000・・・・[96]
•  附属書L(規定)基準面に関連するODCの位置・・・・[98]
•  附属書M(規定)信号特性が緩和できるゾーン・・・・[99]
•  附属書N(規定)ハブの吸着力の測定方法・・・・[100]
•  附属書P(規定)クロストラック信号の測定方法・・・・[102]
•  附属書Q(参考)トラックの振れ量の測定方法・・・・[103]
•  附属書R(参考)使用環境条件の導出方法・・・・[107]
•  附属書S(参考)輸送・・・・[110]
•  附属書T(参考)オフィス環境・・・・[111]
•  附属書U(参考)現在及び将来の規格で実装される値・・・・[112]
•  附属書V(参考)基板の垂直複屈折の測定・・・・[113]
•  附属書W(参考)交替セクタを利用するときのガイドライン・・・・[115]
•  附属書X(参考)メディアパワー感度評価のためのレーザパワー校正方法・・・・[116]

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――――― [JIS X 6277 pdf 4] ―――――

                                                           X 6277 : 2012(ISO/IEC
                                                               X 6277 : 2012

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                                                                               15041 : 1997)
                                                                           (ISO/IEC 15041 : 1997)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産
業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
  これによって,JIS X 6277:1998は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格に従うことは,次の者の有する特許権等の使用に該当するおそれがあるので,留意する。
  − 氏名 : ソニー株式会社
  − 住所 : 東京都港区港南1-7-1
  − 氏名 : 富士通株式会社
  − 住所 : 神奈川県川崎市中原区上小田中4-1-1
  上記の,特許権等の権利者は,非差別的かつ合理的な条件でいかなる者に対しても当該特許権等の実施
の許諾等をする意思のあることを表明している。ただし,この規格に関連する他の特許権等の権利者に対
しては,同様の条件でその実施が許諾されることを条件としている。
  この規格に従うことが,必ずしも,特許権の無償公開を意味するものではないことに注意する必要があ
る。
  この規格の一部が,上記に示す以外の特許権等に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標
準調査会は,このような特許権等に関わる確認について,責任はもたない。
  なお,ここで“特許権等”とは,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権をいう。

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――――― [JIS X 6277 pdf 5] ―――――

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