ISO 14644-9:2012 クリーンルームおよび関連する管理された環境—パート9:粒子濃度による表面清浄度の分類 | ページ 2

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

序文

ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。

国際規格は、ISO/IEC 指令のPart 2 部で規定されている規則に従って作成されます。

技術委員会の主な任務は、国際規格を準備することです。技術委員会によって採択されたドラフト国際規格は、投票のためにメンバー団体に配布されます。国際規格として発行するには、投票するメンバー団体の少なくとも 75% による承認が必要です。

このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。

ISO 14644-9 は、技術委員会 ISO/TC 209, クリーンルームおよび関連する管理された環境によって作成されました。

ISO 14644 は、次の部分で構成されており、一般的なタイトルは「クリーンルームおよび関連する管理された環境」です。

  • Part 1: 空気清浄度の分類
  • Part 2: ISO 14644-1 への継続的な準拠を証明するための監視の仕様
  • Part 3: テスト方法
  • Part 4: 設計、建設、立ち上げ
  • Part 5: 操作
  • Part 6: 語彙
  • Part 7: 分離装置 (クリーン エア フード、グローブ ボックス、アイソレーター、およびミニ環境)
  • 第8部:化学物質濃度による空気清浄度の分類
  • Part 9: 粒子濃度による表面清浄度の分類
  • 第10部:薬品濃度による表面清浄度の分類

ISO 14698, クリーンルームおよび関連する管理された環境 - 生物汚染管理にも注意が必要です。

  • Part 1: 一般原則と方法
  • Part 2: 生物汚染データの評価と解釈

序章

クリーンルームおよび関連する管理された環境は、汚染に敏感な活動を遂行するのに適切なレベルまで汚染を管理します。汚染の制御から恩恵を受ける製品やプロセスには、航空宇宙、マイクロエレクトロニクス、光学、原子力、ライフ サイエンス (医薬品、医療機器、食品、ヘルスケア) などの産業が含まれます。

ISO 14644-1 から ISO 14644-8 および ISO 14698-1 および ISO 14698-2 (生物学的汚染) は、空中浮遊粒子および化学汚染のみを扱います。クリーンルームやその他の管理された環境の設計、仕様、操作、および制御では、表面の清浄度の分類に加えて、多くの要因を考慮する必要があります。これらの要因は、ISO 14644 および ISO 14698 の他の部分で詳細に説明されています。

ISO 14644 のこの部分は、粒子濃度に基づく表面の清浄度レベルの決定と指定に関する分類を提供します。 ISO 14644 のこの部分には、いくつかの試験方法と、表面上の粒子の濃度を決定するための手順も記載されています。

規制当局が補足的なガイドラインまたは制限を課す場合、試験手順の適切な適応が必要になる場合があります。

1 スコープ

ISO 14644 のこの部分は、クリーンルームおよび関連する制御された環境アプリケーションの粒子濃度による固体表面の清浄度レベルの分類を確立します。試験および測定方法に関する推奨事項、ならびに表面特性に関する情報は、付録 A から D に記載されています。

ISO 14644 のこの部分は、壁、天井、床、作業環境、ツール、機器、および製品など、クリーンルームおよび関連する管理された環境のすべての固体表面に適用されます。粒子濃度 (SCP) による表面清浄度の分類は、0.05 μm ~ 500 μm の粒子に限定されます。

次の問題は、ISO 14644 のこの部分では考慮されていません。

  • 特定のプロセスに対する表面の清浄度と適合性に関する要件。
  • 表面の洗浄手順;
  • 材料特性;
  • 通常は時間依存およびプロセス依存の相互作用結合力または生成プロセスへの言及。
  • 分類とテストのための統計手法の選択と使用。
  • 静電荷、イオン電荷、微生物学的状態など、粒子のその他の特性

2 参考文献

本書の適用には、以下の参考文献が不可欠です。日付のある参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。

