101
X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
附属書R
(参考)
現在及び将来の規格で実装される値
この規格は,この規格に適合する光カートリッジを識別するバイトの値を規定する。他のタイプのODC
が将来開発されることを期待し,次の値を他のカートリッジに用いることを推奨する。
R.1 制御トラックのバイト0
ビット64の設定の意味は,次による。
000 角速度一定方式(CAV)
001 線速度一定方式(CLV)
010 ゾーン化された角速度一定方式(ZCAV)
011 ゾーン化された線速度一定方式(ZCLV)
110 ロジカルZCAV
R.2 制御トラックのバイト7
次のビットパターンの意味は,次による。
0000 0000 再生専用カートリッジ(ROM)
0001 0000 不可逆記録を用いる追記形カートリッジ
0001 0001 MO記録を用いる追記形カートリッジ
0010 0000 MO記録を用いる書換形カートリッジ
0010 0010 データ再生に磁界を必要とするMO記録を用いる書換形カートリッジ
0110 0000 DOW記録を用いる書換形カートリッジ
0011 0000 相変化記録を用いる書換形カートリッジ
1001 0000 追記形カートリッジのパーシャルROM
1010 0000 MOのパーシャルROM
1110 0000 部分的にエンボスをもつダイレクトオーバーライト
1011 0000 相変化のパーシャルROM
――――― [JIS X 6279 pdf 106] ―――――
102
X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
附属書S
(参考)
基板の垂直複屈折の測定
駆動装置の性能が良好であるためには,複屈折の平均値及び屈折率だ(楕)円体を検査しなければなら
ない。基板成形処理を適切に制御するため,面内複屈折(IPB)及び垂直複屈折(VB)の両方を高精度で
決定する必要がある。この附属書では,両面に薄膜が形成されていない基板及び薄膜が形成された基板に
適用できる,記録メディアの垂直複屈折を,簡易かつ非接触で測定する方法について記載する。
IPB及びVBは,角度可変形分光エリプソメータ(VASE)を用い,解析的なフィッティング手法によっ
て測定できる。VASEは,少なくとも三つの入射角に対して,直交偏光状態間の位相遅延を測定するよう
設定される。
基板が比較的薄い(1.2 mm)ため,基板の表面反射光と,複屈折による位相シフトを受けるMO層から
の反射光との二つがほとんど重なってしまう。不要な表面反射光を排除するため,薄く(<0.5 mm)硬い,
細長い小さな遮光板を用いる。遮光板は,入射光の反射する位置に,記録メディアにほぼ近接するように
設置される。この遮光板の位置を調整し,反射点での反射信号が最大になるようにする。この状態で,表
面反射光が遮断され,内面(薄膜面)からの底部反射光だけが偏光検出器を通過できる(図S.1参照)。遮
光板を入射光源に近づけすぎた場合には,主光束が遮られ,信号が低下する。反射点から遠ざけすぎた場
合には,両方の反射光が遮られ,再び信号が低下する。このアプローチは,不要な表面反射光を除去する
ための,屈折率整合流体及び光学部品を使用する確立された技術に基づいている。透明基板の場合,VASE
を直進モードに設定し,透過測定することによって可能であり,接触は必要ない。
上記それぞれの場合において,また,両面透明コートされた記録メディアに対して,位相遅延は入射角
の関数として表される。一般に3角度での測定が,VBを確定するために最低限必要である。主光軸がデ
ィスクの円柱座標軸方向に向いている(これはほとんど一般的なケースである)ディスクでは,入射角の
関数としての位相遅延を記録メディアの屈折率(Nr,NΦ,Nz)に関連付ける次の式が成り立つ。位相遅延
データを次に示す非線形解析式にフィッティングさせ,屈折率が決まる。
2 N 2
d Nr sin 2 Nr sin 2
Nz
ここに, Δ : 大気中の入射角θの関数として表される位相遅延量
d : ディスクの厚さ(通常1.2 mm)
複屈折は,次の屈折率間の差となる。
面内 : ΔNin=Nr−NΦ
垂直 : ΔNvert=0.5(Nr+NΦ)−Nz
無単位の複屈折は,ΔNin又はΔNvertを基板の厚さdで乗じることによって,長さの単位で表すことがで
きる。この場合,複屈折は,位相遅延量(nm)として表される。
――――― [JIS X 6279 pdf 107] ―――――
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X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
不要反射光
検出器
プローブ光
ディスク
(a)
a)
不要反射光
光ブロック
プローブ光
ディスク
b)
a) 不要反射光の発生
b) 非接触光ブロック法による不要反射光の除去
図S.1−基板の垂直複屈折の測定方法
――――― [JIS X 6279 pdf 108] ―――――
104
X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
附属書T
(参考)
交替セクタを使用するときのガイドライン
次に示す欠陥セクタを最大値まで(箇条19参照)の交替セクタに置き換えることができる。
a) 一つのセクタ内からIDが読み取れない。
b) 一つのセクタ内の二つのIDのうち,一つだけが読み取れ,先行するセクタと矛盾する。
c) 一つのセクタ内で,80バイトを超える長さの一つの欠陥が検出される。
d) 一つのセクタ内で,欠陥バイトの総数が,80バイトを超えるか,又はセクタの一つのECCインタリ
ーブで4バイトを超える。
――――― [JIS X 6279 pdf 109] ―――――
105
X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
附属書U
(参考)
メディアの感度評価のためのレーザパワー校正方法
U.1 試験条件の変化
24.3.4で規定するメディアの感度の測定に当たっては,メディアの感度Cの値が基準駆動装置に許容さ
れる各種条件に影響されるため,メディア評価装置のレーザパワーを注意深く校正する必要がある。磁性
層のレーザスポットプロファイルは,9.2で規定する基準駆動装置に許容される光学的条件で変わる。記録
パワー感度の観点からの,基準駆動装置に許容される最良条件及び最悪条件を表U.1に示す。最悪条件の
温度のピークは,最良条件の温度のピークから21 %低くなると見積もられる。そのため,メディアの感度
Cは,注意深く評価する必要がある。
表U.1−標準駆動装置に許容される最良及び最悪条件
最良条件 最悪条件
波長(λ) 675 nm 695 nm
λ/NA 1.227 μm 1.263 μm
D/W 0.8 0.9
光ヘッドの波面収差 0 0.033 λ
ディスクのチルト 0 5.2 mrad(半径方向)
ディスクの厚さ変動 0 50 μm
U.2 パワーの校正
評価装置のレーザパワーの校正は,次の手順で行う。正確な校正には,高速フロントパワーモニタを使
用する。
ステップ1
パワーメータによって高速フロントパワーモニタを校正する(図U.1)。
・ 校正は,直流パワーメータを用いて,直流レーザ操作で行うことができる。
・ 記録パルスの波形観測には,高速(>100 MHz)フロントパワーモニタを用いる。
――――― [JIS X 6279 pdf 110] ―――――
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JIS X 6279:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 17346:2005(IDT)