※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、国家標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合体です。国際規格の作成作業は通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。政府および非政府の国際機関も ISO と連携してこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するあらゆる事項について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の作成に使用される手順と、そのさらなる保守を目的とした手順は、ISO/IEC 指令Part 1 部に記載されています。特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令Part 2 部の編集規則に従って起草されました ( www.iso.org/directives を参照)
この文書の要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、かかる特許権の一部またはすべてを特定する責任を負わないものとします。文書の作成中に特定された特許権の詳細は、序論および/または受け取った特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を 参照)
本書で使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、推奨を構成するものではありません。
規格の自主的な性質、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および貿易の技術的障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) 原則への ISO の準拠に関する情報については、以下を参照してください。 www.iso.org/iso/foreword.html
この文書は ISO/TC 189セラミックタイル技術委員会によって作成されました。
この第 2 版は、技術的に改訂された第 1 版 (ISO 10545-2:1995) を廃止し、置き換えます。また、技術的正誤表 ISO 10545-2:1995/Cor 1:1997 も組み込まれています。
前版との主な変更点は以下の通りです。
- 長さと幅の測定については、偏差をパーセントおよびミリメートル単位で報告するものとします。
- 厚さの測定の場合、偏差はパーセンテージおよびミリメートル単位で報告されます。
- 側面の真直度の測定では、偏差をパーセントおよびミリメートル単位で報告するものとします。
- 中心曲率、エッジ曲率、反りの測定では、偏差をパーセントおよびミリメートル単位で報告するものとします。
- 試験片のサンプリングが変更されました。
- 長辺が 60 cm 以上で、長辺と短辺の比が 3 以上の長方形タイルの長方形の測定の場合は、 δ L と偏差パーセントのみが決定されます。その結果、テストレポートもそれに応じて変更されます。
ISO 10545 シリーズのすべての部品のリストは、ISO の Web サイトでご覧いただけます。
1 スコープ
この文書は、セラミックタイルの寸法特性（長さ、幅、厚さ、側面の真直度、長方形度、表面の平坦度）および表面品質を決定するための方法を指定します。
面積が 4 cm 2未満のタイルは、長さ、幅、側面の真直度、長方形度、表面の平坦度の測定から除外されます。
注:スペーサーのラグや釉薬の塊、その他の側面の不規則性は、長さ、幅、側面の真直度、長方形度を測定する際に無視することを目的としています (これらが固定 (取り付け) 後に接合部に隠れる場合)
2 規範的参照
この文書には規範的な参照はありません。
3 用語と定義
この文書の目的上、次の用語と定義が適用されます。
ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。
３ ． 1
側面の真直度
タイルの平面における側面の中心の真直度からの偏差
注記 1: 図 1 を参照。
3.2
直方体からの逸脱
タイルの各コーナーの直角度からの逸脱の測定
注記 1:ミリメートルで表されます。
注記 2: 図 3 a) および b) を参照。
3.3
表面平坦度測定
タイル表面の3箇所の測定
注記 1:適切な表面に凹凸があり、その表面での測定を妨げているタイルはここで, 可能であれば裏面で測定するものとする。
3.4
中心曲率
タイルの中心が、4 つの角のうち 3 つが位置する平面から離れること
注記 1: 図 4 を参照。
3.5
エッジの曲率
タイルの 1 つの端の中心が、4 つの角のうち 3 つが位置する平面から離れること
注記 1: 図 5 を参照。
3.6
反り
タイルの 4 番目の角が他の角がある平面から離れること
注記 1: 図 6 を参照。
3.7
割れ目
タイル本体の表または裏、またはその両方に見られる亀裂
3.8
ひび割れた
不規則なヘアラインの 亀裂として現れる釉薬の割れ目 (3.7)
3.9
ドライスポット
釉薬のない釉薬タイルの表面の領域
3.10
凹凸
タイルまたは釉薬の表面のくぼみ
3.11
ピンホール
釉薬をかけたタイルの表面にある小さな穴
3.12
釉薬の失透
視覚的に明らかな釉薬の結晶化
3.13
ベーコン
スポット
タイル面内の視覚的にコントラストのある領域
3.14
釉裏の欠陥
釉薬で覆われた明らかな欠陥
3.15
装飾的な欠陥
明らかな装飾上の欠陥
3.16
チップ
タイルの端、角、または表面から切り離された破片
3.17
水膨れ
焼成中のガスの放出に起因する小さな表面の泡または吹き出し
3.18
荒削り
タイルの端に沿った不規則性
3.19
世界
縁に沿って隆起の形で釉薬が異常に大量に蓄積したもの
3.20
研磨欠陥
研磨効果
注記 1: 研磨欠陥には、不均一な研磨、一貫性のない反射率、研磨で完全に除去されていない研磨マークまたはグラインダーマークなどが含まれますが、これらに限定されません。
注記 1:一部の光学特性は含まれておらず、専用の装置で測定されます。
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives ).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html .