  • ISO 14644-6:2007, クリーンルームおよび関連する管理された環境 — Part 6: 語彙

3 用語と定義

このドキュメントの目的のために、ISO 14644-6:2007 に記載されている用語と定義、および以下が適用されます。

3.1

特定の粒径範囲の記述子

特定の粒子サイズ範囲内のSCPレベルを表す微分記述子

注記1:記述子は、特に関心のある粒子サイズ範囲または分類システムの範囲外の粒子サイズ範囲に適用され、個別にまたはSCPクラスの補足として指定される場合があります。

3.2

直接測定法

中間ステップなしの汚染の評価

3.3

間接測定法

中間ステップによる汚染の評価

3.4

固体表面

固体と第二相の境界

3.5

表面粒子

固体および/または液体物質:関心のある表面に付着し、個別に分布している物質。ただし、表面全体を覆うフィルム状の物質は除く

注記 1:表面粒子は、化学的および/または物理的相互作用によって付着します。

3.6

粒子濃度による表面清浄度

SCP

粒子濃度に対する表面の状態

注記 1:表面の清浄度は、材料と設計の特性、応力負荷 (表面に作用する負荷の複雑さ)、一般的な環境条件、およびその他の要因によって異なります。

3.7

粒子濃度クラスによる表面清浄度

SCPクラス

考慮された粒子のサイズ (SCP クラス 1 から 8) について、1 平方メートルあたりの粒子で、最大許容表面濃度を示す等級数

3.8

粒子濃度分類による表面清浄度

SCP分類

ISO SCPクラスNで表現された、粒子の考慮されたサイズについて、1平方メートルあたりの粒子で最大許容表面濃度を表すレベル(またはレベルを指定または決定するプロセス)

3.9

表面粒子濃度

考慮中の単位表面積あたりの個々の粒子の数

参考文献

[1]ISO 4287:1997, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — 用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ
[2]ISO 4288:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面性状: プロファイル法 — 表面性状の評価のための規則と手順
[3]ISO 5725-2:1994, 測定方法と結果の精度 (真実性と精度) — Part 2: 標準測定方法の再現性と再現性を決定するための基本的な方法
[4]ISO 10015:1999, 品質管理 — トレーニングのガイドライン
[5]ISO 10576-1:2003, 統計的方法 — 指定された要件への適合性の評価に関するガイドライン — Part 1: 一般原則
[6]ISO 16232-2:2007, 道路車両 — 流体回路のコンポーネントの清浄度 — Part 2: 撹拌による汚染物質の抽出方法
[7]ISO 16232-3:2007, 道路車両 — 流体回路のコンポーネントの清浄度 — Part 3: 圧力洗浄による汚染物質の抽出方法
[8]ISO 16232-4:2007, 道路車両 — 流体回路のコンポーネントの清浄度 — Part 4: 超音波技術による汚染物質の抽出方法
[9]ISO 16232-5:2007, 道路車両 — 流体回路のコンポーネントの清浄度 — Part 5: 機能テストベンチでの汚染物質の抽出方法
[10]ISO/TS 21748:2004, 測定の不確かさの推定における再現性、再現性、および真度の推定の使用に関するガイダンス
[11]IEC 61340-5-1:2007, 静電気 — Part 5-1: 静電気現象からの電子機器の保護 — 一般要件
[12]ASTM E18-07, 金属材料のロックウェル硬さの標準試験方法
[13]ASTM E1216-06, テープリフトによる粒子汚染のサンプリングの標準プラクティス
[14]ASTM F312-08, メンブレンフィルター上の航空宇宙流体からの粒子の顕微鏡的サイジングおよび計数のための標準試験方法
[15]ASTM F24-09, 表面の微粒子汚染を測定およびカウントするための標準方法
[16]ASTM F303-08, 航空宇宙流体およびコンポーネント中の粒子のサンプリングに関する標準プラクティス
[17]CLC/TR 61340-5-2:2008, 静電気 - Part 5-2: 静電気現象からの電子デバイスの保護。ユーザーガイド
[18]IEST-RP-CC022.2-2004, クリーンルームおよびその他の管理された環境での静電気帯電
[19]IEST-STD-CC1246D, 製品の清浄度レベルおよび汚染管理プログラム
[20]SEMI E43-0301, 物体および表面の静電荷測定ガイド
[21]SEMI E78-0706, 機器の静電放電 (ESD) および静電引力 (ESA) の評価と制御に関するガイド
[22]Adamson, AW Physical Chemistry of Surfaces 、John Wiley & Sons, ニューヨーク、1976

Foreword

ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.

