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X 6282 : 2009
対物レンズのひとみ(瞳)
の縁での強度
接線方向 : 最大光強度の70 %以上
半径方向 : 最大光強度の50 %以上
読取りパワー : スポット中央部,CWで最大0.7 mW
注記 上記のすべての測定において,再生用等価回路は使用しない。
c) 記録用光ピックアップヘッド 3.2に規定するすべての特性の測定及びディスクの測定のために使用
する記録用光ピックアップヘッドの特性を,次に示す。
波長 : 785 nm±10 nm
開口数NA : 0.50±0.01
偏光 : 円偏光
単層ディスクの理想基板 : 最大0.05 λ rms
を通過した後の波面収差
(厚さ1.2 mm,屈折率
1.55)
対物レンズのひとみ(瞳)
の縁での強度
接線方向 : 最大光強度の(14±4)%
半径方向 : 最大光強度の(70±10)%
レーザ強度
読取りパワー : スポット中央部,CWで最大0.7 mW
記録パワー : 記録ストラテジとOPCとによる。
1.8.1.1 c) に規定する光ピックアップヘッドを用いる場合は,附属書Aによる記録ストラテジを使用しな
ければならない。
1.8.2 クランプ(JIS X 6281の5.1.2参照)
ディスクは,適用可能であれば,最小29 mmの内径をもち,最大31 mmの外径をもつ二つの同心円の
間で,1 N2 Nの範囲の力で保持しなければならない。
1.8.3 標準試験環境条件
測定及び機械的検査は,他に特記がない限り,次の制限内の温度・湿度・気圧の任意の組合せで実施す
る。
温度 : 15 ℃35 ℃
相対湿度 : 45 %75 %
気圧 : 86 kPa106 kPa
1.8.4 特定試験環境条件(JIS X 6281の5.1.4参照)
特定試験環境と特記してある場合,試験及び測定は,次の条件下で行わなければならない。
温度 : 21 ℃25 ℃(結露が生じない条件で)
相対湿度 : 45 %55 %
大気圧 : 86 kPa106 kPa
試験前放置時間 : 最小24時間
――――― [JIS X 6282 pdf 11] ―――――
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X 6282 : 2009
1.8.5 動作環境条件(JIS X 6281の5.2参照)
ディスクは図1.1に与える範囲で記録可能でなければならない。
温度 : −5 ℃+55 ℃
絶対湿度 : 0.5 g/m330 g/m3
相対湿度 : 5 %95 %
1.8.6 保存環境条件(JIS X 6281の5.3参照)
保存環境は,次のとおりとする。
温度 : −20 ℃+50 ℃(結露が生じない条件で)
相対湿度 : 5 %90 %
最大湿球温度 : +29 ℃
大気圧 : 75 kPa105 kPa
図1.1−動作環境
1.8.7 難燃性
ディスク及びその構成要素は,HB材料の難燃性クラス以上に適合する材料で作る(ECMA-287参照)。
――――― [JIS X 6282 pdf 12] ―――――
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X 6282 : 2009
2 ディスクの一般規定
2.1 寸法特性,機械的特性及び物理的特性
2.1.1 基準面
基準面Pは,主基準面であって,クランプ領域(2.1.4参照)の底面の位置にある面とする。基準面Q
は,クランプ領域の上面の位置にある,基準面Pと平行な面とする。
2.1.2 中心孔
ディスクの中心孔の直径d1は,次のとおりとする(図2.1及び図2.2参照)。
1.00
d1 =15 0. mm mm
直径d1は,特定試験環境条件で測定しなければならない(1.8.4参照)。
中心孔の底縁は,第1遷移領域(2.1.3参照)の底面の上に,
h1≦0.1 mm
の高さまで,次の角度 林打 りを施してよい。
懿 45°
なお,この縁は,0.1 mm未満の半径で丸くしてもよい。
中心孔の上縁には,ばりがあってもよいが,その高さh2は,
h2≦0.2 mm
まで第1遷移領域に,あってもよい。
2.1.3 第1遷移領域
ディスクの第1遷移領域は,図2.1に示す直径d1からd2までの範囲とし,次の条件を満足しなければな
らない。
d2≦26 mm
第1遷移領域全体において,ディスクの上面は,基準面Qからh3まで低くてよく,
h3≦0.2 mm
とする。また,ディスクの底面は,基準面Pからh4まで高くてもよく,
h4≦0.2 mm
とする。
さらに,第1遷移領域のうち,20 mm以上,26 mm以下で定義される部分においては,ディスクの上面
