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ISO 14975:2000 表面化学分析—情報フォーマット | ページ 2

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

序文

ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。

国際規格は、ISO/IEC 指令で指定された規則に従って起草されます。 3.

技術委員会によって採択されたドラフト国際規格は、投票のためにメンバー団体に配布されます。国際規格として発行するには、投票するメンバー団体の少なくとも 75% による承認が必要です。

この国際規格の一部の要素が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。

国際規格 ISO 14975 は、技術委員会 ISO/TC 201, 表面化学分析、小委員会 SC 3, データ管理および処理によって作成されました。

この国際規格の附属書 A および B は、情報提供のみを目的としています。

序章

ISO 14976 は、表面化学分析データを通信するためのデジタル データ転送フォーマットを提供します。多くの科学分野でデータベースの重要性が高まっているため、データベースへのスペクトル データの保存と操作が必要になっています。 ISO 14976 の構造は通信に適していますが、データベースの操作はデータ通信とはまったく異なります。データベース内のデータを扱うには、ISO 14976 に含まれる情報に追加する情報が必要であるため、この国際規格では、(1) 試料情報、(2) 校正情報、および (3) データ処理情報に関する情報パッケージを定義する 3 つの形式を提案しています。データベース内のスペクトル データを操作するために重要です。フォーマットの将来の互換性は不可欠です。この形式は、ISO 14976 で動作するように設計されているため、ISO 14976 を読み取るように設計されたソフトウェアは、これらの情報パッケージを追加しても正しく機能します。したがって、この国際規格は、ISO 14976 を補足し、互換性があります。

この国際規格で説明されているデータ ファイルのテキスト形式を定義する際に行われた選択の背後にある動機は重要です。プログラマーが新しいソフトウェアでフォーマットを確実に実装しやすくするために、Microsoft Windows™ の「.INI」ファイル構造の側面に従っています。最新のコンピューターのほとんどは、Windows Application Programming Interface™ を介して、さまざまなコンピューター言語からこの形式を読み書きする機能を備えています。

1 スコープ

この国際規格は、表面化学分析スペクトル データベースの作成、拡張、および改訂のためにデータを転送するために、ISO 14976 を補足する形式を指定します。この形式は、オージェ電子分光法 (AES) および X 線光電子分光法 (XPS) のスペクトル データに適用されます。

2 規範的参照

次の規範文書には、このテキストで参照することにより、この国際規格の規定を構成する規定が含まれています。日付の記載された参考資料については、これらの刊行物に対するその後の修正または改訂は適用されません。ただし、この国際規格に基づく協定の当事者は、以下に示す規範文書の最新版を適用する可能性を調査することをお勧めします。日付のない参照については、参照されている規範文書の最新版が適用されます。 ISO および IEC のメンバーは、現在有効な国際規格の登録簿を維持しています。

  • ISO 14976, 表面化学分析 — データ転送フォーマット。

3 用語と定義

この国際規格の目的のために、次の用語と定義が適用されます。

3.1

スペクトルデータベース

取得可能なスペクトル データのセット

3.2

情報

試料に関する情報、および/またはアナライザーのキャリブレーションの手順、および/またはデータ処理手順、および/またはスペクトルデータベースの作成に必要な情報

3.3

パッケージ

スペクトル データに関する情報を説明する一連のテキスト行

参考文献

[1]IUPAC Nomenclature of Organic Chemistry 、セクション A, B, C, D, E, F, および H, Pergamon Press, オックスフォード、1979 年。
[2]A Guide to IUPAC Nomenclature of Organic Compounds 、Blackwell Scientific Publications, オックスフォード、1993 年。
[3]IUPAC 高分子命名法大要、Blackwell Scientific Publications, オックスフォード、1991 年。
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[6]CAS Registry Handbook — Number Section Supplements 、American Chemical Society, コロンバス、198
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[10]S eah , MP: AES — 電子分光計のエネルギー校正: IV — 参照エネルギーの再評価、 Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 、1998 年 12 月、Vol. 97, No. 3, p235-24
[11]吉武正治、吉原浩二：オージェ電子分光法における感度のエネルギー依存性に関するラウンドロビン、日本表面科学会誌、 1994 年 8 月、Vol. 6, p376-38
[12]Yoshitake , M. and Yoshihara , K.: Characterization of XPS “Secondary-Standard” Spectra for the COMMON DATA PROCESSING SYSTEM,日本表面科学会誌, July 1995, Vol. 16, No. 7, p434-44
[13]S eah , MP: Channel Electron Multipliers — Quantitative Intensity Measurement — Efficiency, Gain, Linearity and Bias Effects, Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 、1990 年 2 月、Vol. 50, Nos 1 および 2, pp. 137-15

Foreword

ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.

International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, 3.

