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5.8 耐湿性
7.2.8 の方法で試験したとき,耐湿性は,基準値の±10 %とする。
5.9 電源電圧の変動に対する安定性
7.2.9で試験したとき,電源電圧の変動に対する安定性は,
基準値の±10 %とする。
6. 構造
6.1 構造一般
モニタの構造一般は,次による。
a) モニタは,検出チャネル,信号処理部,警報指示部,電源部などによって構成する。
b) モニタは,身体表面の汚染を効率よく測定できるように検出器を配置し,検出器間のすき間を
できるだけ小さくした,不感帯の少ない構造とする。また,汚染位置を明確にするために身体
表面を複数個の測定部位に分割し,汚染判定ができる構造とすることが望ましい。
c) モニタの測定部位は少なくとも,手,右足,左足及び身体表面の四つに分かれているものとす
る。
d) モニタは,例えば,電源の投入など,手足及び身体表面の汚染以外の原因によって誤って警報
装置が動作しないものとする。
e) モニタを点検するときに,警報音,外部警報信号が発生しないようにする機能を備えることが
望ましい。
f) モニタは,手,足及び身体表面の検査に便利で丈夫な構造とし,できる限り電気的・磁気的妨
害に影響されず,振動,衝撃などによって故障又は測定誤差を生じにくい構造とする。また,
連続使用に対して動作が安定でなければならない。
g) モニタに,人の頭頂部の検査をするための固定又は自動昇降式の検出器を設けている場合には,
被測定者の身長などを考慮した安全な構造でなければならない。
h) モニタに,人の側面部又は前後面部の検査をするための手動又は自動開閉式の扉形の検出器を
用いている場合には,被測定者の安全を考慮した構造でなければならない。また,自動開閉式
の場合には,手動でモニタの外に出られる構造でなければならない。
i) モニタは,製造業者のこん包状態で,製造業者の指定する温度範囲で3か月間保存した後,こ
の規格で規定する性能を維持するように設計しなければならない。
6.2 検出チャネル
検出チャネルは,次による。
a) 検出器は,汚染しにくい構造か,汚染除去又は交換が容易な構造とする。さらに,指などによ
って検出器が破損しないように保護格子などを入れなければならない。
b) 両手の裏表とも各々同時に測定できる構造とし,手の各々の面に対応する検出器の入射窓面積
は,少なくとも12 cm×20 cm以上とする。また,保護格子の面積は,入射窓面積の30 %以下
とする。
検出器の保護膜及び保護格子による空気層を合わせた不感層の厚さは,β線用の場合6 mg/cm2
以下,α線用の場合2 mg/cm2以下とする。
c) 右足と左足の各々独立した測定部位をもつ構造とし,検出器の入射窓面積は少なくとも15 cm
×30 cm以上とする。また,保護格子の面積は,入射窓面積の60 %以下とする。
検出器の保護膜及び保護格子による空気層を合わせた不感層の厚さは,β線用の場合6 mg/cm2
以下,α線用の場合2 mg/cm2以下とする。
6.3 信号処理部
信号処理部は,次による。
a) 信号処理部は,保守点検が容易なようにテストパルス発生器を組み込み,指示値校正及び警報
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動作試験ができる構造とすることが望ましい。
b) モニタを最適条件に設定できるように,測定時間を連続的に,又は切り換えによって変えられ
るものとする。
6.4 警報表示部
警報表示部は,次による。
a) モニタの測定時間の経過を表示するランプなどを設けることが望ましい。
b) 視覚又は聴覚で分かる表示で,結果の判定を被測定者に知らせなければならない。また,警報
レベルを超えたときには,汚染部位を表示しなければならない。
c) 警報レベルは,少なくともバックグラウンドレベルから,α線用の場合には20 s-1(表面放出
率),β線用の場合は200 s-1(表面放出率)に対応する計数率又はこれに相当する数値を含む
範囲で設定できるものとする。
6.5 電源
電源は,定格電圧100 V,定格周波数50 Hz又は60 Hzの交流電源とする。
7. 試験
7.1 試験条件
7.1.1 共通試験条件 7.2 の各試験方法における基準条件を,表1の第2欄に示す。特に製造業者
の指定のある場合を除き,この規格における試験は,表1の第3欄に示す標準試験条件で行う。標
準試験条件で行わない場合は,温度,気圧及び湿度を指定し,基準条件のレスポンスに補正しなけ
ればならない。
表 1 共通試験条件
項目 基準条件 標準試験条件
予熱時間 min 30 30
環境温度 ℃ 20 1822(3)
相対湿度 % 65 5575(3)
気圧 kPa 101.3 86 106(3)
電源電圧(2) 正規電源電圧 正規電源電圧±1 %
電源周波数(2) 正規電源周波数 正規電源周波数±2 %
電源波形(2) 正弦波 正弦波からのひずみ5 %以下
γ線バックグラウンド 空気カーマ率 空気カーマ率
μGy/h 0.2以下 0.25以下
外部電磁波 無視できるレベル 影響の認められるレベル以下
外部磁気誘導 無視できるレベル 地球磁界の2倍以下
モニタの設置 正規動作状態にセットアップ 正規動作状態にセットアップ
モニタで検出できる最小値の
放射性物質による汚染 無視できるレベル
レベル以下
