JIS Z 4504:2008 放射性表面汚染の測定方法―β線放出核種(最大エネルギー0.15MeV以上)及びα線放出核種

JIS Z 4504:2008 規格概要

この規格 Z4504は、物品,施設,線源収納容器,密封線源などの放射性表面汚染を表面汚染密度で評価する方法について規定。皮膚及び衣服については,適用しない。

JISZ4504 規格全文情報

規格番号
JIS Z4504 
規格名称
放射性表面汚染の測定方法―β線放出核種(最大エネルギー0.15MeV以上)及びα線放出核種
規格名称英語訳
Evaluation of surface contamination -- Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters
制定年月日
1958年3月3日
最新改正日
2017年10月20日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

ISO 7503-1:1988(IDT)
国際規格分類

ICS

13.280
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
1958-03-03 制定日, 1961-03-03 確認日, 1964-10-01 確認日, 1968-04-01 確認日, 1971-03-01 確認日, 1974-04-01 確認日, 1975-02-01 改正日, 1978-02-01 確認日, 1983-11-01 確認日, 1989-03-01 確認日, 1993-10-01 改正日, 1999-06-20 確認日, 2005-03-20 確認日, 2008-01-20 改正日, 2012-10-22 確認日, 2017-10-20 確認
ページ
JIS Z 4504:2008 PDF [17]
                                                                  Z 4504 : 2008 (ISO 7503-1 : 1988)

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[2]
  •  4 放射性表面汚染の測定方法・・・・[3]
  •  4.1 一般・・・・[3]
  •  4.2 直接測定法・・・・[4]
  •  4.3 間接測定法・・・・[5]
  •  5 機器効率の決定・・・・[6]
  •  6 測定の記録・・・・[7]
  •  附属書A(規定)校正及び測定にかかわる基本的事項及びデータ・・・・[9]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS Z 4504 pdf 1] ―――――

Z 4504 : 2008 (ISO 7503-1 : 1988)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本電気
計測器工業会(JEMIMA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS Z 4504:1993は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS Z 4504 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
Z 4504 : 2008
(ISO 7503-1 : 1988)
放射性表面汚染の測定方法−
β線放出核種(最大エネルギー0.15 MeV以上)
及びα線放出核種

Evaluation of surface contamination-Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) nd alpha-emitters

序文

  この規格は,1988年に第1版として発行されたISO 7503-1を基に,技術的内容及び対応国際規格の構
成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,物品,施設,線源収納容器,密封線源など(以下,“物品など”という。)の放射性表面汚
染を表面汚染密度で評価する方法について規定する。ただし,皮膚及び衣服については,適用しない。
この規格は,最大エネルギーEβmaxが0.15 MeV以上のβ線放出核種及びα線放出核種による放射性表面
汚染に適用する。厳密には,1壊変当たりに生成されるβ粒子,単色電子,又はα粒子の数が,ほぼ1個
であるとみなせる核種に限定される(表A.3参照)。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
ISO 7503-1:1988,Evaluation of surface contamination−Part 1: Beta-emitters (maximum beta energy
greater than 0.15 MeV) nd alpha-emitters (IDT)
なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21に基づき,一致していることを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS Z 4001 原子力用語
注記 対応国際規格 : ISO 921:1997,Nuclear energy−Vocabulary,IEC 60050-393:1996,International
Electrotechnical Vocabulary−Chapter 393,IEC 60050-394:1995,International Electrotechnical
Vocabulary−Chapter 394(全体評価 : MOD)
JIS Z 4329 放射性表面汚染サーベイメータ
注記 対応国際規格 : IEC 60325,Radiation protection instrumentation−Alpha, beta and alpha/beta (beta
energy > 60 keV) ontamination meters and monitors (MOD)
JIS Z 4334 放射性表面汚染モニタ校正用線源−β線放出核種(最大エネルギー0.15 MeV以上)及び
α線放出核種

