JIS X 6305-1:2010 識別カードの試験方法―第１部：一般的特性 | ページ 2

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X 6305-1 : 2010 (ISO/IEC 10373-1 : 2006)

4.4 ほかに規定がない場合に適用される公差

  ほかに規定がない場合,試験装置の特性,試験手順で試験装置の調整範囲などを表す量的な値(長さで
表される寸法など)に対して±5 %の公差を適用する。

4.5 総合的な測定不確定性

  これらの試験方法によって決定される各数量の総合的な測定の不確かさは,試験報告書に記録する。

5 試験方法

5.1 カードの反り

  この試験は,供試カードの反りの程度を測定することを目的とする。
5.1.1  試験装置
  0.05 mmの最小精度をもつ投影器又は同等の測定装置とする。
5.1.2  試験手順
  試験前に4.2に従って供試カードを事前調整し,4.1で規定する試験環境下で試験を実施する。
  供試カードを測定装置の定盤上に置く。盤上には,カードの少なくとも三つの隅が接しなければならな
い(カードの反りは盤上に対して凸状とする。)。カードの上面の最大変位箇所で,カードの反りを読み取
る(図1参照)。
    注記 最大変位箇所は,必ずしもカードの中心とは限らない。
                                図1−投影器による反り測定の方法
5.1.3  試験報告書
  試験報告書には,最大変位箇所で測定した値を記録する。

5.2 カードの寸法

  この試験は,供試カードの長辺,短辺及び厚さを測定することを目的とする。
5.2.1  カードの厚さ測定
5.2.1.1  試験装置
  試験装置は,測定子の直径が3 mm8 mmで先端が平たんなアンビル及びスピンドルを備えた,精密さ
が0.005 mmのマイクロメータを用いる。
5.2.1.2  試験手順
  試験前に4.2に従って供試カードを事前調整し,4.1で規定する試験環境下で試験を実施する。
  試験は,カードを4分割しそれぞれの象限で1か所ずつ,合計4か所でマイクロメータを使って,カー
ドの厚さを測定する(分割位置は,図2参照)。測定は,カードの署名パネル,磁気ストライプ,端子(外
部端子付きICカード),又はその他の突起部がない位置で行う。マイクロメータの測定力は,3.5 N5.9 N

――――― [JIS X 6305-1 pdf 6] ―――――

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とする。
5.2.1.3  試験報告書
  試験報告書には,4か所の測定値の最小値及び最大値を記録する。
                                         図2−分割位置
5.2.2  カードの長辺及び短辺寸法の測定
5.2.2.1  試験装置
a)   IS B 0031に従った,平均表面粗さが3.2 μm以下の定盤。
b) 精密さが2.5 μmの測定装置。
c) 2.2 N±0.2 Nの荷重がかけられるもの。
5.2.2.2  試験手順
  試験前に4.2に従って供試カードを事前調整し,4.1で規定する試験環境下で試験を実施する。
  供試カードを定盤に置き,荷重をかけて平らにし,カードの長辺及び短辺寸法を測定し,最大値及び最
小値を求める。
5.2.2.3  試験報告書
  試験報告書には,カードが基本規格に適合しているかどうかのほか,長辺及び短辺寸法の最大値と最小
値とを記録する。

5.3 はく離強度

  この試験は,供試カードの各層間のはく離強度を測定することを目的とする。
5.3.1  試験装置
a) 鋭利なナイフ
b) 強力な接着テープ又はクランプ装置
c) グラフレコーダ付き引張試験機又は同等品
d) つかみ装置
e) 必要に応じて接着剤又は接着テープが付いた,次の要件を満たす裏当て板
  1) 試験中に板とカードとがはがれない程度の接着力をもつもの。
  2) 測定中に板が曲がらないもの。
  3) 板の大きさは,カードの大きさと同等かそれ以上とする。

――――― [JIS X 6305-1 pdf 7] ―――――

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X 6305-1 : 2010 (ISO/IEC 10373-1 : 2006)
    例 適切な板としては,接着テープが付いた60 mm×90 mm×2 mmのアルミニウム裏当て板がある。
5.3.2  試験手順
  試験前に4.2に従って供試カードを事前調整し,4.1で規定する試験環境下で試験を実施する。
  図3に示すように,カードを切断するか,又は層を貫く切れ目を入れ,幅10 mm±0.2 mmの試験片を作
成する。
                                                                        単位 mm
                            図3−カードのはく離強度試験に対する準備
  図4に示すように,鋭利なナイフを使って,コア材から約10 mmの長さの層をはがし,はく離させた層
の端に接着テープをは(貼)るか又はクランプ装置で挟む。
                                  図4−はく離供試試験片の準備
  測定中にはく離角度を90°に保持できない場合は,あらかじめ裏当て板をコア材に取り付ける。
  図5に示すように,準備した試験片を引張試験機に取り付ける。カードは装置に固定する。