注(2) 商用電源を使用する場合に適用する。
(3) これらの値は,温暖な気候に適用可能である。より暑い,又は寒い気候時には,試験時の実際の値
を明示しなければならない。海抜の高いところでは,70 kPaまでとする。
7.1.2 線源 試験に使用する線源は,特に指定のないときはJIS Z 4334 に規定する標準線源とす
る。
7.2 試験方法
7.2.1 試験方法一般 試験方法一般は,次による。
a) すべての試験は,30分間の予熱時間が経過した後に実施する。ただし,ガスフロー検出器を用
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いているモニタで,ガスの置換に30分間以上必要とする場合には,ガスの置換時間を優先する。
b) 試験条件のうちある項目を変化させて試験する場合,その項目以外の条件は,表 1に示す範囲
内にあるものとする。
c) 試験における指示値の読み取りには統計変動により十分な精度をもたない場合がある。この場
合には,読み取り回数を増やし,平均値を用いる。このときの読み取りの間隔は,少なくとも
応答時間の3倍とする。
7.2.2 機器効率の線源位置依存性試験 機器効率の線源位置依存性試験は,手,足及び身体表面に
用いる検出器に応じて,次による。
a) 手の表面汚染測定用検出器 検出器の中央に10 cm×15 cmの面積を設定し,その中にできるだ
け均等に,24点(約3 cm間隔)を選び,保護格子の同一面上に直径25 mm以下の36Cl又は204Tl
β線源(α線用の場合は,241Am)を順次置いて,各試験点における自然計数率を差し引いた正
味計数率の表面放出率に対する比として機器効率を求める。ただし,検出器の構造が同一で,
幾何学的にみて機器効率の線源位置依存性が等しいと考えられる場合には,代表的な検出器を
一つ選んで試験してもよい。
b) 足の表面汚染測定用検出器 検出器の中央に10 cm×30 cmの面積を設定し,その中にできるだ
け均等に,44点(約3 cm間隔)を選び保護格子の同一面上に直径25 mm以下の36Cl又は204Tl
β線源(α線用の場合は,241Am)を順次置いて,各試験点における機器効率を求める。ただし,
検出器の構造が同一で,幾何学的にみて機器効率の線源位置依存性が等しいと考えられる場合
には,代表的な検出器を一つ選んで試験してもよい。
c) 身体の表面汚染測定用検出器 検出器ごとに垂直方向の機器効率の線源位置依存性(以下,垂
直分布という。) 及び水平方向の機器効率の線源位置依存性(以下,水平分布という。)を次の
方法で求める。ただし,検出器の構造が同一で,幾何学的にみて垂直分布及び水平分布が等し
くなると推定される検出器が複数個ある場合には,同一検出器群にグループ分けし,そのグル
ープの中から代表的な検出器をそれぞれ一つ選んで試験してもよい。
1) 垂直分布 垂直方向に並ぶ検出器の中央で保護格子から5 cmの位置に,垂直方向の測定範囲
をカバーする長さの棒又は板等のジグを垂直に設置する。垂直方向の測定範囲は隣接する下
部の検出器との境界と上部の検出器との境界の間(隣接する検出器がない場合には,測定範
囲は取扱説明書(10. d))に記載する。)とし,その測定範囲を2 cm間隔で分割し,各点に直径
25 mm以下の36Cl又は204Tl β線源を順次置いて,各試験点における機器効率を求め,これ
らの平均値(εva)及び最大値(εvm)を算出する。
2) 水平分布 モニタの中央にJIS Z 4915に規定する胸・腹部用X線水ファントム又はそれに相
当する形状のジグを設置し,その全周を(水平方向に複数個の検出器を用い分割測定してい
る場合には,取扱説明書(10. d))に記載する範囲。ただし,分割した範囲の総和は360°とす
る。) 10°きざみで,直径25 mm以下の36Cl又は204Tl β線源を順次動かして試験を行う。こ
のとき線源の高さ方向の位置は,c)1) の垂直分布試験で最大値が得られた位置とする。各試
験点における機器効率を求め,これらの平均値(εha)を算出する。
7.2.3 最小検出表面放出率試験 最小検出表面放出率試験は,次による。
a) 形式試験 形式試験は,次による。
1) 実効機器効率試験 すべてのモニタリングチャネルに対して次の方法で実効機器効率を求め
る。
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なお,一つのモニタリングチャネルに対して複数個の検出器を用いている場合には,それら
の実効機器効率の平均値を使用する。また,次の1.1) 及び1.2) に規定する面積の線源がな
い場合は,10 cm×10 cm以上の面積の線源を用いて分割測定し,加算してもよい。
1.1) 手の表面汚染測定用検出器 10 cm×15 cmの面積をもつ36Cl又は204Tl β線源(α線用の場
合は,241Am)を検出器の中央で保護格子に密着させて置き,自然計数率を差し引いた正味
計数率を測定し,式(1) によって実効機器効率を算出する。
E ff n (1)
ここに,Eff : 実効機器効率
n : 正味計数率(s-1)
φ : 標準線源のβ線又はα線表面放出率(s-1)
1.2) 足の表面汚染測定用検出器 10 cm×30 cmの面積をもつ36Cl又は204Tlβ線源(α線用の場
合は,241Am)を検出器の中央で保護格子に密着させて置き,自然計数率を差し引いた正味
