JIS Z 2350:2002 超音波探触子の性能測定方法

Z 2350:2002

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本非破
壊検査協会 (JSNDI) /財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS Z 2350 : 1992は改正され,この規格に置き換えられる。
  改正に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO 10375 : 1997 (Non-destructive testing
−Ultrasonic inspection−Characterization of search unit and sound field) , ISO 12715 : 1999 (Ultrasonic
non-destructive testing−Reference blocks and test procedures for the characterization of contact search unit beam
profiles) を基礎として用いた。
  JIS Z 2350には,次に示す附属書がある。
    附属書1(規定) 対比試験片
    附属書2(参考) JISと対応する国際規格との対比表

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――――― [JIS Z 2350 pdf 1] ―――――

                                                                                    Z 2350:2002

pdf 目次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[1]
•  4. 記号・・・・[2]
•  5. 探触子の表示法・・・・[2]
•  6. 測定項目・・・・[4]
•  6.1 共通測定項目・・・・[4]
•  6.2 個別測定項目・・・・[4]
•  7. 共通測定項目の測定方法・・・・[5]
•  7.1 周波数応答性・・・・[5]
•  7.1.1 使用機器及び接続法・・・・[5]
•  7.1.2 試験片・・・・[5]
•  7.1.3 エコーの検出方・・・・[5]
•  7.1.4 測・・・・[6]
•  7.2 時間領域応答性・・・・[7]
•  7.2.1 使用機器及び接続方法・・・・[7]
•  7.2.2 試験片・・・・[7]
•  7.2.3 エコーの検出方法・・・・[7]
•  7.2.4 測定・・・・[7]
•  7.3 相対感度・・・・[8]
•  7.3.1 使用機器及び接続法・・・・[8]
•  7.3.2 試験片・・・・[8]
•  7.3.3 エコーの検出方法・・・・[8]
•  7.3.4 測定・・・・[8]
•  7.4 電気インピーダンス・・・・[9]
•  7.4.1 使用機器及び接続法・・・・[9]
•  7.4.2 試験片・・・・[9]
•  7.4.3 探触子と試験片の音響結合・・・・[9]
•  7.4.4 測定・・・・[9]
•  8. 個別測定項目の測定方法・・・・[9]
•  8.1 一振動子垂直探触子・・・・[9]
•  8.1.1 ビーム形状及び距離振幅特性・・・・[9]
•  8.1.2 非集束探触子のビーム中心軸の偏り角・・・・[10]
•  8.1.3 集束探触子のビーム特・・・・[11]

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS Z 2350 pdf 2] ―――――

Z 2350:2002

pdf 目次

ページ

•  8.2 二振動子垂直探触子・・・・[11]
•  8.2.1 ビーム形状及び距離振幅特性・・・・[11]
•  8.2.2 ビーム特性・・・・[11]
•  8.3 一振動子斜角探触子・・・・[11]
•  8.3.1 縦断面ビーム形状及び距離振幅特性・・・・[11]
•  8.3.2 横断面ビーム形状及び距離振幅特性・・・・[13]
•  8.3.3 非集束探触子の入射点及び屈折角・・・・[15]
•  8.3.4 非集束探触子のビーム中心軸の偏り角・・・・[16]
•  8.3.5 集束探触子の縦断面ビーム特・・・・[16]
•  8.3.6 集束探触子の横断面ビーム特性・・・・[16]
•  8.3.7 不感帯・・・・[17]
•  8.4 二振動子斜角探触子・・・・[17]
•  8.4.1 縦断面ビーム形状及び距離振幅特性・・・・[17]
•  8.4.2 横断面ビーム形状及び距離振幅特性・・・・[18]
•  8.4.3 縦断面ビーム特性・・・・[18]
•  8.4.4 横断面ビーム特性・・・・[18]
•  8.5 一振動子水浸垂直探触子・・・・[18]
•  8.5.1 ビーム形状及び距離振幅特性・・・・[18]
•  8.5.2・・・・[18]
•  9. 記録・・・・[19]
•  9.1 測定機器・条件など・・・・[19]
•  9.2 共通測定項目における測定結果の表示・・・・[20]
•  9.3 個別測定項目における測定結果の表示・・・・[20]
•  附属書1(規定)・・・・[22]
•  附属書2(参考)・・・・[25]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS Z 2350 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              Z 2350:2002