International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, Part 2.

The main task of technical committees is to prepare International Standards. Draft International Standards adopted by the technical committees are circulated to the member bodies for voting. Publication as an International Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting a vote.

Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.

ISO 14644-9 was prepared by Technical Committee ISO/TC 209, Cleanrooms and associated controlled environments.

ISO 14644 consists of the following parts, under the general title Cleanrooms and associated controlled environments:

  • Part 1: Classification of air cleanliness
  • Part 2: Specifications for monitoring to prove continued compliance with ISO 14644-1
  • Part 3: Test methods
  • Part 4: Design, construction and start-up
  • Part 5: Operations
  • Part 6: Vocabulary
  • Part 7: Separative devices (clean air hoods, gloveboxes, isolators, and mini-environments)
  • Part 8: Classification of air cleanliness by chemical concentration
  • Part 9: Classification of surface cleanliness by particle concentration
  • Part 10: Classification of surface cleanliness by chemical concentration

Attention is also drawn to ISO 14698, Cleanrooms and associated controlled environments - Biocontamination control:

  • Part 1: General principles and methods
  • Part 2: Evaluation and interpretation of biocontamination data

Introduction

Cleanrooms and associated controlled environments provide for the control of contamination to levels appropriate for accomplishing contamination-sensitive activities. Products and processes that benefit from the control of contamination include those in such industries as aerospace, microelectronics, optics, nuclear, and life sciences (pharmaceuticals, medical devices, food, healthcare).

ISO 14644-1 to ISO 14644-8 and ISO 14698-1 and ISO 14698-2 (biological contamination) deal exclusively with airborne particle and chemical contamination. Many factors, besides the classification of surface cleanliness, should be considered in the design, specification, operation and control of cleanrooms and other controlled environments. These factors are covered in some detail in other parts of ISO 14644 and ISO 14698.

This part of ISO 14644 provides a classification for the determination and designation of surface cleanliness levels based on particle concentrations. This part of ISO 14644 also lists some methods of testing, as well as procedure(s) for determining the concentration of particles on surfaces.

Where regulatory agencies impose supplementary guidelines or restrictions, appropriate adaptations of the testing procedures might be required.

1 Scope

This part of ISO 14644 establishes the classification of cleanliness levels on solid surfaces by particle concentration in cleanrooms and associated controlled environment applications. Recommendations on testing and measuring methods, as well as information about surface characteristics, are given in Annexes A to D.

This part of ISO 14644 applies to all solid surfaces in cleanrooms and associated controlled environments, such as walls, ceilings, floors, working environments, tools, equipment and products. The classification of surface cleanliness by particle concentration (SCP) is limited to particles between 0,05 µm and 500 µm.

The following issues are not considered in this part of ISO 14644:

  • requirements for the cleanliness and suitability of surfaces for specific processes;
  • procedures for the cleaning of surfaces;
  • material characteristics;
  • references to interactive bonding forces or generation processes that are usually time-dependent and process-dependent;
  • selection and use of statistical methods for classification and testing;
  • other characteristics of particles, such as electrostatic charge, ionic charges, microbiological state, etc.

2 Normative references

The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.

  • ISO 14644-6:2007, Cleanrooms and associated controlled environments — Part 6: Vocabulary

3 Terms and definitions

For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 14644-6:2007 and the following apply.

