JIS X 6305-1:2010 識別カードの試験方法―第１部：一般的特性

                                                            X 6305-1 : 2010 (ISO/IEC 10373-1 : 2006)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 指定がない場合の試験環境及び条件・・・・[3]
•  4.1 試験環境・・・・[3]
•  4.2 事前調整・・・・[3]
•  4.3 試験方法の選択・・・・[3]
•  4.4 ほかに規定がない場合に適用される公差・・・・[4]
•  4.5 総合的な測定不確定性・・・・[4]
•  5 試験方法・・・・[4]
•  5.1 カードの反り・・・・[4]
•  5.2 カードの寸法・・・・[4]
•  5.3 はく離強度・・・・[5]
•  5.4 耐化学薬品性・・・・[7]
•  5.5 カードの温度及び湿度に対する寸法安定性及び反り・・・・[9]
•  5.6 粘着性又は接着性・・・・[9]
•  5.7 曲げ強さ・・・・[9]
•  5.8 動的曲げ力(曲げ特性)・・・・[11]
•  5.9 動的ねじり力・・・・[13]
•  5.10 不透過度・・・・[14]
•  5.11 耐紫外線性・・・・[17]
•  5.12 耐X線性・・・・[17]
•  5.13 耐静的磁界性・・・・[18]
•  5.14 エンボス文字の高さ・・・・[18]
•  5.15 耐熱性・・・・[18]
•  5.16 外観ゆが(歪)み及び盛上がり・・・・[20]

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X 6305-1 : 2010 (ISO/IEC 10373-1 : 2006)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人ビジネス
機械・情報システム産業協会(JBMIA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工
業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工
業規格である。
  これによって,JIS X 6305-1:2003は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責
任はもたない。
  JIS X 6305の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS X 6305-1 第1部 : 一般的特性
    JIS X 6305-2 第2部 : 磁気ストライプ付きカード
    JIS X 6305-3 第3部 : 外部端子付きICカード及び接続装置
    JIS X 6305-5 第5部 : 光メモリカード
    JIS X 6305-6 第6部 : 外部端子なしICカード−近接型
    JIS X 6305-7 第7部 : 外部端子なしICカード−近傍型

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           X 6305-1 : 2010
                                                                     (ISO/IEC 10373-1 : 2006)

識別カードの試験方法−第1部 : 一般的特性

Identification cards−Test methods−Part 1: General characteristics

序文

  この規格は,2006年に第2版として発行されたISO/IEC 10373-1を基に,技術的内容及び対応国際規格
の構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格を含むJIS X 6305(規格群)は,JIS X 6301に基づく識別カード(以下,IDカード又は単にカ
ードという。)の特性試験方法について規定する。各試験方法は,一つ以上の基本規格と相互に参照される。
基本規格とは,例えば,JIS X 6301又はIDカードを使ったアプリケーションで利用する情報記憶技術に関
する追加の規格などである。
  この規格では,一つ以上のカード技術に共通な試験方法を規定する。この規格の第2部以降は,それぞ
れの技術固有な試験方法を規定する。
    注記1 適合基準はこの規格の中にはなく,基本規格の中に規定する。
    注記2 この規格で規定する試験方法は,項目別に実施される。1枚の供試カードを用いて,すべて
            の項目を順番に試験する必要はない。
    注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            ISO/IEC 10373-1:2006,Identification cards−Test methods−Part 1: General characteristics (IDT)
              なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,一致していることを
            示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0031:2003 製品の幾何特性仕様 (GPS)−表面性状の図示方法
      注記 対応国際規格 : ISO 1302:2002,Geometrical Product Specifications (GPS)−Indication of surface
             texture in technical product documentation (IDT)
    JIS K 6258:2003 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−耐液性の求め方
      注記 対応国際規格 : ISO 1817:1999,Rubber, vulcanized−Determination of the effect of liquids (MOD)
    JIS L 0848:2004 汗に対する染色堅ろう度試験方法
      注記 対応国際規格 : ISO 105-E04:1994,Textiles−Tests for colour fastness−Part E04: Colour fastness to

