JIS Z 4752-2-3:2005 医用画像部門における品質維持の評価及び日常試験方法―第２－３部：不変性試験―暗室安全光条件

                                                             Z 4752-2-3 : 2005 (IEC 61223-2-3 : 1993)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本放射線技術学会 (JSRT)/財団
法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工
業標準調査会の審議を経て,厚生労働大臣及び経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 61223-2-3 : 1993 Evaluation and
routine testing in medical imaging departments−Part 2-3 : Constancy tests−Darkroom safelight conditionsを基礎
として用いた。
  JIS Z 4752-2-3には,次に示す附属書がある。
    附属書A(参考) 用語−索引
    附属書B(参考) 標準的な試験報告書の様式例
    附属書C(参考) 取るべき処置の指針
    附属書D(参考) 解説
    附属書1(参考) 試験手順のフローチャート
    附属書2(参考) 試験の参考図

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Z 4752-2-3 : 2005 (IEC 61223-2-3 : 1993)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲及び目的・・・・[1]
•  1.1 適用範囲・・・・[1]
•  1.2 目的・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[2]
•  3. 定義・・・・[2]
•  4. 試験方法・・・・[2]
•  4.1 概要・・・・[2]
•  4.2 試験用具及び試験測定用具・・・・[2]
•  4.2.1 X線撮影用カセッテ・・・・[2]
•  4.2.2 試験フィルム・・・・[2]
•  4.2.3 フィルム現像機・・・・[3]
•  4.2.4 濃度計・・・・[3]
•  4.2.5 遮光カバー・・・・[3]
•  4.2.6 タイマ・・・・[3]
•  4.3 暗室の状態を点検するための試験手順・・・・[3]
•  5. 安全取扱時間の計算・・・・[4]
•  5.1 測定に基づく決定・・・・[4]
•  5.2 目視比較による決定・・・・[4]
•  5.3 安全取扱時間・・・・[4]
•  5.4 取るべき処置・・・・[4]
•  6. 試験の頻度・・・・[4]
•  7. 適合の証明書・・・・[4]
•  附属書A(参考) 用語-索引・・・・[5]
•  附属書B(参考) 標準的な試験報告書の様式例・・・・[6]
•  附属書C(参考) 取るべき処置の指針・・・・[7]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                        Z 4752-2-3 : 2005
                                                                        (IEC 61223-2-3 : 1993)

医用画像部門における品質維持の評価及び日常試験方法−第2-3部 : 不変性試験−暗室安全光条件

Evaluation and routine testing in medical imaging departments- Part 2-3 : Constancy tests-Darkroom safelight conditions

序文

 この規格は,1993年に第1版として発行されたIEC 61223-2-3,Evaluation and routine testing in medical
imaging departments−Part 2-3 : Constancy tests−Darkroom safelight conditionsを翻訳し,技術的内容及び規格
票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で箇条番号又は細別符号の左上の*印は,それらの補足が附属書D解説に説明があるこ
とを示している。

1. 適用範囲及び目的

1.1 適用範囲

 この規格は,次のあらゆるタイプの現像処理をしていないX線感光材料(以下,X線感
材という。),又は写真感光材料(以下,写真感材という。)を扱うX線施設の暗室に適用する。
  − あらゆるタイプのスクリーンフィルム
  − ノンスクリーンフィルム
  − 次の像の記録に使用されるX線間接撮影用写真フィルム
      ・X線イメージインテンシファイアの出力像
      ・その他のX線画像
  − X線像をコピーするための写真感材
  − 一般の再構成断層撮影(CT撮影),ディジタル画像撮影,超音波,磁気共鳴技術,核医学などの診
      断装置で使われる恒久的な画像を作るための写真感材。
  この規格は,JIS Z 4752-1で規定されているように,診断用X線装置の種々のサブシステムの特性の不
変性試験方法を記載している一連の規格の一部である。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 61223-2-3 : 1993,Evaluation and routine testing in medical imaging departments−Part 2-3 :
              Constancy tests−Darkroom safelight conditions (IDT)

1.2 目的

 この規格は,暗室条件の適切さを保証することを目的とする。
  この規格は,暗室安全光条件の適切さと外部からの化学反応を起こす光がないことを試験する方法を記
述する。

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2
Z 4752-2-3 : 2005 (IEC 61223-2-3 : 1993)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構
成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その
最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS Z 4005 医用放射線用語
      備考 IEC 60788 : 1984,Medical radiology−Terminologyからの引用事項は,この規格の該当事項と
             同等である。
    JIS Z 4752-1 医用画像部門における品質維持の評価及び日常試験方法−第1部 : 総則
      備考 IEC 61223-1 : 1993,Evaluation and routine testing in medical imaging departments−Part 1 :
             General aspectsが,この規格と一致している。
    JIS Z 4919 医用フィルム自動現像機
      備考 IEC 61223-2-1 : 1993,Evaluation and routine testing in medical imaging departments−Part 2-1 :
             Constancy tests−Film processorsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    ISO 8374 : 1986,Photography−Determination of ISO safelight conditions(写真−ISO安全光条件の求め
        方)

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS Z 4005,JIS Z 4752-1及びJIS Z 4919による。