――――― [JIS Z 4504 pdf 3] ―――――

2
Z 4504 : 2008 (ISO 7503-1 : 1988)
注記 対応国際規格 : ISO 8769,Reference sources for the calibration of surface contamination monitors
−Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) nd alpha-emitters (MOD)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 4001によるほか,次による。
3.1
放射性表面汚染(surface contamination)
物品などの表面の放射性汚染。
3.2
固定性表面汚染(fixed surface contamination)
通常の作業状況で放射性物質が,物品などの表面から遊離しない状態の放射性表面汚染。
3.3
遊離性表面汚染(removable surface contamination)
通常の作業状況で放射性物質が,物品などの表面から遊離する状態の放射性表面汚染。
注記1 “通常の作業”の定義は,放射性表面汚染から放射性物質を吸入するリスクの評価に重要で
ある。放射性表面汚染との物理的接触のうちで,“通常の作業”とみなせる最大の接触強さの
例として,次のものがある。
− 人体と放射性表面汚染との間で日常的に起こる,事故でない接触(衣服を介する間接的
な場合と直接皮膚が触れる場合とがある。)。
− 人が通常の力で器具を用いて物を取り扱うとき(破壊的な作業は除く。)の器具と物の表
面との接触。
ふき取り試験のふき取る強さは,このような通常の作業における接触の強さと同等である
ことが望ましい。通常,1回のふき取りで遊離性表面汚染の全部をふき取ることはない。
注記2 人為的行為がなくても,湿度,化学薬品などの影響によって,又は腐食,拡散などの過程を
経て,固定性表面汚染が遊離性表面汚染に変化することがある。また,その逆の現象も起こ
り得るし,蒸発及び揮発によって放射性表面汚染の放射能が減少することもある。
3.4
表面汚染密度(activity per unit area)
放射性表面汚染の放射能の汚染面積に対する比。単位は,Bq・cm−2で表す。
3.5
直接測定法(direct measurement of surface contamination)
放射線測定器を用いて固定性表面汚染及び遊離性表面汚染を直接的に測定する方法。この方法は,物品
などの内部に収納された放射性物質からの放射線,又は周囲の放射線の影響を受けることがある。
3.6
間接測定法(indirect evaluation of surface contamination)
ふき取り試験によって,遊離性表面汚染を間接的に測定する方法。
3.7
ふき取り試験(smear test)
ふき取りろ紙又はふき取りろ紙以外の採取材(以下,“ふき取りろ紙など”という。)を用いて物品など
の表面をふき取り,ふき取りろ紙などに移行した放射能から遊離性表面汚染を評価する試験。ふき取りろ

――――― [JIS Z 4504 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
Z 4504 : 2008 (ISO 7503-1 : 1988)
紙などを適切な液体で湿らせてふき取る方法(以下,“湿式ふき取り試験”という。)と乾燥したふき取り
ろ紙などを用いてふき取る方法(以下,“乾式ふき取り試験”という。)とがある。
3.8
ふき取り効率 F(removal factor)
ふき取り試験において,1回のふき取りによってふき取られた放射能のふき取る前の遊離性表面汚染の
放射能に対する比で,次の式による。
Ap
F
AT
ここに, Ap : 1回のふき取り試験でふき取った放射能
AT : ふき取りを行う前に存在した遊離性表面汚染の放射能
注記 何回もふき取り試験を繰り返すことによって,実験的にふき取り効率Fを求めることができる。
複数回のふき取り試験でふき取った放射能を合算することによって,遊離性表面汚染の放射能
(AT)を精度よく推定することができ,最初のふき取り試験でふき取った放射能(Ap)との比
からふき取り効率Fを算出することができる。
3.9
表面放出率 q2 surface emission rate of a source)
線源の前方表面から単位時間に放出される,あるエネルギー以上のβ粒子又はα粒子の数。
3.10
線源効率 攀 efficiency of a source)
表面放出率の線源(飽和層厚さ以上の厚さの線源は飽和層)の中で単位時間に放出される同じ種類の放
射線粒子数に対する比。
3.11
機器効率 攀 槿 instrument efficiency)
線源に対して,決められた幾何学的条件で測定したときの測定器の正味計数率と線源の表面放出率との
比。ある特定の放射線測定器の機器効率は,放射線のエネルギーに依存する。
注記 3.9及び3.10の定義から,表面放出率は,放射能と線源効率 攀 A.1参照)。

4 放射性表面汚染の測定方法

4.1 一般

  放射性表面汚染は,直接測定法及び間接測定法によって測定する。直接測定法では,通常,放射線測定
器を用いて遊離性表面汚染と固定性表面汚染とを同時に測定する。間接測定法では,通常,ふき取り試験
によって遊離性表面汚染だけを測定する。
放射性表面汚染を測定する目的は,次の二つである。
a) 放射性表面汚染の有無及び汚染の範囲を特定し,高いレベルの汚染区域から低いレベルの汚染区域又
は非汚染区域への汚染の拡大を防止する。
b) 単位面積当たりの放射能を評価して,表面密度限度などの判定基準以下であるか,超えているかを確
認する。
直接測定法か間接測定法かの選択は,放射性表面汚染の物理的及び化学的形状,物品などの表面との付
着状態(固定性表面汚染又は遊離性表面汚染),放射線測定器を測定点に近づけることの可否,妨害となる

――――― [JIS Z 4504 pdf 5] ―――――

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JIS Z 4504:2008の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 7503-1:1988(IDT)

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