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X 6305-1 : 2010 (ISO/IEC 10373-1 : 2006)
             perspiration (MOD)
    JIS X 6301:2005 識別カード−物理的特性
    JIS X 6305-2 識別カードの試験方法−第2部: 磁気ストライプ付きカード
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 10373-2,Identification cards−Test methods−Part 2: Cards with magnetic
             stripes (IDT)
    ISO 9227:1990 Corrosion tests in artificial atmospheres−Salt spray tests

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
試験方法 (test method)
  規格に適合していることを確認するために,カードの特性を試験する方法。
3.2
機能残存 (testably functional)
  破壊を招く危険性がある幾つかの試験に対して,次に示す機能が試験後に残存していること。
a) 磁気ストライプでは,試験の前後に計測される信号振幅の関係が基本規格に従っている。
b)   Cでは,初期応答が基本規格に従っている。
      注記 この規格では,ICカードの完全な試験方法を網羅していない。この試験方法は,最低限の機
            能確認をするにすぎない。必要に応じて機能項目を加えて適用してもよい。
c) 外部端子では,電気抵抗及びインピーダンスが基本規格に従っている。
d) 光メモリでは,光学特性が基本規格に従っている。
3.3
反り (warpage)
  カード平面性におけるゆがみ。
3.4
エンボス文字の凸部の高さ [embossing relief height (of a character)   ]
  エンボス加工によって発生する,カード表面からのエンボス凸部の高さ。
3.5
はく離強度 (peel strength)
  カードの構造を形成する素材について,隣接層間を分離させる力に抵抗する接着の程度。
3.6
耐化学薬品性 (resistance to chemicals)
  通常の化学薬品にさらされたために生じるカードの性能,及び外観の変化に対するカードの抵抗力。
3.7
寸法安定性 (dimensional stability)
  規定の温度及び湿度にさらされたために生じる,寸法変化に対するカードの抵抗力。
3.8
粘着性又は接着性 (adhesion or blocking)
  新しいカードが積み重ねられて固着する度合い。

――――― [JIS X 6305-1 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                            X 6305-1 : 2010 (ISO/IEC 10373-1 : 2006)
3.9
静的曲げ強さ (bending stiffness)
  静的な曲げに対するカードの抵抗力。
3.10
動的曲げ力 (dynamic bending stress)
  カードに対して,規定の強さ及び方向で周期的に加える曲げ力。
3.11
動的ねじり力 (dynamic torsional stress)
  カードに対して,規定の強さ及び方向で周期的に加えるねじり力。
3.12
光透過係数,T [(optical)   ransmittance factor,T ]
  試料を透過した測定光束と,測定装置のサンプリング開口部から試料を除去したときの測定光束との比
率。次の式で表される。
                        T=Φτ /Φj
                      ここに,         T :  光透過係数
                                      Φτ :  透過した光束
                                      Φj :  開口部光束
    注記 JIS X 6301: 2005まで適用できる。
3.13
不透過度(光透過濃度),DT [opacity,(optical)   ransmission density,DT]
  透過係数の逆数の常用対数。次の式で表される。
                        DT =log10 1/T=log10Φj / Φτ
                      ここに,          T :  光透過係数
                                       Φτ :  透過した光束
                                       Φj :  開口部光束
    注記 JIS X 6301: 2005まで適用できる。
3.14
通常の使用 (normal use)
  カード技術及び個人情報の記憶媒体に適したカードリーダライタ側の処理を含むIDカード(JIS X 6301
参照)としての使用。

4 指定がない場合の試験環境及び条件

4.1 試験環境

  ほかに規定がない場合,試験は温度23 ℃±3 ℃,及び相対湿度40 %60 %の環境で行う。

4.2 事前調整

  試験方法によって事前調整が必要な場合,試験するIDカードは,試験前に24時間,上記試験環境にな
じませる。

4.3 試験方法の選択

  試験では,関連する基本規格によって定義されたカードの特性を試験する。

――――― [JIS X 6305-1 pdf 5] ―――――

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