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X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
− ビットの値は,“0”及び“1”とする。
− 2進数及びビットの組合せの数値は,0及び1で表す。
− 2進数及びビットの組合せの数値は,左に最上位ビットを示す。
− 2進数の負の値は,2の補数で表す。
− 各フィールドのデータは,最上位バイト(バイト0)を最初に記録する。8ビットで構成する各バイト
内では,最下位ビット(0番目)を最後に記録し,最上位ビット(7番目)を最初に記録する。この記
録順は,誤り検出訂正回路のデータ入出力にも適用する。
− 特に明記されていない限り,全てのトラック番号はロジカルトラックで表す。
5.2 名称
固有のトラック,フィールドなどの実体の名前は,大文字の頭文字で示す。
6 略語
略語について規定する。
AM Address Mark アドレスマーク
CRC Cyclic Redundancy Check 巡回冗長検査
DDS Disk Definition Structure ディスク定義構造
DMA Defect Management Area 欠陥管理領域
ECC Error Correction Code 誤り訂正符号
FA1 Function Area 1 機能定義領域1
FA2 Function Area 2 機能定義領域2
ID Identifier 識別子
LSB Least Significant Byte 最下位バイト
MO Magneto-Optical 光磁気
MSB Most Significant Byte 最上位バイト
ODC Optical Disk Cartridge 光ディスクカートリッジ
PA Postamble ポストアンブル
PDL Primary Defect List 一次欠陥管理表
RLL(1,7) Run Length Limited (code) (1,7)ランレングス制限符号
R/W Rewritable 書換形
SDL Secondary Defect List 二次欠陥管理表
SM Sector Mark セクタマーク
TIA Time Interval Analyzer タイムインターバルアナライザ
VFO Variable Frequency Oscillator VFO(信号)
ZCAV Zoned Constant Angular Velocity ゾーン化された角速度一定方式
7 ODCの概要
この規格の主題であるODCは,光ディスクを含むケースからなる。
ケースは,ディスクを保護する覆いであり,シャッタによって覆われたアクセス窓をもつ。カートリッ
ジを駆動装置に挿入したとき,シャッタは自動的に開く構造とする。
光ディスクは,一面だけに記録可能とする。データの記録及び消去は,熱磁気効果を用いて記録層の磁
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X 6279 : 2011 (ISO/IEC 17346 : 2005)
化領域に焦点を結ぶ光ビームによって行う。再生は,集束光ビームで光磁気効果を用いてデータを読み取
る。光ビームは,透明なディスクの基板を通して,記録層にアクセスする。
8 一般要件
8.1 環境条件
8.1.1 測定環境
測定環境は,規定がない限り,ODCの近傍で測定し,次のとおりとする。
温度 : 23±2 ℃
相対湿度 : 4555 %
大気圧 : 60106 kPa
空気清浄度 : クラス100 000(附属書J参照)
ODCの中又はディスク上に結露が生じてはならない。ODCは,測定の前に,48時間以上測定環境に慣
らしておかなければならない。光ディスクの表面は,ディスク製造者の条件によって清浄にしておくこと
を推奨する。
別に規定しない限り,全ての試験及び測定は,この測定環境条件で行わなければならない。
8.1.2 使用環境
使用環境は,ODCの近傍で測定し,次のとおりとする。測定環境を満足したODCは,使用環境でデー
タの互換性を保証しなければならない。
温度 : 555 ℃
相対湿度 : 385 %
絶対湿度 : 130 g/m3
大気圧 : 60106 kPa
最大温度勾配 : 10 ℃/h
最大相対湿度勾配 : 10 %/h
