JIS Z 4507:1998 放射性物質で汚染された表面の除染―除染の容易性の試験及び評価の方法

JIS Z 4507:1998 規格概要

この規格 Z4507は、材料の表面が放射性物質によって汚染されるおそれのある表面の除染のしやすさの試験及び評価の方法に適用。

JISZ4507 規格全文情報

規格番号
JIS Z4507 
規格名称
放射性物質で汚染された表面の除染―除染の容易性の試験及び評価の方法
規格名称英語訳
Decontamination of radioactively contaminated surfaces -- Method for testing and assessing the ease of decontamination
制定年月日
1962年9月1日
最新改正日
2017年10月20日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

ISO 8690:1988(MOD)
国際規格分類

ICS

13.280
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
1962-09-01 制定日, 1965-03-01 確認日, 1968-10-01 確認日, 1971-10-01 確認日, 1974-11-01 確認日, 1975-11-01 改正日, 1978-12-01 確認日, 1984-03-01 確認日, 1989-10-01 確認日, 1995-03-01 改正日, 1998-07-20 改正日, 2003-03-20 確認日, 2008-03-20 確認日, 2012-10-22 確認日, 2017-10-20 確認
ページ
JIS Z 4507:1998 PDF [25]
Z 4507 : 1998

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。
今回の改正では,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との整合性を図るため,ISO 8690 : 1988 (Decontamination of
radioactively contaminated surfaces−Method for testing and assessing the ease of decontamination)を附属書とし
て採用した。
JIS Z 4507には,次に示す附属書がある。
附属書1(規定) 評価方法B(ISO法)

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS Z 4507 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
Z 4507 : 1998

放射性物質で汚染された表面の除染−除染の容易性の試験及び評価の方法

Decontamination of radioactively contaminated surfaces−Method for testing and assessing the ease of decontamination

序文 この規格は,1988年に発行されたISO 8690, Decontamination of radioactively contaminated surfaces−
Method for testing and assessing the ease of decontaminationを基に,本体には,従来規定していた方法を評価
方法Aとして規定し,附属書には国際規格で規定している方法を評価方法Bとして規定した日本工業規格(日本産業規格)
である。
1. 適用範囲 この規格は,材料の表面が放射性物質によって汚染されるおそれのある表面の除染のしや
すさの試験及び評価の方法に適用する。
2. 引用規格 次に掲げる規格は,これを引用することによって,この規格の一部を構成する。これらの
規格は最新版を適用する。
JIS Z 4401 放射線測定用試料皿
3. 評価方法の種類 評価方法の種類は,表1のとおりとし,評価方法の主眼によってA又はBのいずれ
かを選択する。
表1 評価方法の種類
種類 評価方法の主眼
評価方法A 試験データのばらつきを考慮するよりも,どこででも評価ができること
を主眼とし,本体に規定する評価方法。
評価方法B 試験データのばらつきを極力抑え,実験室条件下での評価を主眼とし,
附属書に規定する評価方法。
4. 評価方法A
4.1 試験片 試験片は,中性洗剤で洗浄,水洗し,自然乾燥を行った後,測定器及びJIS Z 4401に適合
する適当な大きさのものとする。試験片の数は,同一材質,同一核種につき3個とする。
4.2 試験液 試験液は,特に指定のない限り,表2による。核分裂生成物を用いる場合は,表3による。
なお,試験報告書の試験結果に,核種,水溶液の種類及びpHを付記する。

――――― [JIS Z 4507 pdf 2] ―――――

2
Z 4507 : 1998
表2
核種 水溶液 pH 計数率 備考
(min−1/0.1ml)
137Cs又は134Cs 塩酸又は硝酸
24 1×1035×104 担体は特に添加しない。
60Co,
144Ce又は147Pm
表3
核種 水溶液 pH 計数率 備考
(mim−1/0.1ml)
核分裂生成物 硝酸 12 1×1035×104 担体は特に添加しない。
(半年2年経過したもの)
4.3 放射能測定方法 放射能は,端窓形ガイガ・ミュラー計数管,シンチレーション検出器,ガスフロ
ー計数管などを用いた適切な放射線測定装置で測定し,核分裂生成物は,半導体検出器などを使用し全放
射能を測定するほか代表的波高値の核種について測定するものとする。
なお,各試験片について,正味の汚染放射能計数率を求める。
4.4 汚染方法 汚染方法は,水平に置いた試験片の中央に0.1mlの試験液をミクロ容量ピペットを用いて,
汚染面積が同一になるように滴下し,1数日間常温で自然乾燥し,乾燥時間を試験報告書に付記する。布
などのように汚染が広がり,浸透する試験片の場合は,ガラス板上又は測定用試料皿内で汚染するとよい。
4.5 耐汚染指数の求め方
4.5.1 水洗方法 水洗方法は,4.4で汚染した試験片を200300mlの水(1)を満たした2倍程度の容量のガ
ラス製容器に,汚染面が常に洗浄されるような状態で13個入れ,30±1℃で十分なかくはんのもとで10
分間水洗する。試験片は,水切り後,常温の通風乾燥又は自然乾燥で乾燥する。
注(1) 水は,すべてイオン交換水又は蒸留水を用い,pHを試験報告書に付記する。
4.5.2 算出方法 耐汚染指数の算出は,4.4及び4.5.1の試験において,水洗前及び水洗後に測定した計数
率から次の式によって算出する。
なお,3個の試験片の計数率から得られる平均値を用いて耐汚染指数を計算し,小数点以下1けたまで
示す。
D
A logD0
1
ここに, A : 耐汚染指数
D0 : 水洗前の汚染試験面の計数率 (min−1)
D1 : 水洗後に試験面に残存する計数率 (min−1)
4.6 除染指数の求め方
4.6.1 除染剤洗浄方法 除染剤洗浄方法は,4.4に示した方法で汚染させた試験片を,200300mlの除染
剤溶液を満たした2倍程度の容量のガラス製容器に入れ,4.5.1と同じ方法で洗浄,乾燥する。
なお,この場合,除染剤洗浄後水洗は行わない。
4.6.2 算出方法 除染指数の算出は,汚染させ乾燥した試験片について測定した計数率と4.6.1の試験に
おいて除染後に測定した計数率からの算出は次による。
なお,3個の試験片の放射能計数率から得られる平均値を用いて除染指数を計算し,小数点以下1けた
まで示す。
D
B logD0
2