超音波探触子の性能測定方法

Method for measurement of performance characteristics of ultrasonic probes

序文

 この規格は,1997年に第1版として発行されたISO 10375 (Non-destructive testing−Ultrasonic
inspection−Characterization of search unit and sound field) と1999年第1版発行のISO 12715 (Ultrasonic
non-destructive testing−Reference blocks and test procedures for the characterization of contact search unit beam
profiles) を基に,対応する部分については対応国際規格を翻訳し,技術的内容を変更して作成した日本工
業規格である。
なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。変更
の一覧表をその説明をつけて,附属書2に示す。

1. 適用範囲

 この規格は,公称周波数0.5MHz以上15MHz以下の超音波探触子(以下,“探触子”とい
う。)の性能測定方法について規定する。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          ISO 10375 : 1997, Non-destructive testing−Ultrasonic inspection−Characterization of search unit and
              sound field (MOD)
          ISO 12715 : 1999, Ultrasonic non-destructive testing−Reference blocks and test procedures for the
              characterization of contact search unit beam profiles (MOD)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0601 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状 : 輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメ
        ータ
    JIS G 0801 圧力容器用鋼板の超音波探傷検査方法
    JIS G 0901 建築用鋼板及び平鋼の超音波探傷試験による等級分類と判定基準
    JIS G 4103 ニッケルクロムモリブデン鋼鋼材
    JIS Z 2300 非破壊試験用語
    JIS Z 2345 超音波探傷試験用標準試験片

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS Z 2300によるほか,次による。

――――― [JIS Z 2350 pdf 4] ―――――

2
Z 2350:2002
a) サインバースト波 連続正弦波信号から,ある定まった周期分を取り出した波。
b) ビーム中心軸の偏り角 超音波ビームの中心軸が設計値より偏っている角度。
c) ビーム特性 集束距離,集束範囲,ビーム幅などのビーム形状を表す値。
d) 非集束探触子 集束探触子と二振動子探触子以外の探触子。
e) 集束深さ 探傷面からの集束距離の深さ。
f)  交軸深さ 探傷面からの交軸距離の深さ。

4. 記号

 記号は,次による。
  h エコー高さ
  B 帯域幅 (MHz)
  BW 比帯域幅 (%)
  CN サイクル数
  dFA 集束範囲の開始点におけるビーム幅
  dFB 集束範囲の終了点におけるビーム幅
  dFL 集束距離又は交軸距離におけるビーム幅
  FD 集束範囲又は交軸範囲
  FL 集束距離又は交軸距離
  f 周波数
  fL 探触子の周波数スペクトル最大値の−6dB振幅を示す低いほうの周波数
  fU 探触子の周波数スペクトル最大値の−6dB振幅を示す高いほうの周波数
  fC 探触子の中心周波数
  fP 探触子のピーク周波数
  PN ピーク数
  Sr 相対感度
  TK 超音波伝搬媒体の厚さ
  TPD エコー幅
  Vin 励振信号振幅
  Vout 出力信号振幅
  X0 近距離音場限界距離
  X 探触子の横方向(探傷面上で超音波ビームに対し垂直方向,垂直探触子の場合は別途定める。)
  Y 探触子の縦方向(探傷面上で超音波ビーム方向,垂直探触子の場合は別途定める。)
  YC,Y1,Y2 最大エコー及び最大エコーの−6dBを示す探触子から横穴までの探傷面上の距離
  Z 探傷面から横穴中心軸までの距離,水浸法の場合は水距離
  Z   戀       探触子の縦断面におけるビーム軸又はビーム路程
  ZE 電気インピーダンス
       ‰  ーム軸の偏り角,斜角探触子では,探傷面に投影したビーム軸の偏り角を表す。
         艶   探傷において,探傷面に投影したビーム軸とX軸のなす角度

5. 探触子の表示法

 探触子の表示記号は,表1による。

――――― [JIS Z 2350 pdf 5] ―――――

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