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 189, Ceramic tile.
This second edition cancels and replaces the first edition (ISO 10545-2:1995) which has been technically revised. It also incorporates the Technical Corrigendum ISO 10545-2:1995/Cor 1:1997.
The main changes compared to the previous edition are as follows:
- for the measurement of length and width, the deviation shall be reported as a percentage and in millimetres;
- for the measurement of thickness, the deviation shall be reported as a percentage and in millimetres;
- for the measurement of straightness of sides, the deviation shall be reported as a percentage and in millimetres;
- for the measurement of the centre curvature, edge curvature and warpage, the deviation shall be reported as a percentage and in millimetres;
- tests specimens sampling has been changed;
- for rectangularity measurements of oblong tiles with longer edge ≥60 cm, and ratio between longer edge and shorter edge ≥3, only δL and percent deviation shall be determined; as a consequence, the test report is modified accordingly.
A list of all parts in the ISO 10545 series can be found on the ISO website.
1 Scope
This document specifies methods for determining the dimensional characteristics (length, width, thickness, straightness of sides, rectangularity, surface flatness) and the surface quality of ceramic tiles.
Tiles with areas less than 4 cm2 are excluded from measurements of length, width, straightness of sides, rectangularity and surface flatness.
NOTE Spacer lugs and glaze blobs and other irregularities of the sides are intended to be ignored when measuring length, width, straightness of sides, rectangularity, if these are subsequently hidden in the joints after fixing (installation).
2 Normative references
There are no normative references in this document.
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
3 . 1
straightness of sides
deviation from straightness of the centre of the side in the plane of the tile
Note 1 to entry: See Figure 1.
3.2
deviation from rectangularity
measurement of the departure from squareness of each corner of a tile
Note 1 to entry: It is expressed in millimetres.
Note 2 to entry: See Figures 3 a) and b).
3.3
surface flatness measurement
measurements in three positions on the surface of tiles
Note 1 to entry: Tiles that have relief on the proper surface preventing measurement on that surface shall ここで, possible, be measured on the back.
3.4
centre curvature
departure of the centre of a tile from the plane in which three of the four corners lie
Note 1 to entry: See Figure 4.
3.5
edge curvature
departure of the centre of one edge of a tile from the plane in which three of the four corners lie
Note 1 to entry: See Figure 5.
3.6
warpage
departure of the fourth corner of the tile from the plane in which the other corners lie
Note 1 to entry: See Figure 6.
3.7
crack
fracture in the body of the tile visible on the face or the back or both
3.8
crazing
fracture of the glaze that appears as irregular hairline cracks (3.7)
3.9
dry spot
area on the face of a glazed tile which has no glaze
3.10
unevenness
depression in the surface of a tile or a glaze
3.11
pin hole
tiny pit in the surface of a glazed tile
3.12
glaze devitrification
crystallization of the glaze which is visually apparent
3.13
speck
spot
visually contrasting area in the tile face
3.14
underglaze fault
apparent fault covered by glaze
3.15
decorating fault
apparent fault in decoration
3.16
chip
fragment broken off from the edges, corners or surface of a tile
3.17
blister
small surface bubble or blow-out resulting from the expulsion of gas during firing
3.18
rough edge
irregularity along the edge of a tile
3.19
welt
unusually heavy accumulation of glaze in the form of a ridge along the edge
3.20
polishing defect
polishing effect
Note 1 to entry: Polishing defects include, but are not limited to, uneven polishing, inconsistent reflectivity, abrasive mark or grinder mark not fully removed from polishing, etc.
Note 1 to entry: Some optical characteristics are not included and are determined with specialized equipment.