空気清浄度 : オフィス環境(Q.1参照)
最大磁界強度(光ビーム照射時) : 36 000 A/m(Q.2参照)
最大磁界強度(光ビーム非照射時) : 48 000 A/m
ODCの中又はディスク上に結露が生じてはならない。ODCは,使用環境条件を外れて保管した場合,
使用前に2時間以上使用環境に慣らしておかなければならない(附属書O参照)。
8.1.3 保存環境
保護の覆いがないODCは,保存環境を外れて保存してはならない。
保存環境は,ODC近傍の雰囲気が次の条件を満たす環境とする。
温度 : −1055 ℃
相対湿度 : 390 %
絶対湿度 : 130 g/m3
大気圧 : 60106 kPa
最大温度勾配 : 15 ℃/h
最大相対湿度勾配 : 10 %/h
空気清浄度 : オフィス環境(Q.1参照)
最大磁界強度 : 48 000 A/m
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ODCの中又はディスク上に結露が生じてはならない。
8.1.4 輸送条件
この規格では規定しないが,附属書Pに従うことを推奨する。
8.2 温度衝撃
ODCは,駆動装置に着脱するとき,20 ℃までの温度衝撃に耐えなければならない。
8.3 安全性
ODCは,指示された方法で使用するとき,又は情報処理システムにおける予測可能な使用において,
ECMA-287の安全性要件を満たさなければならない。
8.4 耐燃性
ODC及びその部品は,ECMA-287に規定するように,HBと同等以上の耐燃性の材料とする。
9 基準駆動装置
基準駆動装置は,明確に定義された特性をもつ幾つかの重要部品からなる駆動装置であり,この規格で
規定する光ディスクの記録特性,再生特性及び消去特性を測定するために用いる。この箇条では,全ての
部品の概要について記述する。特定の箇条での測定に必要な部品については,それぞれの箇条で規定する。
9.1 光学系
記録特性,再生特性及び消去特性を測定するために用いる基準駆動装置の光学系の基本構成は,図1に
示すとおりとする。図1の光学系と同じ動作をする限り,基準駆動装置に用いる部品及び部品の配置は問
わない。ディスクの入射面からの反射光は,測定の精度に影響を与えないように光学系の構成を配慮しな
ければならない。
ディスクによって偏光が変化しないとき,偏光ビームスプリッタJは,フォトダイオードK1の信号とフ
ォトダイオードK2の信号とが等しくなるようにする。この場合の偏光方向をニュートラル偏光方向という。
位相補償器Nは,光学系を,ニュートラル偏光方向の偏光とそれに直角方向の偏光との間の位相の遅れを
2.5°以下に調整しなければならない。この位相補償器の位置は,中立位置という。位相補償器は,狭帯域
信号対雑音比の測定のために用いる(26.2参照)。
偏光ビームスプリッタJは,100以上のP-S強度反射率比をもたなければならない。
偏光ビームスプリッタEのFからHへのニュートラル偏光方向の反射率Rpの公称値は0.30とする。ニ
ュートラル偏光方向及び直角方向の偏光の反射率Rsの公称値は0.95とする。Rsの実際の値は,0.90以上
とする。反射率がR'p及びR'sとなる偏光ビームスプリッタEをもつ駆動装置で光磁気信号の非対称性を測
定した場合,測定値は,次の係数を乗じて補正をしなければならない。
RsR'p
RpR's
チャネル1の出力は,K1とK2とのフォトダイオードの電流値の和とし,エンボスマークの再生に用い
る。
チャネル2の出力は,K1とK2とのフォトダイオードの電流値の差とし,光磁気効果によるユーザ記録
マークの再生に用いる。
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I1 I2
チャネル2
K3
K2
L2
チャネル1
J
M
L1
N K1
H
C D E F G
B
A
A レーザダイオード I1,I2 2分割フォトダイオード出力
B コリメータレンズ J 偏光ビームスプリッタ
C 光整形プリズム K1,K2 フォトダイオード
D ビームスプリッタ K3 2分割フォトダイオード
E 偏光ビームスプリッタ L1,L2 DCアンプ
F 対物レンズ M トラッキングチャネル(20.3参照)
G 光ディスク N 位相補償器
H 1/2 λ波長板
図1−基準駆動装置の光学系
9.2 光ビーム
