JIS Z 4334:2019 放射性表面汚染モニタ校正用標準線源―α線,β線及びX・γ線放出核種

JIS Z 4334:2019 規格概要

この規格 Z4334は、放射性表面汚染モニタの校正に用いる,国家計量標準へのトレーサビリティが確保された放射性表面汚染モニタ校正用標準線源について規定。表面汚染モニタの校正のための標準線源の使用方法については,規定しない。

JISZ4334 規格全文情報

規格番号
JIS Z4334 
規格名称
放射性表面汚染モニタ校正用標準線源―α線,β線及びX・γ線放出核種
規格名称英語訳
Reference sources -- Calibration of surface contamination monitors -- Alpha-, beta- and photon emitters
制定年月日
1992年3月1日
最新改正日
2019年2月20日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

ISO 8769:2016(MOD)
国際規格分類

ICS

17.240
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
1992-03-01 制定日, 1997-06-20 確認日, 2002-06-20 確認日, 2005-03-20 改正日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-02-20 改正
ページ
JIS Z 4334:2019 PDF [14]
                                                                                   Z 4334 : 2019

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[2]
  •  4 標準線源のトレーサビリティ・・・・[3]
  •  5 標準線源の仕様・・・・[3]
  •  5.1 一般・・・・[3]
  •  5.2 クラス1標準線源・・・・[4]
  •  5.3 クラス2標準線源・・・・[7]
  •  5.4 実用標準線源・・・・[8]
  •  6 仲介標準測定器・・・・[8]
  •  6.1 α線源用及びβ線源用仲介標準測定器・・・・[8]
  •  6.2 X・γ線源用仲介標準測定器・・・・[8]
  •  6.3 校正・・・・[9]
  •  附属書A(参考)0.15 MeV以下のエネルギーの電子及び1.5 MeV以下のエネルギーのX・γ線を放出する標準線源に関する注意点・・・・[10]
  •  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[12]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS Z 4334 pdf 1] ―――――

Z 4334 : 2019

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
電気計測器工業会(JEMIMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工
業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工
業規格である。
これによって,JIS Z 4334:2005は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS Z 4334 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
Z 4334 : 2019

放射性表面汚染モニタ校正用標準線源−α線,β線及びX・γ線放出核種

Reference sources-Calibration of surface contamination monitors- Alpha-, beta- and photon emitters

序文

  この規格は,2016年に第3版として発行されたISO 8769を基に作成した日本工業規格(日本産業規格)であるが,我が
国の使用状況及びその後の技術進歩に伴い,技術的内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,放射性表面汚染モニタ(以下,表面汚染モニタという。)の校正に用いる,国家計量標準へ
のトレーサビリティが確保された放射性表面汚染モニタ校正用標準線源(以下,標準線源という。)につい
て規定する。この規格は,表面汚染モニタの校正に用いる基準放射線についても規定する。校正に用いる
基準放射線は,国家計量標準へトレーサビリティが明確な表面放出率について校正された面線源から放出
されるα線,β線,及び1.5 MeV以下のX・γ線に適用する。ただし,表面汚染モニタの校正のための標
準線源の使用方法については,規定しない。
注記1 表面汚染モニタの校正に関する規格には,IEC 60325,IEC 62363などがある[1][2]。
注記2 この規格が定めるX・γ線源は,フィルタを含むため,特定の放射性核種ではなく,特定の
エネルギー範囲のX・γ線の標準線源とみなされる。例えば,この規格が規定するフィルタ
をもつ241Am γ線源は,放射性壊変に伴い放出されるα線及び低エネルギー特性XL線を線源
表面から放出しない。このような241Am γ線源は,平均エネルギー約60 keVのγ線を放出す
る線源として設計されている。
注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
ISO 8769:2016,Reference sources−Calibration of surface contamination monitors−Alpha-,
beta-and photon emitters(MOD)
なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項

――――― [JIS Z 4334 pdf 3] ―――――

2
Z 4334 : 2019
注記 対応国際規格 : ISO/IEC 17025,General requirements for the competence of testing and calibration
laboratories
JIS Z 4001 原子力用語
JIS Z 8103 計測用語

