※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の作成に使用された手順と、今後の維持のために意図された手順は、ISO/IEC 指令のPart 1 で説明されています。特に、さまざまな種類の ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令のPart 2 の編集規則に従って起草されました ( www.iso.org/directives を参照)
このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。ドキュメントの開発中に特定された特許権の詳細は、序文および/または受信した特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を参照)
このドキュメントで使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、保証を構成するものではありません。
規格の自主的な性質の説明、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および技術的貿易障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) の原則への ISO の準拠に関する情報については、以下を参照してください。 www.iso.org/iso/foreword.html .
このドキュメントは、技術委員会 ISO/TC 172, 光学およびフォトニクス、小委員会 SC 4, 望遠鏡システムによって作成されました。
この第 3 版は、技術的に改訂された第 2 版 (ISO 14490-3:2016) を取り消して置き換えるものです。前作からの主な変更点は以下の通り。
- ISO 14135 シリーズおよび ISO 14132-3 に準拠した試験方法に重要なアイレリーフが追加されました。
ISO 14490 シリーズのすべての部品のリストは、ISO Web サイトで見つけることができます。
1 スコープ
この文書は、望遠鏡の照準器の次の光学特性を決定するためのテスト機器とテスト手順を指定します。
- 軸視差;
- 視差
- アイレリーフ範囲、アイレリーフ、クリティカルアイレリーフ。
- レチクル追跡;
- ズーミングによる視線移動;
- ピント合わせによる視線移動。
2 参考文献
以下のドキュメントは、その内容の一部またはすべてがこのドキュメントの要件を構成するように、本文で参照されています。日付のある参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。
- ISO 14132-1, 光学およびフォトニクス — 望遠鏡システムの語彙 — Part 1: 一般用語および ISO 14132 の用語のアルファベット順インデックス
- ISO 14132-3, 光学およびフォトニクス — 望遠鏡システムの語彙 — Part 3: 望遠鏡用照準器の用語
- ISO 14135-1:2021, 光学およびフォトニクス — 望遠鏡用照準器の仕様 — Part 1: 汎用機器
- ISO 14135-2:2021, 光学およびフォトニクス — 望遠鏡用照準器の仕様 — Part 2: 高性能機器
3 用語と定義
このドキュメントの目的のために、ISO 14132-1 および ISO 14132-3 に記載されている用語と定義が適用されます。
参考文献
| [1] | ISO 1449, 光学およびフォトニクス — 望遠鏡システムの試験方法 |
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives ).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html .
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 172, Optics and photonics, Subcommittee SC 4, Telescopic systems.
This third edition cancels and replaces the second edition (ISO 14490-3:2016), which has been technically revised. The main changes compared to the previous edition are as follows:
- critical eye relief added in the test method according to ISO 14135 series and ISO 14132-3.
A list of all parts in the ISO 14490 series can be found on the ISO website.
1 Scope
This document specifies test equipment and test procedures for determination of the following optical characteristics of telescopic sights:
- axial parallax;
- parallax;
- eye relief range, eye relief, critical eye relief;
- reticle tracking;
- line of sight shift due to zooming;
- line of sight shift due to focusing.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
- ISO 14132-1, Optics and photonics — Vocabulary for telescopic systems — Part 1: General terms and alphabetical indexes of terms in ISO 14132
- ISO 14132-3, Optics and photonics — Vocabulary for telescopic systems — Part 3: Terms for telescopic sights
- ISO 14135-1:2021, Optics and photonics — Specifications for telescopic sights — Part 1: General-purpose instruments
- ISO 14135-2:2021, Optics and photonics — Specifications for telescopic sights — Part 2: High-performance instruments
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 14132-1 and ISO 14132-3 apply.
Bibliography
| [1] | ISO 14490 (all parts), Optics and photonics — Test methods for telescopic systems |