4. 試験方法

4.1 概要

a) 暗室での試験フィルムの露出は,不十分な条件,例えば,不適切な安全光条件又は外部からの化学反
    応を起こす光の漏えい(洩)などでのかぶりを発見するために用いる。
b) 暗室条件が感材のかぶりの原因となる一般的な理由は,次のとおりである。
  − 退色するか,又は不適切な安全光フィルタが使用されている。
  − 安全光のランプが明るすぎる。例えば,定格に合わない。ランプの形式名が違う。不適切な供給電
      圧である。
  − 外部からの光が作業台面に達している。
  − 白色光の漏れや発光盤面のような暗室内の光源。
  − 安全灯から作業台面までの正しい距離が保たれていない。
  − 感光材料が,指定された作業台以外の場所で取り扱われる。
c)   線撮影用シートフィルムは,適正に現像されたとき,約0.61.0の光学濃度を生じるようにあらか
    じめ露光(事前露光)する。その後,事前露光された試験フィルムは,試験フィルムの連続する領域
    が異なる露光時間間隔となるように通常使用の暗室条件で露光する。
      試験フィルムを現像した後,試験X線像の何点かの光学濃度を測定し,評価する。

4.2 試験用具及び試験測定用具

4.2.1 X線撮影用カセッテ

 関連する不変性試験には,同じX線撮影用カセッテ又はマガジンを使うこ
とが望ましい。それらの識別は,適切にマークし記録することが望ましい。

4.2.2 試験フィルム

 試験フィルムは,小さくても12 cm×24 cmの大きさの長方形シートのX線感材を
使用する。
  最初の不変性試験では,暗室で取り扱われるX線感材(又は写真感材)のそれぞれの形式名の試験フィ

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                                                             Z 4752-2-3 : 2005 (IEC 61223-2-3 : 1993)
ルムを使用する。
  その次からの不変性試験では,最初の不変性試験の結果に基づいて,最も感度が高いと思われる形式名
の感材を使用する。試験フィルムは,その暗室で取り扱われる感材に対して代表的なスペクトル感度をも
っていることが望ましい。

4.2.3 フィルム現像機

 試験に用いるフィルム現像機は,JIS Z 4919に従って試験し,合格していること
が望ましい。

4.2.4 濃度計

 反復測定精度が,光学濃度±0.02以内である濃度計で測定する。

4.2.5 遮光カバー

 光を通さない材料のシート,例えば,厚紙を使用する。
a) 試験フィルムの幅の半分の両面をカバーするような折り畳んだシート。4.3のi) 参照。
b) 連続したステップ状に試験フィルムの残り半分をカバーするようなシート。4.3のk) に記述。このシ
    ートの長さと幅は,フィルムのカバーされる部分より大きいものを使用する。

4.2.6 タイマ

 化学反応を起こす光又は放射線を放出せず,かつ,240 sまで測定できるものを使用する。

4.3 暗室の状態を点検するための試験手順

 次のように試験する(附属書1参照)。
a) 使用している安全灯の説明書,及びX線感材の説明書に従って設置された安全灯及びそのランプの据
    付け具合を点検する。
b) フィルタは,退色,ひび割れ又ははがれのような劣化の明らかな兆候がないか,適切なフィルタが取
    り付けられているか,また取り付け位置が正しいかを点検する。必要ならば,交換又は調整する。
c) 暗室内のすべての安全灯及びその他の明かりの電源を切る。
*d) 目が暗さに慣れてきた後 (515 min),暗室内に光が漏れ込んでいないか調べる。作業台面の周囲での,
    フィルム現像機,パスボックス,暗室ドア及び天井の光漏れに特に注意する。この方法によって検知
    された化学反応を起こす光漏れに対策を講じる。
*e) 光漏れがないことが保証された後,装置の指示灯,案内灯や他の光を出す盤面を遮光する。光を出す
    文字盤がある時計は暗室外へ持ち出す。
f)  適切なカセッテ又はマガジンに試験フィルムを装てんする。
*g) 試験フィルムが装てんされたカセッテ又はマガジンは,通常の作業方法で取り扱う。通常の現像をす
    れば試験X線像の光学濃度が0.61.0の範囲に入るように,事前にX線露光する。
h) 上記のc)   e) に従った条件下で,事前にX線露光された試験フィルムをカセッテから取り出し,未
    現像のX線感材を日常取扱われる作業台の上に置く。片面乳剤フィルムは,乳剤面を上に向ける。
i)  試験の再現性を保証するために,この後の試験ではいつも作業台上の同じ場所を使用する。試験フィ
    ルムの長辺に平行に,端が直線で折り曲げられた不透明性のシートで,試験フィルムの半分の両面を
    覆う(附属書2参照)。
      この手順のj) とk) の間,この試験フィルムの半分を覆ったままにしておく。
j)  指示灯,案内灯や光を出す盤面に掛けた覆いをはずし,時計を元の位置に戻した後,すべての安全灯
    の電源をいれる。
k) 試験フィルムのカバーされていない半分を,遮光材料でできた2番目のシートで段階的にカバーされ
    る領域を増やしながら,できれば4 cmごとに試験フィルムの長軸に沿ってシートを移動させ,時間間
    隔を増やしながら,暗室条件下で露光する。
      試験フィルムのカバーされていない領域を露光し,30 s,60 s,120 s,240 s及び480 sの総露光時間
    のステップを得るために,30 s,30 s,60 s,120 s及び240 sの連続的なステップの間隔でカバーする
    (附属書2参照)。

――――― [JIS Z 4752-2-3 pdf 5] ―――――

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