――――― [JIS Z 4507 pdf 3] ―――――

                                                                                              3
Z 4507 : 1998
ここに, B : 除染指数
D0 : 除染前の汚染試験面の汚染計数率 (min−1)
D2 : 除染後に試験面に残存する計数率 (min−1)
5. 試験報告書 試験報告書には,次の事項を表記する。
a) 試験年月日
b) 試験場所
c) 評価方法の種類 例.A
d) 試験液
e) 放射能測定方法(試験片)
f) 汚染方法(乾燥時間)

――――― [JIS Z 4507 pdf 4] ―――――

4
Z 4507 : 1998
附属書1(規定) 評価方法B(ISO法)
1. 適用範囲 この附属書は,放射性物質で汚染されるおそれのある表面の除染のしやすさの試験に適用
する。
この試験方法を使用して得られる除染可能性のデータは,これより高い温度及び圧力が長期間加わった
結果,汚染物質の層が形成されているような専門的な系統(例えば,原子炉の一次系)には適用できない。
この試験の目的は,実験室条件下での表面の除染の容易性を評価することである。実際的な適用におい
ては,他の品質,例えば,使用する物質の選定に当たっては,化学的,機械的,耐放射線性及び長期的な
安定性を考慮することが重要である。さらに,共用条件を模擬した状態での除染試験が必要な場合がある
ことを認識することが望ましい。
2. 引用規格
ISO 15 : 1981 Rolling bearings−Radial bearings−Boundary dimensions−General plan.
ISO 273 : 1979 Fasteners−Clearance holes for bolts and screws.
ISO 683-13 : 1986 Heat-treated steels, alloy steels and free-cutting steels−Part 13 : Wrought stainless steels.
ISO 2009 : 1983 Slotted countersunk head screws (common head style) −Product grade A.
ISO 2010 : 1983 Slotted raised countersunk head screws (common head style) −Product grade A.
ISO 3819 : 1985 Laboratory glassware−Beakers.
ISO 4762 : 1989 Hexagon socket head cap screws−Product grade A.
3. 定義 この附属書の目的上,次のような定義を適用する。
3.1 汚染 (Contamination) 無用な放射性核種が表面下の浅い部分に存在すること。
3.2 除染 (Decontamination) 汚染の全面的又は部分的な除去であって,できれば表面特性を変化させ
ないものであることが望ましい。
3.3 特定計数率 (Specific pulse rate)1mlの汚染溶液によって,与えられた幾何学的条件下で測定装置
中に生じる計数率。
これは,1ml当たり毎分の計数で表す。計数率は,不感時間とバックグラウンドの補正を加えた実際の
計数率から算出する。
3.4 残存計数率 (Residual pulse rate)除染後,試験片の試験した側に残存する放射性核種によって,
与えられた幾何学的条件下で測定装置中に生じる計数率。
これは,毎分の計数で表す。
3.5 平均残存計数率 (Mean residual pulse rate) 同じ放射性核種によって汚染された5個の試験片につ
いて得られた残存計数率の算術平均値。
これは,毎分の計数で表す。
3.6 平均残存計数率を補正した値。補
標準化平均残存計数率 (Standardized mean residual pulse rate)
正係数は,特定計数率の基準値を,試験で使用した汚染溶液の計数率で除して得られる。
これは,毎分の計数で表す。
補正係数の目的は,異なる試験所で使用した汚染溶液の特定計数率の変動を補正する。

――――― [JIS Z 4507 pdf 5] ―――――

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JIS Z 4507:1998の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 8690:1988(MOD)

JIS Z 4507:1998の国際規格 ICS 分類一覧

JIS Z 4507:1998の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISZ4401:2006
放射線測定用試料皿

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