JIS Z 3080:1995 アルミニウムの突合せ溶接部の超音波斜角探傷試験方法 | ページ 2

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Z 3080-1995
                            図4 一探触子法における探傷面と走査範囲
6.4   評価の対象とするきずとその区分 最大エコー高さを示す位置及び方向に探触子を置き,その最大
エコー高さが6.2で指定した評価レベルを超える場合は,探触子の位置,ビーム路程,溶接継手の状況な
どから,きずかどうかを判定する。きずと判定されたものを評価の対象とし,表9によってA種,B種又
はC種のいずれかに区分する。
                                  表9 きずの区分とエコー高さ
                       きずの区分                エコー高さ
                          A種     A評価レベルを超えるもの
                          B種     A評価レベル以下でB評価レベルを超えるもの
                          C種     B評価レベル以下でC評価レベルを超えるもの
6.5   きずの位置の表示 きずの位置は,最大エコー高さを示す位置で表示する。
6.6   きずの指示長さの測定 最大エコー高さを示す位置に探触子を置き,左右走査を行う。このとき若
干の前後走査を行うが,首振り走査は行わない。きずからのエコー高さが表10に示すレベルと一致する探
触子位置におけるビーム中心軸上の反射源の位置をきずの端とする。探傷面上でのきずの始端と終端の間
隔を1mmの単位で測定してきずの指示長さとする。
                              表10 きずの端を決めるためのレベル
                              きずの区分 きずの端を決めるためのレベル
                                 A種            HFmax−10dB(3)
                              B種,C種       6.2で指定したレベル
                             注(3)   Fmax : 最大エコー高さ
  異なる屈折角又は異なる探傷面で一つのきずを検出した場合,図5に示すように,それぞれ始端と終端
を求め,それらの間隔の最大長さをきずの指示長さとする。
                                   図5 きずの指示長さの測定
7. タンデム探傷法

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7.1   基準レベル及び評価レベル
7.1.1  基準レベル V透過パルスのレベルを直径5.0mmの標準穴からのエコー高さレベルに換算して基
準レベルとする。基準レベルは,母材部におけるV透過パルスのレベルをHVとし,母材の厚さt及び交
軸点の深さ位置dによって表11から求める。
                             表11 タンデム探傷法の基準レベルHRL
                  屈折角     母材の厚さ           交軸点の深さ位置 d mm
                                               t         t   t           t
                                             d≦           d≦         d
                               t mm            4         4   2           2
                   70°      30≦t≦50   HV(4)−20dB   HV−22dB     HV−24dB
                             50<t≦80     HV−22dB     HV−24dB     HV−26dB
                   45°      50≦t≦80    HV−18dB     HV−18dB     HV−18dB
                            80                            125                 注(4)   V (dB)  : 透過パルスのレベル
7.1.2  評価レベル 評価レベルは,HRL−12dBとする。
7.2   探傷面及び走査範囲 片面両側から探傷する。走査範囲は,試験部を超音波ビームが十分覆う範囲
とする。
7.3   評価の対象とするきずとその区分 最大エコー高さを示す位置に探触子を置き,その最大エコー高
さが評価レベルを超える場合,探触子の位置と間隔,溶接継手の状況などから,きずかどうかを判定する。
きずと判定されたものを評価の対象とし,すべてA種に区分する。
7.4   きずの位置の表示 きずの位置は,最大エコー高さを示す交軸点の位置で表示する。
7.5   きずの指示長さの測定 最大エコー高さHFmaxを示す位置に探触子を置き,左右走査を行う。きずか
らのエコー高さがHFmax−10dBと一致する探触子位置における交軸点の位置をきずの端とする。探傷面上
でのきずの始端と終端の間隔を1mmの単位で測定してきずの指示長さとする。
  なお,両側から一つのきずを検出した場合は,それぞれ始端と終端を求め,それらの間隔の最大長さを
きずの指示長さとする。
8. 試験結果の分類方法 試験結果の分類方法は,附属書による。
9. 記録 試験を行った後,その試験成績書には,つぎの事項を記載し,その記録と試験体とをいつでも
照合できるようにしておかなければならない。
(1) 試験体に関する事項
(1.1) 施工業者名又は製造業者名
(1.2) 工事名又は製品名
(1.3) 試験体の外形・寸法及び試験部位の記号又は番号
(1.4) 材質
(1.5) 母材の厚さ
(1.6) 溶接部の継手形状,開先形状及び溶接方法
(2) 試験年月日
(3) 試験技術者の所属,氏名及び資格
(4) 試験条件
(4.1) 使用装置,試験片及び材料