――――― [JIS X 6305-1 pdf 8] ―――――

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                                図5−引張試験機に取り付けた試料
  300 mm/minの引張速度で引張試験機を操作し,はく離強度を測定する。
  図6に示すように,最初及び最後の5 mmの部分並びに長さ1 mm以下のはく離強度測定値(スパイク)
を除外し,最小のはく離強度値をもつ試験片を見つける。これを,カードのはく離強度として記録する。
    注記 図6に示す寸法は,カード上での寸法である。
                                                                                      単位 mm
                                 図6−はく離強度グラフの記録例
5.3.3  試験報告書
  試験報告書には,測定したはく離強度のほか,試験片番号を記載する。また,記録した最小値の位置を
明確に示すグラフ記録も添付する。さらに,はく離が発生したかどうかについても,記録する。
  はく離が不可能で,はく離試験を行わなかった場合も,それを記録する。

5.4 耐化学薬品性

  この試験は,化学汚染物質が供試カードに及ぼす影響を評価することを目的とする。

――――― [JIS X 6305-1 pdf 9] ―――――

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5.4.1  試薬の仕様
5.4.1.1  短期間の汚染試験用溶液
a) 5 %の食塩水(純度98 %以上のNaClを使用する。)
b) 5 %の酢酸水(純度99 %以上のCH3COOHを使用する。)
c) 5 %の炭酸ナトリウム水溶液(純度99 %以上のNa2CO3を使用する。)
d) 60 %のエチルアルコール水溶液(純度93 %以上のCH3CH2OHのエタノールを使用する。)
e) 10 %の砂糖水(純度98 %以上のC12H22O11を使用する。)
f)  B液(JIS K 6258による。)
g) 50 %のエチレングリコール水溶液(純度98 %以上のHOCH2CH2OHを使用する。)
5.4.1.2  長期間の汚染試験用溶液
a) 塩水噴霧
b) 人工汗液(両溶液共に,JIS L 0848に従って準備する。)
  1) アルカリ性溶液
  2) 酸性溶液
5.4.2  試験手順
  個々の試験ごとに異なる供試カードを使用する。
  試験前に4.2に従って供試カードを事前調整し,4.1で規定する試験環境下で試験を実施する。
  試験前に各カードの外観を確認するため,目視検査を行い,その結果を記録する。
  基本規格が要求する試験前測定を行う。
  磁気ストライプ付きのカードでは,Iminの試験記録電流を使用し,20磁束反転/mm(又は基本規格が要
求する試験記録電流及び磁束反転密度)で各供試カードを記録し,信号振幅を読み取り,記録する。
  5.4.2.1及び5.4.2.2に示す短期間又は長期間の汚染試験を行う。
  B液[5.4.1.1 f)]から取り出した後,直ちにカードに残っている液を吸収性ティッシュでふき取り,換
気された雰囲気中で15分間以上乾燥させる。
  その他の溶液[5.4.1.1 a)   e)又はg)]から取り出した後,直ちにカードに残っている液を蒸留水で洗浄
し,吸収性ティッシュでふき取り乾燥させる。
  基本規格が要求する試験後測定を行う。
  磁気ストライプ付きのカードでは,試験前測定に使用した装置で信号振幅を読み取り,その結果を試験
開始時に測定した信号振幅と比較する。
  カードを目視検査して,外観に及ぼした試験の影響を評価し,その結果を記録する。
5.4.2.1  短期間の汚染
  5.4.1.1に列記した各々の溶液を20 ℃25 ℃の温度に保持し,カードを1分間浸す。
5.4.2.2  長期間の汚染
  ISO 9227: 1990に従って,キャビネット内に取り付けたカードに塩水を24時間噴霧する(5.4.1.2参照)。
  各供試カードを人工汗液に24時間浸す(5.4.1.2参照)。
5.4.3  試験報告書
  試験報告書には,試験終了後カードが試験可能な機能残存(3.2参照)かどうかを記し,次の結果を記録
する。
a) 基本規格が要求する試験前及び試験後の結果
b) 目視検査結果

――――― [JIS X 6305-1 pdf 10] ―――――

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