計数率を測定し,式 (1) によって実効機器効率を算出する。
1.3) 身体の表面汚染測定用検出器 各検出器又は代表検出器に対して7.2.2 c) の1) 及び 2) の
試験結果を利用し,式 (2) によって実効機器効率(Eff) を求める。
Eff va vm ha (2)
ここに, Eff : 実効機器効率
εva : 7.2.2 c) 1)で求めた垂直分布の平均値
εvm : 7.2.2 c) 1)で求めた垂直分布の最大値
εha : 7.2.2 c) 2)で求めた水平分布の平均値
2) 代表点の機器効率試験 すべての身体の表面汚染測定用検出器に対してβ線標準線源を代表
する位置に設定し,(使用する線源の核種,形状及び設定位置は,取扱説明書(10 b))に記述す
る。)式 (3) によって代表点の機器効率を求める。
E1 n (3)
ここに, E1 : 形式試験における代表点の機器効率
n : 正味計数率(s-1)
φ : 標準線源のβ線表面放出率(s-1)
次に,各モニタリングチャネルごとの代表点の機器効率から実効機器効率へ換算するための
換算定数を式(4)によって求める。
K EffE1 (4)
ここに, K : 換算定数
Eff : a) 1)で求めた実効機器効率
E1 : 式 (3)で求めた形式試験における代表点の機器効率
備考1. 使用する線源の形状としては,例えば,10 cm×10 cm,10 cm×15 cmなどがあ
り,設定位置としては,例えば,検出器中央で保護格子密着,5 cm,10 cmな
どがある。
2. 手と足の表面汚染測定用検出器については,実効機器効率と代表点の機器効率
が等価のため求める必要はない。
3) バックグラウンドの測定及び最小検出表面放出率の計算 モニタの種類に応じてすべてのモ
ニタリングチャネルに対して次の試験を行う。ただし,最大基準バックグラウンドを設定す
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る場合には, 137Cs又は60Coγ線源を用いてモニタから少なくとも3 m以上離して照射する。
照射方向は,指定がない場合はモニタの横からとし,指定がある場合には指定方向からとす
る。線量率は,使用者と製造業者の取決めがない場合には0.25 μGy/h程度とし,取決めがあ
る場合には指定値とする。
3.1) バックグラウンド継続減算形 最大基準バックグラウンド環境下で,10分間以上自然計数
を測定し,最大基準バックグラウンドに対応する計数率を求め,最小検出表面放出率M1を
式 (5) によって計算する。
0.5
.005B2 3
B2 B2
t T
M1= (5)
Eff
ここに,M1 : 最小検出表面放出率(s-1)
B2 : 最大基準バックグラウンドに対応する計数率(s-1)
T : モニタで設定される測定時間(s)
t : モニタで設定されるバックグラウンド測定時間(s)
Eff : a) 1) で求めた実効機器効率
3.2) バックグラウンド同時減算形 最大基準バックグラウンドの環境下で,10分間以上自然計
数を測定し,最大基準バックグラウンドに対応する計数率を求める。また,線量率,エネル
ギー及び照射方向を変えてバックグラウンドを変動させたときに,測定部位で得られる計数
率と,バックグラウンド補償用検出器で得られる計数率の違いによるバックグラウンド補償
誤差計数率を求める。このときの変動の大きさは,取扱説明書(10 h))に記述する。最小検出
表面放出率を式 (6) によって計算する。
0.5
3
2B2
Bx
T
M1= (6)
Eff
ここに,M1 : 最小検出表面放出率(s-1)
BX : バックグラウンド補償誤差計数率 (s-1)
B2 : 最大基準バックグラウンドに対応する計数率 (s-1)
T : モニタで設定される測定時間(s)
Eff : a) 1) で求めた実効機器効率
3.3) バックグラウンド無補償形 環境バッググラウンド及び最大基準バックグラウンドの
環境下で,それぞれ10分間以上自然計数を測定し,環境バックグラウンドに対応する計数
率及び最大基準バックグラウンドに対応する計数率を求め、最小検出表面放出率を式 (7)
によって計算する。
5.0
3
B2
B2 B1
T
M1= (7)
Eff
ここに,M1 : 最小検出表面放出率 (s-1)
B1 : 環境バックグラウンドに対応する計数率 (s-1)
B2 : 最大基準バックグラウンドに対応する計数率 (s-1)
T : モニタで設定される測定時間(s)
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JIS Z 4338:2006の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61098:1992(MOD)
JIS Z 4338:2006の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.240 : 放射線測定
JIS Z 4338:2006の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ4001:1999
- 原子力用語
- JISZ4334:2019
- 放射性表面汚染モニタ校正用標準線源―α線,β線及びX・γ線放出核種
- JISZ4915:1974
- 胸・腹部用X線水ファントム
- JISZ8103:2019
- 計測用語