データの記録,再生及び消去に使用する光ビームは,次の特性をもつ。
a) 波長(λ) 685±10 nm
b) 波長(λ)と対物レンズの開口数(NA)との比 λ/NA=1.245±0.018 μm
c) 対物レンズの開口(D)と1/e2での光ビーム直径(W)との比 D/W=0.85±0.05
d) 波面収差(記録層にて) 00.033λrms
e) 偏光方向 直線 グルーブに対して平行
f) 消光比 ≦0.01
消光比は,検光子を180°以上回転させたとき,測定される光強度の最大値と最小値との比とする。
g) 記録,再生及び消去のための光パワー,パルス幅及び磁界については,20.2.2,24.2.2,24.3,24.4及
び28.2.2で規定する。
9.3 再生チャネル
2個の再生チャネルは,記録層のマークからの信号の再生に用いる。チャネル1は,マークの光ビーム
の回折現象による反射光強度の変化としてエンボスマークを再生する。チャネル2は,マークの光磁気効
果による光ビームのニュートラル偏光方向からのずれをフォトダイオードK1とK2との出力差としてユー
ザ記録マークを再生する。チャネル1及びチャネル2の後の再生信号増幅器は,DCから40 MHzまで±1 dB
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以内の平たん(坦)な応答性とする。ほかに指示がない限り,チャネル1及びチャネル2からの信号は,
検出前に波形等化せず,チャネルクロック周波数の1/2の遮断周波数をもつ三次バターワースローパスフ
ィルタ(3-pole Butterworth low-pass filter)を通す。
9.4 トラッキング
基準駆動装置のトラッキングチャネルは,光ビームの軸方向及び半径方向のトラッキングサーボをする
ためのトラッキングエラー信号を検出する。軸方向のトラッキングエラー信号,すなわちフォーカシング
エラー信号を作る方法は,規定しない。
半径方向のトラッキングエラー信号は,トラッキングチャネルの2分割検出器によって検出する。2分
割検出器の分割線方向は,検出器上のトラック像と平行になるように配置する。
光ビームの焦点のトラック溝に対する追随の精度については,20.2.4による。
9.5 ディスクの回転
駆動軸は,12.4で規定するとおりの回転軸とする。ディスクの回転周波数は,50.0±0.5 Hzとする。回
転方向は,対物レンズから見て反時計回りとする。
第2章 機械的特性及び物理的特性
10 ケースの寸法特性及び物理的特性
10.1 ケースの概要
(図2参照) ケースは,四角形の硬い保護用コンテナである。A面にスピンドル窓があり,駆動装置のスピンドルがハブによってディスクを固定できるようにする。ケースは両面にヘッド窓があり,一つは,駆動装置の光
ヘッド用,もう一つは,磁界を与える磁気ヘッド用である。その窓部は,シャッタで覆われ,ODCを駆動
装置に差し入れたときにシャッタが開き,取り出したときにシャッタが閉じて窓を覆う。ケースには,誤
挿入防止機構,記録禁止機構及び反射率検出機能があり,更に,オートチェンジャ用のグリッパスロット
がある。
10.2 ケースの基準面
ケースの基準は,三つの直交する基準面X,Y及びZとする。基準面Zは,ケースA面上に設けたS1
S4からなる平面とする。三つの基準面は,位置決め孔の中心で直交し,基準面Xは,ロケーション孔及
びアライメント孔の中心を結ぶ線を通る平面とする(附属書K参照)。
10.3 ケースの寸法
ケースの寸法は,測定環境で測定する。使用環境でのケースの寸法は,この箇条で規定する寸法から見
積もることができる。
10.3.1 外形寸法(図3参照)
ケースの全長は,次による。
L1=94.0±0.3 mm
ケースの上端から基準面Xまでの長さは,次による。
L2=76.0±0.2 mm
ケースの下端から基準面Xまでの長さは,次による。
L3=18.0±0.2 mm
ケースの全幅は,次による。
L4=90.0 −00.4
mm
ケースの左端から基準面Yまでの長さは,次による。
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JIS X 6279:2011の引用国際規格 ISO 一覧
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