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Z 3080-1995
  (a) 探傷器(名称,製造所,製造番号,点検年月 日,点検者,性能及び使用条件の確認結果)
  (b) 探触子(呼称,製造所,製造番号,点検年月日,点検者,性能及び使用条件の確認結果)
  (c) 標準試験片及び対比試験片
  (d) 接触媒質
(4.2) 探傷方法
(4.3) 探傷面及び走査範囲(探傷面の記号,反射回数など)
(4.4) 基準レベル及び評価レベル
  (a) 距離振幅特性曲線
  (b) 指定した評価レベル
(5) 試験結果
(5.1) 試験部の形状・寸法
(5.2) きず指示の有無
(5.3) きずの位置
(5.4) きずの区分
(5.5) きずの指示長さ
(5.6) きずの分類
(6) その他必要事項
(7) 備考

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                                                                                    Z 3080-1995
                             附属書 試験結果の分類方法
1. 適用範囲 この附属書は,試験結果の分類を行う場合に適用する。
2. 試験結果の分類 試験結果の分類は,きずの区分及びきずの指示長さに応じて附属書表1に従って行
う。
                           附属書表1 きずの指示長さによるきずの分類
                                                                                       単位 mm
母材の厚         5以上 20以下                20を超え 80以下              80を超えるもの
さt (1)
     区分   A種      B種       C種       A種      B種       C種       A種      B種       C種
分類
                                        t以下     t以下     t以下
き  1類      −      5以下    6以下     8         4         3       10以下    20以下    26以下
ず                                      t以下     t以下     t以下
の  2類      −      6以下    10以下    6         3         2       13以下    26以下    40以下
                                        t以下     t以下
分  3類    5以下    10以下    20以下    4         2        t以下    20以下    40以下    80以下
類
    4類                                      3類を超えるもの
注(1)    : 突き合わせる母材の厚さが異なる場合は,薄い方の厚さとする。
  附属書表1の適用に当たり,同一とみなされる深さにおいて,きずときずの間隔が大きい方のきずの指
示長さと等しいかそれより短い場合は,同一のきずとみなし,それらを間隔も含めて連続したきずとして
取り扱う。きずときずの間隔が,両者のきずの指示長さのうち大きい方のきずの指示長さより長い場合は,
それぞれ独立したきずとみなす。

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Z 3080-1995
                                  改正原案作成委員会 構成表
                                氏名                              所属
   (委員長)             大 岡 紀 一       日本原子力研究所大洗研究所
                          古 賀 英 宣       通商産業省基礎産業局
                          高 木 譲 一       通商産業省工業技術院標準部
                          福 原 煕 明       金属材料技術研究所
                          座 古     勝      大阪大学工学部
                          竹 花 立 美       高圧ガス保安協会
                          冨 田 真 己       社団法人日本溶接協会
                          名 取 孝 夫       社団法人日本非破壊検査協会(株式会社ジャスト研究所)
                          米 山 弘 志       石川島播磨重工業株式会社
                          松 村 裕 之       川崎重工業株式会社
                          青 山 芳 夫       日本酸素株式会社
                          倉 持     貢      清水建設株式会社
                          高 橋 伸 幸       住友軽金属工業株式会社
                          松 本 二 郎       株式会社日軽技研
                          井 川 敏 之       株式会社アイ・エム・シー
                          丸 本     尚      神鋼検査サービス株式会社
                          清 田 文 範       新日本非破壊検査株式会社
                          横 野 泰 和       非破壊検査株式会社
                          八 木     健      株式会社トキメック
                          高 橋 弘 幸       日本クラウトクレーマー株式会社
                          和 高 修 三       三菱電機株式会社
   (事務局)             初 谷 正 治       社団法人軽金属溶接構造協会