ISO 15932:2013 マイクロビーム分析—分析電子顕微鏡学—用語, 語彙

ISO 15932:2013の概要

ISO15932:2013の規格概要

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Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Vocabulary

ISO 15932:2013 は、AEM の実践で使用される用語を定義しています。ここでは、体系的な順序で階層に従って分類された一般概念と特殊概念の両方を取り上げます。これは、AEM の実践に関連するすべての標準化文書に適用されます。さらに、この国際規格の一部は、関連分野 (TEM、STEM、SEM、EPMA、EDX など) の実践に関連する文書に共通の用語の定義に適用されます。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO15932:2013 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 15932:2013
ISO 国際規格名称
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Vocabulary
ISO 規格名称 日本語訳
マイクロビーム分析 — 分析電子顕微鏡法 — 語彙
発行日 (Publication date)
2013-12
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2024-06-04
状態 (Status)
公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
21
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 202/SC 1 用語:(Terminology)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
37.020:Optical equipment,01.040.37:Image technology (Vocabularies),
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格

ISO 15932:2013 関連規格 履歴一覧

ISO15932:2013 対応 JIS 規格一覧

ISO15932:2013 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 37:映像技術 > 37.020:光学設備

ICS > 01:総論.用語.標準化.ドキュメンテーション > 01.040:用語集 > 01.040.37:映像技術(用語集)

ISO 15932:2013 修正 一覧 (Amendments)

ISO 15932:2013 正誤表 一覧 (Corrigenda)

ISO 15932:2013 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 90) 見直

サブステージコード 90.60 レビュー終了 (Close of review)

ISO 15932:2013 持続可能な開発目標 SDGS

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。

  • 17の目標 : [Sustainable Development Goal]

    SDGsとは、「Sustainable Development Goals(持続可能な開発目標)」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。