3.1

descriptor for specific particle size ranges

differential descriptor that expresses SCP level within specific particle size ranges

Note 1 to entry: The descriptor may be applied to particle size ranges of special interest or those particle size ranges that are outside the range of the classification system, and specified independently or as a supplement to the SCP classes.

3.2

direct measurement method

assessment of the contamination without any intermediate steps

3.3

indirect measurement method

assessment of the contamination with intermediate steps

3.4

solid surface

boundary between the solid and a second phase

3.5

surface particle

solid and/or liquid matter adhered and discretely distributed on a surface of interest, excluding film-like matter that covers the whole surface

Note 1 to entry: Surface particles are adhered via chemical and/or physical interactions.

3.6

surface cleanliness by particle concentration

SCP

condition of a surface with respect to its particle concentration

Note 1 to entry: The surface cleanliness depends upon material and design characteristics, stress loads (complexity of loads acting on a surface) and prevailing environmental conditions, along with other factors.

3.7

surface cleanliness by particle concentration class

SCP class

grading number stating the maximum allowable surface concentration, in particles per square metre, for a considered size of particles (SCP Classes 1 to 8)

3.8

surface cleanliness by particle concentration classification

SCP classification

level (or the process of specifying or determining the level) that represents maximum allowable surface concentrations, in particles per square metre, for considered sizes of particles, expressed in terms of an ISO SCP Class N

3.9

surface particle concentration

number of individual particles per unit of surface area under consideration

Bibliography

[1]ISO 4287:1997, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms, definitions and surface texture parameters
[2]ISO 4288:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Rules and procedures for the assessment of surface texture
[3]ISO 5725-2:1994, Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results — Part 2: Basic method for the determination of repeatability and reproducibility of a standard measurement method
[4]ISO 10015:1999, Quality management — Guidelines for training
[5]ISO 10576-1:2003, Statistical methods — Guidelines for the evaluation of conformity with specified requirements — Part 1: General principles
[6]ISO 16232-2:2007, Road vehicles — Cleanliness of components of fluid circuits — Part 2: Method of extraction of contaminants by agitation
[7]ISO 16232-3:2007, Road vehicles — Cleanliness of components of fluid circuits — Part 3: Method of extraction of contaminants by pressure rinsing
[8]ISO 16232-4:2007, Road vehicles — Cleanliness of components of fluid circuits — Part 4: Method of extraction of contaminants by ultrasonic techniques
[9]ISO 16232-5:2007, Road vehicles — Cleanliness of components of fluid circuits — Part 5: Method of extraction of contaminants on functional test bench
[10]ISO/TS 21748:2004, Guidance for the use of repeatability, reproducibility and trueness estimates in measurement uncertainty estimation
[11]IEC 61340-5-1:2007, Electrostatics — Part 5-1: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena — General requirements
[12]ASTM E18-07, Standard Test Methods for Rockwell Hardness of Metallic Materials
[13]ASTM E1216-06, Standard Practice for Sampling for Particulate Contamination by Tape Lift
[14]ASTM F312-08, Standard Test Methods for Microscopical Sizing and Counting Particles from Aerospace Fluids on Membrane Filters
[15]ASTM F24-09, Standard Method for Measuring and Counting Particulate Contamination on Surfaces
[16]ASTM F303-08, Standard Practice for Sampling for Particles in Aerospace Fluids and Components
[17]CLC/TR 61340-5-2:2008, Electrostatics — Part 5-2: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena; User guide
[18]IEST-RP-CC022.2-2004, Electrostatic charge in cleanrooms and other controlled environments
[19]IEST-STD-CC1246D, Product Cleanliness Levels and Contamination Control Program
[20]SEMI E43-0301, Guide for Measuring Static Charge on Objects and Surfaces
[21]SEMI E78-0706, Guide to Assess and Control Electrostatic Discharge (ESD) and Electrostatic Attraction (ESA) for Equipment
[22]Adamson, A.W. Physical Chemistry of Surfaces, John Wiley & Sons, New York, 1976