JIS X 6280:2011 情報交換用１３０ｍｍ／９．１ＧＢ光ディスクカートリッジ | ページ 28

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X 6280 : 2011 (ISO/IEC 22092 : 2002)
                                          附属書Z
                                          (参考)
              メディアの感度評価のためのレーザパワーの校正方法
Z.1   試験条件の変化
  24.3.4で規定するメディアの感度の測定に当たっては,メディアの感度Cの値が基準駆動装置に許容さ
れる各種条件に影響されるため,メディア評価装置のレーザパワーを注意深く校正する必要がある。磁性
層のレーザスポットプロファイルは,9.2で規定する基準駆動装置に許容される光学的条件で変わる。記録
パワー感度の観点からの,基準駆動装置に許容される最良条件及び最悪条件を表Z.1に示す。最悪条件の
温度のピークは,最良条件の温度のピークから21 %低くなると見積もられる。そのため,メディアの感度
Cは,注意深く評価する必要がある。
                      表Z.1−標準駆動装置に許容される最良条件及び最悪条件
                                            最良条件            最悪条件
                   波長(λ)                660 nm              670 nm
                   λ/NA                    1.150 μm           1.165 μm
                   D/W                        0.8                 0.87
                   光ヘッドの波面収差          0                 λ2/330
                   ディスクのチルト            0                2.8 mrad
                   ディスクの厚さ変動          0                 50 μm
Z.2   パワーの校正
  評価装置のレーザパワーの校正は,次の手順で行う。正確な校正には,高速フロントパワーモニタを使
用する。
ステップ1
  パワーメータによって高速フロントパワーモニタを校正する(図Z.1)。
  ・ 校正は,直流パワーメータを用いて,直流レーザ操作で行うことができる。
  ・ 記録パルスの波形観測には,高速(>100 MHz)フロントパワーモニタを用いる。

――――― [JIS X 6280 pdf 136] ―――――

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                                                                X 6280 : 2011 (ISO/IEC 22092 : 2002)
                                     光パワーメータ
                    .mW
                                                             高速フロントパワーモニタ
                                                             (>100 MHz)
              MO信号及び
            サーボ信号検出器
                           半導体レーザ
                                                           オシロスコープ
                               図Z.1−フロントパワーモニタの校正
ステップ2
  記録パルスの形状を直接観測する(図Z.2)。
  ・ 集光状態でのパルスパワーは,半導体レーザの戻り光の影響によって,非集光状態でのパルスパワ
      ーとは異なる。
  ・ 実際の測定条件では,パルスパワー,パルス幅及びアシストパワーレベルを注意深く観測する。
  ・ 2Tマークの孤立パルス及び4Tマークの補助パルスが同一波形であり,4Tマークの二つの記録パル
      スの立上がり及び立下がりが補助パルスと同一であるかどうかを確認する。同一でない場合は,C
      及びEthの測定誤差が大きくなる。
                                                              高速フロントパワーモニタ
                                                              (>100 MHz)
              MO信号及び
            サーボ信号検出器
                           半導体レーザ
                                                            オシロスコープ
                              図Z.2−パルス強度及びパルス幅の測定
ステップ3
  適切なフィルタを用いて,記録パルスパワー及びパルス幅を測定する。

――――― [JIS X 6280 pdf 137] ―――――

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X 6280 : 2011 (ISO/IEC 22092 : 2002)
  ・ カットオフ周波数80 MHzで,(ガウシアン)ローパスフィルタによってリンギングを除去すること
      ができる(図Z.3a)。
  ・ パルスエネルギーを正確に測定するため,高速フロントパワーモニタを利用できない場合は,平均
      パワーレベル測定を推奨する(図Z.3b)。
測定に関する備考
  ・ バイアスパワーレベル
        バイアスパワーレベルPbの測定における誤りが,Cの測定値の重大な誤りを招くことになるため,
      Pbの測定は注意深く(±0.05 mWの精度で)行う。
  ・ ディスクの温度
        ディスクの温度は,25 ℃±1 ℃に保つ。評価装置が密閉している場合,内部温度が上昇する場合
      がある。
  ・ 迷光
        光ヘッド内の迷光が対物レンズに入射し,迷光のスポットを形成することもある。光ビームスポ
      ットにおける温度上昇が小さくても,対物レンズを通した光パワーの測定値は大きい場合がある。
  ・ 光部品(特に対物レンズ)の汚れ
        光がちり(塵)などで吸収される場合,対物レンズを通過後の光パワーは減少する。これはパワ
      ーメータで測定することができるため,混乱は生じない。光を散乱させる場合は,対物レンズを通
      過した全ての光パワーが,メディアの温度上昇に対して有効なわけではない。定期的に清掃を行う
      必要がある。
  ・ ビームスポットの大きさ
        記録メディアの感度の測定の前に,評価装置のビームプロファイルを光ナイフエッジ法で検査す
      るのが望ましい。測定したスポットの直径が,基準駆動装置の最良の直径である1.08 μmからかけ
      離れていない場合,ディスクの傾斜などの上記の条件を注意深く調整するのが望ましい。

――――― [JIS X 6280 pdf 138] ―――――

                                                                                            133
                                                                X 6280 : 2011 (ISO/IEC 22092 : 2002)
                        図Z.3a−ローパスフィルタによるリンギングの除去
                Tp       1周期                   Pw−(Pa−Pb)×(1周期)/Tp + Pb
                                      ローパスフィルタ
                                      (~100 kHz)                         平均パワーレベル
      Pw
                                                      b
                                                                   a
                                                     P
                                                                  P
                                  Pb
                        図Z.3b−平均パワーレベルからのパルスパワー決定
                  図Z.3−平均パワーレベルからパルスパワーを正確に決定する方法

――――― [JIS X 6280 pdf 139] ―――――

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X 6280 : 2011 (ISO/IEC 22092 : 2002)
                                         附属書AA
                                          (参考)
        512バイトセクタ及び1            024バイトセクタのエミュレーション
  この規格は,セクタエミュレーションの技術を通して,512バイト及び1 024バイトのインクリメントに
おけるデータの記録を提供する。512バイト又は1 024バイトのブロックサイズに含まれるユーザデータを,
4 096バイト物理セクタだけを含むカートリッジに記録することができる。結果として,一定のセクタが部
分的に一杯になることもある。この状態のとき,セクタの残りの部分は,パッドデータが記録される。ユ
ーザデータ及びパッドデータは,4 096バイトセクタに適用されるECC規則及びCRC規則に従って,その
セクタに記録される。
  駆動装置は,物理セクタの一部に含まれる既存のユーザデータを書き換える。これを行うために,物理
セクタからデータを読み取りバッファメモリに入れ,ユーザデータを抽出して新しいデータを添付し,こ
の新しいフィールドが前のフィールドに置き換わる。
  一つのロジカルトラックの先頭,及びその前のロジカルトラックの最終は,物理的な4 096バイトセク
タを共有する。エミュレートセクタサイズを一つだけ単一のカートリッジ上に記録してもよい。
  エミュレーションオフセットは,エミュレートセクタ記録が始まる最初のフィジカルトラック内の位置
を表す。これは,エミュレートセクタで測定したオフセットとして規定される。通常の場合,オフセット
は0に設定する。