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか,次による。
3.1
表面放出率(surface emission rate of a source)
線源面から単位時間当たりに放出される,あるエネルギー以上の特定の粒子放射線又はX・γ線の数。
3.2
線源面(face of a source)
線源の放射能面から鉛直前面方向の線源最上面(図1参照)。
1 フィルタ
2 バッキング
3 線源面
4 放射能面
図1−標準線源の断面図
3.3
飽和層厚さ(saturation layer thickness)
放射性物質が均一に分布する線源において,特定の粒子の放射線の最大飛程と等しい媒体の厚さ。
3.4
機器効率(instrument efficiency)
線源に対して,決められた幾何学的条件で測定したときの測定器の正味計数率(バックグラウンドを差
し引いた計数率。)と線源の表面放出率との比。
注記 機器効率は,線源から放出される放射線のエネルギー,線源面の面積,検出器入射窓面積など
に依存する。
3.5
自己吸収(self-absorption)
線源の材質による放射線の吸収。
3.6
不確かさ(uncertainty)
特に明記しない限り標準不確かさ(包含係数k=1)。

――――― [JIS Z 4334 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
Z 4334 : 2019
注記 不確かさの取扱いは,ISO/IEC Guide 98-3に従う。
3.7
均一性(uniformity)
線源面の全面にわたって表面放出率のばらつきの程度を表す指標。

4 標準線源のトレーサビリティ

  表面汚染モニタの日常の校正には,通常,実用標準線源が用いられる。実用標準線源の国家計量標準へ
のトレーサビリティは,標準線源及び仲介標準測定器による,次に示す校正体系によって確保することが
望ましい。
標準線源は,次の2種類とする。
・ クラス1標準線源 国家計量標準機関によって,放射能及び表面放出率について校正された標準線源。
・ クラス2標準線源 JIS Q 17025によって認定された校正機関において,校正する線源と同じ放射性核
種及び同じ構造のクラス1標準線源を用いて,決められた線源と検出器との幾何学的条件によって校
正された仲介標準測定器によって,放射能及び表面放出率を校正した標準線源。
クラス1標準線源は,国家計量標準機関による校正を受けなければならない。海外の国家計量標準機関
で発行された量,範囲及び測定の不確かさを含む校正証明書も有効である[3]。
クラス1標準線源の放射能及び表面放出率は,例えば,窓なしガスフロー比例計数管,絶対測定された
線源を用いて校正した測定器などを用いて校正する[4][7]。
表面汚染モニタの形式検査及び校正を行う機関は,適切なクラス1又はクラス2の標準線源を利用でき
ることが望ましい。実用標準線源は,作業現場で日常的に使用する表面汚染モニタを校正するためのもの
であり,表面汚染モニタの動作の確認に用いるチェック線源とは異なる。
実用標準線源の供給機関は,クラス1又はクラス2の標準線源との比較によって校正した仲介標準測定
器を用いて,実用標準線源の表面放出率を校正する。実用標準線源がジグを用いるか又は特定の幾何学的
条件下で用いられる場合,仲介標準測定器は,実用標準線源が用いられるのと同じ測定条件及び幾何学的
条件で校正しなければならない。ただし,実用標準線源は,通常の方法で校正できるようにジグから取外
し可能でなければならない。校正する表面汚染モニタの数がそれほど多くない場合,又は高い精度が要求
される場合には,クラス1又はクラス2の標準線源を実用標準線源として用いてもよい。ただし,このよ
うな場合の再校正の頻度は,実用標準線源を用いる場合と同じ頻度でなければならない。

5 標準線源の仕様

5.1 一般

  標準線源は,一般的に次の事項を満足する。
a) 標準線源は,放射性核種を片面に離しないように吸着又は結合させた導電性バッキング材からなる。
バッキング材は,β線が線源の後方に放出されない十分な厚さとする。
b) 標準線源の放射能層は,放射性核種が均一に分布し,かつ,その厚さは飽和層厚さを超えてはならな
い。X・γ線源は,表1に規定するフィルタを装備しなければならない。
表面放出率を直接測定するためには,エネルギーしきい値を設定する必要がある。β線測定では,590 eV
のX線エネルギー(55Feの壊変に伴うMnの特性XK線の0.1倍のエネルギー。)に相当するしきい値を設
定しなければならない。α線測定では,計測システムの電気的雑音レベルの少し高いエネルギーにしきい
値を設定することが望ましい。X・γ線の測定は,光電ピーク及び全てのコンプトン連続スペクトルを含む

――――― [JIS Z 4334 pdf 5] ―――――

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JIS Z 4334:2019の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 8769:2016(MOD)

JIS Z 4334:2019の国際規格 ICS 分類一覧

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規格番号
規格名称
JISQ17025:2018
試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
JISZ4001:1999
原子力用語
JISZ8103:2019
計測用語

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