は,基準面Qからh5まで低くてよく,
h5≦0.4 mm
とする。
ディスクの底面は,基準面Pからh6まで高くてよく,
h6≦0.4 mm
とする。
2.1.4 クランプ領域
クランプ領域は図2.1での,直径d2の最大値から直径d3までの範囲とする。ここでd2及びd3は,次の
とおりとする。
d3≦33 mm
クランプ領域の底面は,平面度が0.1 mm以内であって,基準面Pになければならない。
クランプ領域の上面は,基準面Pとの平行度は0.2 mm以下でなければならず,それが基準面Qを定義
する。
――――― [JIS X 6282 pdf 13] ―――――
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X 6282 : 2009
基準面Pからの上面の高さh7は,次のとおりでなければならない。
3.01.0
h7 =2.1 mm mm
2.1.5 第2遷移領域
ディスクの第2遷移領域は,スタックリングを形成するための領域で,図2.1に示す直径d3から直径d4
までの範囲とする。ここでd4は,次のとおりとする。
基準面P側 : d4≦39.5 mm
基準面Q側 : d4≦44.0 mm
この領域において,ディスク底面は,基準面Pからh8まで高くてよく,基準面Pからh9まで低くてよ
い。ここでh8及びh9は,次のとおりとする。
h8≦0.4 mm
h9≦0.4 mm
この領域において,ディスク上面は,基準面Qからh10まで高くてよく,基準面Qからh11まで低くて
よい。ここでh10及びh11は,次のとおりとする。
h10≦0.4 mm
h11≦0.4 mm
2.1.6 第3遷移領域
ディスクの第3遷移領域は,スタックリングと光ピックアップヘッドとが干渉しないための緩衝領域で,
図2.1に示す直径d4d5の範囲とする。ここでd5は,次のとおりとする。
003
d5 =45 .00 mm.0 mm
2.1.7 情報領域
情報領域は,図2.1に示す直径d5d6の範囲とする。ここでd6は,次のとおりとする。
d6≦118.0 mm
情報領域は,次の各領域で構成する(附属書C参照)。
a) CA領域
b) MA領域
c) リードイン領域
d) 利用者データ領域
e) リードアウト領域
f) 外周バッファ領域
直径d5d6の範囲のディスクの構成は,次のとおりとする(図2.3参照)。
− 透明基板
− 反射層
− 保護層
− ラベル
ラベルは,直径d5から直径d6までの範囲を超えてもよい。
基準面Pからラベルまでの高さh12は,次のとおりでなければならない。
3.01.0
h12 =2.1 mm mm
透明基板の厚さeは,次のとおりでなければならない。
e=1.2 mm±0.1 mm
透明基板の底面は,基準面P上になければならない。
――――― [JIS X 6282 pdf 14] ―――――
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X 6282 : 2009
透明基板の屈折率は,1.55±0.1でなければならない。
透明基板の複屈折は,ダブルパスで測定し,最大100 nmでなければならない。
2.1.8 周縁領域
周縁領域は,図2.1及び図2.4に示すとおり直径d6d7の範囲とする。ここでd7は,次のとおりとする。
d7=120.0 mm±0.3 mm
この直径d7は,特定試験環境で測定しなければならない(1.8.4参照)。
中心孔に内接する最大円に対する同心度は,0.2 mm以下でなければならない。
周縁領域のうち,直径d6d8の範囲では,d8は,次の条件をどちらも満足しなければならない。
d8≧d6及び
117.7 mm≦d8≦118.3 mm
ディスクの底面は,基準面P上になければならず,基準面Pからのディスク上面までの高さはh12に等
しくなければならない。ただし,直径d8d7の範囲では,ディスクの底面は,基準面Pからh13まで低く
てよく,ディスクの上面は,h12よりh14高くてよい。
h13≦0.1 mm
ただし,h14は,次の条件を満足しなければならない(図2.5参照)。
h14+0.7×(h12−1.2) ≦0.10 mm
図2.1−ディスクの断面概要図
図2.2−中心孔の断面概要図
――――― [JIS X 6282 pdf 15] ―――――
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JIS X 6282:2009の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6282:2009の関連規格と引用規格一覧
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