Draft International Standards adopted by the technical committees are circulated to the member bodies for voting. Publication as an International Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting a vote.

Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.

International Standard ISO 14975 was prepared by Technical Committee ISO/TC 201, Surface chemical analysis, Subcommittee SC 3, Data management and treatment.

Annexes A and B of this International Standard are for information only.

Introduction

ISO 14976 provides a digital data transfer format for communicating surface chemical analysis data. Since the importance of databases is increasing in many scientific fields, storage and manipulation of spectral data in databases have become necessary. The structure of ISO 14976 is suitable for communication, but database manipulation is quite different from data communication. Information additional to that contained in ISO 14976 is necessary to handle the data in the databases, so this International Standard proposes three formats which define information packages for (1) specimen information, (2) calibration information and (3) data processing information, which are important to manipulate spectral data in databases. The future compatibility of the format is essential. This format is designed to work with ISO 14976 so that software designed to read the latter will still function correctly with these information packages added. This International Standard, therefore, is supplementary to and compatible with ISO 14976.

The motivation behind the choices made in defining the textual form of the data files described in this International Standard are important. To make it easy for programmers to implement the format reliably in new software, aspects of the Microsoft Windows™ “.INI” file structure are followed. Most modern computers have facilities to read and write this format from a wide range of computer languages via the Windows Application Programming Interface™.

1 Scope

This International Standard specifies a format to supplement ISO 14976 to transfer data for the creation, expansion and revision of a surface chemical analysis spectral database. The format is applied to Auger electron spectroscopy (AES) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) spectral data.

2 Normative reference

The following normative document contains provisions which, through reference in this text, constitute provisions of this International Standard. For dated references, subsequent amendments to, or revisions of, any of these publications do not apply. However, parties to agreements based on this International Standard are encouraged to investigate the possibility of applying the most recent edition of the normative document indicated below. For undated references, the latest edition of the normative document referred to applies. Members of ISO and IEC maintain registers of currently valid International Standards.

  • ISO 14976, Surface chemical analysis — Data transfer format.

3 Terms and definitions

For the purposes of this International Standard, the following terms and definitions apply.

3.1

spectral database

set of retrievable spectral data

3.2

information

information about specimens and/or the procedures of analyser calibration and/or data processing procedures and/or the information necessary to create spectral databases

3.3

package

set of text lines which describe information on spectral data

Bibliography

[1]IUPAC Nomenclature of Organic Chemistry, Sections A, B, C, D, E, F and H, Pergamon Press, Oxford, 1979.
[2]A Guide to IUPAC Nomenclature of Organic Compounds, Blackwell Scientific Publications, Oxford, 1993.
[3]IUPAC Compendium of Macromolecular Nomenclature, Blackwell Scientific Publications, Oxford, 1991.
[4]IUPAC Nomenclature of Inorganic Chemistry, Third Edition, Blackwell Scientific Publications, Oxford, 1990.
[5]IUBMB Biochemical Nomenclature and Related Documents, Second Edition, Portland Press, London, 1992.
[6]The CAS Registry Handbook — Number Section Supplements, American Chemical Society, Columbus, 1980.
[7]Dench, W.A., Hazel, L.B., and Seah, M.P.: VAMAS surface chemical analysis standard data transfer format with skeleton decoding program, Surface and Interface Analysis, November 1988, Vol. 13, Nos 2 and 3, pp. 63-122.
[8]Bryson, C.E., and Macguire, G.E.: AES/XPS Contributors Form, Surface Science Spectra, 1992, Vol. 1, No. 1, pp. 141-161.
[9]Seah, M.P., Gilmore, I.S., and Beamson, G.: XPS — Binding energy calibration of electron spectrometers: 5 — Re-evaluation of the reference energies, Surface and Interface Analysis, August 1998, Vol. 26, No. 9, pp. 642-649.
[10]Seah, M.P.: AES — Energy calibration of electron spectrometers: IV — A re-evaluation of the reference energies, Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, December 1998, Vol. 97, No. 3, pp. 235-241.
[11]Yoshitake, M., and Yoshihara, K.: Round Robin on the Energy Dependence of Sensitivity in Auger Electron Spectroscopy, Journal of the Surface Science Society of Japan, August 1994, Vol. 15, No. 6, pp. 376-383.
[12]Yoshitake, M., and Yoshihara, K.: Characterisation of XPS “Secondary-Standard” Spectra for the COMMON DATA PROCESSING SYSTEM, Journal of The Surface Science Society of Japan, July 1995, Vol. 16, No. 7, pp. 434-440.
[13]Seah, M.P.: Channel Electron Multipliers — Quantitative Intensity Measurement — Efficiency, Gain, Linearity and Bias Effects, Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, February 1990, Vol. 50, Nos 1 and 2, pp. 137-157.

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