JIS Z 2344:1993 金属材料のパルス反射法による超音波探傷試験方法通則

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             Z 2344-1993

金属材料のパルス反射法による超音波探傷試験方法通則

General rule of ultrasonic testing of metals by pulse echo technique

1. 適用範囲 この規格は,パルス反射法による基本表示(Aスコープ表示)方式で,金属材料の不健全
部を検出し評価する超音波探傷試験(以下,試験という。)の一般事項について規定する。
    備考 この規格の引用規格を,次に示す。
    JIS Z 2300 非破壊試験用語
    JIS Z 2345 超音波探傷用標準試験片
    JIS Z 2350 超音波探触子の性能測定方法
    JIS Z 2352 超音波探傷装置の性能測定方法
    JIS Z 2354 超音波パルス反射法による固体の超音波減衰係数の測定方法
2. 用語の定義 この規格に用いる主な用語の定義は,JIS Z 2300による。
3. 探傷図形の表示
3.1   基本記号 探傷図形を表す基本記号は,次のとおりとし,その例を図1に示す。
  T  :  送信パルス
  F  :  きずエコー
  B  :  底面エコー(端面エコー)
  S  :  表面エコー(水浸法など)
  W  :  側面エコー

――――― [JIS Z 2344 pdf 1] ―――――

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Z 2344-1993
                                    図1 探傷図形の基本記号
3.2   付帯記号 付帯記号は,次による。
(1) 識別符号 同一の基本記号を用いて表示しなければならないエコーについて,反射源が2個以上ある
    場合には,図2(きずが2個の場合を示す。)に示す基本記号の右下にa,b,c,······の英小文字を付

――――― [JIS Z 2344 pdf 2] ―――――

                                                                                              3
                                                                                    Z 2344-1993
    けて区別する。
        図2 基本記号で表示しなければならないエコーの反射源が2個以上ある場合の記号表示
(2) 多重反射の記号 多重反射図形において,同一の反射源からのエコーを区別する必要がある場合には,
    図3(底面反射4回の場合を示す。)のように基本記号の右下に1,2,······,nの記号を付けて区別す
    る。
      また,板及び条などの垂直探傷では,同一のきずによるエコーの記号を,図4に示すように表示す
    ることができる。
              図3 同一の反射源からの多重エコーを基本記号で表示する場合の記号表示

――――― [JIS Z 2344 pdf 3] ―――――

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Z 2344-1993
             図4 板及び条などの探傷図形における同一きずからの多重エコーの記号表示
(3) 底面エコーの記号 基本表示の探傷図形において,底面エコーを区別する必要がある場合には,図5
    に示すように,試験体の健全部と思われる部分の第1回底面エコー (B1) をBG,きずを含んだ部分の
    第1回底面エコー (B1) をBFとする。
                                     図5 底面エコーの記号
(4) 遅れエコーの記号 同一の反射源からのエコーの経路が異なるために,途中で振動様式の変換などの
    ために遅れて到着したものには,基本記号の右上に,,を付けて区別する。送信パルスの遅れに
    も用いる。
(5) くさび内エコーの記号 斜角探触子のくさび内エコー群などは,図6に示すようにTと表示する。
      なお,時間軸上における超音波ビーム軸の入射点を0と表示する。

――――― [JIS Z 2344 pdf 4] ―――――

                                                                                              5
                                                                                    Z 2344-1993
                                 図6 くさび内エコーの記号表示
(6) 板波の記号 周波数と板厚によって決まる板波の振動様式のうち,対称モードはS,非対称モードは
    Aで,基本モードはそれぞれS0,A0で表し,高次のモードは,S1,S2,S3,······及びA1,A2,A3,···
    ···と表示する。
4. 指定事項 試験に関しては,次の事項を指定する。
(1) 試験の方法
(2) 超音波探傷器の性能
(3) 探触子の種類と性能
(4) 関連規格など
(5) その他の必要事項
5. 試験技術者 試験を行う者は,必要な資格又はそれに相当する十分な知識,技能及び経験をもつもの
とする。
6. 超音波探傷装置の性能 超音波探傷装置の性能は,JIS Z 2352で測定し,試験の目的に適合したもの
とする。
  なお,探触子の種類は,JIS Z 2350の中から試験の目的に適合したものを選定する。
    参考 超音波探傷器の電気的性能の測定方法は,JIS Z 2351に規定する。
7. 探傷装置の点検
7.1   日常点検 日常点検は,超音波試験が正常に行われるかどうかを,探触子及び附属品を含めて実施
する。
7.2   定期点検 定期点検は,1年に1回以上定期的に行う。測定項目及び測定方法は,JIS Z 2352の5.
によって測定し,関連規格などで示される所定の性能が維持されていることを確認する。
7.3   特別点検 特別点検は,次の場合に行う。
(1) 性能にかかわる修理を行った場合。
(2) 特殊な環境下で使用し,異常と思われた場合。
(3) その他,特別に点検を行う必要があると判断された場合。
  また,点検事項及びその方法は,7.2に準じる。

――――― [JIS Z 2344 pdf 5] ―――――

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